超聲波檢測的基本問題

超聲波檢測的基本問題

超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第1頁!超聲檢測方法

超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第2頁!脈沖反射法（1）脈沖反射法的工作原理脈沖反射法是利用超聲波探頭脈沖在試件內(nèi)傳播的過程中，遇有聲阻抗相差較大的兩種介質(zhì)的界面時，將發(fā)生反射的原理進行檢測的方法。采用一個探頭兼做發(fā)射和接收器件，接收信號在探傷儀的熒光屏上顯示，并根據(jù)缺陷及底面反射波的有無、大小及其在時基軸上的位置來判斷缺陷的有無、大小及方位。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第3頁!脈沖反射法定義：

超聲波探頭發(fā)射脈沖波到被檢試件內(nèi)，根據(jù)反射波的情況來檢測試件缺陷的方法，稱為脈沖反射法。

⑴缺陷回波法：根據(jù)儀器示波屏上顯示的缺陷波形進行判斷的方法，稱為缺陷回波法。

超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第4頁!接觸法單探頭直射聲束脈沖反射法

(b)有缺陷

超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第5頁!脈沖反射法的優(yōu)點：①檢測靈敏度高，能發(fā)現(xiàn)較小的缺陷；②檢測精度較高；③適用范圍廣；④操作簡單方便。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第6頁!穿透法（透射法）

穿透法通常采用兩個探頭，分別放置在試件兩側，一個將脈沖波發(fā)射到試件中，另一個接收穿透試件后的脈沖信號，依據(jù)脈沖波穿透試件后幅值的變化來判斷內(nèi)部缺陷的情況。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第7頁!直射聲束穿透法(b)有缺陷

超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第8頁!透射法檢測的缺點：①一對探頭單發(fā)單收，只能判斷缺陷的大小和有無，不能確定缺陷的方位；②當缺陷尺寸較小探頭波束較寬時，該方法的探測靈敏度低。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第9頁!按波型分類：縱波法：使直探頭發(fā)射縱波，進行探傷的方法，稱為縱波法。橫波法：將縱波通過楔塊、水、油等介質(zhì)傾斜入射至試件探測面，利用波型轉換得到橫波進行探傷的方法，稱為橫波法。表面波法：使用表面波進行探傷的方法，稱為表面波法。板波法：使用板波進行探傷的方法，稱為板波法。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第10頁!縱波法的優(yōu)點：a.垂直入射，對與探測面平行的缺陷檢出效果最佳。b.對于同一介質(zhì)，縱波傳播速度大于其它波型的速度，對相同頻率而言波長最長，因而穿透能力強，可探測工件的厚度是所有波型中最大的；晶界反射或散射的敏感性相對較差，可用于粗晶材料的探傷。c.縱波法探傷時，波型和傳播方向不變，所以缺陷定位比較方便。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第11頁!橫波法將縱波通過楔塊、水等介質(zhì)傾斜入射至試件探測面，利用波型轉換得到橫波進行探傷的方法，稱為橫波法。由于透入試件的橫波束與探測面成銳角，又稱斜射法。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第12頁!橫波法的缺點：a.正因為波長較短，在介質(zhì)中的衰減較大，探測距離較短。b.傾斜入射，缺陷定位相對較復雜。此方法主要用于管材、焊縫的探傷。其它試件探傷時，則作為一種有效的輔助手段，用以發(fā)現(xiàn)垂直探傷法不易發(fā)現(xiàn)的缺陷。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第13頁!按探頭數(shù)目分類：

單探頭法：使用一個探頭兼作發(fā)射和接收超聲波的探傷方法。雙探頭法：使用兩個探頭（一個發(fā)射，一個接收）進行探傷的方法。多探頭法：使用兩個以上的探頭成對的組合在一起進行探傷的方法。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第14頁!液浸法-1液浸法是在探頭與試件之間填充一定厚度的液體介質(zhì)作耦合劑，使聲波首先經(jīng)過液體耦合劑，而后再入射到試件中，探頭與試件并不直接接觸。液浸法中，探頭角度可任意調(diào)整，聲波的發(fā)射、接收也比較穩(wěn)定，便于實現(xiàn)檢測自動化，大大提高了檢測速度。液浸法的缺點是當耦合層較厚時，聲能損失較大。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第15頁!超聲檢測通用技術

