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精選優(yōu)質(zhì)文檔-----傾情為你奉上精選優(yōu)質(zhì)文檔-----傾情為你奉上專心---專注---專業(yè)專心---專注---專業(yè)精選優(yōu)質(zhì)文檔-----傾情為你奉上專心---專注---專業(yè)線圈層間短路測試機(jī)IMPULSE/SURGETESTER7703中文操作手冊1.0版4目錄
安全規(guī)範(fàn)概說XE“Safety:general”本儀器係依據(jù)EN61010-1規(guī)範(fàn)設(shè)計(jì)而成,本安規(guī)需求為確保儀器於實(shí)驗(yàn)室或工廠中使用能維繫在安全的條件下本儀器不適用於戶外,尤其潮濕或高灰塵地方,不正常使用有造成觸電之可能在儀器故障後請?zhí)瞎收蠘?biāo)誌並嚴(yán)禁繼續(xù)使用.Microtest及銷售公司並不負(fù)責(zé)非正常操作下人員及零件損傷之責(zé)任.交流電源供應(yīng)必須選用合於當(dāng)?shù)貒乙?guī)範(fàn)之電源線,並使用合於IEC320接頭支連接器與本儀器連接,使用者並必須確保接地線接地良好。如電源插頭內(nèi)附保險(xiǎn)絲,則選用合於安規(guī)之3安培之保險(xiǎn)絲,使用前必須確定為交流電源,並調(diào)整後版115V/230V電源選擇開關(guān),使機(jī)器合於當(dāng)?shù)刂娫措妷篧ARNING!XE“Powercable:groundconductor”任何內(nèi)外部地線接觸不良將視為故障狀況,不得使用本儀器調(diào)整、維護(hù)與維修XE“Maintenance”WARNING!當(dāng)儀器在調(diào)整、維護(hù)與維修時(shí)必須將電源拔掉.儀器在接上電源時(shí),內(nèi)部元件將視從接於外部電源上,觸摸該元件有觸電之可能內(nèi)部電容本身有蓄電之功能,在電源或開關(guān)關(guān)閉後,還會(huì)蓄電一段時(shí)間,觸摸該元件亦有觸電之可能必須有受過專業(yè)訓(xùn)練之技術(shù)人員才被允許從事調(diào)整、維護(hù)與維修等工作靜電XE“Staticelectricity”本儀器使用對靜電相當(dāng)敏感之元件工作桌桌面必須接地之導(dǎo)電材料烙鐵及工具在沒使用時(shí),必須使其接觸端接觸有連接於地線之導(dǎo)體上.維護(hù)人員必須佩帶洩漏電阻小於1M之靜電手環(huán)零件或組裝基版必須存放於有靜電防護(hù)之護(hù)套中說明功能及特點(diǎn)XE“Staticelectricity”脈衝線圈線圈脈衝測試機(jī),XE"Instrumentdescription"能提供非破會(huì)性方式來測試線圈層間短路,其所提供之脈衝電壓從200V至10kV.再利用波形擷取及對技術(shù),將波形顯示於LCD顯示器畫面,並將差異數(shù)字化,讓使用者輕易的訂定規(guī)格,將異常產(chǎn)品篩選出來。