GB/T 18858.1-2002低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備控制器-設(shè)備接口(CDI)第1部分：總則

ICS29.130.20K30中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T18858.1—2002/IEC62026-1:2000低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備控制器一設(shè)備接口（CDI)第1部分：總則Low-voltageswitchgearandcontrolgear-Controller-deviceinterfaces（CDIs）Part1:Generalrules（IEC62026-1:2000.IDT)2002-10-08發(fā)布2003-04-01實(shí)施中華人民共和國發(fā)布國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

GB/T18858.1—2002/IEC62026-1：2000前言引言7范圍2規(guī)范性引用文件3定義4分類5特性5.1CDI元件5.2接口……5.3拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)5.4信息交換5.5屬性······6產(chǎn)品資料6.1安裝，操作和維修說明書·6.2描述6.3標(biāo)志6.4防護(hù)等級(jí)………7正常使用、安裝和運(yùn)輸條件…7.1一般要求····················.·7.2正常使用條件7.3運(yùn)輸和儲(chǔ)存條件7.4安裝8結(jié)構(gòu)和性能要求8.18.2電磁兼容（EMC)·試驗(yàn)……9.1一般要求9.2型式試驗(yàn)9.3電磁兼容試驗(yàn)

GB/T18858.1—2002/IEC62026-1:2000GB/T18858《低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備控制器一設(shè)備接口》分為三部分：-GB/T18858.1低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備控制器一設(shè)備接口(CDI）第1部分:總則低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備控制器一設(shè)備接口（CDI）GB/T18858.21第2部分：執(zhí)行器傳感器接口（ASi）-GB/T18858.3低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備控制器一設(shè)備接口(CDI）第3部分：DeviceNet本部分是GB/T18858的第1部分。本部分等同采用IEC62026-1:2000《低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)控制器一設(shè)備接口第1部分：總則》,本部分在技術(shù)內(nèi)容上與IEC62026-1:2000一致，編寫格式也與IEC62026-1:2000一致。本部分通過等同采用IEC國際標(biāo)準(zhǔn)，使我國控制器一設(shè)備接口標(biāo)準(zhǔn)與國際標(biāo)準(zhǔn)一致,以適應(yīng)國際間貿(mào)易、技術(shù)、經(jīng)濟(jì)的交流的需要。本部分是GB/T18858《低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備控制器一設(shè)備接口》系列標(biāo)準(zhǔn)之一.是控制器一設(shè)備接口的基本要求，同時(shí),對(duì)于具體型式控制器—設(shè)備接口的要求在具體的分標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定.本部分規(guī)范性引用文件中·有以下幾點(diǎn)說明：1）本部分引用的GB/T17626.2.在IEC62026-1中采用的是IEC61000-4-2的1.1版(1999年)即IEC61000-4-2(1995)及其1號(hào)修正件(1998)。2)本部分引用的GB/T17626.3.在IEC62026-1中采用的是IEC61000-4-3的1.1版(1998年)即IEC61000-4-3(1995)及其1號(hào)修正件(1998)。3）本部分引用的GB/T17626.4.在IEC62026-1中采用的是IEC61000-4-4的1.1版(1999年)即IEC61000-4-4（1997)及其1號(hào)修正件(1999）。本部分由中國電器工業(yè)協(xié)會(huì)提出本部分由全國低壓電器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本部分負(fù)責(zé)起草單位：上海電器科學(xué)研究所。本部分主要起草人：季慧玉、章永孚.

GB/T18858.1-2002/IEC62026-1:2000本部分范圍內(nèi)的控制器-設(shè)備接口(CDI)種類包含了控制系統(tǒng)、工廠自動(dòng)化和過程自動(dòng)化用的工業(yè)CDI工業(yè)CDI已擴(kuò)大使用范圍以滿足特殊用戶的需要，但是沒有一種CDI能夠滿足所有要求。形成多種型式CDI的原因在于對(duì)CDI物理性能、用途、信息含量以及結(jié)構(gòu)要求的范圍廣泛。為了滿足距離、節(jié)點(diǎn)數(shù)量和環(huán)境的條件,不同物理要求導(dǎo)致CDI的信號(hào)和線路調(diào)節(jié)機(jī)能也各不相同。量然CDI的技術(shù)變化多端,但本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了通用元件、通用接口和環(huán)境要求。有關(guān)對(duì)CDI通用要求的標(biāo)準(zhǔn)化規(guī)定可以幫助用戶通過技術(shù)對(duì)比和選用來滿足特殊用途對(duì)距離、節(jié)點(diǎn)數(shù)量、數(shù)據(jù)處理能力和裝置的要求。本部分通過編制一份專用CDI標(biāo)準(zhǔn).提供一個(gè)通用結(jié)構(gòu).并列入專用接口的特性和能力，使（DI的選用過程得以簡(jiǎn)化。第1章至第8章列入CDI標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的基本要求概要.第9章列入試驗(yàn)規(guī)定。CDI特性的標(biāo)準(zhǔn)化也簡(jiǎn)化了編寫工業(yè)控制系統(tǒng)高級(jí)功能軟件（如管理控制.操作員接口和控制策略編程軟件)的任務(wù)為使這份標(biāo)準(zhǔn)完整并便于使用，要求提供專用CDI標(biāo)準(zhǔn).這些標(biāo)準(zhǔn)已列人《低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)控制器一設(shè)備接口》系列標(biāo)準(zhǔn)的其他部分。

GB/T18858.1-2002/IEC62026-1:2000低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備控制器一設(shè)備接口(CDI)第1部分：總則1范圍本部分適用于在低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備與控制器（如可編程控器、個(gè)人計(jì)算機(jī)等)之間的接口。本部分不適用于由IEC/SC65C研究的稱為現(xiàn)場(chǎng)總線的更高層工業(yè)通信網(wǎng)絡(luò)。本部分的目的旨在協(xié)調(diào)和規(guī)定適用于工業(yè)CDI的定義規(guī)則、元件及基本性能要求。有關(guān)各類（DI的標(biāo)準(zhǔn)特性可作為基本要求集中列入本部分(稱為第1部分)。在確定各種CDI的全部要求和試驗(yàn)時(shí).需采用以下兩份主要文件：本部分在包括各種類型CDI的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中稱為“第1部分”;b）GB/T18858系列標(biāo)準(zhǔn)中的專用CDI部分。如果總則不適用,CDI專用標(biāo)準(zhǔn)可以不采用,或如果基本要求在特殊場(chǎng)合不適合,CDI專用標(biāo)準(zhǔn)可對(duì)總則加以補(bǔ)充，但是專用標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容不應(yīng)違背其基本要求·除非確有充分的技術(shù)理由。?。簩?duì)于裝有CDI的產(chǎn)品，其產(chǎn)品具體要求在有關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定。除了本部分所規(guī)定的要求外.有關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定適用。D范性引用文件下列文件中的條款通過（B/T18858的本部分的引用而成為本部分的條款。。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分.然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本部分。GB4824工業(yè)、科學(xué)和醫(yī)療（ISM)射頻設(shè)備電磁騷擾特性的測(cè)量方法和限值（GB4824—2001.idtCISPR11）GB/T14048.1—2000低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備·總則（eqvIEC60947-1:1999)GB/T17626.2電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)(GB/T17626.2—1998.idtIEC61000-4-2:1995）GB/T17626.3電磁兼容武驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)村頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)（GB/T17626.3—1998.idtIEC61000-4-3:1995）GB/T17626.4電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗抗度試驗(yàn)(GB/T17626.4-1998.idtIEC61000-4-4:1995)GB/T17626.5電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)