SPC基礎(chǔ)知識ppt課件

1、部門名稱:TV SMT課SPC基礎(chǔ)知識課程大綱直方圖統(tǒng)計特性要因圖圖形分析制程才干制程才干指數(shù) 循環(huán)改善PDCA六個標(biāo)準(zhǔn)差的概念六個標(biāo)準(zhǔn)差測量和統(tǒng)計 六個標(biāo)準(zhǔn)差工具 直方圖直方圖的定義、用途將搜集的測定值或數(shù)據(jù)之全距分為幾個相等區(qū)間作為橫軸，並將各區(qū)間內(nèi)之測定值所出現(xiàn)次數(shù)累積而成的面積以條狀方式陳列起來所產(chǎn)生的圖形，稱之為直方圖。目的 1.瞭解分配型態(tài) 2.研討製程才干 3.工程解析與管製 4.求分配的平均值和標(biāo)準(zhǔn)差 5. 計劃產(chǎn)品的不良率 6. 調(diào)查能否混入兩個以上的不同群體 7. 測知有無假數(shù)據(jù) 8. 藉以訂定規(guī)格界限 9. 與規(guī)格或標(biāo)準(zhǔn)值比較 10. 了解設(shè)計控制可否用於控制制程 名詞解

2、釋:次數(shù)分配: 將許多的複雜數(shù)據(jù)依其差異的幅度分成假設(shè)干組,在各組內(nèi)列入測定 值得出現(xiàn)次數(shù),即為次數(shù)分配.相對次數(shù): 在各組出現(xiàn)的次數(shù)除以全部之次數(shù). 累積次數(shù): 為自次數(shù)分配的測定值較小的一端將其次數(shù)累積計算,則成為 累積次數(shù)4. 全距(R) : 在一切數(shù)據(jù)中的最大值和最小值的差5. 組距(h) : 全距 / 組數(shù)6. a. 算出平均數(shù): x bar; b. 幾何平均數(shù) ; c.調(diào)和平均數(shù)7. 中位數(shù)(X ) 8. 眾數(shù)9. 組中點: 一組數(shù)據(jù)中最大值和最小值或(上組界+下組界) / 2直方圖的作法直方圖的作法1. 決定Data搜集期並搜集Data 最少要有50個Data，最好要有100個以

3、上2. 找出Data中之最大及最小值Ex: L=23.4 S=20.23. 決定組數(shù) - K 等於 n 的平方根Ex: n = 50 k = 74. 決定組距h -將最大值減去最小值後，除以組數(shù)，再取最小測量單位的整數(shù)倍即可Ex: L - S / K =23.4-20.2/ 7 = 0.46 h = 0.5 取最小量測單位之整數(shù)倍5. 決定組界值 -由最小值減去最小測良單位的1/2，就是第一組的下限，再逐次加上各組距，直到可含蓋最大值即完成Ex: 20.2 - 0.1/2 = 20.15 第一組下界20.15 + 0.5 = 20.65 第一組上界、第二組下界20.65 + 0.5 = 21.

4、15 第二組上界、第參組下界.23.15 + 0.5 = 23.65 已大於最大值數(shù)據(jù)數(shù)組數(shù)50-100100-250250以上6-107-1210-20直方圖的作法6. 求出各組的中心值 - 各組上界加下界除以二Ex: 20.15 + 20.65/ 2 =20.40 第一組中心值7. 計算落在各組內(nèi)的 次數(shù) 8. 作成直方圖9. 記入必要的事項如產(chǎn)品名、規(guī)格、Data數(shù)量.0.6610.6500.6470.6460.6490.6450.6410.6500.6480.6490.6450.6470.6460.6550.6490.6580.6540.6600.6530.6590.6600.6650