超聲檢測方法可采用多種檢測技術，每種檢測技術在實施過程中，都有其需要考慮的特殊問題，其檢測過程也各有特點。但各種超聲檢測技術又都存在著通用的技術問題超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第16頁!對檢測對象的了解與要求-1為了提高檢測結果的可靠性，應對受檢件的材料牌號、性能，制造方法和工藝特點，影響其使用性能的缺陷種類及形成原因、缺陷的最大可能取向及大小、受檢部位受力狀態(tài)及檢收標準進行了解。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第17頁!入射方向和探測面的選擇-1入射方向的選擇應使聲束中心線與缺陷延伸平面，特別是與最大受力方向垂直的缺陷面盡可能地接近垂直，并力求得到缺陷最大信號。缺陷的最大可能取向應根據(jù)結構、工藝特點和低倍組織的研究來判定。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第18頁!入射方向和探測面的選擇-3接觸法的探測面應比較規(guī)則，底波法最好應有平行的探測面和底面。考慮到盲區(qū)，必要時應從正、反兩面進行檢查。當從一面檢查靈敏度不夠時，亦應從正、反兩面進行檢查。還應根據(jù)工件的厚度、形狀綜合考慮。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第19頁!探頭型式的選擇-1常用的探頭型式有縱波直探頭、橫波斜探頭、表面波探頭、雙晶探頭、聚焦探頭等。其選擇主要取決于所選擇的探傷方法。一般根據(jù)工件的形狀和可能出現(xiàn)缺陷的部位、方向等條件來選擇探傷方法，一旦方法確定，應采用什么型式的探頭也就確定了。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第20頁!探頭頻率的選擇－３超聲波檢測所使用的頻率一般在0.5-10MHz之間，如何選擇，一般應考慮以下因素：由于波的繞射，使超聲波檢測靈敏度大約為λ／2，因此提高頻率，有利于發(fā)現(xiàn)更小的缺。頻率高，脈沖寬度小，分辨力高，有利于區(qū)分相鄰缺陷。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第21頁!

由以上分析可知，頻率的高低對探傷有較大的影響。頻率高，靈敏度和分辨力高，指向性好，對探傷有利。但頻率高，近場區(qū)長度大，衰減大，又對探傷不利。實際探傷中要全面分析考慮各方面的因素，合理選擇頻率。一般在保證探傷靈敏度的前提下盡可能選用較低的頻率。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第22頁!晶片大小對探傷的影響由θ＝arcsin1.22λ／D可知，晶片尺寸增加，半擴散角減少，波束指向性變好，超聲波能量集中，對探傷有利。由N＝D2／4λ可，晶片尺寸增加，近場區(qū)長度迅速增加，對探傷不利。晶片尺寸大，輻射的超聲波能量大，探頭未擴散區(qū)掃查范圍大，遠場掃查范圍相對變小，發(fā)現(xiàn)遠距離缺陷能力增強。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第23頁!折射角(K值)的選擇對于探測除焊縫以外的工件（例如鍛件、鋼管等），宜采用折射角為40°左右的橫波斜探頭，因為用有機玻璃斜探頭探傷鋼制工件，折射角40°(K＝0.84)左右時，聲壓往復透射率最高，即探傷靈敏度最高；缺陷距探測面深度相同的情況下，折射角小，聲程短，有利于缺陷的探測。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第24頁!就性能而言，一般應考慮以下原則：對于定位要求高的情況，應選擇水平線性誤差小的儀器。對于定量要求高的情況，應選擇垂直線性好，衰減器精度高的儀器。對于大型零件的探傷，應選擇靈敏度余量高、信噪比高、功率大的儀器。為了有效地發(fā)現(xiàn)近表面缺陷和區(qū)分相鄰缺陷，應選擇盲區(qū)小、分辨力好的儀器。對于室外現(xiàn)場探傷，應選擇重量輕，示波屏亮度好，抗干擾能力強的攜帶式儀器。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第25頁!耦合劑的選擇選擇耦合劑主要考慮以下幾方面的要求：透聲性能好。聲阻抗盡量和被探測材料的聲阻抗相近。有足夠的潤濕性、適當?shù)母街驼扯?。對試件無腐蝕，對人體無損害，對環(huán)境無污染。容易清除，不易變質(zhì)，價格便宜，來源方便。