本儀器所測試及顯示之功能包含:能儲(chǔ)存200組線圈測試資料自動(dòng)學(xué)習(xí)功能,能輕易建立測試資料檔有波形面積,面積差,波形比對,平整度及電暈檢測功能儲(chǔ)存每筆測試數(shù)據(jù),供統(tǒng)計(jì)分析運(yùn)用能將測試結(jié)果及統(tǒng)計(jì)資料輸出至Epson-compatible列表機(jī)內(nèi)含高壓校正功能按鍵鎖定功能,防止非專業(yè)人員誤觸按鍵包裝與配備在7703線圈脈衝測試機(jī)包裝中的標(biāo)準(zhǔn)配備應(yīng)有下列幾項(xiàng):7703線圈脈衝測試機(jī) x12端點(diǎn)鱷魚夾線 x1電源線與電源線轉(zhuǎn)接頭(3轉(zhuǎn)2) x1用字與符號(hào)說明[xxxx] 表示測試機(jī)上之按鍵名稱,如[TEST]Sy[xxxx] 表示LCD上顯示之按鍵,y為SoftKey編號(hào)(1~6) ,xxxx為按鍵名稱,如S1[選擇]{xxxxxxxx} 表示LCD上顯示之文字訊息|xxxx| 表示LCD上之切換選項(xiàng)名稱,如|ON|<Pxx> 表示相關(guān)之參考頁數(shù),如<P21>英文說明表操作程序表注意事項(xiàng)表操作捷徑
安裝連接交流電源本儀器適用於115V及230V交流電源,必須選用合於當(dāng)?shù)貒乙?guī)範(fàn)之電源線,並使用合於IEC320接頭支連接器與本儀器連接,使用者並必須確保接地線接地良好。如電源插頭內(nèi)附保險(xiǎn)絲,則選用合於安規(guī)之3安培之保險(xiǎn)絲,使用前必須確定為交流電源,並調(diào)整後版115V/230V電源選擇開關(guān),使機(jī)器合於當(dāng)?shù)刂娫措妷罕緝x器不適用於電瓶或直流電源.XE"Batteryoperation"電源開關(guān)及電源選擇開關(guān)於背版位置7700/7710/7720係適用於室內(nèi)桌上型儀器,必須保持通風(fēng)良好,散熱風(fēng)扇更應(yīng)該保持通暢。XE"Fan"XE"Coolingfan"由於測試機(jī)再測試時(shí)會(huì)產(chǎn)生脈衝高壓,務(wù)必確定待測元件再測試時(shí),放至於絕緣良好之桌面或治具上,請參閱REF_Ref\r\h3.3節(jié)。儀器接線WARNING!XE“Safety:userwarnings”本儀器應(yīng)該由受過訓(xùn)練之人員來操作本儀器能產(chǎn)生10KV之高壓,如未依據(jù)規(guī)範(fàn)裝置或操作有招致觸電之可能請?jiān)斪x操本草做手冊後再行操作儀器,在操作前必須在確認(rèn)接線正確,並禁止測試中以手或?qū)w觸摸待測物.儀器處於故障狀況時(shí)請勿使用為達(dá)最高安全規(guī)範(fàn),請使用安全防護(hù)鎖,XE“Test:cables”XE“Connections:testcables”XE“Highvoltageoutput”XE“Test:connections”請參頁3.4節(jié)安全防護(hù)鎖WARNING!XE“Safety:userwarnings”高壓危險(xiǎn)本儀器能產(chǎn)生10KV之高壓有造成觸電之可能,必須採取安全防護(hù)措施在測試中本儀器會(huì)產(chǎn)生一個(gè)或多個(gè)高壓脈衝波,當(dāng)前面板H.VLED燈亮?xí)r表示高壓測試中,嚴(yán)禁以手或?qū)w觸摸待測物確保高壓測試中,無法以手或?qū)w觸摸端子高壓輸出將被禁止,直到安全防護(hù)鎖動(dòng)作為止,XE“Safety:interlock”XE“Connections:safetyinterlock”XE“Highvoltageoutput”治具之測試端子必須至於防護(hù)盒內(nèi),並連結(jié)安全防護(hù)鎖,使蓋上治具盒以後才能開始測試。