5、.6490.6510.6370.6500.6430.6490.6400.6460.6500.6440.6400.6520.6570.6480.6540.6500.6540.6550.6560.6570.6630.6620.6470.6470.6420.6430.6490.6480.6380.6380.6490.6420.6370.6550.6520.6540.6490.6570.6540.6580.6520.6610.6540.6450.6410.6440.6470.6410.6500.6520.6430.6410.6530.6470.6520.6490.6520.6530.6510.6600

6、.6550.6580.6490.6470.6410.6440.6400.6430.6460.6340.6380.6450.6500.6480.6490.6500.6490.655(例)抽取100個樣本測定，測定結(jié)果如下表，試作次數(shù)分配表。實例說明實例說明(1)定組數(shù)：(2)求組距： 全距XmaxXmin 0.6650.634 0.031 組距 0.0035 0.003實例說明(3)決定區(qū)間之境界值第一組下組界最小測定1/2測定單位0.634 0.6335。 以0.6335累加0.003得各區(qū)間之境界值，如次數(shù)分配表。(4)計算各組間之中心值第一組中心值 0.635 以0.635累加0.003得

7、各區(qū)間中心值。次數(shù)分配表組數(shù)組界中心值劃 記次數(shù)10.6335 0.63650.635220.6365-0.63950.638430.6395-0.64250.6411040.64525-0.64550.6441150.6455-0.64850.6471560.6485-0.65150.6502370.6515-0.65450.6531480.6545-0.65750.656990.6575-0.66050.6597100.6605-0.66350.6024110.6635-0.66650.6651合計100直方圖常見型態(tài)及說明1.正常型：中間高，兩邊低有集中趨勢；左右對稱分配，顯示屬常態(tài)分

8、配，製程正常運轉(zhuǎn)。直方圖常見型態(tài)及說明2.缺齒型：高低不一，有缺齒情形。屬不正常分配，次數(shù)分配不妥當(dāng)或 檢查員有假造數(shù)據(jù)、測量儀器不精細等皆會有此情形。直方圖常見型態(tài)及說明3.切邊型：有一端被切斷，能夠緣由數(shù)據(jù)經(jīng)過挑選或製程本身經(jīng)過全檢 後所呵斥，假設(shè)剔除某一規(guī)格以上時則切邊即會構(gòu)成。直方圖常見型態(tài)及說明4.雙峰型：有二個頂峰出現(xiàn)，能夠緣由有二種分配相混合，例如二種機 臺或二種不同原料，測定值因環(huán)境不同影響所呵斥。直方圖常見型態(tài)及說明5.離島型：在左邊或右邊構(gòu)成小島，緣由測定有錯誤，一定有異常緣由 存在，只需去除應(yīng)可製出符合規(guī)格之製品。直方圖常見型態(tài)及說明6.高原型：形狀似高原狀，不同平均值分

9、配混合所呵斥，應(yīng)利用層別分 離後在作直方圖作比較。直方圖的應(yīng)用(1) 測知製程才干 作為製程改善的依據(jù)可由直方圖的集中與分散情形來看出製程的好壞.良好的製程平均值接近規(guī)格中心,標(biāo)準(zhǔn)差則愈小愈佳(2) 與規(guī)格比較可計算產(chǎn)品的不良率品管活動循環(huán)中,常需求計算改善活動前,中,後之不良率即以比較有無改善成果,此可由次數(shù)分配表計算出來,也可由直方圖計算出來.(3) 測知分配型態(tài) (如之前)(4) 籍以訂定規(guī)格界限直方圖的應(yīng)用 未訂出規(guī)格界限之前,可根據(jù)所搜集編成次數(shù)分配表 測驗?zāi)芊駷槌B(tài)分配,如為常態(tài)分配,可根據(jù)計算而得 平均數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)差,平均數(shù)減去3個標(biāo)準(zhǔn)差得規(guī)格下限, 平均數(shù)家3個標(biāo)準(zhǔn)差則得規(guī)格上限,

