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文檔簡介
1、1、在硅和鍺的能帶結(jié)構(gòu)中,在布里淵中心存在兩個(gè)極大值重合的價(jià)帶,外面的能帶(B ,對應(yīng)的有效質(zhì)量( C ),稱該能帶中的空穴為( E )。A. 曲率大; B. 曲率??; C. 大;D. ?。?E. 重空穴;F. 輕空穴2、如果雜質(zhì)既有施主的作用又有受主的作用,則這種雜質(zhì)稱為( F )。 A. 施主 B. 受主 C.復(fù)合中心 D.陷阱 F. 兩性雜質(zhì)3、在通常情況下,GaN呈(A)型結(jié)構(gòu),具有(C),它是(F)半導(dǎo)體材料。A. 纖鋅礦型; B. 閃鋅礦型; C. 六方對稱性;D. 立方對稱性;E.間接帶隙; F. 直接帶隙。4、同一種施主雜質(zhì)摻入甲、乙兩種半導(dǎo)體,如果甲的相對介電常數(shù)r是乙的3/
2、4, mn*/m0值是乙的2倍,那么用類氫模型計(jì)算結(jié)果是( D )。A.甲的施主雜質(zhì)電離能是乙的8/3,弱束縛電子基態(tài)軌道半徑為乙的3/4B.甲的施主雜質(zhì)電離能是乙的3/2,弱束縛電子基態(tài)軌道半徑為乙的32/9C.甲的施主雜質(zhì)電離能是乙的16/3,弱束縛電子基態(tài)軌道半徑為乙的8/3D.甲的施主雜質(zhì)電離能是乙的32/9,弱束縛電子基態(tài)軌道半徑為乙的3/85、.一塊半導(dǎo)體壽命=15s,光照在材料中會產(chǎn)生非平衡載流子,光照突然停止30s后,其中非平衡載流子將衰減到原來的( C )。 A.1/4 ; B.1/e ; C.1/e2 ; D.1/26、對于同時(shí)存在一種施主雜質(zhì)和一種受主雜質(zhì)的均勻摻雜的非簡
3、并半導(dǎo)體,在溫度足夠高、ni /ND-NA/ 時(shí),半導(dǎo)體具有 ( B ) 半導(dǎo)體的導(dǎo)電特性。 A. 非本征 B.本征 8、在純的半導(dǎo)體硅中摻入硼,在一定的溫度下,當(dāng)摻入的濃度增加時(shí),費(fèi)米能級向( A )移動;當(dāng)摻雜濃度一定時(shí),溫度從室溫逐步增加,費(fèi)米能級向( C )移動。A.Ev ; B.Ec ; C.Ei; D. EF9、把磷化鎵在氮?dú)夥罩型嘶?,會有氮取代部分的磷,這會在磷化鎵中出現(xiàn)( D )。A.改變禁帶寬度 ; B.產(chǎn)生復(fù)合中心 ; C.產(chǎn)生空穴陷阱 ; D.產(chǎn)生等電子陷阱。10、對于大注入下的直接復(fù)合,非平衡載流子的壽命不再是個(gè)常數(shù),它與( C )。A.非平衡載流子濃度成正比 ; B.
4、平衡載流子濃度成正比; C.非平衡載流子濃度成反比; D.平衡載流子濃度成反比。11、雜質(zhì)半導(dǎo)體中的載流子輸運(yùn)過程的散射機(jī)構(gòu)中,當(dāng)溫度升高時(shí),電離雜質(zhì)散射的概率和晶格振動聲子的散射概率的變化分別是( B )。 A.變大,變小 ; B.變小,變大; C.變小,變??; D.變大,變大。12、如在半導(dǎo)體的禁帶中有一個(gè)深雜質(zhì)能級位于禁帶中央,則它對電子的俘獲率( B )空穴的俘獲率,它是( D )。 A.大于 ; B.等于; C.小于; D.有效的復(fù)合中心; E. 有效陷阱。13、在磷摻雜濃度為21016cm-3的硅襯底(功函數(shù)約為4.25eV)上要做出歐姆接觸,下面四種金屬最適合的是( A )。A.
