• 被代替
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  • 1981-12-25 頒布
  • 1982-10-01 實(shí)施
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GB/T 2831-1981光學(xué)零件的面形偏差檢驗(yàn)方法(光圈識(shí)別)_第1頁(yè)
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UDC681.4.084:621.753.1中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB2831－81光學(xué)零件的面形偏差檢驗(yàn)方法光圈識(shí)別)Surfaceformdeyationofopticalelements-Inspectionmethods1981-12-25發(fā)布1982-10-01實(shí)施家標(biāo)準(zhǔn)·總局國(guó)批準(zhǔn)

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)UDC：681.4.084光學(xué)零件的面形偏差檢驗(yàn)方法：621.753.1GB2831一81（光圈識(shí)別Surfaceformdeviationofopticalelements-Inspectionmethods本標(biāo)準(zhǔn)適用于以等厚光波干涉原理檢驗(yàn)球面（包括平面）光學(xué)零部件的面形偏差。名詞術(shù)語(yǔ)、符號(hào)、代號(hào)1.1面形偏差被被檢光學(xué)表面相對(duì)于參考光學(xué)表面的偏差稱(chēng)面形偏差面形偏差是在圓形檢驗(yàn)范圍內(nèi)，通過(guò)垂直位置所觀察到的干涉條紋（通稱(chēng)光圈）的數(shù)目、形狀、變化和顏色來(lái)確定的。面形偏差包括下列三項(xiàng)：被被檢光學(xué)表面的曲率半徑相對(duì)于參考光學(xué)表面曲率半徑的偏差稱(chēng)半徑偏差。此偏差所對(duì)應(yīng)的光圈數(shù)用M表示。。被檢光學(xué)表面與參考光學(xué)表面在二個(gè)相互垂直方向上產(chǎn)生的光圈數(shù)不等所對(duì)應(yīng)的偏差稱(chēng)象散偏差，此偏差所對(duì)應(yīng)的光圈數(shù)用I表示。。被檢光學(xué)表面與參考光學(xué)表面在任一方向上產(chǎn)生的干涉條紋的局部不規(guī)則程度稱(chēng)局部偏差，此偏差所對(duì)應(yīng)的光圈數(shù)用八表示。1.2光圈正負(fù)號(hào)規(guī)定：高光圈（凸）為正（相應(yīng)于中間接觸）；低光圈（凹）為負(fù)（相應(yīng)于邊緣接觸）。：高低光圈的識(shí)別22.1一般情況下高低光圈的識(shí)別低光圈：當(dāng)空氣隙縮小時(shí)，條紋從邊緣向中心移動(dòng)如圖1“。高光圈：：當(dāng)空氣隙縮小時(shí)，條紋從中心向邊緣移

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