射線檢測B級和AB級的區(qū)別

一、 標準中涉及檢測技術(shù)級別的條款在JB/T4730.2-2005標準中，規(guī)定了射線檢測分為三級：A級——低靈敏度技術(shù)；AB級一一中靈敏度技術(shù)；B級一一高靈敏度技術(shù)。在標準中涉及檢測技術(shù)級別的條款概括起來有以下9條：1、 第3.8條：射線檢測技術(shù)等級選擇；2、 第3.2.2條：不同檢測技術(shù)級別選擇膠片的規(guī)定；3、 第3.5條：不同檢測技術(shù)級別選擇增感屏的規(guī)定；4、 第4.1.3條：不同檢測技術(shù)級別對透照厚度比K的規(guī)定；5、 第4.2.2條：不同檢測技術(shù)級別對射線源的透照厚度范圍的規(guī)定；6、 第4.3.1條：不同檢測技術(shù)級別對射線源全工件表面的最小距離的規(guī)定；7、 第4.4.1條：不同檢測技術(shù)級別對X射線照相最小曝光量的規(guī)定；8、 第4.11.2條：不同檢測技術(shù)級別對底片黑度D的規(guī)定；9、 第4.11.3條：不同檢測技術(shù)級別對底片的像質(zhì)計靈敏度的規(guī)定。二、 射線檢測技術(shù)等級的選擇JB/T4730.2-2005標準第3.8條就有關(guān)射線檢測技術(shù)等級選擇的規(guī)定如下：3.8.1射線檢測技術(shù)等級選擇應(yīng)符合制造、安裝、在用等有關(guān)標準及設(shè)計圖樣規(guī)定。承壓設(shè)備對接焊接接頭的制造、安裝、在用時的射線檢測，一般應(yīng)采用AB級射線檢測技術(shù)進行檢測。對重要設(shè)備、結(jié)構(gòu)、特殊材料和特殊焊接工藝制作的對接焊接接頭，可采用B級技術(shù)進行檢測。3.8.2由于結(jié)構(gòu)、環(huán)境條件、射線設(shè)備等方面限制，檢測的某些條件不能滿足AB級（或B級）射線檢測技術(shù)的要求時，經(jīng)檢測方技術(shù)負責人批準，在采取有效補償措施（例如選用更高類別的膠片）的前提下，若底片的像質(zhì)計靈敏度達到AB級（或B級）射線檢測技術(shù)的規(guī)定，則可認為按AB級（或B級）射線檢測技術(shù)進行了檢測。3.8.3承壓設(shè)備在用檢測中，由于結(jié)構(gòu)、環(huán)境、射線設(shè)備等方面的限制，檢測的某些條件不能滿足AB級射線檢測技術(shù)的要求時，經(jīng)檢測方技術(shù)負責人批準，在采取有效補償措施（例如選用更高類別的膠片）后可采用A級技術(shù)進行射線檢測，但應(yīng)同時采用其他無損檢測方法進行補充檢測。由于A級檢測技術(shù)屬于低靈敏度級別，一般不用于石油化工承壓設(shè)備的射線檢測，所以本文只討論B級檢測技術(shù)與AB級檢測技術(shù)的區(qū)別。三、 不同檢測技術(shù)級別選擇膠片的規(guī)定JB/T4730.2-2005標準第3.2.2條就有關(guān)不同檢測技術(shù)級別選擇膠片的規(guī)定如下：3.2.2A級和AB級射線檢測技術(shù)應(yīng)采用T3類或更高類別的膠片，B級射線檢測技術(shù)應(yīng)采用T2類或更高類別的膠片。膠片的本底灰霧度應(yīng)不大于0.3。由上條規(guī)定可知，AB級射線檢測技術(shù)應(yīng)采用AGFA-C7（或其他T3類）膠片，B級射線檢測技術(shù)應(yīng)采用AGFA-C4（或其他T2類）膠片。