5、 In (Wm=3.8eV) ; B. Cr (Wm=4.6eV); C. Au (Wm=4.8eV); D. Al (Wm=4.2eV)。14、在硅基MOS器件中,硅襯底和SiO2界面處的固定電荷是( B ),它的存在使得半導(dǎo)體表面的能帶( C )彎曲,在C-V曲線上造成平帶電壓( F )偏移。 A.鈉離子 ; B.過剩的硅離子; C.向下; D.向上; E. 向正向電壓方向; F. 向負(fù)向電壓方向。二、簡答題:(5+4+6=15分)2、對于摻雜的元素半導(dǎo)體Si、Ge中,一般情形下對載流子的主要散射機(jī)構(gòu)是什么?寫出其主要散射機(jī)構(gòu)所決定的散射幾率和溫度的關(guān)系。(4分)答:對摻雜的元素半導(dǎo)體材料
6、Si、Ge,其主要的散射機(jī)構(gòu)為長聲學(xué)波散射(1分)和電離雜質(zhì)散射其散射幾率和溫度的關(guān)系為:聲學(xué)波散射:,電離雜質(zhì)散射:3、如金屬和一n型半導(dǎo)體形成金屬半導(dǎo)體接觸,請簡述在什么條件下,形成的哪兩種不同電學(xué)特性的接觸,說明半導(dǎo)體表面的能帶情況,并畫出對應(yīng)的I-V曲線。(忽略表面態(tài)的影響)(6分)答:在金屬和n型半導(dǎo)體接觸時(shí),如金屬的功函數(shù)為Wm, 半導(dǎo)體的功函數(shù)為Ws。當(dāng)WmWs時(shí),在半導(dǎo)體表面形成阻擋層接觸,是個(gè)高阻區(qū),能帶向上彎曲;(2分)當(dāng)WmWs時(shí),在半導(dǎo)體表面形成反阻擋層接觸,是個(gè)高電導(dǎo)區(qū),能帶向下彎曲;(2分)對應(yīng)的 I-V曲線分別為:VI VI四、一束恒定光源照在n型硅單晶樣品上,其
7、平衡載流子濃度n0=1014cm-3,且每微秒產(chǎn)生電子空穴為1013cm-3。如n=p=2s,試求光照后少數(shù)載流子濃度。(已知本征載流子濃度ni=9.65109cm-3)(5分)解:在光照前:光照后:五、在一個(gè)均勻的n型半導(dǎo)體的表面的一點(diǎn)注入少數(shù)載流子空穴。在樣品上施加一個(gè)50V/cm的電場,在電場力的作用下這些少數(shù)載流子在100s的時(shí)間內(nèi)移動了1cm,求少數(shù)載流子的漂移速率、遷移率和擴(kuò)散系數(shù)。(kT=0.026eV)(6分)解:在電場下少子的漂移速率為:遷移率為: 擴(kuò)散系數(shù)為: 六、 摻雜濃度為ND=1016cm-3的n型單晶硅材料和金屬Au接觸,忽略表面態(tài)的影響,已知:WAu=5.20eV
8、, n=4.0eV, Nc=1019cm-3,ln103=6.9 在室溫下kT=0.026eV, 半導(dǎo)體介電常數(shù)r=12, 0=8.85410-12 F/m,q=1.610-19 庫,試計(jì)算:(4+4+4=12分) 半導(dǎo)體的功函數(shù);(4分) 在零偏壓時(shí),半導(dǎo)體表面的勢壘高度,并說明是哪種形式的金半接觸,半導(dǎo)體表面能帶的狀態(tài); 半導(dǎo)體表面的勢壘寬度。(4分)解:由得: (1分) (1分) 在零偏壓下,半導(dǎo)體表面的勢壘高度為:對n型半導(dǎo)體,因?yàn)閃mWs,所以此時(shí)的金半接觸是阻擋層(或整流)接觸(1分),半導(dǎo)體表面能帶向上彎曲(或:直接用能帶圖正確表示出能帶彎曲情況)(1分)。 勢壘的寬度為: 1.
