深圳科技公司來料檢驗(yàn)規(guī)范

1、深圳市安吉龍科技有限公司檢驗(yàn)規(guī)范來料檢驗(yàn)文件編號：QC-WI-007擬制：唐 鋒版 號：V1.0生效日期：2003/09/01頁 碼：目的：操縱上線物料質(zhì)量，規(guī)定物料接收的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，使檢驗(yàn)時有據(jù)可依，確保生產(chǎn)使用的物料差不多上合格品。范圍：本檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)適用于原材料、輔料、半成品或成品等的進(jìn)入公司的所有物料。相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)：中國國家標(biāo)準(zhǔn)中國行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)國際標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)方式：若無特不規(guī)定，檢驗(yàn)采納抽檢方式，依據(jù)抽樣打算表。AQL： 缺陷類不 代碼 AQL 要緊缺陷 A 0.4 次要缺陷 B 1.5 檢驗(yàn)內(nèi)容：電氣性能和外觀檢驗(yàn).取樣：檢驗(yàn)樣品從待檢的批量中隨機(jī)抽取。合格與不合格的判定：每個樣品統(tǒng)計出檢驗(yàn)不合格數(shù)量

2、：A或B；沒有任何缺陷的樣品為OK；依照樣品檢驗(yàn)結(jié)果，對比抽樣方案判定合格數(shù)量是否達(dá)到要求數(shù)量，若在樣品中不合格品大于或等于抽樣方案對應(yīng)的不合格判定數(shù)，則該批物料為不合格。不合格品的存放：在抽檢過后，此批物料需退回供應(yīng)商，應(yīng)將抽到不合格的樣品，另外包裝并作明確標(biāo)識，放回原包裝內(nèi)，以便日后供應(yīng)商復(fù)核。檢驗(yàn)報告的填寫：填寫好報告上對應(yīng)的欄目，檢驗(yàn)無缺陷只需在檢驗(yàn)欄填寫OK或檢驗(yàn)無不良，有缺陷就在檢驗(yàn)結(jié)果欄填寫缺陷緣故。深圳市安吉龍科技有限公司標(biāo)題：QA檢驗(yàn)規(guī)范來料檢驗(yàn)文件編號：QAD-WI-007擬制：唐 鋒版 號：V1.0生效日期：2003/09/01頁 碼：類不項(xiàng)次檢驗(yàn)項(xiàng)目不良敘述缺陷分類檢驗(yàn)

3、方式電阻1有污1.1引腳有污，但易擦掉1.2元件腳有污，專門難擦掉BA目檢目檢2氧化2.1.引腳有輕微氧化，易上錫B目檢/試驗(yàn)2.2.引腳發(fā)黑氧化嚴(yán)峻，已不易上錫A目檢/試驗(yàn)3破損3.1.愛護(hù)層油漆有輕微脫落且在側(cè)面不易看到B目檢3.2.破損嚴(yán)峻，色環(huán)及愛護(hù)層脫落且在正面A目檢4絲印4.1.色環(huán)有輕微模糊，但可辯認(rèn)B目檢4.2.色環(huán)模糊不請，無法辯認(rèn)A目檢5型號來料、型號不對或同一包裝中有兩種以上的型號A對BOM單6精度6.1.測試時，金色誤差超出5%A萬用表6.2.測試時，銀色誤差超出10%A萬用表6.3.測試專門要求的電阻時與BOM單不同A萬用表/對BOM7阻值測試阻值與所標(biāo)色環(huán)值不同A萬

