云桂鐵路培訓(xùn)-檢測(cè)技術(shù)3

1、材料微觀分析測(cè)試技術(shù)科研和新產(chǎn)品開發(fā)產(chǎn)品鑒定、事故分析和仲裁1電子顯微鏡技術(shù)是材料形貌學(xué)研究的主要手段，主要有兩類電子顯微鏡： 透射式電子顯微鏡 掃描式電子顯微鏡 透射電鏡分辨率 掃描電鏡分辨率（10-10 m =10-8 cm =10-4 m =10-1 nm）（一）電子顯微鏡分析2、電子光學(xué)基礎(chǔ)分辨率: 指兩個(gè)可以分辨的物體間的最小距離 光學(xué)顯微鏡以可見光為光源，由于可見光波長(zhǎng)大于300-700nm,且具有波動(dòng)性，所以限制了光學(xué)顯微鏡的分辨率，也就是說對(duì)分辨率的限制不是來自于顯微鏡本身的部件，而是由所采用的光源所決定。在微米數(shù)量級(jí)以下細(xì)節(jié)，放大倍數(shù)無限大也無法分辨。要提高顯微鏡的分辨率必須

2、尋找短波長(zhǎng)的光源。這便出現(xiàn)了用電子束作光源的電子顯微鏡3 基于德布羅理論：所有微觀離子（電子、中子、離子）的性質(zhì)與可見光相同。這就使電子束具有成為新光源的可能性 又：電子波長(zhǎng) =1.226/V nm (V 加速電壓）新的光源-短波電子輻射源如：加速到00千伏，0.37nm4、簡(jiǎn)介電子顯微鏡透射電鏡結(jié)構(gòu)與光學(xué)顯微鏡相似掃描電鏡結(jié)構(gòu)與電視攝影顯象相似5透射電鏡6掃描電鏡78C-S-H凝膠體和C4AH13晶體9石膏過量安定性不良10鈣礬石形貌11氫氧化鈣形貌12氫氧化鈣形貌13C-S-H凝膠體與骨料界面14石膏形貌15透射電子顯微鏡 分辨率：0.14nm。 可以直接采集圖像信息，并實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程觀察。16

3、掃描電子顯微鏡 分 辨 率： 3.5 nm 最大放大倍數(shù)：18300,00017 電鏡照片1819 紡紗 粉煤灰 合金 20（二）紅外線光譜分析2122紅外光譜技術(shù)簡(jiǎn)介 紅外光譜（NIR）分析技術(shù)是近年來分析化學(xué)領(lǐng)域迅猛發(fā)展的高新分析技術(shù)。 紅外光譜分析是將光譜測(cè)量技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)、化學(xué)計(jì)量學(xué)技術(shù)與基礎(chǔ)測(cè)試技術(shù)有機(jī)結(jié)合的技術(shù)。與常規(guī)分析技術(shù)不同，紅外光譜是一種間接分析技術(shù)，必須通過建立校正模型（標(biāo)定模型）來實(shí)現(xiàn)對(duì)未知樣品的定性或定量分析。 23具體的分析過程主要包括以下幾個(gè)步驟： 1、選擇有代表性的樣品并測(cè)量其近紅外光譜； 2、采用標(biāo)準(zhǔn)或認(rèn)可的參考方法測(cè)定所關(guān)心的組分或性質(zhì)數(shù)據(jù)； 3、將測(cè)量的光譜和基礎(chǔ)數(shù)據(jù)，用適當(dāng)?shù)幕瘜W(xué)計(jì)量方法建立校正模型； 4、未知樣品組分或性質(zhì)的測(cè)定。 包括：近紅外光譜儀、化學(xué)計(jì)量學(xué)軟件和應(yīng)用模型三部分。三者的有機(jī)結(jié)合才能滿足快速分析的技術(shù)要求，是缺一不可的。 24熱重紅外聯(lián)用儀用于測(cè)定樣品在程序控制溫度下產(chǎn)生的質(zhì)量變化及分解過程所生成氣體產(chǎn)物的化學(xué)成份。25紅外拉曼光譜儀 26PE FTIR 1000型 紅外儀器 2728X熒光能量色散光譜儀 29D/max-RB X射線衍射儀 可進(jìn)行從室溫至1500的動(dòng)態(tài)高溫X射線衍分析。 可用于無機(jī)和有機(jī)小分子的固體化合物物相的定性、定量及結(jié)構(gòu)分析，納米材料的粒度表征。30射線衍射分析儀常溫物相鑒定