9、導(dǎo)體、半導(dǎo)體、絕緣體的劃分:導(dǎo)體內(nèi)部存在部分充滿的能帶,在電場作用下形成電流; 絕緣體內(nèi)部不存在部分充滿的能帶,在電場作用下無電流產(chǎn)生; 半導(dǎo)體的價(jià)帶是完全充滿的,但與之上面靠近的能帶間的能隙很小,電子易被激發(fā)到上面的能帶,使這兩個(gè)能帶都變成部分充滿,使固體導(dǎo)電。2.電子的有效質(zhì)量是,空穴的有效質(zhì)量是;,電量等值反號,波矢與電子相同能帶底電子的有效質(zhì)量是正值,能帶頂電子的有效質(zhì)量是負(fù)值。能帶底空穴的有效質(zhì)量是負(fù)值,能帶頂空穴的有效質(zhì)量是正值。3.半導(dǎo)體中電子所受的外力的計(jì)算。4.引進(jìn)有效質(zhì)量的意義:概括了半導(dǎo)體內(nèi)部勢場的作用,使得在解決半導(dǎo)體中電子在外力作用下的運(yùn)動規(guī)律時(shí),可以不涉及半導(dǎo)體內(nèi)部
10、勢場的作用。1.施主能級:被施主雜質(zhì)束縛的電子的能量狀態(tài)稱為施主能級ED;施主能級很接近于導(dǎo)帶底; 受主能級:被受主雜質(zhì)束縛的空穴的能量狀態(tài)稱為受主能級EA;受主能級很接近于價(jià)帶頂。 施主能級圖 受主能級圖2.淺能級雜質(zhì):雜質(zhì)的電離能遠(yuǎn)小于本征半導(dǎo)體禁帶寬度的雜質(zhì),電離后向相應(yīng)的能帶提供電子或空穴。 深能級雜質(zhì):能級位于禁帶中央位置附近,距離相應(yīng)允帶差值較大。 深能級雜質(zhì)起復(fù)合中心、陷阱作用;淺能級雜質(zhì)起施主、受主作用。3.雜質(zhì)的補(bǔ)償作用:半導(dǎo)體中同時(shí)含有施主和受主雜質(zhì),施主和受主先相互抵消,剩余的雜質(zhì)發(fā)生電離。1.費(fèi)米分布函數(shù)(簡并半導(dǎo)體)(本征);(雜質(zhì));玻爾茲曼分布函數(shù)(非簡并半導(dǎo)體)
11、 ;2.費(fèi)米能級:;系統(tǒng)處于熱平衡狀態(tài),也不對外界做功的情況下,系統(tǒng)中增加一個(gè)電子所引起系統(tǒng)自由能的變化,等于系統(tǒng)的化學(xué)勢,也就是等于系統(tǒng)的費(fèi)米能級。 費(fèi)米能級的位置:本征半導(dǎo)體的費(fèi)米能級位于本征能級(禁帶寬度的一半)上,根據(jù)雜質(zhì)離子的不同,費(fèi)米能級的位置有所不同;4.n型雜質(zhì)半導(dǎo)體在低溫弱電離區(qū)的費(fèi)米能級的推導(dǎo):低溫下,導(dǎo)帶中的電子全部由電離施主雜質(zhì)提供,此時(shí)p0=0,故電中性條件:; 由得:,因此:;取對數(shù)并化簡得:;它與溫度、雜質(zhì)濃度以及摻入何種雜質(zhì)原子有關(guān)。在低溫極限T0K時(shí),;故;即在低溫極限T0K時(shí),費(fèi)米能級位于導(dǎo)帶底和施主能級間的中線處。1.載流子散射的概念:所謂自由載流子,實(shí)際
12、上只在兩次散射之間才真正是自由運(yùn)動的,其連續(xù)兩次散射間自由運(yùn)動的平均路程稱為平均自由程,而平均時(shí)間稱為平均自由時(shí)間。2.半導(dǎo)體的主要散射機(jī)構(gòu): 電離雜質(zhì)的散射;晶格振動的散射:聲學(xué)波散射;光學(xué)波散射;其他因素引起的:等同的能谷間散射;中性雜質(zhì)散射;位錯(cuò)散射;合金散射;3.平均自由時(shí)間與散射概率之間關(guān)系式的推導(dǎo): 設(shè)有N個(gè)電子以速度v沿某方向運(yùn)動,N(t)表示在t時(shí)刻尚未遭到散射的電子數(shù),按散射概率的定義,在t到(t+t)時(shí)間內(nèi)被散射的電子數(shù)為; ; 解微分方程:; 其中N0是t=0時(shí)未遭散射的電子數(shù); t到(t+t)時(shí)間內(nèi)被散射的電子數(shù)為; 平均自由時(shí)間;等于散射概率的倒數(shù)。2.非平衡載流子的