接線圖請參照REF_Ref\hFigure31.ResistorRshouldbe<1kΩ.FigureSTYLEREF1\s3SEQFigure\*ARABIC\s11TypicalHigh.Voltage(H.V.)InterlockFixture測試機(jī)之基本操作文數(shù)字輸入在做檔案儲(chǔ)存時(shí)會(huì)要求輸入文數(shù)字,本系統(tǒng)之設(shè)計(jì)是利用EditKey。第一次按下為數(shù)字,第2~4次分別代表數(shù)字鍵上方由左至右之大寫英文字母,舉例說明如下: 按鍵名稱 按下次數(shù) LCD顯示 1 1 1 à 1 1 1 2 1A à 1 1A 1 3 1AB移動(dòng) 您可用[←][↑][→][↓]移動(dòng)游標(biāo)確認(rèn) [Enter]為一般之確認(rèn)鍵量測/跳離 [TEST]為量測啟動(dòng)鍵,[Exit]為跳離鍵另選 加按[Shift]鍵可啟動(dòng)該鍵上方功能各部位名稱前面板(請參考下圖)((1)(2)(3)(4)(5)(6)(7)(8)((9)(10)(1)LCD液晶顯示器(2)S1~S6操作輔助鍵(SoftKey)(3)PASS&FAIL&H.V.指示燈(4)游標(biāo)控制按鍵(EditKey)群組(5)量測鍵[TEST](6)功能鍵(FuncKey)群組(7)系統(tǒng)按鍵(SysKey)群組(8)數(shù)字鍵群組(9)電源切換開關(guān)(10)2端點(diǎn)高壓測試鱷魚夾線接頭背面板(請參考下圖)((11)(12)(13)(14)(11)串列埠(RS-232Port)(12)遠(yuǎn)程控制埠(RemotePort)(13)印表機(jī)連接埠(PrinterPort)(14)交流電源輸入(230/115VAC)請確認(rèn)交流輸入電壓設(shè)定與使用電壓是否一致機(jī)器使用時(shí),輸入電源需接地安裝安裝程序請確認(rèn)電源供應(yīng)器的電源,接上電壓源為AC115V或230V依照使用需要,接上測試夾線與待測物開啟電源,系統(tǒng)將執(zhí)行自我測試程式自我測試程式執(zhí)行完畢,正式進(jìn)入7703系統(tǒng)中,LCD顯示如下?軟體版本目前之日期/時(shí)間若要結(jié)束請按[電源開關(guān)]結(jié)束開機(jī)後將會(huì)執(zhí)行自我測試,約需要60~80秒之時(shí)間在{READY}狀態(tài)下,操作輔助鍵S1~S6有下列調(diào)整功能S1 將LCD的背光調(diào)亮S2 將LCD的背光調(diào)暗S6 中英版本切換按鍵使用說明系統(tǒng)(SysKey)按鍵群組[Func] 系統(tǒng)功能選單[Sys] 系統(tǒng)設(shè)定選單[Print] 列印功能量測快速鍵(FastKey)按鍵群組[File] 檔案管理設(shè)定[Learn] 自動(dòng)波形學(xué)習(xí)[Item] 測試項(xiàng)目設(shè)定[Stat] 測試統(tǒng)計(jì)表控制按鍵(EditKey)群組文數(shù)字鍵 用以輸入文數(shù)字,包含0~1,A~Z,./[BS](?) 