標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 18310.17-2003 纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件 基本試驗(yàn)和測(cè)量程序 第2-17部分：試驗(yàn) 低溫》這一標(biāo)準(zhǔn)主要規(guī)定了光纖光學(xué)互連器件及無(wú)源器件在低溫環(huán)境下的測(cè)試方法與程序，確保這些器件在低溫條件下的性能穩(wěn)定性和可靠性。然而，您提供的對(duì)比要求中，《》部分為空白，意味著沒(méi)有直接給出另一個(gè)具體標(biāo)準(zhǔn)或版本來(lái)進(jìn)行詳細(xì)比較。

不過(guò)，基于此類標(biāo)準(zhǔn)更新的一般趨勢(shì)和原則，可以推測(cè)相對(duì)于其前一版或其他相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，GB/T 18310.17-2003可能包含以下幾類變更：

  1. 測(cè)試條件細(xì)化：新標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)低溫測(cè)試的具體條件（如溫度范圍、持續(xù)時(shí)間、溫降速率）進(jìn)行了更詳細(xì)的定義，以更好地模擬實(shí)際應(yīng)用中的極端低溫環(huán)境。

  2. 試驗(yàn)方法優(yōu)化：為了提高測(cè)試的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性，標(biāo)準(zhǔn)可能引入了新的測(cè)試設(shè)備要求、校準(zhǔn)方法或數(shù)據(jù)處理流程，以及對(duì)測(cè)試樣品的準(zhǔn)備和安裝指導(dǎo)的改進(jìn)。

  3. 性能指標(biāo)調(diào)整：隨著光纖技術(shù)的發(fā)展，新標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)設(shè)定更為嚴(yán)格的產(chǎn)品性能要求，比如在低溫下光傳輸損耗的允許上限、互連器件的機(jī)械穩(wěn)定性等，以適應(yīng)高性能光纖通信系統(tǒng)的需求。

  4. 兼容性與互操作性：為了促進(jìn)不同廠家產(chǎn)品的互換性和系統(tǒng)集成能力，標(biāo)準(zhǔn)可能新增了關(guān)于低溫環(huán)境下互連兼容性的測(cè)試內(nèi)容，確保器件在多供應(yīng)商環(huán)境中的正常運(yùn)作。

  5. 安全與環(huán)境考量：考慮到環(huán)境保護(hù)和操作人員安全，新標(biāo)準(zhǔn)或許包含了更多關(guān)于測(cè)試過(guò)程中材料使用、廢棄物處理及操作安全的指導(dǎo)原則。

  6. 術(shù)語(yǔ)和定義更新：為保持與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)或行業(yè)最新進(jìn)展的同步，標(biāo)準(zhǔn)中可能更新了相關(guān)術(shù)語(yǔ)和定義，以便于國(guó)內(nèi)外技術(shù)交流和標(biāo)準(zhǔn)化工作。

由于沒(méi)有具體的對(duì)比對(duì)象，以上分析基于一般標(biāo)準(zhǔn)修訂的方向和目的進(jìn)行。若需獲得具體變更詳情，需直接比對(duì)該標(biāo)準(zhǔn)與其前版或相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的具體條款。


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  • 2003-11-24 頒布
  • 2004-08-01 實(shí)施
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GB/T 18310.17-2003纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2-17部分：試驗(yàn)低溫_第1頁(yè)
GB/T 18310.17-2003纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2-17部分：試驗(yàn)低溫_第2頁(yè)
GB/T 18310.17-2003纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2-17部分：試驗(yàn)低溫_第3頁(yè)
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GB/T 18310.17-2003纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2-17部分：試驗(yàn)低溫-免費(fèi)下載試讀頁(yè)

文檔簡(jiǎn)介

ICS33.180.20L50中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T18310.17-2003/IEC61300-2-17：1995纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2-17部分:試驗(yàn)低溫Eibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents-Basictestandmeasurementprocedures-Part2-17：Tests-Cold（IEC61300-2-17：1995,IDT)2003-11-24發(fā)布2004-08-01實(shí)施中華人民共和國(guó)發(fā)布國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