常用耦合劑超聲波檢測中常用耦合劑有機油、變壓器油、甘油、水、水玻璃等。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第26頁!影響耦合的主要因素（2）表面粗糙度的影響工件表面粗糙度對聲耦合有明顯的影響。對于同一耦合劑，表面粗糙度高，耦合效果差，反射回波低。但粗糙度也不必太低，因為粗糙度太低，耦合效果無明顯增加，而且使探頭因吸附力大而移動困難。一般要求工件表面粗糙度Ra不高于6.3μm。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第27頁!（4）工件表面形狀的影響

工件表面形狀不同，耦合效果不一樣。因為常用探頭表面為平面，與平面工件表面是整個面的接觸，因而耦合效果最好；與凸曲面工件的表面接觸為點接觸或線接觸，聲強透射率低；對于凹曲面，探頭中心不與工件表面接觸，因此耦合效果最差。不同曲率半徑的耦合效果也不相同，曲率半徑大，耦合效果好。影響耦合的主要因素。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第28頁!表面耦合損耗的測定與補償在實際探傷中，當調(diào)節(jié)探傷靈敏度用的試塊與工件表面粗糙度、曲率半徑不同時，往往由于工件耦合損耗大而使探傷靈敏度降低。為了彌補耦合損耗，必須調(diào)大儀器的增益，即所謂的補償。為了恰當?shù)匮a償耦合損耗，應首先測定相對于試塊，工件表面耦合的損耗值，一般用分貝差表示。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第29頁!

平底孔適用于小于聲束截面且在聲束垂直方向上有一定投影面積的片狀或體積狀缺陷的定量，即所謂定缺陷的平底孔當量尺寸?！叭毕莸钠降卓桩斄砍叽纭笔侵冈谙嗤綔y條件下缺陷的反射波與同聲程平底孔回波高度相等時，所對應的平底孔的尺寸。平底孔的制作要求較高，孔的尺寸要精確，孔的垂直度偏差要很小，平底面的光潔度要求很高。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第30頁!短橫孔孔長大于孔徑，但小于聲束直徑的圓柱孔稱為短橫孔。它的反射聲壓變化規(guī)律在近場時類似于長橫孔，在遠場時接近于平底孔。它也能適應不同角度的斜探頭，故有的焊縫超聲波探傷標準中采用了這種孔型作為評價基準和參考反射體。短橫孔加工難度相對較大，為克服邊界效應，在試塊的側面還要加工一個半圓?。▽嶋H上也只能部分消除邊界效應）。這種試塊是我國獨有的試塊。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第31頁!掃查在進行超聲波檢測時，探傷面上探頭與試件的相對運動稱為掃查。掃查一般考慮兩個原則，一是保證試件的整個檢查區(qū)有足夠的聲束覆蓋以避免漏檢；二是掃查過程中聲束人射方向始終符合所規(guī)定的要求。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第32頁!2、保持探頭移動平穩(wěn)

掃查過程中應給探頭以適當?shù)暮鸵恢碌膲毫?指直接接觸而言)；否則，耦合液厚度會發(fā)生變化，使探傷靈敏度不穩(wěn)定。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第33頁!4、同步與協(xié)調(diào)雙探頭法探傷時，不管是縱波法或是橫波法，兩探頭的相對移動必須同步或協(xié)調(diào)，才能使缺陷回波為另一探頭所接收。5、掃查方式掃查方式很多，是被探工件、探傷方法等的不同而有所不同，將結合具體工件的檢測來選擇。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第34頁!影響缺陷回波高度的因素：