倒退鍵(BackSpace)方向鍵 用於游標(biāo)之移動(dòng),包含[←][→][↑][↓] [PgUp][PgDn]以方便資料編輯[Exit] 使系統(tǒng)跳離目前狀態(tài)並回到前一狀態(tài)[Enter] 確認(rèn)鍵[TEST] 開始量測鍵操作輔助鍵(SoftKey)群組S1~S6位於LCD右側(cè),作為輔助操作/設(shè)定用[Reset] 系統(tǒng)重置鍵,相當(dāng)於暖開機(jī)(WarmStart)功能設(shè)定與分析模式功能設(shè)定與分析模式包含系統(tǒng)主功能[Func]、系統(tǒng)設(shè)定[Sys]與列印功能[Print],說明如下系統(tǒng)主功能(Function)提供系統(tǒng)之主要功能選單,其操作與功能說明如下操作程序按下[Func]LCD顯示畫面如下請以[↑]或[↓]鍵選擇所需項(xiàng)目按[Enter]即可進(jìn)入選擇項(xiàng)目功能可按[Exit]退回上一畫面系統(tǒng)自我測試操作程序按[Func],請以[↑]或[↓]選定本項(xiàng)目後按[Enter]此時(shí)系統(tǒng)則會(huì)執(zhí)行自我測試的功能LCD顯示畫面如下
可按S1[略過]單項(xiàng)測試或按S6[結(jié)束]本功能,亦可按[Exit]跳離系統(tǒng)版本資訊本項(xiàng)目可查看機(jī)型名稱、軟體版本、版本類別、更新日期,系統(tǒng)可用檔案數(shù)、剩餘可用檔案數(shù)。操作程序按[Func]鍵,以[↑]或[↓]選定本項(xiàng)目後按[Enter]LCD畫面顯示如下
高壓輸出校調(diào)直流高壓校正功能即調(diào)整量測實(shí)際值最近似於DC設(shè)定值(7710最高電壓為10kV)按下[Func]請以[↑]或[↓]選擇至本項(xiàng)目並按下[Enter]LCD顯示畫面如下按下S1[上升]或S2[下降]調(diào)整量測實(shí)際值最近似於DC設(shè)定值後按[Enter],依序量測並調(diào)整其它量測實(shí)際值使之最近似於相對之DC設(shè)定值,LCD顯示畫面如下設(shè)定完畢,請按F4[完成存檔]若欲取消設(shè)定之資料則可按S6[放棄]即可
高壓輸出測試高壓輸出測試功能在驗(yàn)證其所量測出來的電壓是否與其設(shè)定值相同按下[Func]請以[↑]或[↓]選擇至本項(xiàng)目並按下[Enter]LCD顯示畫面如下按S1[開啟],即可進(jìn)行輸出電壓之量測,LCD顯示畫面如下可按S3[上昇]或S4[下降]來修改設(shè)定電壓值,Resolution為100V舉例說明:按下S3[上昇],其設(shè)定電壓變更為0.6KV,系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)進(jìn)行輸出電壓之量測,其LCD顯示畫面如下
量測完畢,可按S6[離開]跳離本項(xiàng)測試功能系統(tǒng)設(shè)定(Setup)系統(tǒng)設(shè)定包括系統(tǒng)組態(tài)與測試相關(guān)動(dòng)作設(shè)定,其操作與功能說明如下操作程序按下[Sys]LCD顯示畫面如下請以[↑]或[↓]選擇所需項(xiàng)目並可按[Enter]即可進(jìn)入該項(xiàng)功能設(shè)定設(shè)定完畢,可按[Exit]跳離操作環(huán)境設(shè)定操作程序於系統(tǒng)設(shè)定畫面下,以[↑]或[↓]選擇該項(xiàng)目並按[Enter]即可進(jìn)入該項(xiàng)功能設(shè)定LCD顯示畫面如下請以[↑]或[↓]選擇所需項(xiàng)目並可按[Enter]即可進(jìn)入該項(xiàng)功能設(shè)定請依照您的需要以S1[選擇]切換各項(xiàng)目之設(shè)定值,各項(xiàng)說明如下測試站編號(hào)本功能之設(shè)定僅是提供使用者作為機(jī)臺(tái)識(shí)別之用,單機(jī)時(shí)無作用,預(yù)設(shè)值為|1|,可請鍵入0~999並再按[Enter]即可按鍵修改資料本測試機(jī)提供按鍵保護(hù),以避免資料被任意修改。預(yù)設(shè)值為|上鎖|操作程序於系統(tǒng)設(shè)定畫面下,以[↑]或[↓]選擇該項(xiàng)目並按[Enter]即可進(jìn)入該項(xiàng)功能設(shè)定按下S1[選擇]切換其設(shè)定,LCD顯示畫面如下