GB/T18310.17-2003/IEC61300-2-17:1995本部分為GB/T18310的第17部分.并求屬于GB/T18309.1-2001/IEC61300-1:1995《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第1部分：總則和導(dǎo)則》。本部分等同采用IEC61300-2-17:1995《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2-17部分：試驗(yàn)低溫》英文版）為便于使用,對(duì)于IEC61300-2-17:1995還作了下列編輯性修改：刪除IEC61300-2-17:1995的前言。《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序》是系列國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，下面列出了這些國(guó)家標(biāo)淮的預(yù)計(jì)結(jié)構(gòu)及其對(duì)應(yīng)的IEC標(biāo)準(zhǔn)：a）GB/T18309.1—2001《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第1部分：總則和導(dǎo)則》idtIEC61300-1:1995）。GB/T18310《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2部分：試驗(yàn)》GGB/T18310.1-2002《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件：基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2-1部分：試驗(yàn)振動(dòng)(正弦)》IEC61300-2-1:1995.IDT)GB/T18310.2-2001《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2-2部分：試驗(yàn)配接耐久性》(idtIEC61300-2-2:1995）-GB/T18310.3-2001《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2-3部分:試驗(yàn)靜態(tài)剪切力》(idtIEC61300-2-3:1995）-GB/T18310.4—2001《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2-4部分：試驗(yàn)光纖/光纜保持力》idtIEC61300-2-4:1995)（GB/T18311《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3部分:檢查和測(cè)量》-GB/T18311.1—2003《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3-1部分：檢查和測(cè)量外觀檢查》IEC61300-3-1:1995.IDT）——GB/T18311.2—2001《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第第3-2部分：檢查和測(cè)量單模纖維光學(xué)器件偏振依賴性》idtIEC61300-3-2:1995）-GB/T18311.3—2001《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3-3部分:檢查和測(cè)量監(jiān)測(cè)衰減和回波損耗變化(多路)》idtIEC61300-3-3:1997)-GB/T18311.4—2003《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3-4部分:檢查和測(cè)量衰減》IEC61300-3-4:2001,IDT)本部分由中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部提出本部分由中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所（CESI歸口本部分起草單位：上海傳輸線研究所本部分起草人：懷向芳、程萬(wàn)茂、湯鈞、樊鶴峰、馬磊、王銳臻

GB/T18310.17-2003/IEC61300-2-17:1995纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2-17部分:試驗(yàn)：低溫總則1.1范圍和目的本部分旨在確定纖維光學(xué)器件承受實(shí)際使用、賠存和(或)運(yùn)輸中可能遇到的持續(xù)低溫環(huán)境條件下的適應(yīng)性。本部分不適用于評(píng)定上述器件在溫度變化期間工作的能力，此時(shí)應(yīng)采用GB/T18310.22-2003.1.2概述試驗(yàn)按GB/T2423.1—2001試驗(yàn)Ab進(jìn)行·將樣品置于環(huán)境溫度的試驗(yàn)箱中。然后以不超過(guò)1C/min(5min內(nèi)的平均值)的速率將溫度降至試驗(yàn)溫度,按規(guī)定的持續(xù)時(shí)間保持此溫度。。再將試驗(yàn)箱溫度提至環(huán)境溫度，在樣品達(dá)到環(huán)境溫度平衡后進(jìn)行最后測(cè)量1.3規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)GB/T18310的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件·其隨后所有的修改單(不包括誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分·然而.鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本部分電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法GB/T2423.1-2001試驗(yàn)A:低溫（idtIEC60068-2-1:1990)GB/T18310.22-2003纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件星本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2-22部分：試驗(yàn)溫度變化(IEC61300-2-22:1995.IDT)2裝置2.1武驗(yàn)箱試驗(yàn)裝置由符合GB/T2423.1—2001中試驗(yàn)Ab的環(huán)境試驗(yàn)箱構(gòu)成。試驗(yàn)箱應(yīng)能容納樣品。如要求，試驗(yàn)箱應(yīng)允許在條件試驗(yàn)期間讀取測(cè)量值，還應(yīng)具有保持規(guī)定溫度及容差的能力?？刹捎脧?qiáng)迫氣流來(lái)保持均勻的環(huán)境條件。應(yīng)注意保證樣品不直接暴露于加熱或制冷元件下。2.2其他裝置為完成相關(guān)規(guī)范規(guī)定的測(cè)量，可能需要附加試驗(yàn)裝置3程序按GB/T2423.1—2001中試驗(yàn)Ab規(guī)

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