10、 或可按各實際需 要而訂定.(5) 與規(guī)格或標(biāo)準(zhǔn)值比較要明瞭製程才干的好壞, 必須與規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)值比較才可顯現(xiàn)出來,普通我們總希望製程才干在規(guī)格界限內(nèi),且最好製程的平均值與規(guī)格的中心相致群 體：N 規(guī)格中心直：平 均 數(shù)：X 集中趨勢 標(biāo)準(zhǔn)偏向： 離散趨勢被涵蓋在特定範(fàn)圍的機率 正態(tài)分佈 P(u-Xu+)=0.6827 P(u-2Xu+2)=0.9545 P(u-3Xu+3)=0.9973於uk之間的機率68.26%95.45%99.73% -3 -2 -1 X +1 +2 +3 當(dāng) X = 時特性要因圖定義：一個問題的特性遭到一些要因的影響時,我們將這些要因加以整理,成為有相互關(guān)系而且有條理的圖

11、形,這個圖形稱為特性要因圖。又叫做魚骨圖 大要因大要因大要因大要因特性特性中要因小要因中要因中要因中要因中要因小要因小要因為了使變異的表示簡化，通常分成以下二種：機遇緣由的變異 制程中變異要素是在統(tǒng)計的控制狀態(tài)下受控。 隨著時間的推移，具有穩(wěn)定的且可重複的分佈 制程中的許多極差(全距)的緣由。非機遇緣由的變異 制程中不常發(fā)生，但呵斥制程變異的緣由。 所呵斥之分佈與時間的關(guān)係，是不穩(wěn)定且不無法 預(yù)期的。圖形分析制程才干大量之微小緣由所引起原料在一定範(fàn)圍內(nèi)之微小變異機械之微小振動儀器測定時，不非常精確之做法依據(jù)作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行作業(yè)的變化實際上，要除去制程上之機遇緣由，是件非常不經(jīng)濟之處置一個或少數(shù)幾個

12、較大緣由所引起運用規(guī)格外的原物料新手之操作人員不完全之機械調(diào)整未依據(jù)作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行作業(yè)所制訂之作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)不合理非機遇緣由之變異，不但可以找出其緣由，並且除去這些緣由之處置，在經(jīng)濟觀點上來說，是正確的機遇緣由非機遇緣由分布舉例非機遇緣由過程 A 顯示受控分布過程B 顯示不受控分布因為生產(chǎn)制程中每一件廢品都不同，因此假設(shè)製程很穩(wěn)定，則生產(chǎn)產(chǎn)品的品質(zhì)特性的分布將構(gòu)成一種固定形狀，稱為分佈。普通分佈有以下之不同情形： 位置 分佈寬度 形狀大小大小大小.或是以上這些的不同組合假設(shè)制程中，只需機遇緣由的變異存在，則其廢品將構(gòu)成依各很穩(wěn)定的分佈，而且是可以預(yù)測的假設(shè)制程中，有非機遇緣由的變異存在，則其廢品將為不

13、穩(wěn)定的分佈，而且無法預(yù)測的範(fàn)圍 時間可預(yù)測範(fàn)圍 時間非機遇緣由的變異簡單的統(tǒng)計分析可發(fā)現(xiàn)直接負責(zé)制程的人員去改善部分措施改善對策部分措施改善非機遇緣由牽涉到消除產(chǎn)生變異的非機遇緣由可由製程人員直接加以改善大約可以解決15%之制程上的問題系統(tǒng)措施 改善機遇緣由共同緣由的變異製程才干分析可發(fā)現(xiàn)管理當(dāng)局參與及製程人員協(xié)作去改善系統(tǒng)改善對策必須改善呵斥變異的機遇緣由經(jīng)常需求管理階層的努力與對策大約可以解決85%之制程上的問題制程控制與制程才干首先應(yīng)通過檢查，消除極差(全距)所產(chǎn)生之非機遇緣由，使制程處於受控的狀態(tài)，那其性能是可預(yù)測的。接下來，就可依顧客的要求 ( 規(guī)格 )，來評定制程才干，以使顧客滿意