4、用表-20+80電容1有污1.1.元件腳不光亮，有污但可擦掉，且可上錫B目檢/試驗(yàn)1.2.元件腳有污，專門難擦掉A目檢2氧化2.1.引腳有輕微氧化，可上錫B目檢/試驗(yàn)2.2.引腳氧化較為嚴(yán)峻，已難上錫A目檢/試驗(yàn)3破損3.1.破損，阻礙外觀，有輕微破損B目檢3.2.破損會阻礙電氣性能A目檢4絲印4.1.絲印略有重影、模糊，可辯認(rèn)B目檢4.2.電容耐壓值或極性標(biāo)反、標(biāo)錯A目檢/對BOM4.3.絲印模糊不清，難以辯認(rèn)A目檢5體積電容體積型號與BOM要求不同A對BOM9容量實(shí)測容量與本身所標(biāo)容量不同A電容表7精度誤差超出了J5%、K10%、z % 、M20%范圍，專門要求精度的電容與BOM單要求不同

5、A電容表/對BOMIC1氧化1.1.引腳有輕微氧化，輕微發(fā)黑，但可上錫B目檢/試驗(yàn)1.2.引腳氧化，不易上錫。錫球發(fā)暗、發(fā)黑。A目檢/試驗(yàn)2變形引腳變形嚴(yán)峻，有折斷危險。錫球變形、脫落A目檢3絲印IC上邊絲印用手用力擦過5次，絲印模糊A手擦深圳市安吉龍科技有限公司標(biāo)題：QA檢驗(yàn)規(guī)范來料檢驗(yàn)文件編號：QAD-WI-007擬制：唐 鋒版 號：V1.0生效日期：2003/09/01頁 碼：類不項(xiàng)次檢驗(yàn)項(xiàng)目不良敘述缺陷分類檢驗(yàn)方式45型號破損同一包裝內(nèi)有兩種以上的型號殼體裂痕、破損、AA目檢/對BOM目檢/對BOM晶振1氧化引腳、外殼有氧化A目檢/對BOM2絲印絲印模糊不清，用手可擦掉A目檢3型號同一

6、包裝內(nèi)有兩種以上的型號A手擦變壓器1氧化引腳氧化，不能上錫A目檢/試驗(yàn)2破損變壓器引出線或線圈本身出現(xiàn)了破損A目檢3體積試裝PCB板，配合不行或型號不對A試裝/對BOM4焊接引出腳與繞線引出頭焊接不良A萬用表5測試測試初次級之間電阻值為零A萬用表可調(diào)電阻電位器1氧化引腳有氧化，難上錫A目檢/試驗(yàn)2體積試裝PCB板，配合不行或型號不對A試裝/對BOM3破損3.1.出現(xiàn)破損部位不明顯且面積較小，可使用B目檢3.2.出現(xiàn)破損較嚴(yán)峻，面積大，已無法使用A目檢4絲印絲印模糊，無法辯認(rèn)A目檢5手感調(diào)動時手感不良，阻力太大或太松，轉(zhuǎn)動不均A手調(diào)6阻值6.1.阻值超出BOM單要求A萬用表6.2.滑動手柄時，變

7、化不穩(wěn)定，出現(xiàn)跳變、多聯(lián)電位器在同位時阻值相差大。A萬用表/對BOM發(fā)光管1污點(diǎn)發(fā)光管下面有污點(diǎn)，且擦不掉A目檢2氧化引出腳氧化，上錫時不良A目檢/試驗(yàn)6氣孔發(fā)光管有氣孔A目檢4裂紋發(fā)光管出現(xiàn)裂紋A目檢5極性兩腳長短相同，沒有正負(fù)之分，或極性反（正常長正短負(fù)）A萬用表6型號同一包裝內(nèi)有兩種型號物料或與BOM要求型號不同A對BOM穩(wěn)壓管1氧化引腳有氧化，上錫不良A目檢/試驗(yàn)2裂紋出現(xiàn)裂紋，有破裂的痕跡A目檢3絲印絲印不清、模糊，極性標(biāo)反A目檢/萬用表4型號來料同一包裝內(nèi)有兩種以上型號的物料或來料與BOM不同A目檢/對BOM深圳市安吉龍科技有限公司標(biāo)題：QA檢驗(yàn)規(guī)范來料檢驗(yàn)文件編號：QAD-WI-