13、壽命的推導(dǎo): 假定一束光在一塊n型半導(dǎo)體內(nèi)部均勻地產(chǎn)生非平衡載流子和,在t=0時(shí),光照突然停止,的變化應(yīng)等于非平衡載流子的復(fù)合率:;小注入時(shí),是一恒量,與無關(guān),上述微分方程的通解為:;當(dāng)t=0時(shí),得,則; 非平衡載流子的復(fù)合率:通常把單位時(shí)間單位體積內(nèi)凈復(fù)合消失的電子-空穴對數(shù)。3.推導(dǎo)在小注入條件下,當(dāng)溫度和摻雜一定時(shí),壽命是一個(gè)常數(shù):。 熱平衡時(shí),產(chǎn)生率等于復(fù)合率,n=n0,p=p0; 此時(shí); 非平衡載流子的直接凈復(fù)合率; 由,得:; 非平衡載流子的壽命 小注入條件下,即,;n型材料,即, 當(dāng)時(shí),4.深能級的最有效位置是禁帶的中央;5.俄歇復(fù)合:載流子從高能級向低能級躍遷,發(fā)生電子-空穴復(fù)
14、合是,把多余的能量傳給另一個(gè)載流子,使這個(gè)載流子被激發(fā)到能量更高的能級上去,當(dāng)它重新躍遷回低能級時(shí),多余的能量以聲子形式放出,這種復(fù)合稱為俄歇復(fù)合。6.陷阱效應(yīng):雜質(zhì)能級積累非平衡載流子的作用稱為陷阱效應(yīng); 把具有顯著陷阱效應(yīng)的雜質(zhì)能級稱為陷阱;把相應(yīng)的雜質(zhì)和缺陷稱為陷阱中心。 最有效的深能級在費(fèi)米能級上;7.漂移運(yùn)動的作用場是電場遷移率;擴(kuò)散運(yùn)動的作用場是濃度場擴(kuò)散系數(shù); 遷移率與散射有關(guān);8.愛因斯坦方程的推導(dǎo):一塊處于熱平衡狀態(tài)的非均勻的n型半導(dǎo)體,其中施主雜質(zhì)濃度隨x增加而下降,電子和空穴濃度都是x的函數(shù),設(shè)為n0(x),p0(x);由于濃度梯度的存在,必然引起載流子沿x方向的擴(kuò)散,電
15、子擴(kuò)散產(chǎn)生的電流密度為,空穴擴(kuò)散產(chǎn)生的電流密度為;半導(dǎo)體內(nèi)的靜電場又產(chǎn)生漂移電流:,;熱平衡條件下:,;又,;求導(dǎo)得:;(對電子);(對空穴)第六章 p-n結(jié)1. p-n結(jié)的能帶圖: n、p型半導(dǎo)體的能帶 平衡狀態(tài)p-n結(jié)能帶圖2.外加正向偏壓時(shí)p-n結(jié)勢壘的變化:1.直接躍遷:為了滿足選擇定則,以使電子在躍遷過程中波矢保持不變,則原來在價(jià)帶中狀態(tài)A的電子只能躍遷到導(dǎo)帶中的狀態(tài)B。A與B在E(k)曲線上位于同一垂線上,這種躍遷稱為直接躍遷; 間接躍遷:除了吸收光子外還與晶格交換能量的非直接躍遷,也稱間接躍遷。3.在四面體結(jié)構(gòu)的共價(jià)晶體中,四個(gè)共價(jià)鍵是 sp3雜化 。4.第III族元素鋁、鎵、銦