輸入您所設(shè)定之密碼,LCD顯示畫面如下
按下[Enter]確認(rèn),LCD顯示畫面如下
此時(shí)已開啟按鍵操作保護(hù)功能,不可任意變更資料之設(shè)定。按鍵操作由原設(shè)定|開放|轉(zhuǎn)為|上鎖|的狀態(tài)解除按鍵保護(hù)時(shí)須輸入密碼解除保護(hù)模式時(shí)若忘記密碼,在畫面顯示{密碼確認(rèn)}後按[Shift]+[BS]即可顯示原密碼按鍵聲音本測試機(jī)可依需要開啟/關(guān)閉按鍵的聲音。預(yù)設(shè)值為|全部有聲|有聲 按鍵無論有效鍵或無效鍵皆設(shè)定有聲響無聲 按鍵無論有效鍵或無效鍵皆設(shè)定無聲響LCD亮度本功能提供LCD畫面亮度的控制。利用S1鍵選擇LCD亮度,亮度階段共分為1~8種。1為最暗,8為最亮測試警報(bào)聲本功能提供測試結(jié)果之警訊,共有4個(gè)選項(xiàng),可視其需要加以設(shè)定全部無聲 不論待測物測試結(jié)果為良品或不良皆設(shè)無聲響全部有聲 不論待測物測試結(jié)果為良品或不良皆設(shè)有聲響良品有聲 只設(shè)定待測物測試結(jié)果為良品才有聲響不良有聲 只設(shè)定待測物測試結(jié)果為不良才有聲響開機(jī)自我測試共有二個(gè)選項(xiàng),預(yù)設(shè)值為│是│。選擇是否於開機(jī)時(shí)進(jìn)行自我測試,測試CPU/RAM/ROM/EEPROM/CLOCK是否正確,開機(jī)是否正常RS232BUADRATE設(shè)定傳輸速度為9600/19200/38400起動(dòng)延遲(氣動(dòng)治具)當(dāng)進(jìn)行測試時(shí)會(huì)延遲所自行設(shè)定之時(shí)間,待測試治具夾妥時(shí)以進(jìn)行測試使用文字預(yù)設(shè)值為|中文|,可按S1[選擇]切換中文/英文版本圖形顯示設(shè)定於系統(tǒng)設(shè)定畫面下,以[↑]或[↓]選擇該項(xiàng)目並按[Enter]即可進(jìn)入該項(xiàng)功能設(shè)定LCD顯示畫面如下請依照您的需要按S1[選擇]切換各項(xiàng)目之設(shè)定,您亦可按S6[建議設(shè)定]採用一般建議之圖形顯示設(shè)定,其設(shè)定如下圖LCD所顯示設(shè)定完畢,請按[Exit]跳離設(shè)定系統(tǒng)時(shí)間本功能可調(diào)整系統(tǒng)的年/月/日/時(shí)/分/秒操作程序於系統(tǒng)設(shè)定畫面下,以[↑]或[↓]選擇該項(xiàng)目並按[Enter]即可進(jìn)入該項(xiàng)功能設(shè)定LCD顯示畫面如下欲重新設(shè)定日期/時(shí)間,請以[↑]或[↓]選擇至新設(shè)日期/時(shí)間請分別輸入正確日期與時(shí)間,輸入完畢請按S1[設(shè)定]即可若要放棄設(shè)定,可按S2[放棄]或[Exit]跳離HOUR為24小時(shí)制操作密碼設(shè)定本測試機(jī)提供按鍵保護(hù),以避免資料被任意修改。