8、007擬制：唐 鋒版 號：V1.0生效日期：2003/09/01頁 碼：類不項(xiàng)次檢驗(yàn)項(xiàng)目不良敘述缺陷分類檢驗(yàn)方式三極管1氧化1.1.管腳出現(xiàn)氧化，不易上錫A目檢/試驗(yàn)1.2.管腳氧化較輕，能夠上錫B目檢/試驗(yàn)2絲印絲印模糊不清，用手擦5次后，可擦掉絲印A手擦3管腳管腳排列順序不對A萬用表（a、b、c）4值值一致性不行，誤差較大，超出BOM單要求范圍、波行失真B萬用表/對BOM5測試測試三極管型號與BOM要求不同A萬用表/對BOM6型號同一包裝內(nèi)有兩種以上型號的物料A目檢/對BOM電感1氧化1.1.引腳氧化，上錫不良A目檢/試驗(yàn)1.2.引腳有輕微氧化，可上錫B目檢/試驗(yàn)2 破裂引出腳邊有破裂痕跡

9、A目檢3 體積試裝PCB板，配合不行或與BOM要求不同A試裝/對BOM4 絲印絲印不清，色環(huán)無法辯認(rèn)A目檢5型號同一包裝內(nèi)有兩種以上的型號A目檢/對BOMVFD顯示器1引腳引腳間距不對，試裝PCB配合不行，另有松動現(xiàn)象或型號不對A試裝/對BOM2劃傷2.1.鏡片有劃傷，在正前方30cm遠(yuǎn)較明顯A目檢2.2. 劃傷面積在正前方30cm遠(yuǎn)不明顯B目檢3絲印絲印毛邊、模糊、黑點(diǎn)A目檢4損傷氣嘴破、玻璃體破損A目檢按鈕開關(guān)1氧化元件腳及接觸點(diǎn)有氧化A目檢2手感用手按動按鈕，不靈活，也沒響聲A手按3尺寸試裝PCB板，配合不行或型號不對A試裝/對BOM4測試4.1.接通時用萬用表測試接通阻值為無窮大A萬用

10、表4.2.沒接通時用萬用表測試阻值為零A萬用表插座1破裂破損面積嚴(yán)峻A目檢2松動排插上針有松動A目檢3氧化排針有氧化A目檢4變形4.1.排針有輕微變形，不阻礙使用B目檢4.2.排針彎曲，排列不齊，已無法使用A目檢5插接用插接件接觸試驗(yàn)有松動，配合不行或型號不對A相互插接/對BOM深圳市安吉龍科技有限公司標(biāo)題：QA檢驗(yàn)規(guī)范來料檢驗(yàn)文件編號：QAD-WI-007擬制；唐 鋒版 號：V1.0生效日期：2003/09/01頁 碼：類不項(xiàng)次檢驗(yàn)項(xiàng)目不良敘述缺陷分類檢驗(yàn)方式旋轉(zhuǎn)開關(guān)1氧化引腳有輕微氧化，且是單面，非引腳中間部位，還可上錫B目檢/試驗(yàn)2損傷外觀有損傷，面積較大，阻礙外觀（在明顯部位）A目檢3

11、旋動3.1.用手旋動不能回到原位A手旋3.2.用手旋動只能向一個方向，另一個方向不能旋動A手旋4測試在旋動時，萬用表測量不能接通A萬用表MIC座1氧化1.1.有輕微氧化,面積較小,還可上錫B目檢/試驗(yàn)1.2.氧化嚴(yán)峻,已無法上錫使用A目檢/試驗(yàn)2尺寸引腳尺寸偏離正常尺寸0.2mm（寬或厚）范圍外A游標(biāo)卡尺/對BOM3配合3.1.插接試驗(yàn)配合不行較緊A手接/試驗(yàn)3.2.插接試驗(yàn)配合較松A手接/試驗(yàn)4測試用萬用表測試沒有接通A萬用表遙控接收管發(fā)射管1有污1.1.表面有污點(diǎn)，面積較小且易擦掉B目檢/擦拭1.2.表面有污點(diǎn)，面積較大且不易擦掉A目檢/擦拭2氣孔表面有氣孔A目檢3破損有破損痕跡A目檢4松