（1）缺陷本身的影響，即缺陷本身的大小、形狀、取向、表面狀態(tài)及內(nèi)含物（即與基體的聲阻抗不匹配），和缺陷在試件中的埋藏深度。缺陷本身對缺陷回波高度的影響：缺陷形狀的影響（見課本圖）；缺陷取向的影響；缺陷表面粗糙度的影響（類似于光的漫反射）；缺陷指向性；缺陷性質(zhì)、厚度、內(nèi)含物，聲阻抗不同反射/透射不同超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第35頁!當量法的概念：當缺陷小于聲束直徑時，通常采用規(guī)則的人工反射體的尺寸來定量缺陷的尺寸。在相同探測條件下，缺陷的反射波與規(guī)則人工反射體回波高度相等時，所對應的規(guī)則反射體的尺寸，稱為“缺陷當量尺寸”。采用缺陷當量尺寸來定量缺陷尺寸的方法稱為當量法。當量尺寸并不是缺陷的真實尺寸，當量尺寸小的缺陷實際尺寸不一定小，但當量尺寸大的缺陷其實際面積一定大。當缺陷反射面大于聲束截面時，當量法無法運用。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第36頁!底面回波高度法：試件上下面與入射聲束垂直且缺陷反射面小于入射聲束截面時，可用此法。一是缺陷最高回波與無缺陷處底面回波相比，二是缺陷最高回波與此時有缺陷處底面回波相比。此法評價缺陷回波能提高對大缺陷的測定準確度，但不能定出缺陷的大小，對監(jiān)督缺陷的發(fā)展有一定的參考價值。(未考慮缺陷深度探頭直徑和頻率對回波的影響)超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第37頁!記錄與報告詳見你所采用的標準。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第38頁!接觸法單探頭直射聲束脈沖反射法

(a)無缺陷；

超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第39頁!⑵底波高度法：依據(jù)底面回波的高度變化判斷試件缺陷情況的探傷方法，稱為底波高度法。

⑶多次底波法：依據(jù)底面回波次數(shù)，而判斷試件有無缺陷的方法，即為多次底波法。

超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第40頁!脈沖反射法的缺點：①單探頭檢測，易出現(xiàn)盲區(qū)；②由于探頭的近場效應，不適用于薄壁件和近表面缺陷的檢測；③缺陷波的大小與被檢缺陷的取向關系密切，易漏檢；④因聲波往返傳播，故不適用于衰減大的材料。直接接觸式脈沖反射法探頭與試件直接接觸，中間可涂少量的耦合劑。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第41頁!直射聲束穿透法(a)無缺陷；

超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第42頁!透射法檢測的優(yōu)點：①在試件中聲波單向傳播，適合檢測高衰減的材料；②對發(fā)射和接收探頭的相對位置要求嚴格，須專門的探頭支架。特別適用于單一產(chǎn)品大批量加工過程中的自動化檢測；③檢測時幾乎不存在盲區(qū)。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第43頁!共振法應用共振現(xiàn)象對試件進行檢測的方法叫共振法。當試件的厚度為聲波半波長的整數(shù)倍時，發(fā)生共振。在測得超聲波的頻率和共振次數(shù)后，可計算試件的厚度：當試件中有較大的缺陷或厚度改變時，共振點偏移甚至共振現(xiàn)象消失，因此共振法常用于壁厚的測量。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第44頁!縱波法

此法波束垂直入射至試件探測面，以不變的波型和方向透入試件，所以又稱為垂直入射法，簡稱垂直法。垂直法分為單晶探頭反射法、雙晶探頭反射法和穿透法。常用的是單晶探頭反射法。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第45頁!縱波法的缺點：a.難于發(fā)現(xiàn)垂直于或接近垂直于探測面的缺陷。b.由于盲區(qū)和分辨力的限制，其中反射法只能發(fā)現(xiàn)試件內(nèi)部離探測面一定距離以外的缺陷。垂直法主要用于鑄造、鍛壓、軋材及其制品的探傷。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第46頁!橫波法的優(yōu)點：a.傾斜入射，能探測垂直于或接近垂直于探測面的缺陷。b.同一介質(zhì)中同一頻率的超聲波波長較短，靈敏度相對較高。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第47頁!表面波法使用表面波進行探傷的方法，稱為表面波法。這種方法主要用于表面光滑的試件。表面波波長比橫波波長還短，因此衰減也大于橫波。同時，它僅沿表面?zhèn)鞑?，對于表面上的復層、油污、不光潔等，反應敏感，并被大量地衰減。利用此特點可以通過手沾油在聲束傳播方向上進行觸摸并觀察缺陷回波高度的變化，對缺陷定位。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第48頁!按探頭接觸方式分類：直接接觸法：探頭與試件探測面之間，涂有很薄的偶合劑層的探傷方法。液浸法：將探頭和工件浸于液體中以液體作耦合劑進行探傷的方法。

