機械產品設計缺陷的形成及傳播

1、基于設計活動 分析 的機械產品設計缺陷形成及評估建模鄭慧萌 1,2, 劉衛(wèi)東 1, 肖承地 1, 胡偉立 1(1. 南昌大學機電工程學院,江西 南昌 330031;2. 湖州師范學院信息與工程學院,浙江 湖州 313000摘 要:以機械產品設計過程的設計活動 分析 為基礎, 通過分析產品設計活動類型以及設計 活動時序關聯模型, 研究了設計缺陷的形成和發(fā)展, 并構建 了 以設計活動為貝葉斯網絡節(jié) 點的設計缺陷評估模型。 案例研究表明:通過該方法可以定量估算設計活動產生產品設計 缺陷的可能性, 識別設計缺陷發(fā)生概率高的關鍵設計活動, 從而為產品設計缺陷的預防控 制提供依據。關鍵詞:設計活動;設計缺

2、陷;缺陷評估;貝葉斯網絡中圖分類號 :TP182; TH122文獻標識碼 :AFormation and Assessment Modeling of Mechanical Product Design Defect Based on Analyzing Design ActivityZheng Hui-meng1,2, Liu Wei-dong1, Xiao Cheng-di1, Hu Wei-li1(1. College of Mechanical Engineering and Electrical Engineering, Nanchang University, Nanchang 3

3、30031, China 2. School of Information Engineering, Huzhou Teachers College, Huzhou 313000, ChinaAbstract: From the perspective of the design activity involved in the mechanical product design processes, an assessment model of defect is constructed using design activities as Bayesian network nodes on

4、 the study of the formation and development processes of design defect, which is based on analyzing the types of design activity and temporal association models between activities. A case study shows that the proposed model can estimate quantitatively the probability of the product design defect cau

5、sed by design activities. Moreover, the critical design activities with high probability of defect occurrences could be identified by the proposed model. The study provides a criterion to prevent and control design defect, occurring in the product development processes. Key words: design activity;de

6、sign defect; defect assessment; Bayesian networkO 引言隨著科技的進步和顧客要求的提高, 產品功能的日益多樣化和越來越高的技術集成度必 然增加產品設計過程及相關設計活動的復雜化程度, 而日益嚴格的成本控制和研發(fā)周期的限 制則要求盡可能地簡化設計活動, 從而使得產品設計缺陷產生的風險程度不斷增加。 如果將 基金項目:國家自然科學基金資助項目 (No.71161018;江西省教育廳資助項目 (No.12717 。 Foundationitem(s:Project supported by the National Natural Science Fo

7、undation, China, (No. 71161018 ; Jiangxi Educational Committee(No.12717 .存在設計缺陷的產品投放市場, 既可能給使用者帶來危害, 更可能給生產企業(yè)造成巨大的經 營風險。 由于設計缺陷形成于產品的設計過程, 并隨設計活動而發(fā)展, 因此研究產品設計過 程、 設計活動和設計缺陷之間的相互關系, 認清并把握設計缺陷形成的一般規(guī)律, 對有效預 防和控制設計缺陷具有重要的意義。近年來, 國內學者對設計缺陷的研究已由針對特定產品的具體設計缺陷問題轉向對設計 缺陷識別、 形成機理等一般性問題的研究。 在設計缺陷識別方面, 呂剛等將機械產品

8、中零部 件幾何約束關系規(guī)約為設計缺陷判別函數, 在對零部件幾何約束編碼的基礎上建立了機械產 品的裝配約束關系矩陣, 并采用有向圖和 免疫方法 實現對產品設計缺陷的動態(tài)辨識 1。 邱健 等采用設計缺陷注入來辨識機械產品設計缺陷, 利用復雜零件與其它零件的虛擬裝配約束關 系將設計信度應用于評價節(jié)點設計參數可靠性, 依據約束樹建立設計缺陷推理模型 2。 此外, 在描述設計缺陷、 分析設計缺陷形成影響因素方面, 劉衛(wèi)東等從系統的角度, 分析了設計過 程對設計缺陷形成的影響, 研究建立了基于設計過程的設計缺陷與設計缺陷因素之間的關系 網模型及其回歸分析模型, 并應用數據挖掘的方法對電子產品設計缺陷進行評