14、，這就是持續(xù)改善的基礎(chǔ)。範(fàn)圍 時間受控(消除了非機遇緣由)範(fàn)圍 時間制程控制不受控(存在了非機遇緣由)受控且有才干符合規(guī)格(機遇緣由呵斥的變異已減少)制程才干 規(guī)格上限 規(guī)格下限 範(fàn)圍 受控但沒有才干符合規(guī)格(機遇緣由呵斥的變異太大)制程控制與制程才干矩陣類別制程控制受控制程控制不受控制程能力可接受13制程能力不可接受241類：理想的情況 X ， 小2類：受控制程，但存在機遇緣由呵斥過大的變異，必須減少極差(全距)。 X ， 大3類：制程才干可接受，但為不受控制程，必須識別極差(全距)的非機遇緣由，並消除它。 X ， 小 4類：不受控，且制程才干又不可接受，必須減少極差(全距)的非機遇緣由和機

15、遇緣由。 X ， 大制程改善循環(huán)PDACPDACPDAC1.分析制程2.維護制程3.改善制程1.分析制程： 本制程應(yīng)該做什麼？ 會出現(xiàn)什麼問題？ 本制程會有哪些變化？ 我們已經(jīng)知道本制程的什麼極差(全距)？ 哪些參數(shù)受極差(全距)的影響最大？ 本制程正在做些什麼？ 本制程能否在生產(chǎn)廢品及需求返工的產(chǎn)品？ 本制程生產(chǎn)的產(chǎn)品能否處於受控狀態(tài)？ 本制程能否有才干？ 本制程能否可靠？2.維護(控制)制程： 制程是動態(tài)的，並且會隨時間而變化。 監(jiān)控制程的才干指數(shù) 查出非機遇緣由的變異，並採取有效的措施3.改善制程： 使制程穩(wěn)定，並以維持制程的才干指數(shù) 充分了解機遇緣由呵斥的變異 減少機遇緣由呵斥變異的發(fā)

16、生制程才干分析制程處於受控狀態(tài)制程的各測量值符合正態(tài)分佈工程及其他規(guī)範(fàn)準(zhǔn)確的代表顧客的需求設(shè)計目標(biāo)值位於規(guī)格的中心測量變異相對較小Cpk / PpkCpk 在一穩(wěn)定制程下的才干指數(shù) 某一天、某一班次、某一批、某一機臺 其組內(nèi)的變異 ( R-bar / d2 or S-bar / c4 )制程才干調(diào)查步驟確切了解要調(diào)查的品質(zhì)特性與調(diào)查範(fàn)圍，並搜集數(shù)據(jù)製作解析用控制圖，確定製程處於受控狀態(tài)之中計算制程才干指數(shù) ( Short Term : Cpk )判斷制程才干能否足夠，如不夠時或不穩(wěn)定時，則加以改善以解析用控制圖之控制上、下限，作為控制用控制圖之監(jiān)控，並於一段期間後，再計算制程才干指數(shù) ( Lo

17、ng Term : Ppk )制程才干調(diào)查的方式圖示法-主要以次數(shù)分配圖、直方圖、控制圖表示之?dāng)?shù)值法-以Ca值(製程準(zhǔn)確度)、Cp值(製程精細度)、 Cpk值(製程才干指數(shù))表示之圖示法制程才干的初步斷定 中心值位置 分散寬度 分佈形狀大小大小大小由製程中搜集100個以上的數(shù)據(jù)，做成次數(shù)分配圖或直方圖，由圖形的中心值位置、分散寬度、分佈形狀可簡單斷定製程才干數(shù)值法制程才干分析製程準(zhǔn)確度Ca(Capability of Accuracy)衡量自產(chǎn)品中所獲得產(chǎn)品資料的實績平均值(X),與規(guī)格中心值(u)其間偏向的程度,是期望製程中生產(chǎn)的每個產(chǎn)品的實際值能與規(guī)格中心值一致 (1)Ca之計算方式如下：