操作程序於系統(tǒng)設(shè)定畫面下,以[↑]或[↓]選擇該項(xiàng)目並按[Enter]即可進(jìn)入該項(xiàng)功能設(shè)定LCD顯示畫面如下請輸入原密碼並按下[Enter],LCD顯示畫面如下請使用文數(shù)字鍵鍵入新密碼並按[Enter]確認(rèn),並請牢記此密碼此時(shí),LCD顯示畫面如下請?jiān)俅屋斎胄旅艽a,並按[Enter]確認(rèn)新密碼,此時(shí)螢?zāi)簧蠒?huì)顯示{設(shè)定成功}新密碼設(shè)定成功後會(huì)自動(dòng)跳回功能選單中,若要修改密碼,請重覆以上之設(shè)定步驟列印功能選單(Print)本測試機(jī)提供直接的印表機(jī)輸出,方便您將所需要的資料列印出來,其操作與功能說明如下操作程序選定所需資料或畫面按下[Print]即可檔案管理與測試設(shè)定檔案管理您可執(zhí)行載入舊檔/建立新檔/刪除檔案/檔案排序/檔案檢視模式切換之動(dòng)作,以方便檔案管理與取用,其操作說明如下:載入舊檔選取檔案是將已儲(chǔ)存在永久記憶體內(nèi)之已存檔案載入至主記憶體中,以方便其它用途,包含測試、編輯、列印等,其操作說明如下:操作程序按下[File]LCD顯示畫面如下請以[↑]或[↓]移動(dòng)游標(biāo),選定欲載入之檔案名稱按下[Enter]即可進(jìn)行檔案載入的動(dòng)作,測試機(jī)開始把選定之檔案載入主記憶體中此時(shí)LCD畫面將跳回主畫面,目前檔案即顯示為您所選定之檔案名稱,此時(shí)即檔案載入完成建立新檔建立新的檔案於永久記憶體中之功能,其操作說明如下操作程序按[File]鍵,接著按下S2[新建]即可進(jìn)行建立新檔的動(dòng)作LCD顯示畫面如下鍵入您所欲命名之檔案名稱確認(rèn)您欲建立之檔案名稱後並按下[Enter]即完成建立新檔之動(dòng)作刪除舊檔刪除舊檔是將已儲(chǔ)存於永久記憶體內(nèi)之檔案永久刪除,以避免占用寶貴的永久記憶體,其操作說明如下操作程序按下[File]並以[↑]或[↓]移動(dòng)游標(biāo),選定欲刪除之檔案名稱按下S3[刪除]即可執(zhí)行刪除檔案的動(dòng)作LCD顯示畫面如下確認(rèn)您欲刪除之檔案名稱並按下[Enter]即完成刪除檔案之動(dòng)作檔案排序檔案排序功能,可使您依其需要快速對已存有之檔案作排序之動(dòng)作,其操作說明如下操作程序按下[File]LCD顯示畫面如下按下S5[排序],即可依您的需要作出檔案排序之動(dòng)作,共有四個(gè)選擇,詳列如下依檔案名稱由大至小排列依檔案名稱由小至大排列依檔案日期由大至小排列依檔案日期由小至大排列列表模式列表模式用於切換檔案顯示模式,方便尋找所需之檔案,其操作說明如下操作程序按下[File]LCD顯示畫面如下按下S6[列表模式],即可依您的需要切換檔案清單顯示模式其另一個(gè)檔案清單顯示如下圖所示波形學(xué)習(xí)設(shè)定(Learn)本機(jī)臺(tái)對於波形設(shè)定是以學(xué)習(xí)的方式所取得的,亦即將自動(dòng)學(xué)習(xí)準(zhǔn)波記憶在系統(tǒng)中,而系統(tǒng)將測試之結(jié)果顯示於LCD上操作程序按下[Learn]LCD顯示畫面如下
可依照您的需要,進(jìn)入模式設(shè)定測試項(xiàng)目,LCD顯示畫面如下