16、和第V族元素磷、砷、銻組成的 III-V族化合物 。也是正四面體結(jié)構(gòu),四個(gè)共價(jià)鍵也是sp3雜化,但具有一定程度的離子性。是 閃鋅礦 結(jié)構(gòu)。5. ZnS、GeS、ZnSe和GeSe等 -族化合物 都可以 閃鋅礦型 和 纖鋅礦型 兩種方式結(jié)晶,也是以 正四面體結(jié)構(gòu) 為基礎(chǔ)構(gòu)成的,四個(gè)混合共價(jià)鍵也是 sp3 雜化,也有一定程度的離子性。6. Ge、Si的禁帶寬度具有 負(fù)溫度系數(shù) 。禁帶寬度Eg隨溫度增加而減小( 負(fù)溫度系數(shù)特性 )7.半導(dǎo)體與導(dǎo)體的最大差別: 半導(dǎo)體的電子和空穴均參與導(dǎo)電 。半導(dǎo)體與絕緣體的最大差別: 在通常溫度下,半導(dǎo)體已具有一定的導(dǎo)電能力 。有效質(zhì)量的大小取決于 晶體內(nèi)電子與電子
17、周圍環(huán)境 的作用。10 回旋共振 的實(shí)驗(yàn)是用來測量 有效質(zhì)量 的。導(dǎo)體、半導(dǎo)體、絕緣體的能帶l 能帶理論提出:一個(gè)晶體是否具有導(dǎo)電性,關(guān)鍵在于它是否有不滿的能帶存在。l 導(dǎo)體下面的能帶是滿帶,上面的能帶是半滿帶;或者上下能帶重疊了一部分,結(jié)果上下能帶都成了半滿帶l 絕緣體下面能帶(價(jià)帶)是滿帶,上面能帶(導(dǎo)帶)是空帶,且禁帶寬度比較大。l 半導(dǎo)體下面能帶(價(jià)帶)是滿帶,上面能帶(導(dǎo)帶)是空帶,且禁帶寬度比較小,數(shù)量級約在1eV左右。當(dāng)溫度升高或者光照下,滿帶中的少量電子可能被激發(fā)到上面的空帶中去。滿帶中少了一些電子,將出現(xiàn)一些空的量子狀態(tài),稱為空穴。在半導(dǎo)體中,導(dǎo)帶中的電子和價(jià)帶中的空穴均參與
18、導(dǎo)電。金是一種很典型的復(fù)合中心,在制造高速開關(guān)器件時(shí),常有意地?fù)饺虢鹨蕴岣咂骷乃俣取?5 兩性雜質(zhì):既能起施主作用,又能起受主作用的雜質(zhì),如III-V族化合物半導(dǎo)體中摻入的硅2. 有一塊摻磷的 n型硅,ND=1015cm-3, 分別計(jì)算溫度為 300K ; 500K ; 800K 時(shí)導(dǎo)帶中電子濃度 。 (已知硅的ni 300K=1.51010cm-3, ni 500K=41014 cm-3, ni 800K=1017cm-3)解:3. 含受主濃度為8.0106cm-3和施主濃度為7.251017 cm-3的Si材料,試求溫度為300K時(shí)此材料的載流子濃度和費(fèi)米能級的相對位置。 (已知300K
19、時(shí)硅的ni為1.51010cm-3)解:300K時(shí),雜質(zhì)補(bǔ)償之后,有效施主濃度: 強(qiáng)電離區(qū),2 載流子的產(chǎn)生:本征激發(fā) 和 雜質(zhì)電離 。4 費(fèi)米分布函數(shù):服從泡利不相容原理的電子遵循費(fèi)米統(tǒng)計(jì)規(guī)律。5 費(fèi)米分布函數(shù)的特性:6在熱平衡狀態(tài)下,非簡并情況下,導(dǎo)帶中的電子濃度: 同理可得,價(jià)帶中的空穴濃度(熱平衡狀態(tài),非簡并情況下): 載流子濃度乘積: N型半導(dǎo)體載流子的濃度(在過渡區(qū)): p型半導(dǎo)體載流子的濃度(在過渡區(qū)): 摻有某種雜質(zhì)的半導(dǎo)體的載流子濃度和費(fèi)米能級由 溫度 和 雜質(zhì)濃度 決定。隨著T升高,多數(shù)載流子從以 雜質(zhì)電離 為主過渡到 本征激發(fā) 為主。即:當(dāng)雜質(zhì)濃度不變時(shí),隨著溫度的升高,