9、估與預測 3-5。 國外的研究主要面向某一類或者某種具體產品的設計缺陷, 如通過收集風速、 風向的突然變 化等各種氣候條件的數據,來分析臺風活動區(qū)域風輪機的設計缺陷 6。 Byoung-Ju 等建立了 基于模糊 C 聚類的神經網絡模型, 并將該模型應用于軟件設計缺陷的預測 7。 Van Moll 等提 出通過調查大量的不同環(huán)境下使用產品的信息建立面向產品全生命周期的缺陷預防模型 8; 以及研究如何通過顧客在用戶網站對產品虛擬使用的體驗過程, 實現對高端產品設計缺陷的 識別 9。上述工作有效推進了設計缺陷的研究進展,豐富了設計缺陷的研究成果,但要在產 品設計階段有效預防和控制設計缺陷, 還需進一

10、步從設計缺陷形成機理的角度, 系統地研究 設計缺陷的產生及其隨設計活動的發(fā)展過程,并定量評估其風險。設計缺陷源于產品的設計過程及其具體設計活動。 因此, 本文圍繞設計活動對機械產品 (以下簡稱產品 的設計缺陷進行研究, 在分析設計活動類型以及設計活動間的時序關聯關 系的基礎上, 建立以設計活動為節(jié)點的機械產品設計缺陷貝葉斯網絡動態(tài)評估模型, 并將該 模型應用于設計缺陷的形成、 發(fā)展和風險定量評估研究, 以識別影響產品設計缺陷的關鍵設 計活動,為設計缺陷的預防和控制提供決策依據。1設計缺陷形成和發(fā)展1.1 設計過程描述產品設計過程是指設計人員將產品市場需求映射為具備一定功能和性能特性的產品技術規(guī)

11、范的一組相互關聯、相互作用的活動 10。產品設計過程一般分為顧客需求分析、概念 設計、 詳細設計、工藝設計、樣機制造與測驗等設計子過程, 這些設計子過程又由一系列相 互聯系的設計子子過程或具體設計活動、步驟組成。產品設計過程可表示為:R , (=ij i A PDP (1式中 PDP 表示產品設計過程 (Product Design Process, PDP , ,. . . , 2, 1(n i A i =表示可進一步細分的產品設計子過程或具體設計活動(Activity , ; ,. . . , 2, 1, (j i n j i R ij =表示設計子過程或具體設計活動間的關系 (Relat

12、ion 。 1.2 設計活動的分類及與產品設計缺陷的關系設計活動是指設計人員利用各種資源、 工具、 方法按照規(guī)定約束條件完成設計任務的過 程,其實質是將無序的、簡單的信息轉化為復雜的、有序的信息。產品的設計活動很多,有 機械設計學方面的研究整理出 204項設計活動,一些復雜產品的設計活動甚至更多 11。根 據產品設計活動的屬性,可將設計活動分為功能活動和控制活動兩類。功能活動是直接或間接賦予所設計產品的特定功能或性能而進行的設計活動, 如顧客需 求調查分析、 零部件的功能設計、 參數及其公差設計等。 功能活動的開展直接將推進產品設 計的進程。 而控制活動則是依據預先確定的規(guī)則, 對功能活動所實

13、現的產品功能或性能的符 合性、適宜性適時進行管理和控制的活動,主要有設計評審、設計驗證和設計確認等活動?？刂苹顒油ㄟ^評定檢查前一功能設計活動輸出的技術方案、 文檔等設計成果, 通過試驗 驗證產品的功能和性能, 以及從顧客角度確認產品功能是否滿足使用要求來評判該功能設計 活動是否達到設計要求, 是則進行下一設計活動, 否則從以往某一活動開始重新進行。 因此, 控制活動導致產品功能活動的迭代。 控制活動發(fā)現的問題、 識別設計缺陷 控制活動中識別的 設計缺陷 , 通過功能活動的迭代進行問題的糾正, 消除和控制產品設計缺陷, 從而保證產品 設計質量。 如圖 1所示, 產品設計缺陷形成于功能活動的過程,

14、 而控制活動則有利于抑制設 計缺陷的形成和發(fā)展。 圖 1 設計活動的分類及其與產品設計缺陷的關系1.3 設計活動時序關系與產品設計缺陷的發(fā)展設計過程是設計活動的集合, 設計活動是設計過程的基本構成要素。 產品的設計過程是 由若干個在空間、 時間或邏輯上存在一定聯系的活動按照一定的順序組成的。 根據不同活動 間的信息傳遞關系, 可對設計活動相互間的關聯性進行分類, 即將設計活動分為分耦合、 耦 合與準耦合 12,或分為獨立型、串聯型、交互型、條件型等幾種形式 13以及按照活動間的 邏輯關系分為串行依賴關系、并行關系、循環(huán)迭代關系、重疊并行關系和上下嵌套關系 14。 表 1描述了兩個活動的時序關聯

