自動(dòng)校準(zhǔn)診斷和治療

1、自動(dòng)校準(zhǔn)診斷和治療一、儀器的系統(tǒng)誤差及其校準(zhǔn)1.根據(jù)系統(tǒng)誤差的變化規(guī)律，采用一定的測(cè)量方法或計(jì)算方法，將其從測(cè)量結(jié)果中扣除。2.采用高準(zhǔn)確度的儀器去校準(zhǔn)準(zhǔn)確度低的儀器。二、儀器故障的檢測(cè)和診斷對(duì)待故障的兩種策略1.采用冗余技術(shù)，故障產(chǎn)生時(shí)，設(shè)法避開(kāi)故障，屏蔽它的影響。2.檢測(cè)故障，及時(shí)發(fā)現(xiàn)，及時(shí)排除，使儀器可靠地工作。 故障檢測(cè) 故障診斷靠?jī)x器內(nèi)部的故障檢測(cè)單元來(lái)自動(dòng)實(shí)現(xiàn)故障檢測(cè)和診斷，成為自檢。三、儀器故障的自檢 自檢針對(duì)的部件： （1）儀器的數(shù)字電路 （2）模擬電路部分 （3）軟件部分 自檢的方式 （1）開(kāi)機(jī)自檢 （2）周期性自檢 （3）鍵控自檢 （4）連續(xù)監(jiān)控自檢的原理自檢必須解決的問(wèn)題

2、 怎樣產(chǎn)生該部件的測(cè)試矢量集 怎樣組成自檢電路 怎樣進(jìn)行自檢6.2 儀器的內(nèi)部自動(dòng)校準(zhǔn)智能儀器的系統(tǒng)誤差主要存在于模擬量通道里。零點(diǎn)漂移+倍率變化一、零點(diǎn)漂移和倍率變化功能量程選擇dk1放大器dk2濾波器dk3采樣保持dk4模數(shù)轉(zhuǎn)換dk5e1e2e3e4e5運(yùn)算放大器的e和dk結(jié)論：1.由于A、Ri、R1、R2都隨溫度變化而變化，故實(shí)際的放大倍數(shù)會(huì)隨溫度變化發(fā)生溫度漂移。2.Eos、Ios和R1、R2均是溫度的函數(shù)，所以，溫度變化的時(shí)候，等效的零漂電壓VOS也會(huì)隨著變化。串聯(lián)的零漂電壓和倍率二、零點(diǎn)漂移的內(nèi)部自動(dòng)校準(zhǔn)電路三、倍率編譯的內(nèi)部自動(dòng)校準(zhǔn)四、內(nèi)部自動(dòng)校準(zhǔn)的程序流程6.4 儀器中數(shù)字電路

3、的故障檢測(cè)一、常用自檢技術(shù)掃描設(shè)計(jì)技術(shù)特征分析技術(shù)環(huán)繞技術(shù)1.掃描技術(shù)2.特征分析技術(shù) 在邏輯電路的輸入端輸入測(cè)試矢量，在任一觀察點(diǎn)上觀察相應(yīng)序列，根須序列數(shù)據(jù)流的變化來(lái)診斷故障。一長(zhǎng)串?dāng)?shù)據(jù)中，并不是每一位都是有用的，所以，要簡(jiǎn)化數(shù)據(jù)串，提取特征。 常用數(shù)據(jù)流壓縮和提取特征的方法轉(zhuǎn)移計(jì)數(shù)法：觀察跳變個(gè)數(shù)邊沿計(jì)數(shù)法：記錄上升沿或下降沿的個(gè)數(shù)1計(jì)數(shù)法：記錄數(shù)據(jù)流中1或0的個(gè)數(shù)余數(shù)表示法：讓被觀察數(shù)據(jù)流流入線性反饋移位寄存器（LFSR）中，最后讀取余數(shù)。線性反饋移位寄存器CP序號(hào)A1A2A3010111102111301140015100601071018110電路故障電路響應(yīng)序列特征值a/101110111110a/0 b/0 d/001010101111b/101011111011c/1 d/1 Y/111111111100c/000000011110Y/000000000000無(wú)故障電路010101111013.環(huán)繞技術(shù)二、數(shù)字電路各組成部分的故障檢測(cè)CPU的檢測(cè)RAM的檢測(cè)ROM的檢測(cè)I/O端口的自檢總線的自檢6.5 儀器中模擬電路的故障測(cè)試模擬電路的故障測(cè)試的困難利用環(huán)繞技術(shù)進(jìn)行模擬量通道的自檢6.6 儀器自檢的安排采用可測(cè)性設(shè)計(jì)，便于自檢充分利用本身資源進(jìn)行自檢