20、費(fèi)米能級先上升后下降,直到接近中線位置。1. 隨著溫度T升高,多數(shù)載流子從以雜質(zhì)電離為主過渡到本征激發(fā)為主。2. n型半導(dǎo)體的費(fèi)米能級處在導(dǎo)帶底和Ei之間,p型半導(dǎo)體的費(fèi)米能級處在Ei和價(jià)帶頂之間。3. 在一定溫度下,施主雜質(zhì)濃度越高,費(fèi)米能級越接近導(dǎo)帶底;受主雜質(zhì)濃度越高,費(fèi)米能級越接近價(jià)帶頂。4. 隨著T升高, n型半導(dǎo)體的費(fèi)米能級從施主能級以上先升后降至施主能級以下直至禁帶中線。 p型半導(dǎo)體的費(fèi)米能級從受主能級以下先降后升至受主能級以上直至禁帶中線。對本征材料而言,材料的禁帶寬度越窄,載流子濃度越高;1 電子在 電場力 作用下所作的 定向 運(yùn)動稱為漂移運(yùn)動。2遷移率:表示單位場強(qiáng)下電子的
21、平均漂移速度,表示存在電場作用下載流子運(yùn)動的難易程度的物理量。3電阻產(chǎn)生的原因在于載流子的散射。電子與聲子的碰撞遵循兩大守恒法則:準(zhǔn)動量守恒、能量守恒晶格振動的散射中,光學(xué)波散射在能帶具有單一極值的半導(dǎo)體中起主要散射作用的是長波,在長聲學(xué)波中,只有縱波在散射中起主要作用。在半導(dǎo)體中長波起主要作用的是:縱聲學(xué)波散射。在離子晶體中起主要作用的是:縱光學(xué)波散射。6 電離雜質(zhì)散射:當(dāng)載流子運(yùn)動到電離雜質(zhì)附近時(shí),由于 庫倫勢場(庫倫斥力) 的作用,就使載流子運(yùn)動的方向發(fā)生改變,以速度v接近電離雜質(zhì),在原子核附近的散射。6. 歐姆定律的微分形式:載流子的遷移率由其主要作用的散射機(jī)構(gòu)決定。低溫時(shí),雜質(zhì)散射占
22、主導(dǎo)地位;因此,遷移率是雜質(zhì)濃度Ni的函數(shù)。高溫時(shí),晶格散射占主導(dǎo)地位;因此遷移率對Ni的依賴很小。雜質(zhì)濃度小時(shí),遷移率趨于一定值,不隨雜質(zhì)濃度而變化,說明此時(shí)晶格散射相對占據(jù)主導(dǎo)地位。隨著雜質(zhì)濃度Ni的增大,電離雜質(zhì)散射相對占據(jù)主導(dǎo)地位.(7)溫度T越高,晶格散射越強(qiáng),此時(shí)遷移率越小。(8)雜質(zhì)Ni越大,雜質(zhì)電離散射越強(qiáng),此時(shí)遷移率越小。1非平衡載流子的產(chǎn)生:電注入,光注入,高能粒子激發(fā)電子的連續(xù)性方程: 右側(cè)第一項(xiàng)為擴(kuò)散流密度不均勻引起的載流子變化;第二項(xiàng)為載流子濃度不均勻引起的積累;第三項(xiàng)為不均勻電場導(dǎo)致漂移速度隨空間位置變化引起的積累,第四項(xiàng)為復(fù)合率;第五項(xiàng)為產(chǎn)生率。按復(fù)合釋能的方式分
23、為輻射復(fù)合(發(fā)射光子)、發(fā)射聲子和俄歇效應(yīng)。強(qiáng)N型區(qū):壽命是與載流子濃度無關(guān)的常數(shù),僅取決復(fù)合中心對空穴的俘獲幾率。強(qiáng)P型區(qū):壽命與載流子濃度無關(guān), 是由復(fù)合中心對電子的俘獲幾率決定的常數(shù)最有效的復(fù)合中心在禁帶中央,而最有效的陷阱能級在費(fèi)米能級附近。簡答題:1. 平均自由程與擴(kuò)散長度有何不同?平均自由時(shí)間與非平衡載流子的壽命又有何不同?答:平均自由程是在連續(xù)兩次散射之間載流子自由運(yùn)動的平均路程。而擴(kuò)散長度則是非平衡載流子深入樣品的平均距離。它們的不同之處在于平均自由程由散射決定,而擴(kuò)散長度由擴(kuò)散系數(shù)和材料的壽命來決定。 平均自由時(shí)間是載流子連續(xù)兩次散射平均所需的自由時(shí)間,非平衡載流子的壽命是指