超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第49頁!液浸法-2

另外，自動化檢測還需要相應的輔助設備，有時是復雜的機械設備和電子設備，它們對單一產(chǎn)品(或幾種產(chǎn)品)往往具有很高的檢測能力，但缺乏靈活性?？傊?，液浸法與直接接觸法各有利弊，應根據(jù)被檢對象的具體情況(幾何形狀的復雜程度和產(chǎn)品的產(chǎn)量等)，選用不同的方法。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第50頁!檢測的過程都可歸納為以下幾個步驟：①試件的準備。②檢測條件的確定，包括超聲波檢測儀、探頭、試塊等的選擇。③檢測儀器的調(diào)整。④掃查。⑤缺陷的評定。⑥結果記錄與報告的編寫。

超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第51頁!對檢測對象的了解與要求-2

所有受檢件一般在正式機加工之前，經(jīng)目視檢驗合格后進行。對接觸法而言，表面粗糙度滿足一定要求。必要時應通過添加專門的加工工序，采用經(jīng)批準的加工方法準備探傷表面。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第52頁!入射方向和探測面的選擇-2選擇入射方向還應注意到被探工件形狀和結構可能產(chǎn)生反射或變型信號，給缺陷的判別造成困難的問題。所以，入射方向應選擇在不會出現(xiàn)這些干擾信號的方向上。根據(jù)確定的入射方向，選擇直探頭法或是斜探頭法以及斜探頭法的掃查方向。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第53頁!探頭的選擇：探頭是超聲檢測的重要工具之一，探頭的種類很多，結構型式也不一樣。檢測前應根據(jù)被檢對象的形狀、衰減情況和技術要求來選擇探頭。探頭的選擇包括選擇探頭型式、頻率、晶片尺寸和斜探頭的折射角(K值)等。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第54頁!探頭型式的選擇-2例如鍛件、鋼板的探傷主要探測平行于鍛壓（軋制）面的夾層、折疊等缺陷，探傷方法選擇縱波垂直探傷法，則探頭一定選用縱波直探頭。又如焊縫探傷主要探測與探測面垂直或成一定角度的未焊透、未熔合、裂紋等危害性缺陷，探傷方法選擇橫波傾斜入射的探傷方法，探頭一定選用橫波斜探頭。表面波探頭、雙晶探頭、液浸聚焦探頭的選擇也都是根據(jù)各自適應的探傷方法確定。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第55頁!

由θ＝arcsin1.22λ／D可知，頻率高，波長短，則半擴散角小，聲束指向性好，能量集中，有利于發(fā)現(xiàn)缺陷并對缺陷定位。由N＝D2／4λ可知，頻率高，波長短，近場區(qū)長度大，對探傷不利。頻率增加，衰減急劇增加，對探傷不利。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第56頁!

對于晶粒細的鍛件、軋制件和焊接件等，一般選用較高的頻率，常用2.5～5.0MHz。對晶粒較粗大的鑄件、奧氏體鋼等宜選用較低的頻率，常用0.5～2.5MHz。如果頻率過高，就會引起嚴重衰減，示波屏上出現(xiàn)林狀回波，信噪比下降，甚至無法探傷。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第57頁!

