標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 15430-1995 紅外探測器環(huán)境試驗方法》作為一項國家標(biāo)準(zhǔn),規(guī)定了紅外探測器在不同環(huán)境條件下進(jìn)行性能測試與評估的具體方法。然而,您提供的對比項似乎不完整,沒有明確指出要與哪個具體的標(biāo)準(zhǔn)或版本進(jìn)行比較。因此,直接對比變更內(nèi)容無法實現(xiàn)。若希望了解該標(biāo)準(zhǔn)相比于其前一版或其他相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的更新要點,通常需要明確參照的具體標(biāo)準(zhǔn)或版本號。
不過,可以一般性地說明,當(dāng)國家標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行修訂時(例如從某年版更新到另一年版),變更可能涉及以下幾個方面:
- 試驗項目增減:新版本可能會根據(jù)技術(shù)進(jìn)步和應(yīng)用需求,增加新的環(huán)境試驗項目,或者取消某些不再適用的測試內(nèi)容。
- 測試方法優(yōu)化:為了提高測試精度或適應(yīng)新的測試技術(shù),標(biāo)準(zhǔn)可能會對原有試驗方法進(jìn)行修改或細(xì)化。
- 環(huán)境條件調(diào)整:針對不同環(huán)境因素(如溫度、濕度、振動等)的試驗極限值或測試范圍可能有所調(diào)整,以更好地反映實際使用情況。
- 性能評價指標(biāo)更新:對紅外探測器的性能評價標(biāo)準(zhǔn)可能更加嚴(yán)格或加入了新的評價指標(biāo),確保產(chǎn)品在各種環(huán)境下的可靠性和穩(wěn)定性。
- 術(shù)語定義和分類:隨著技術(shù)發(fā)展,相關(guān)術(shù)語和產(chǎn)品分類也可能得到更新,以保持標(biāo)準(zhǔn)的準(zhǔn)確性和時代性。
- 合規(guī)性要求:對于產(chǎn)品出口或特定行業(yè)應(yīng)用,新標(biāo)準(zhǔn)可能納入國際通用要求或特定行業(yè)的特殊規(guī)定,增強(qiáng)產(chǎn)品的國際競爭力和適用性。
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 1995-01-06 頒布
- 1995-08-01 實施
文檔簡介
UDC621.389:536.5L15中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)CB/T15430-1995紅外探測器環(huán)境試驗方法Environmentaltestinggmethodsforinfrareddetectors1995-01-06發(fā)布1995-08-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
主題內(nèi)容與適用范圍1.1主題內(nèi)容1.2適適用范圍引用標(biāo)準(zhǔn)3術(shù)語、符號、代號4一般要求4.1設(shè)備儀器的誤差4.2試驗程序·4.3標(biāo)準(zhǔn)大氣條件4.4考慮試驗順序的一般原則4.5各試驗項目之間的時間間隔詳細(xì)要求5.1低溫財存試驗高溫財存試驗低溫工作性能試驗高溫工作性能試驗5.5恒定濕熱試驗5.6交變濕熱試驗?9溫度變化試驗5.75.8低氣壓試驗(12密封性試驗…·5.9(13)5.10輻照試驗(15)長霉試驗5.11(18)5.12鹽霧試驗(20)5.13正弦振動試驗(20)寬頻帶隨機(jī)振動試驗5.14(24)沖擊試驗5.15(27)碰撞試驗5.16(28)恒定加速度試驗5.17(30)5.18引出端及整體安裝件強(qiáng)度試驗(30)
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)CB/T15430-1995紅外探測器環(huán)境試驗方法Environmentaltestingmethodsforinfrareddetectors主題內(nèi)客與適用范圍1.1主題內(nèi)容本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了紅外探測器的環(huán)境試驗方法、本標(biāo)準(zhǔn)所述的試驗方法為人工環(huán)境的試驗方法。1.2適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)適用于非報警紅外探測器的各類環(huán)境試驗。,采用本標(biāo)準(zhǔn)時有關(guān)規(guī)范要根據(jù)紅外探測器可能遇到的環(huán)境條件、結(jié)構(gòu)特點,從試驗技術(shù)和經(jīng)濟(jì)等方面作出綜合分析后,再規(guī)定采用哪些試驗方法、嚴(yán)酪程度以及試驗順序等。本標(biāo)準(zhǔn)通常是用于在條件試驗期間能達(dá)到穩(wěn)定溫度的試驗樣品即非散熱樣品。2引用標(biāo)準(zhǔn)GB2421電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則GB2422電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程名詞術(shù)語GB2423.3電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試試驗Ca:恒定濕熱試驗方法GB2423.4電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db:交變濕熱試驗方法GB2423.5電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程武驗Ea:沖擊試驗方法GB2423.6電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程1試驗Eb:碰撞試驗方法GB2423.10電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Fc:振動(正弦)試驗方法GB2423.11電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Fd:寬帶隨機(jī)振動試驗方法一般要求GB2423.12電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Fda:寬帶隨機(jī)振動試驗方法高再現(xiàn)性GB2423.13電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Fdb:寬帶隨機(jī)振動試驗方法中再現(xiàn)性GB2423.14電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Fde:寬帶隨機(jī)振動試驗方法低再現(xiàn)性GB2423.15電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ga:恒加速度試驗方法GB2423.16電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗J:長霉試驗方法GB2423.22電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗N:溫度變化試驗方法GB2423.23電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Q:密封GB2423.24電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射試驗方法GB2423.291電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗U:引出端及整體安裝強(qiáng)度GJB360.12電子及電氣元件試
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