標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 2423.25-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)》與《GB/T 2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)》相比,在多個(gè)方面進(jìn)行了更新和調(diào)整。具體變更包括:

  • 標(biāo)準(zhǔn)名稱的變化,從“電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法”,這一改動(dòng)反映了標(biāo)準(zhǔn)體系的調(diào)整以及對(duì)試驗(yàn)方法更加明確的分類。

  • 更新了引用文件列表,增加了對(duì)新版本相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的引用,并刪除了一些不再適用或已被替代的標(biāo)準(zhǔn)。

  • 對(duì)術(shù)語定義部分進(jìn)行了修訂,確保所使用的術(shù)語準(zhǔn)確無誤且符合最新的技術(shù)發(fā)展水平。例如,對(duì)于某些關(guān)鍵參數(shù)給出了更為精確的定義。

  • 詳細(xì)說明了試驗(yàn)條件的選擇依據(jù)及如何根據(jù)產(chǎn)品特性來確定具體的測(cè)試要求,增強(qiáng)了指導(dǎo)性。同時(shí),也提供了更多關(guān)于如何設(shè)置溫度、壓力等參數(shù)的具體建議。

  • 強(qiáng)調(diào)了安全措施的重要性,在進(jìn)行低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)時(shí)需特別注意操作人員的安全防護(hù),以及對(duì)被測(cè)樣品可能產(chǎn)生的影響進(jìn)行了補(bǔ)充說明。

  • 增加了關(guān)于數(shù)據(jù)記錄與報(bào)告編制的要求,明確了需要記錄的信息類型以及報(bào)告格式,以保證試驗(yàn)結(jié)果的一致性和可比性。


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  • 被代替
  • 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.27-2020
  • 2008-12-30 頒布
  • 2009-10-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 2423.25-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)_第1頁
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GB/T 2423.25-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)-免費(fèi)下載試讀頁

文檔簡(jiǎn)介

犐犆犛19.040

犓04

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅/犜2423.25—2008/犐犈犆60068240:1976

代替GB/T2423.25—1992

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第2部分:試驗(yàn)方法

試驗(yàn)犣/犃犕:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)

犈狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犳狅狉犲犾犲狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狆狉狅犱狌犮狋狊—

犘犪狉狋2:犜犲狊狋狊犿犲狋犺狅犱狊—

犜犲狊狋犣/犃犕:犆狅犿犫犻狀犲犱犮狅犾犱/犾狅狑犪犻狉狆狉犲狊狊狌狉犲狋犲狊狋狊

(IEC60068240:1976,Basicenvironmentaltestingprocedures—

Part2:TestsTestZ/AM:Combinedcold/lowairpressuretests,IDT)

20081230發(fā)布20091001實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

犌犅/犜2423.25—2008/犐犈犆60068240:1976

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅲ

1引言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

1.1概述!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

1.2低氣壓!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

1.3溫度!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

1.4規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

2目的!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

3一般說明!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

4試驗(yàn)設(shè)備!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

4.1試驗(yàn)箱!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

4.2安裝!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

5嚴(yán)酷度等級(jí)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

5.1一般要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

5.2溫度、氣壓和持續(xù)時(shí)間的優(yōu)選組合!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

6預(yù)處理!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

7初始檢測(cè)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!3

8條件試驗(yàn)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!3

8.1一般規(guī)定!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!3

8.2無人工冷卻的散熱試驗(yàn)樣品和非散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)程序!!!!!!!!!!!!!!!3

8.3帶人工冷卻的試驗(yàn)樣品進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)的注意事項(xiàng)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!3

9中間檢測(cè)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!3

10恢復(fù)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!4

11最后檢測(cè)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!4

12相關(guān)規(guī)范中給出的資料!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!4

附錄NA(資料性附錄)GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分!!!!!!!!!!!!!!!!!!!7

犌犅/犜2423.25—2008/犐犈犆60068240:1976

前言

GB/T2423.25是GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的第25部分。GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分見資料性附錄NA。

本部分等同采用國(guó)際電工委員會(huì)IEC60068240:1976(第一版)《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分:

試驗(yàn)試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)》(英文版)及其修訂1:1983。為便于使用,本部分做了下列

編輯性修改:

———為與新版IEC60068的標(biāo)題名稱一致,本部分標(biāo)題名稱由“基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程”改為“電工電子

產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)”;

———“IEC60068240:1976本部分”修改為“GB/T2423.25—2008本部分”;

———?jiǎng)h除了IEC60068240:1976的前言和序;

———增加了國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的前言;

———增加了規(guī)范性引用文件一覽表的引導(dǎo)語;引用了與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)有對(duì)應(yīng)關(guān)系的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),并改變了

排列順序;

———增加了資料性附錄“GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分”(見附錄NA)。

本部分代替GB/T2423.25—1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓

綜合試驗(yàn)》。本部分與GB/T2423.25—1992相比主要變化如下:

———GB/T2423.25—1992是參照采用國(guó)際電工委員會(huì)IEC60068240:1976(第一版)《基本環(huán)境

試驗(yàn)規(guī)程第2部分:試驗(yàn)試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)》(英文版)及其修訂1:1983,

本部分是等同采用;

———為與IEC原文一致,本部分將圖1和圖2改為圖1a)和圖1b),并置于正文最后;

———為與IEC原文編寫格式一致,本部分將4.1.1和4.1.2合并在一起;5.1.1、5.1.2和5.1.3合

并在一起;8.1.1和8.1.2合并在一起;

———本部分表1中沒有列出與溫度、氣壓對(duì)應(yīng)的高度值,三者的關(guān)系見專門標(biāo)準(zhǔn);并增加了以mbar

為單位的氣壓值;

———本部分8.2.8壓力升高期間不要求溫度控制。

本部分的附錄NA為資料性附錄。

本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC8)提出并歸口。

本部分由廣州電器科學(xué)研究院起草。

本部分主要起草人:胡利芬。

本部分所代替部分的歷次版本發(fā)布情況為:

———GB2423.25—1981、GB/T2423.25—1992。

犌犅/犜2423.25—2008/犐犈犆60068240:1976

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第2部分:試驗(yàn)方法

試驗(yàn)犣/犃犕:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)

1引言

1.1概述

GB/T2423的本部分是關(guān)于散熱和非散熱試驗(yàn)樣品低溫(溫度漸變或突變)和低氣壓綜合試驗(yàn),見

8.2.2和8.2.8。

本試驗(yàn)?zāi)康氖谴_定元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品對(duì)其貯存和使用中遇到的低溫低氣壓綜合環(huán)境的適

應(yīng)性。

本綜合試驗(yàn)通常只有在試驗(yàn)樣品進(jìn)行單一環(huán)境試驗(yàn)不能揭示綜合環(huán)境影響時(shí)使用。本部分規(guī)定的

試驗(yàn)程序只適用于在試驗(yàn)期間能夠達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。

本部分規(guī)定的試驗(yàn)方法一次只能試驗(yàn)一個(gè)散熱試驗(yàn)樣品。

1.2低氣壓

本試驗(yàn)程序適用于氣壓大于1kPa的壓力試驗(yàn)。當(dāng)氣壓小于或等于1kPa時(shí),可不必考慮試驗(yàn)程

序的內(nèi)容。

本部分沒有指明高度、壓力和溫度的關(guān)系。三者的關(guān)系見專門標(biāo)準(zhǔn)。

1.3溫度

1.3.1GB/T2423.1試驗(yàn)A中有關(guān)非散熱試驗(yàn)樣品和散熱試驗(yàn)樣品試驗(yàn)應(yīng)用對(duì)比的指導(dǎo)適用于本

部分。

注:非散熱試驗(yàn)樣品的定義按GB/T2421相關(guān)的規(guī)定,不應(yīng)在低氣壓下測(cè)量其最熱點(diǎn)的溫度。

1.3.2GB/T2423.1試驗(yàn)A中散熱試驗(yàn)樣品應(yīng)該優(yōu)先在無強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗(yàn)箱中進(jìn)行試驗(yàn)。

1.4規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過GB/T2423的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,

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