以上分析說明晶片大小對聲束指向性，近場區(qū)長度、近距離掃查范圍和遠距離缺陷檢出能力有較大的影響。實際探傷中，探傷面積范圍大的工件時，為了提高探傷效率宜選用大晶片探頭。探傷厚度大的工件時，為了有效地發(fā)現(xiàn)遠距離的缺陷宜選用大晶片探頭。探傷小型工件時，為了提高缺陷定位量精度宜選用小晶片探頭。探傷表面不太平整，曲率較大的工件時，為了減少耦合損失宜選用小晶片探頭。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第58頁!超聲波檢測儀的選擇一般市場上出售的A型脈沖反射式超聲波檢測儀已具備一些基本功能，其基本性能參數(shù)(垂直線性、水平線性等)也能滿足通常超聲檢測的要求。對于給定的任務，在選擇超聲波檢測儀時，主要考慮的是該任務的特殊要求，可從以下幾方面進行考慮：超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第59頁!根據(jù)所探對象要考慮的問題生產(chǎn)量及是否連續(xù)，確定選擇自動探傷儀或手工探傷儀；對于自動探傷儀，根據(jù)被檢對象情況選擇單通道或多通道設備；對于手工探傷儀，根據(jù)檢測現(xiàn)場的位置及條件選擇較大型的探傷儀或是便攜型的探傷儀；檢測工作的要求較高，或需要提供較客觀的現(xiàn)場記錄可選擇數(shù)字式超聲波探傷儀。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第60頁!影響耦合的主要因素（1）耦合層厚度的影響耦合層厚度對耦合有較大的影響。當耦合劑層厚度小于λ／4時，耦合劑層厚度越薄，透聲效果越好；當耦合劑層厚度為λ／4的奇數(shù)倍時，透聲效果差，耦合不好，反射回波低；當耦合層厚度為λ／2的整數(shù)倍時，透聲效果相對較好，反射回波高。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第61頁!（3）耦合劑聲阻抗的影響

耦合劑的聲阻抗對耦合效果也有較大的影響。對于同一探測面，聲阻抗低的耦合劑，明顯比聲阻抗高的耦合劑透聲效果差，且隨粗糙度的變差，耦合效果降低得更快。相反，耦合劑聲阻抗大，耦合效果好，反射回波高，例如表面粗糙度Ra＝100μm時，Z＝2.4的甘油反射回波比Z＝1.5的水反射回波高6～7dB。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第62頁!耦合損耗的測定的一種簡便方法從被探工件上截取一塊材料，制作一塊對比試塊，試塊的上下表面保持原狀態(tài)不加工，寬度與標準規(guī)定的試塊相同其上加工與標準規(guī)定的試塊相同尺寸的孔。將探頭分別分別置于標準規(guī)定的試塊上和特制的對比試塊上，對準同聲程的孔，將二者孔回波高度都調(diào)至基準波高，由衰減器讀出其波高差，用ΔdB表示，此ΔdB即為二者耦合損耗差。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第63頁!試塊的選擇試塊的種類因方法和標準而異，但其人工反射體類型不外乎是平底孔、長橫孔、短橫孔、平底槽、V型槽和柱孔等，把它們作為檢測對象中缺陷的比較基準。平底孔在遠場時，平底孔返回聲壓隨其孔徑和距探頭距離變化的規(guī)律性較好，因此在縱波直探頭探傷中幾乎都用平底孔作為評價基準和參考反射體孔型。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第64頁!長橫孔孔長大于聲束直徑的圓柱孔稱為長橫孔。當長橫孔貫通試塊時又可稱為橫通孔。長橫孔廣泛于焊縫的超聲波探傷，其原因有三：①焊縫中出現(xiàn)的缺陷多為長條形，長橫孔的反射規(guī)律與其接近；②圓柱面具有各向對稱性，能適應不同角度的斜探頭；③長橫孔反射聲壓的規(guī)律性較好，利用長橫孔反射波所作的距離—波幅曲線較為光順。超聲波檢測的基本問題共73頁，您現(xiàn)在瀏覽的是第65頁!V型槽鋼管超聲波探傷時一般采用V型槽作為調(diào)整靈敏度和判傷的基準。通常是從被探鋼管上截取一段，在管子的內(nèi)外壁各加工一