15、模型對產品設計缺陷傳遞的影響。表 1 設計活動時序關聯模型及對設計缺陷影響類型 描述 圖示關系活動信息傳遞影響產品設計缺陷傳遞獨立型 活動彼此獨立 無否 串聯型 前一活動的輸出為 后一活動的輸入活動之間存在前后的信息傳遞關系是 交互型活動存在互為輸入 輸出關系活動間存在信息雙向耦合作用 是 條件型 前一活動結束后, 后一活動必須在一 定的條件才能進行有是由表 1可知, 獨立型活動不存在信息傳遞關系, 所以不會影響設計缺陷的發(fā)展, 而串聯 型、交互型、條件型由于存在活動間的信息傳遞,能傳導產品的設計缺陷。獨立型、串聯型 交互型等時序關聯模型都有可能存在功能活動中, 而根據控制活動的定義分析, 控

16、制活動間的時序關系主要是條件型。 設計活動的時序關聯模型以不同的程度和方式影響著設計缺陷的 發(fā)展,因此設計活動的時序關聯模型是分析研究設計缺陷形成機理的基礎。2 基于設計活動的設計缺陷評估模型2.1 活動內的產品設計缺陷評估產品設計缺陷評估包括產品設計缺陷形成評估和設計缺陷發(fā)展評估兩個方面。 產品設計 缺陷首先形成于設計活動本身, 因此需要先評估單個活動內產品設計缺陷發(fā)生的概率。 單個 活動的產品設計缺陷評估流程如圖 2所示。 圖 2 單個活動設計缺陷評估流程先將產品設計過程按照過程原理進行逐層分解; 其次, 從構成活動的輸入、 輸出、 資源、 轉化環(huán)節(jié)、 環(huán)境和監(jiān)測等方面分析可能導致產品設計

17、缺陷的缺陷因素, 并建立層次分析模型; 由于缺陷因素對產品設計缺陷影響不同, 需要確定不同缺陷因素相對重要性的權值。 缺陷因 素的權重可通過層次分析法確定 15。根據設計活動內缺陷因素對設計缺陷發(fā)生概率的影響 估算設計過程進行到某個活動產品設計缺陷發(fā)生的概率。 設設計進行到第 j 個設計活動時缺 陷因素有 n 個,則該活動內設計缺陷發(fā)生的概率為ini ij Pw P 1=(2式中 i w 為某個缺陷因素的權重, i P 為活動內缺陷因素導致產品設計缺陷發(fā)生概率。 2.2 活動間的產品設計缺陷評估由于不同關系的活動之間信息傳遞的程度不同, 不同類型時序關聯活動對設計缺陷發(fā)展 的影響程度也不同。

18、由上面分析可知, 獨立型設計活動不會傳遞產品設計缺陷, 所以不需要 進行活動間產品設計缺陷評估。而串聯型設計活動將上一設計活動信息傳遞到下一設計活 動, 所以后續(xù)設計活動的設計缺陷的形成不僅包括該活動本身設計缺陷的形成還包括前續(xù)活動對該活動的設計缺陷的影響即設計缺陷的傳導。若設計活動 i A 和jA 是串聯關系且 i A 是jA 的前序活動,則 i A 和 j A 設計缺陷影響關系如圖 3所示,圖中 ' i DA , ' j DA 分別表示設計活動 i A ,jA 產品設計缺陷,jDA 表示設計活動jA 內產品設計缺陷,則后續(xù)設計活動jA 產品設計缺陷的概率為( ' &

19、#39; ' +=' i i j j j DA P DA DA P P P (3式中'j P 是設計活動jA 產品設計缺陷發(fā)生概率,jP 是設計活動jA 內產品設計缺陷發(fā)生的概率, ''i j DA DA P 為條件概率,是設計活動 j A 在 i A 發(fā)生條件下設計缺陷發(fā)生概率, 即產品設計缺陷傳導概率。 圖 3 串聯型設計活動設計缺陷關系模型交互型設計活動信息傳遞比較密切, 一般文獻對交互型活動進行歸一化操作即將交互型 設計活動歸一為一個單獨的整體活動 16。在此,采用該處理方法,將交互型產品設計缺陷 的評估簡化為活動內產品設計缺陷的評估。條件型設計