由于T2類膠片感光乳劑粒度和感光速度比T3類膠片低，而膠片平均梯度和梯噪比比T3類膠片高，這些都有利于提高射線底片的靈敏度。所以B級檢測技術(shù)比AB級檢測技術(shù)在膠片選取方面考慮了提高靈敏度的因素。在同等條件下，使用T2類膠片的曝光時間一般是使用T3類膠片時的3倍以上，所以對檢測設(shè)備的性能要求較高，檢測效率下降，檢測成本提高。而且T2類膠片比T3類膠片價格高的多，對檢測成本的提高顯而易見。四、 不同檢測技術(shù)級別選擇增感屏的規(guī)定

JB/T4730.2-2005標準第3.5條就有關(guān)不同檢測技術(shù)級別選擇增感屏的規(guī)定如下：射線檢測一般應(yīng)使用金屬增感屏或不用增感屏。增感屏的選用應(yīng)符合表1的規(guī)定。表I增感解的材料和厚度射線源前 屏屏材料厚度，nini材料厚度,mmX射線(WlOOkV)鉛不用或^0.03鉛W0.03X射線(100kV-150kV)鉛W0.10鉛WO.15源射線<150kV-250kV)鉛0.02—0.15鉛0.02—0.15X射線(250kV-500kV)鉛0.02—0.2鉛0.02-0.2Se-75鉛A級。.02-0.2鉛A皺0.02—0.2旭紋"皺0.1?0.2]>旭皺、B皺0.1?0.2Ii-192鉛A級0.02-0.2鉛A皺0.02?0.2梅級、B級0.1?0.2]?旭級、B緞0.1?0.2由上表可知，JB/T4730.2-2005標準B級和AB級檢測技術(shù)對常用低能X射線和Se-75、Ir-192放射源的增感屏要求是相同的。五、不同檢測技術(shù)級別對透照厚度比K的規(guī)定JB/T4730.2-2005標準第4.1.3條就有關(guān)不同檢測技術(shù)級別對透照厚度比K的規(guī)定如下：射線檢測技術(shù)皺別A皺；邸級日級縱向焊接接頭芹冬1.03獲1.01環(huán)向焊接接頭假1.061） 對100碩〈％軍仙。顧的環(huán)向焊接接頭（包括曲率相同的仙面焊接接頭），A皺、AB皺允許采用K嗅1.九由上表可知，無論是縱向焊接接頭還是環(huán)向焊接接頭，B級檢測的透照厚度比K都比AB級檢測的小?？刂仆刚蘸穸缺菿主要是為了控制裂紋檢出角，K值越小，裂紋和根部未熔合的檢出率就越高。所以B級檢測比AB級檢測有更高的裂紋和根部未熔合的檢出率。透照厚度比K越小，透照次數(shù)越多，檢測效率越低。六、不同檢測技術(shù)級別對射線源的透照厚度范圍的規(guī)定JB/T4730.2-2005標準第4.2.2條就有關(guān)不同檢測技術(shù)級別對射線源的透照厚度范圍的規(guī)定如下：4.2.2Y射線源和高能X射線適用的透照厚度范圍應(yīng)符合表4的規(guī)定。采用源在內(nèi)中心透照方式，在保證像質(zhì)計靈敏度達到4.11.3要求的前提下，允許Y射線最小透照厚度取表4下限值的1/2。采用其他透照方式，在采取有效補償措施并保證像質(zhì)計靈敏度達到4.11.3要求的前提下，經(jīng)合同各方同意，A級、AB級技術(shù)的Ir-192源的最小透照厚度可降至10mm，Se-75源的最小透照厚度可降至5mm。表4/肘線晾和能阜IMeM以上X射線設(shè)備的透照厚度范圍《鋼、不^鋼、裸臺金等）射線源透明厚度W,mmA級rAB級H級Sk-75=10^405=14-40lr-1925=20^100項0X射堂方lM；V-4MrV)5=30^200片5()-1第X射線（＞4M＜：V-12M：V）mW)X射線(>12MeV)a100由于Co-60和高能X射線在石油化工的現(xiàn)場檢測的運用比較少，所以只分析Se-75源和Ir-192源B級檢測和AB級檢測的不同之處。