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實驗五觸發(fā)器邏輯功能測試 三、實驗儀器及器件:數(shù)字電路實驗箱74LS00、74LS74、74LS76芯片各一片四、實驗內(nèi)容:1、用與非門構(gòu)成SR鎖存器,并測試其功能,畫出實驗電路圖并記錄測試結(jié)果。SR鎖存器功能測試結(jié)果記錄 2、測試74LS74雙D觸發(fā)器的邏輯功能(1 測試直接置位端(S D、直接復位端(R D的作用任取74LS74中的一只D觸發(fā)器,S D、R D、D端接邏輯開關輸出插口,CP端接單次脈沖源,Q和Q端接到邏輯電平顯示輸入插口。改變S D和R D (CP、D處于任意狀態(tài),并在S D=0(R D=1或R D=0 (S D=1作用期間任意改變D及CP的狀態(tài),觀察Q和Q端的狀態(tài),記錄結(jié)果于下表中。 (2 測試D觸發(fā)器的邏輯功能當R D = S D = 1時,用CP脈沖控制D觸發(fā)器,將測試結(jié)果記錄在表2中。CP端接單次脈沖或邏輯開關輸出插口。 (3 將D觸發(fā)器的Q端與D端相連,構(gòu)成翻轉(zhuǎn)功能的T 觸發(fā)器,CP接1Hz信號,觀察Q端狀態(tài)。3、測試74LS76雙JK觸發(fā)器的邏輯功能(1 (2 測試內(nèi)容與過程(1 (2同74LS74的測試內(nèi)容類似,仿照進行。(3 將JK觸發(fā)器的J、K端連在一起,構(gòu)成T觸發(fā)器。在CP端輸入1Hz連續(xù)脈沖,觀察Q端的變化。五、思考題:1.實驗中,測試觸發(fā)器的邏輯功能時S D和R D應處于什么狀態(tài)?2.對74

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