20、活動間的關系從宏觀上是串行關系, 只要條件確定, 活動過程就基本確定了。 因此,條件型設計活動間產品設計缺陷評估歸結為串聯型設計活動產品設計缺陷的評估。3 產品設計缺陷貝葉斯網絡模型3.1 貝葉斯網絡貝葉斯網絡(Bayesian network, BN 也稱概率因果網絡,是在貝葉斯規(guī)則基礎上建立 的一種應用可視化的網絡圖表示隨機變量之間概率關系的一種方法 17。貝葉斯網絡模型由 兩部分組成:有向無環(huán)圖(Directed Acyclic Graph, DAG定性地表示變量之間的因果關系; 有 向弧上的條件概率表 (Conditional Probability Table, CPT定量地描述節(jié)點

21、變量間的相關 關系,具體數學定義如下:貝葉斯網絡 =P G B , ;有向無環(huán)圖(ii ji j i Pa X E X X G =, , ;條件概率分布表 X X Pa X P P i i i =(。其中 i X ,jX 表示網絡節(jié)點變量,ji E 表示有向圖 G 中節(jié)點 i X 到jX 有向邊, i Pa 表示G 中 i X 的直接父節(jié)點,(i i Pa X P 表示節(jié)點 i X 與父節(jié)點 i Pa 關聯關系。貝葉斯網絡中對每個變量賦予一個特定值 P (i X P ,可根據貝葉斯網絡節(jié)點的 CPT ,計 算 出 網 絡 的 概 率 信 息 , 即 所 有 節(jié) 點 變 量 的 聯 合 概 率

22、分 布 ,., , (21n X X X P為 :( ,., , (121i ni in Pa XP X X X P =(43.2 產品設計缺陷貝葉斯網絡評估模型根據前面對機械產品設計缺陷基于設計活動的形成和發(fā)展分析, 基于機械產品設計缺陷 形成和發(fā)展機理的分析, 以設計活動為貝葉斯網絡的節(jié)點, 分如下 3個步驟進行產品設計缺 陷的建模評估。步驟 1 DAG 圖形結構的構建DAG 圖形由設計領域專家根據設計任務要求列出某設計階段的所有設計活動,并根據 經驗分析設計活動的時序關系,確定網絡有向弧的結構。 步驟 2 DAG 結構優(yōu)化貝葉斯拓撲網絡結構的優(yōu)化主要利用貝葉斯網絡的性質和節(jié)點間的條件獨立

23、關系, 優(yōu)化 時需要對變量之間的依賴關系進行檢驗, 及通過對節(jié)點變量邊緣和條件依賴、 邊緣和條件獨 立及因果關系確定結點之間邊的存在性和方向。 通過式子(5 (6計算節(jié)點變量的依賴信 息和條件信息, 進行節(jié)點變量的條件獨立性測試并判斷節(jié)點間的依賴關系最終確定節(jié)點邊的 存在性和方向。(ji j X X i j i X X P X X P X X I ji lg, ( , (, =(5(SS SSSNN j i S N N j N N i N N j i N N j X X X X iN N j i X X X P X X X P X X X X P X X XX P X X X X I ,.,

24、,., ,., , lg,., , , ( ,., , (11111, 1,., ,=(6其中:i X 和 j X 為貝葉斯網絡的任意兩節(jié)點變量, s N N X X ,., 1為節(jié)點集,且,., 1(, , s h j i X h =。當 < , (j i X X I , 為給定的小正數, i X 和 j X 邊緣獨立;當 < ,., , (1S N N j i X X X X I , i X 和 j X 條件獨立。節(jié)點邊的方向通過碰撞識別確定,在節(jié)點集 s N N X X ,., 1中任選兩個不存在邊的節(jié)點 iX 和 j X ,并尋找可能與節(jié)點 i X 和 j X 構成 V 形