由上表可知，對Se-75和Ir-192源B級檢測比AB級檢測的透照厚度范圍小。這是因為相比于同等能量的X射線，Y射線的線質(zhì)較硬，對比度、清晰度、顆粒度都比X射線差，控制透照厚度下限值是為了保證小缺陷的檢出率。由于B級檢測采用感光度低的細粒膠片，所以曝光時間相對較長，但過長的的曝光時間，使底片灰霧增加，對檢測靈敏度不利，所以對Ir-192源B級檢測的透照厚度上限值比AB級檢測小。采用其他透照方式時，B級檢測的透照厚度下限值不允許降低，而AB級檢測允許降低，表示B級檢測比AB級檢測對透照厚度的下限值控制更為嚴格。B級檢測時，各種射線源的透照范圍變小，在很多情況下，不得不使用X射線透照，檢測效率下降，檢測成本增加。七、不同檢測技術(shù)級別對射線源至工件表面的最小距離的規(guī)定JB/T4730.2-2005標準第4.3.1條就有關(guān)不同檢測技術(shù)級別對射線源全工件表面的最小距離的規(guī)定如下：4.3.1說選用的射線源全工件表面的距離f應(yīng)滿足下述要求： A級射線檢測技術(shù)：fN7.5db2/3AB級射線檢測技術(shù)：f\10db2/3 B級射線檢測技術(shù)：fN15db2/3注：f為射線源全工件表面的距離；d為射線源的有效焦點尺寸；b為工件全膠片距離。由于焦距F=f+b，所以在d和b不變的情況下，B級檢測比AB級檢測的f值大，所以焦距F也比AB級大。大的焦距幾何不清晰度小，所以檢測靈敏度高。注意:焦距是指射線源焦點到膠片的距離，而不是射線機機頭到膠片的距離。所以焦距為機頭到膠片的距離加焦點到機頭的距離，現(xiàn)場檢測中應(yīng)注意。一般300KV探傷機焦點到機頭的距離為130mm,250KV探傷機焦點到機頭的距離為120mmoB級檢測焦距比AB級檢測焦距大，射線的能量和距離的平方成反比，焦距越大，曝光時間越長，檢測效率越低，檢測成本越高。八、 不同檢測技術(shù)級別對X射線照相最小曝光量的規(guī)定JB/T4730.2-2005標準第4.4.1條就有關(guān)不同檢測技術(shù)級別對X射線照相最小曝光量的規(guī)定如下：4.4.1X射線照相，當焦距為700mm時，曝光量的推薦值為：A級和AB級射線檢測技術(shù)不小于15mA?min；B級射線檢測技術(shù)不小于20mA?min。當焦距改變時可按平方反比定律對曝光量的推薦值進行換算。由4.4.1條規(guī)定可知，在相同焦距情況下，B級檢測比AB級檢測要求的最小曝光量大，曝光量的增大有利于改善底片顆粒度，進而提高對比度。曝光量增大意味著曝光時間的延長，檢測效率的降低，檢測成本的提高。九、 不同檢測技術(shù)級別對底片黑度D的規(guī)定JB/T4730.2-2005標準第4.11.2條就有關(guān)不同檢測技術(shù)級別對底片黑度D的規(guī)定如下：4.11.2底片評定范圍內(nèi)的黑度D應(yīng)符合下列規(guī)定：A級：1.5^D^4.0；AB級：2.0^D^4.0；B級：2.3^D^4.0O用X射線透照小徑管或其他截面厚度變化大的工件時，AB級最低黑度允許降至1.5；B級最低黑度可降至2.0。由4.11.2條規(guī)定可知，無論是透照普通工件還是截面厚度變化大的工件，B級檢測比AB級檢測要求的最低黑度值都要高。這是因為，對于承壓設(shè)備射線照相檢測用的都是非增感型膠片，這種膠片的梯度隨黑度的增加而增加，而梯度的增加