GB/T 19404-2003微波鐵氧體器件主要性能測(cè)量方法

ICS29.100.10L19中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T19404-2003/IEC61830:1997微波鐵氧體器件主要性能測(cè)量方法Microwaveferritecomponents-Measuringmethodsformajorproperties(IEC61830:1997.IDT)2003-11-24發(fā)布2004-08-01實(shí)施中華人民共和國(guó)發(fā)布國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

GB/T19404一2003/IEC61830:1997前本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC61380:1997《微波鐵氧體元件主要性能測(cè)量方法》英文版)本標(biāo)準(zhǔn)對(duì)IEC61380中各圖位置按相關(guān)條款作了移動(dòng),并去掉了第1章中的說(shuō)明性注解1.本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)磁性元件與鐵氧體材料標(biāo)委會(huì)提出并歸口。本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所(CESI)總歸口.本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第九研究所、中國(guó)航天集團(tuán)第二十三研究所.本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：張?zhí)J、胡濱、國(guó)論、尹景林。

GB/T19404-2003/IEC61830:19971EC61830:1997《微波鐵氧體器件主要性能測(cè)量方法》給出了經(jīng)典的、傳統(tǒng)的測(cè)量微波鐵氧體器件主要性能的測(cè)量方法。本標(biāo)準(zhǔn)不排斥通常使用的網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)量微波鐵氧體器件主要性能的測(cè)量方法·實(shí)用的微波鐵氧體器件主要性能的測(cè)量方法標(biāo)準(zhǔn)有：-GJB2650—1996微波元器件性能測(cè)量方法;11996-1990微波器件測(cè)試方法。

GB/T19404一2003/IEC61830:1997微波鐵氧體器件主要性能測(cè)量方法范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定微波鐵氧體器件主要性能的測(cè)量方法導(dǎo)則。l。這些性能參數(shù)包括：反射損耗、正向損耗、反向損耗、相位移和群延時(shí)。注：盡管目前網(wǎng)絡(luò)分析儀已被大多數(shù)廠商用于測(cè)量微波鐵氧體器件上述各項(xiàng)參數(shù).然面.要了解包括使用網(wǎng)絡(luò)分析儀在內(nèi)的通用測(cè)量方法.需要掌握基本測(cè)量方法的知識(shí)。因此·傳統(tǒng)測(cè)量方法還是在此進(jìn)行了敘述。規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn).然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。EC60510-1-3:1980衛(wèi)星地面站用無(wú)線電設(shè)備的測(cè)量方法第1部分：分系統(tǒng)和分系統(tǒng)組合通用的測(cè)量反射損耗第3節(jié)：中頻范圍內(nèi)的測(cè)量IEC60510-1-3AMD1:1988反射損耗3.1阻抗、反射損耗、反射系數(shù)和電壓駐波比(VSWR)之間的關(guān)系對(duì)于微波鐵氧體器件，更注重反射損耗的測(cè)量而不是阻抗、反射系數(shù)或電壓駐波比（VSWR）的測(cè)量。阻抗乙相對(duì)于其標(biāo)稱值Z。的反射系數(shù)或VSWR的測(cè)量：反射損耗L（單位dB)與阻抗乙和Z。的關(guān)系見式(1)：·（1）反射損耗L（單位dB)也可以表示見式(2)：……（2）式中：電壓反射系數(shù)。與阻抗Z、Z的關(guān)系見式(3)：電壓駐波比（VSWR）表示見式(4)：VSWR（4）3.2測(cè)量方法反射損耗的測(cè)量方法可以用遙點(diǎn)法或掃頻法。作為示例下面章條款中規(guī)定了后一種方法·但是·任何一種其他方法只要