12、動引腳松動A目檢手晃動5氧化5.1.引腳氧化，面積較小可上錫B目檢/試驗(yàn)5.2.引腳氧化，面積較大已不能上錫A目檢/試驗(yàn)PCB1氧化PCB板焊盤氧化A目檢2厚度PCBA板厚度在0.3mm范圍以外A游標(biāo)卡尺3孔塞PCB板插件孔有堵塞A日檢4刮傷刮傷露銅長度超過3mmA游標(biāo)卡尺5絲印5.1.絲印有輕微偏位，且可辯認(rèn)出各元件的絲印B目檢5.2.絲印模糊，辯認(rèn)不清、印錯、多印A目檢/對樣板5.3.絲印偏位已無法分辨各元件代號絲印A目檢6孔位6.1.多孔沒傷及線路，每塊板不超過2個B目檢/對樣板6.2.漏開孔，一塊板沒超過1個B目檢/對樣板6.3.漏開孔，一塊板2個A目檢/對樣板6.4.孔位偏移，不阻礙

13、使用B目檢6.5.孔位偏移，已損傷線路A目檢6.6.孔位直徑與樣板比較不同B目檢/對樣板深圳市安吉龍科技有限公司標(biāo)題：QA檢驗(yàn)規(guī)范來料檢驗(yàn)文件編號：QAD-WI-007擬制；唐 鋒版 號：V1.0生效日期：2003/09/01頁 碼：類不項(xiàng)次檢驗(yàn)項(xiàng)目不良敘述缺陷分類檢驗(yàn)方式7板污板污且專門難清洗A目檢/擦拭8變形目檢變形較明顯，已阻礙使用A目檢9綠油9.1.綠油涂蓋不均勻，面積10mm10mmA目檢/游標(biāo)卡尺9.2.綠油印刷不正，造成漏銅A目檢9.3.綠油經(jīng)溫度試驗(yàn)起泡和脫落A目檢/試驗(yàn)10金手指10.1.金屬面發(fā)黑氧化A目檢10.2.表面有污跡且擦不掉A目檢10.3.鍍金不良，顏色不均勻，色

14、差明顯A目檢10.4.金手指上錫A目檢10.5.劃傷露銅A目檢10.6.同條金手指超過一條劃傷，一片板不超過三條A目檢10.7.金手指有毛邊(其它詳見QA檢驗(yàn)規(guī)范)A目檢11測試11.1.測試有短路出現(xiàn)A萬用表11.2.測試有斷路出現(xiàn)A萬用表二極管1氧化1.1.管腳出現(xiàn)氧化，不易上錫A目檢/試驗(yàn)1.2.管腳氧化較輕，能夠上錫B目檢/試驗(yàn)2絲印絲印模糊不清，用手擦5次后，可擦掉絲印A手擦3管腳管腳極性與絲印標(biāo)反,試裝PCB板配合不行。A萬用表4測試4.1.測試正反向阻值為零A萬用表4.2.測試反向阻值為無窮大A萬用表5型號同一包裝內(nèi)有兩種以上型號的物料或型號錯A目檢/對BOM中周1氧化引腳外殼有

15、氧化A目檢2絲印絲印模糊不清，可擦掉絲印A手擦3體積試裝PCB板，配合不行或型號不對A試裝/對BOM4焊接引出腳與繞線引出頭焊接不良A萬用表5破損中周引出線或線圈本身出現(xiàn)了破損A目檢6旋鈕用調(diào)制筆旋鈕，中周調(diào)不動A調(diào)制筆7型號同一包裝內(nèi)出現(xiàn)兩種型號的物料A目檢/對BOM濾波器1氧化引腳有氧化A目檢2絲印絲印模糊不清，用手可擦掉A目檢/手擦3型號同一包裝內(nèi)出現(xiàn)兩種型號的物料A目檢/對BOM4體積試裝PCB板，配合不行或型號不對A試裝/對BOM5破損外殼有裂痕，缺損。A目檢深圳市安吉龍科技有限公司標(biāo)題：QA檢驗(yàn)規(guī)范來料檢驗(yàn)文件編號：QAD-WI-007擬制：唐 鋒版 號：V1.0生效日期：2003