25、結構的節(jié)點 (t i X i k <<1,對給定的閾值0>,如果1(, ( , (+>j i k j i X X I X X X I i (7i X , j X 和 i k X 構成 V 形結構,且具有因果關系,形成方向 , i k i X X j k X X i .步驟 3 CPT 的建立貝葉斯網絡節(jié)點的概率可通過綜合考慮具體研究對象的歷史數據、 專家經驗和借鑒相關 研究成果提供的方法。 貝葉斯網絡節(jié)點的概率可由相關領域專家根據產品設計過程的歷史數 據和設計經驗確定,也可借鑒相關研究成果給出。4 應用案例懸叉是山地自行車上重要部件。 某公司為提高懸叉銷售量, 欲設計開

26、發(fā)一款適合各種車 架、鋼圈、 輪胎且具有耐久性的懸叉。調研了解到現存的懸叉存在以下設計缺陷:懸叉對手 臂的震動強烈, 對道路的適應能力差; 懸叉在急轉彎時剛度不易保持, 影響自行車的操縱特 性; 懸叉不易安裝且無法提供堅固的剎車安裝點等。 現對懸叉進行概念設計, 為了預防設計 缺陷的產生, 在概念設計的同時對設計缺陷可能產生的風險進行分析評估。 經調研懸叉設計 人員總結確定懸叉概念設計主要活動有 27個,設計活動之間的關系用設計結構矩陣 18(Design Structure Matrix, DSM表示,見圖 4。 圖 4 懸叉概念設計活動的設計結構矩陣4.1 網絡評估模型的構建根據懸叉概念設

27、計活動的設計結構矩陣模型, 分析設計活動之間的關系, 建立懸叉概念 設計活動缺陷傳遞的初始貝葉斯拓撲結構(由于篇幅有限,圖省略 。為了研究設計缺陷傳 遞的影響,對網絡節(jié)點的取值定義為設計活動因素無序(0=X 和有序(1=X 兩種情 況。 各個設計活動導致設計缺陷的發(fā)生可能性大小用節(jié)點概率來描述, 而某個設計活動設計 缺陷的產生對其他設計活動的設計缺陷產生的影響用節(jié)點間的條件概率表示。由懸叉設計領域專家分析每個設計活動內設計缺陷影響因素, 并通過層次分析法可得到 缺陷因素的權重。根據公式(2計算出設計活動節(jié)點的發(fā)生概率即根節(jié)點的先驗概率(見 表 4以及參考文獻 19的方法給出節(jié)點的條件概率見表

28、5, 由公式(2計算出所有設計活 動節(jié)點的設計缺陷發(fā)生概率見表 4。 參考文獻 19提供的方法確定設計活動設計缺陷發(fā)生的 條件概率, 由于篇幅有限,數據量太大,這里僅以需求確定 5A 為例來說明(見表 5 。表 3為需求確定缺陷因素及權重,表 4左側(' 4DA , ' 7DA , 5DA 是條件節(jié)點取值列表,右側( 0=('5DA P (設計缺陷不發(fā)生和 1=(' 5DA P (設計缺陷發(fā)生 是結果節(jié)點的對應概 率。表 3 需求確定缺陷因素及權重 設計活動 缺陷因素 權重5A團隊的專業(yè)知識 0.3367 收集處理后的數據 0.3367 組織模式 0.0693

29、環(huán)境因素 0.0329 信息因素 0.1550 核查方法0.0693表 4 設計活動內設計缺陷發(fā)生概率 設計活動缺陷0=X 1=X1DA 0.958 0.042 2DA0.966 0.034 3DA 0.963 0.037 4DA0.978 0.022 5DA 0.955 0.045 6DA 0.973 0.027 7DA0.964 0.036 8DA 0.952 0.048 9DA 0.955 0.045 10DA 0.976 0.024 11DA 0.972 0.028 12DA 0.963 0.037 13DA 0.969 0.031 14DA 0.924 0.046 15DA 0.95

30、6 0.044 16DA 0.931 0.069 17DA 0.948 0.052 18DA 0.953 0.047 19DA 0.955 0.045 20DA 0.962 0.038 21DA 0.966 0.034 22DA 0.953 0.047 23DA 0.968 0.032 24DA0.965 0.035 25DA 0.958 0.042 26DA0.9760.0241127DA 0.969 0.031表 5 設計活動 ' 5DA 對應的條件概率' 4DA ' 7DA 5DA 0=(' 5DA P 1=(' 5DA P0 0 0.378 0.

