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FY08_HT-7實(shí)驗(yàn)運(yùn)行報(bào)告運(yùn)行二組吳振偉，王華忠，錢金平，林士耀2008年2月29日實(shí)驗(yàn)計(jì)劃和內(nèi)容實(shí)驗(yàn)主題：新的磁面控制程序放電調(diào)試9:00-11:30低雜波電源檢修11:30-22:00新的磁面控制程序調(diào)試Shot＃97510－＃97632Ip~128KA/1.1s,ne~1.5-2.5E19m-3,It:3900APLHCD~300kW,PIBW小功率跟隨P外~2.5E-4Pa，P內(nèi)~1.1E-5PaLHW-1.1秒平臺供新的磁面控制程序測試新的磁面控制程序調(diào)試放電I新的磁面控制程序放電II(水平位移從-5到+1.6cm)總結(jié)和問題新的磁面控制程序,水平位移反饋控制已經(jīng)能正常工作等離子體電流大小系數(shù)有待進(jìn)一步確認(rèn)

用12個小探針計(jì)算出的等離子體電流比現(xiàn)在顯示的電流大10%水平位移的位置和變化還有待進(jìn)一步確認(rèn)在確定電流后需要做幾個不同的電流趨升平臺需要通過改變水平位移來觀察低雜波的偶合效率

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