待測物特性依照待測物特性,利用S1鍵選擇NORMAL/LOWQ/LOWL/LOWLQ三種測試模式。前置脈衝數(shù)在進(jìn)行測試前,會(huì)依照所設(shè)定的測試電壓及脈衝數(shù),先將高壓脈衝加於待測物端然後在進(jìn)行測試;此動(dòng)作可先讓待測物在穩(wěn)定的形況下進(jìn)行測試。測試脈衝數(shù)設(shè)定的脈衝數(shù)值為實(shí)際測試次數(shù),並在每次的測試後都會(huì)進(jìn)行資料比對(前置脈衝不會(huì)比對資料),以判斷待測物為良品或不良品。自動(dòng)電壓補(bǔ)償(ALC)產(chǎn)生高壓脈衝時(shí),會(huì)因?yàn)榇郎y物的負(fù)載過大而導(dǎo)致實(shí)際加於待測物的高壓脈衝變?。淮斯δ芸蓪?shí)際測試電壓補(bǔ)償至所設(shè)定的電壓值,在學(xué)習(xí)波形的同時(shí)也會(huì)進(jìn)行電壓補(bǔ)償校正,且進(jìn)行測試時(shí)即可達(dá)到設(shè)定的電壓值接上測試夾線與待測物後,輸入測試電壓,按下S1[學(xué)習(xí)],LCD顯示畫面如下
請依其需要按S3[n]放大波形或S4[*)]緊縮波形按S3[n]放大波形,LCD顯示畫面如下
按S4[*)]緊縮波形,LCD顯示畫面如下
亦可將游標(biāo)移至測試電壓項(xiàng)下,鍵入您所需之電壓值,最大值為5KV自動(dòng)準(zhǔn)波學(xué)習(xí)完成可按[Exit]跳離
測試項(xiàng)目設(shè)定(Para)測試項(xiàng)目測試與否之設(shè)定。說明如下操作程序按下[para]LCD顯示畫面如下請以[↑]或[↓]移動(dòng)至您所要設(shè)定之項(xiàng)目,按下S1[要測]或S2[不測]來切換選定項(xiàng)目測試與否主波波形總面積在任意設(shè)定範(fàn)圍內(nèi),檢查測試波形與標(biāo)準(zhǔn)波形的總面積誤差,進(jìn)行良品判斷。此項(xiàng)目可檢測線圈能量的損耗大小,例如待測線圈有層間短路時(shí),短路的部分會(huì)讓能量消耗增大。操作程序請利用S2~S5鍵可選取檢測範(fàn)圍,並可利用數(shù)字鍵設(shè)定判斷良品所容許的誤差範(fàn)圍。LCD顯示畫面如下按下試驗(yàn)鍵可檢視待測物與標(biāo)準(zhǔn)波的誤差且判斷是否於輸入的容許誤差範(fàn)圍內(nèi)。LCD顯示畫面如下波形面積差在任意設(shè)定範(fàn)圍內(nèi),檢查測試波形與標(biāo)準(zhǔn)波形的面積偏差,進(jìn)行良品判斷。此項(xiàng)目可檢測線圈電感值的差異。操作程序請利用S2~S5鍵可選取檢測範(fàn)圍,並可利用數(shù)字鍵設(shè)定判斷良品所容許的誤差範(fàn)圍。LCD顯示畫面如下按下試驗(yàn)鍵可檢視待測物與標(biāo)準(zhǔn)波的誤差且判斷是否於輸入的容許誤差範(fàn)圍內(nèi)。LCD顯示畫面如下波形顫動(dòng)數(shù)此項(xiàng)目忽略波形的差異,在任意設(shè)定範(fàn)圍內(nèi),檢測電暈放電之高頻部分的量值,判定標(biāo)準(zhǔn)按照輸入的整數(shù)值進(jìn)行判斷。操作程序請利用S2~S5鍵可選取檢測範(fàn)圍,並可利用數(shù)字鍵設(shè)定判斷良品所容許的誤差範(fàn)圍。LCD顯示畫面如下按下試驗(yàn)鍵可檢視待測物與標(biāo)準(zhǔn)波的誤差且判斷是否於輸入的容許誤差範(fàn)圍內(nèi)。LCD顯示畫面如下波形比對在任意設(shè)定範(fàn)圍內(nèi),設(shè)定與標(biāo)準(zhǔn)波的電壓(縱向)差異及時(shí)間(橫向)差異進(jìn)行比對。