31、622 00 1 0.678 0.322 01 0 0.723 0.277 10 0 0.715 0.282 11 0 0.867 0.133 10 1 0.849 0.151 01 1 0.872 0.128 1 1 1 0.972 0.028為了更好地研究各設計活動的時序關系對設計缺陷的傳遞影響, 需要對構建的貝葉斯網 絡結構進行約簡。約簡首先通過公式(5和(6判斷節(jié)點的依賴關系,進行邊的刪除和添 加,然后通過公式(7判斷邊的方向確定網絡結構。優(yōu)化后的貝葉斯網絡結構如圖 5所示。12 圖 5 約簡后懸叉概念設計活動貝葉斯拓撲結構4.2 模型的應用確定了懸叉概念設計活動的貝葉斯拓撲結構以及設

32、計活動對產品設計缺陷的影響概率 和活動間產品設計缺陷的傳遞概率就可以確定設計進行到各個設計活動時產品設計缺陷發(fā) 生的概率,見圖 6。設計活動進行到概念設計方案確定和評審時產品設計缺陷的發(fā)生的概率 為 2.71%,由于設計缺陷是小概率事件(一般認為,設計缺陷概率小于 5%,設計缺陷發(fā)生 的 概 率 較 小 , 此 時 產 品 設 計 缺 陷 不 太 可 能 發(fā) 生 。 從 圖 6可 以 看 出 , 設 計 活 動 2520-171615149-853, , , , , , , A A A A A A A A 設計缺陷發(fā)生的概率比較大,說明這些設計活動對產品設13計缺陷的影響比較大。 另外, 設計

33、活動導致的產品設計缺陷發(fā)生概率并不是隨著設計活動的 展開逐漸增加的, 因為產品設計缺陷大小不僅取決于設計活動本身產生的缺陷還取決于設計 活動間缺陷的傳遞。產生于某個設計活動的產品設計缺陷有可能隨著設計活動的展開而發(fā) 展, 也有可能隨著設計缺陷的傳遞在某個設計階段消失, 因此, 產品設計缺陷具有客觀存在 性和不確定性。 圖 6 懸叉概念設計部分活動的產品設計缺陷概率分布圖另外, 當懸叉概念設計進行到某個設計活動時產生產品設計缺陷, 則通過貝葉斯網絡的 逆向推理, 可尋找影響產品設計缺陷的關鍵風險活動, 即確定影響該活動的產品設計缺陷是 設計活動本身產生的還是上游設計活動傳遞過來的。例如,假設需求

34、確定設計活動 ' 5A 發(fā)生 設計缺陷,影響設計活動 5A 產品設計缺陷有設計活動 5A 本身,收集標桿信息 ' 7A ,需求分 類 ' 4A , 計算 ' ' 54DA DA P , ' ' 57DA DA P , ' 55DA DA P , 計算結果如圖 7。 顯然, ' 55DA DA P 的概率較大即設計活動 5A 的產品設計缺陷主要由本身的設計活動引起的。因此,設計部門 為避免設計缺陷,在設計過程中應重點控制需求確定活動 5A 的影響因素。 圖 7 懸叉需求確定活動產品設計缺陷發(fā)生時的 3個節(jié)點概率5 結論本文通

35、過對設計活動的分析, 將設計活動區(qū)分為功能活動和控制活動兩類, 其中功能活 動可能產生設計缺陷,而控制活動則可能識別設計缺陷并通過功能活動的迭代消除設計缺 陷; 在對設計活動基本時序關系研究的基礎上, 建立了基于設計活動, 反映活動間的關系及 其對設計缺陷的發(fā)展傳遞過程的設計缺陷貝葉斯網絡評估 模型 。 應用研究案例表明所建立的 模型不僅便于定量評估設計過程進行到某個活動時設計缺陷發(fā)生的概率, 而且有利于識別影 響設計缺陷的關鍵活動, 從而實現對設計缺陷的有效預防和控制。 出于對研究技術路線的整 體分析, 本文在建模過程中 對 模型進行了簡化, 下一步的研究將著眼于基本設計活動單元的 細化和組

36、合,以提高模型評估的精度。參考文獻1 LU Gang, FAN Showwen, WANG Zengzhong et al.Immune identification model and methodology for mechanical products assembly design defect driven by constraintsJ. Computer Integrated Manufacturing Systems ,2012,18(12:2604-2612(in Chinese . 呂剛 , 范守 文 , 王增忠等 . 約束驅動的機械產品裝配設計缺陷免疫辨識模型與方法 J

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