16、/09/01頁 碼：類不項(xiàng)次檢驗(yàn)項(xiàng)目不良敘述缺陷分類檢驗(yàn)方式密碼器1氧化引腳有氧化A目檢2絲印絲印模糊不清A目檢3破損密碼器引出線或線圈本身出現(xiàn)了破損A目檢4體積試裝PCB板，配合不行或型號不對A試裝/對BOM5型號同一包裝內(nèi)出現(xiàn)兩種以上型號的物料A目檢/對BOM蜂鳴片器1氧化外殼有氧化A目檢2測試測試初次級之間值為零A萬用表3型號同一包裝內(nèi)出現(xiàn)兩種型號的物料A目檢/對BOM4絲印絲印模糊不清，用手可擦掉A目檢/手擦LED顯示器 、數(shù)碼管1氧化1.1.LED殼有劃傷、污點(diǎn)，面積在正前方30cm遠(yuǎn)較明顯A目檢1.2.LED殼有劃傷、污點(diǎn)，面積在正前方30cm遠(yuǎn)不明顯B目檢2體積試裝整機(jī)，配合不行

17、或與BOM要求不同A試裝/對BOM3型號同一包裝內(nèi)出現(xiàn)兩種型號的物料A目檢/對BOM4測試顯示卻劃A目檢/測試5測試顯示筆劃亮度不均勻A目檢/測試LCD顯示器1劃傷顯示器有劃傷A目檢2絲印絲印有毛邊，模糊不清A目檢3體積試裝整機(jī)，配合不行或與BOM單要求不同A試裝/對BOM4型號同一包裝內(nèi)出現(xiàn)兩種型號的物料A目檢/對BOMPVC貼片1劃傷PVC貼片有劃傷A目檢2絲印絲印有毛邊，模糊不清A目檢3尺寸試裝整機(jī)，配合不行A目檢/游標(biāo)卡尺4型號同一包裝內(nèi)有與BOM要求不同的物料A目檢/對BOM柔性電阻1破損破裂、損傷A目檢2尺寸試裝PCB板，配合不行或長或?qū)扐游標(biāo)卡尺/對BOM3氧化引線有氧化A目檢4

18、型號同一包裝內(nèi)有兩種以上型號A目檢/對BOM硅膠鍵1損傷外觀有損傷，面積較大，阻礙外殼（在明顯部位）A目檢2按鍵用手按，按鍵不能回到原位，手感不行A手按3型號同一包裝內(nèi)有兩種以上型號A目檢/對BOM深圳市安吉龍科技有限公司標(biāo)題：QA檢驗(yàn)規(guī)范來料檢驗(yàn)文件編號：QAD-WI-007擬制：唐 鋒版 號：V1.0生效日期：2003/09/01頁 碼：類不項(xiàng)次檢驗(yàn)項(xiàng)目不良敘述缺陷分類檢驗(yàn)方式光耦1氧化1.1.引腳有輕微氧化,輕微發(fā)黑,但可上錫B目檢/試驗(yàn)1.2.引腳有氧化,不易上錫A目檢/試驗(yàn)2絲印光耦上絲印用手擦過5次的,絲印模糊A手擦3型號同一包裝內(nèi)有兩種以上型號A目檢/對BOM五金材料檢驗(yàn)1尺寸測試來料尺寸與BOM單上的尺寸不同A游標(biāo)卡尺/試驗(yàn)2氧化愛護(hù)層脫落,有氧化、生銹A目檢3變形變形較為明顯,已阻礙正常使用A目檢/試裝4損傷損傷嚴(yán)峻、露底材,已不能正常使用A目檢/試裝輔 料檢 驗(yàn)助焊劑、稀釋劑