操作程序請利用S2~S5鍵可選取檢測範(fàn)圍,並可利用數(shù)字鍵設(shè)定判斷良品所容許的誤差範(fàn)圍。LCD顯示畫面如下按下試驗(yàn)鍵可檢視待測物與標(biāo)準(zhǔn)波的誤差且判斷是否於輸入的容許誤差範(fàn)圍內(nèi)。LCD顯示畫面如下電暈數(shù)在測試過程中,設(shè)定波形所產(chǎn)生的電暈量。操作程序請可利用數(shù)字鍵設(shè)定判斷良品所容許的誤差範(fàn)圍。LCD顯示畫面如下諧波諧波雜訊在測試過程中,以諧波的雜訊高度進(jìn)行比對。操作程序請利用數(shù)字鍵自行設(shè)定雜訊高度、試驗(yàn)電壓及實(shí)測電壓。LCD顯示畫面如下按下試驗(yàn)鍵可檢視待測物與標(biāo)準(zhǔn)波的誤差且判斷是否於輸入的容許誤差範(fàn)圍內(nèi)。LCD顯示畫面如下諧波顫動(dòng)數(shù)此項(xiàng)目忽略波形的差異,在任意設(shè)定範(fàn)圍內(nèi),檢測電暈放電之高頻部分的量值,判定標(biāo)準(zhǔn)按照輸入的整數(shù)值進(jìn)行判斷。操作程序請利用S2~S5鍵可選取檢測範(fàn)圍,並可利用數(shù)字鍵設(shè)定判斷良品所容許的誤差範(fàn)圍。LCD顯示畫面如下按下試驗(yàn)鍵可檢視待測物與標(biāo)準(zhǔn)波的誤差且判斷是否於輸入的容許誤差範(fàn)圍內(nèi)。LCD顯示畫面如下查看統(tǒng)計(jì)資料(Statistic)本功能可查看測試結(jié)果之統(tǒng)計(jì)資料,包括:測試總數(shù)、良品個(gè)數(shù)、不良品個(gè)數(shù)以及不良原因分析亦即尋求項(xiàng)目分類不良品個(gè)數(shù)/比率操作程序按下[Stat]LCD顯示畫面如下
按下S1[數(shù)量比率],則可使統(tǒng)計(jì)資料以百分比的型式呈現(xiàn)LCD顯示畫面如下
按下S4[清除],則會(huì)將現(xiàn)有的統(tǒng)計(jì)資料完全清除完畢後,可按S6[Exit]跳離綜合測試測試模式是利用程式化設(shè)計(jì)功能,針對不同之測試項(xiàng)目設(shè)定不同之測試條件而予以同時(shí)且自動(dòng)之測試,以滿足不同之需求,達(dá)到最佳效率。測試原理利用直流高壓衝擊待測線圈,該線圈將會(huì)與並聯(lián)電容產(chǎn)生自然共振並隨時(shí)間而逐漸哀退。當(dāng)線圈中絕緣漆破損而產(chǎn)生短路或電暈跳火等現(xiàn)象時(shí)該共振波形將會(huì)產(chǎn)生變異。本機(jī)內(nèi)建高速的儲(chǔ)存示波器功能。快速的擷取共振波形顯示於大型LCD上,並利用功能強(qiáng)大的軟體進(jìn)行波形比對,精確而迅速的判斷良品及不良品。綜合測試實(shí)作做完以上的設(shè)定之後,即可進(jìn)行綜合測試實(shí)作。其因操作程序之不同,可細(xì)分為兩種:即時(shí)測試(RealTimeTest)與已存測試(ExistedTest),說明如下:即時(shí)測試此部份是將已儲(chǔ)存在主記憶體內(nèi)之測試條件設(shè)定為測試之條件,即時(shí)對待測物予以測試,是最常用的測試方法,其步驟說明如下操作程序請接上所需之測試夾線與待測物,檢視測試條件設(shè)定是否正確
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