24、非平衡載流子的平均生存時(shí)間。前者與散射有關(guān),散射越弱,平均自由時(shí)間越長;后者由復(fù)合幾率決定,它與復(fù)合幾率成反比關(guān)系。2. 漂移運(yùn)動和擴(kuò)散運(yùn)動有什么不同?漂移運(yùn)動與擴(kuò)散運(yùn)動之間有什么聯(lián)系? 答:不同:漂移運(yùn)動是載流子在外電場的作用下發(fā)生的定向運(yùn)動,而擴(kuò)散運(yùn)動是由于濃度分布不均勻?qū)е螺d流子從濃度高的地方向濃度底的方向的定向運(yùn)動。前者的推動力是外電場,后者的推動力則是載流子的分布不勻。 聯(lián)系:漂移運(yùn)動與擴(kuò)散運(yùn)動之間通過遷移率與擴(kuò)散系數(shù)相聯(lián)系。而遷移率與擴(kuò)散系數(shù)則通過愛因斯坦關(guān)系相聯(lián)系,二者的比值與溫度成反比關(guān)系。即: (本題最好看一下)2.某N型半導(dǎo)體摻雜濃度 ND1016cm-3,少子壽命10s,
25、在均勻光的照射下產(chǎn)生非平衡載流子,產(chǎn)生率為1018 cm-3s-1,試計(jì)算室溫時(shí)光照情況下的費(fèi)米能級并和原來無光照時(shí)的費(fèi)米能級比較。設(shè)ni1010cm-3解:無光照: 穩(wěn)定光照后:同理:5 p-n結(jié)的電容主要包括 勢壘電容 和 擴(kuò)散電容 兩部分。6 單邊突變結(jié)勢壘區(qū)寬度主要取決于低摻雜一側(cè)的雜質(zhì)濃度,為什么? (勢壘區(qū)內(nèi)正,負(fù)電荷總量相等,摻雜濃度低的,相應(yīng)的電離雜質(zhì)濃度也低,需要更大的體積才能獲得同樣的總量,因此勢壘區(qū)寬度要寬得多)2 金屬和半導(dǎo)體接觸時(shí)還可形成非整流接觸,即歐姆接觸。3 整流特性首要條件:接觸必須形成半導(dǎo)體表面的阻擋層1.1 半導(dǎo)體 通常是指導(dǎo)電能力介于導(dǎo)體和絕緣體之間的材
26、料,其導(dǎo)帶在絕對零度時(shí)全空,價(jià)帶全滿,禁帶寬度較絕緣體的小許多。1.2能帶晶體中,電子的能量是不連續(xù)的,在某些能量區(qū)間能級分布是準(zhǔn)連續(xù)的,在某些區(qū)間沒有能及分布。這些區(qū)間在能級圖中表現(xiàn)為帶狀,稱之為能帶。1.6 直接帶隙材料 如果晶體材料的導(dǎo)帶底和價(jià)帶頂在k空間處于相同的位置,則本征躍遷屬直接躍遷,這樣的材料即是所謂的直接帶隙材料。1.6 間接帶隙材料 如果半導(dǎo)體的導(dǎo)帶底與價(jià)帶頂在k空間中處于不同位置,則價(jià)帶頂?shù)碾娮游漳芰縿偤眠_(dá)到導(dǎo)帶底時(shí)準(zhǔn)動量還需要相應(yīng)的變化2.1 雜質(zhì)電離能 雜質(zhì)電離能是雜質(zhì)電離所需的最少能量,施主型雜質(zhì)的電離能等于導(dǎo)帶底與雜質(zhì)能級之差,受主型雜質(zhì)的電離能等于雜質(zhì)能級與價(jià)帶頂之差。淺能級雜質(zhì)的作用:(1)改變半導(dǎo)體的電阻率(2)決定半導(dǎo)體的導(dǎo)電類型。深能級雜質(zhì)的特點(diǎn)和作用:(1)不容易電離
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