18、 實績平均值-規(guī)格中心值 X-uCa=-*100% = -*100% 規(guī)格公差/2 T/2T=SU-SL =規(guī)格上限-規(guī)格下限集中趨勢Ca值的等級斷定 Ca值是正值-實績平均值較規(guī)格中心值偏高 Ca值是負值-實績平均值較規(guī)格中心值偏低 Ca值愈小,品質(zhì)愈佳。依Ca值大小普通分為四級：(3)Ca等級的說明規(guī)格中心值50%12.5%25%100%規(guī)格上限(下限)DCBA(4)處置原則A級：維持現(xiàn)狀B級：改進為A級C級：立刻檢討改善D級：立刻採取緊急措施，全面檢討， 必要時停頓生產(chǎn)製程精細度Cp(Capability of Precision)衡量自產(chǎn)品中所獲得產(chǎn)品資料的6個估計實績標(biāo)準(zhǔn)差(),與規(guī)

19、格公差(T)其間相差的程度,是期望製程中生產(chǎn)的每個產(chǎn)品以規(guī)格中心值為目標(biāo)，其變異寬度愈小愈好，換言之，即在衡量規(guī)格公差範(fàn)圍與製程變異寬度兩者間相差程度Cp之計算方式如下：規(guī)格公差6個估計實績標(biāo)準(zhǔn)差=T6 Cp=(雙邊規(guī)格)(單邊規(guī)格)規(guī)格上限-實績平均值3個估計實績標(biāo)準(zhǔn)差=Su-X3 Cp=或?qū)嵖兤骄?規(guī)格下限3個估計實績標(biāo)準(zhǔn)差=X-Sl3 Cp=Cp值的等級斷定 Cp值愈大-規(guī)格公差(T)大於估計實績標(biāo)準(zhǔn)差()愈多， 即表示製程的變異寬度遠小於規(guī)格公差 Cp值愈大,品質(zhì)愈佳。依Cp值大小普通分為五級：等級Cp 值A(chǔ) Cp 1.67B1.67 Cp 1.33 C1.33 Cp 1.00D1.

20、00 Cp 0.67E Cp 0.67(3)Cp等級之說明6 E 級6 D 級6 C 級6 B 級6 A 級規(guī)格中心值規(guī)格上限規(guī)格下限Cp 0.67Cp = 0.67Cp = 1.00Cp = 1.33Cp = 1.67T = 10 T = 8 T = 6 T = 4 制程才干指數(shù) Cpk ( 穩(wěn)定的制程 )Cpk = ( 1 Ca )* Cp當(dāng) Ca = 0 時，Cpk = Cp單邊規(guī)格時，Cpk 即以 Cp 值計之集中趨勢離散趨勢(3)Cpk 等級之說明 ( 當(dāng) Ca = 0 )6 E 級6 D 級6 C 級6 B 級6 A 級規(guī)格中心值規(guī)格上限規(guī)格下限Cpk 0.67Cpk = 0.67

21、Cpk = 1.00Cpk = 1.33Cpk = 1.67T = 10 T = 8 T = 6 T = 4 Cpk = 2.00T = 12 制程才干評價等級CPK說明A1.67CPK制程能力極優(yōu)B1.33CPK1.67制程能力優(yōu)良，還可改進C1CPK1.33制程能力平等，須進行制程改善D0.67CPK1制程能力不佳，應(yīng)全面檢討，全面改進，有必要，可停產(chǎn)E0CPK0.67制程能力拙劣，應(yīng)立即停止生產(chǎn)，作全面改善USL ： 規(guī)格上限 LSL ： 規(guī)格下限 X ：制程總平均值 ：估計標(biāo)準(zhǔn)差制程才干指數(shù) Cpk S.T. Stable Process = R / d 2 R ：極差(全距)的平均值 d 2 ：依樣本數(shù)大小變化，所運用之常數(shù) n2345678910d21