基于mspF的多功能計數(shù)器

1、基于msp430F149的多功能計數(shù)器摘要 本文設(shè)計了一種以超低功耗單片機MSP430F149為控制器，以高速的FPGA（現(xiàn)場可編程門陣列）實現(xiàn)等精度測量正弦信號的頻率、周期和相位差的多功能計數(shù)器。在設(shè)計中依據(jù)等精度計數(shù)原理，應(yīng)用單片機的數(shù)學(xué)運算和控制功能，利用f=1/T實現(xiàn)了頻率和周期的統(tǒng)一處理；采用相位-時間轉(zhuǎn)換方法，根據(jù)完成了相位差測量。此外，利用外加模擬通道，實現(xiàn)了對正弦波小信號的預(yù)處理，使得該計數(shù)器能夠在較寬的頻率范圍和幅度范圍內(nèi)進行測量。關(guān)鍵詞 計數(shù)器 MSP430F149單片機 FPGA 等精度一、系統(tǒng)方案方案1：采用中小規(guī)模數(shù)字電路構(gòu)成系統(tǒng)，由計數(shù)器構(gòu)成主要的測量模塊。用定時器

2、組成主要的控制電路。此方案軟件設(shè)計簡單，但外圍芯片過多，且頻帶窄，實現(xiàn)起來較復(fù)雜，功能不強，而且不能程控和擴展。方案2：采用單片機實現(xiàn)。被測信號經(jīng)調(diào)理后送入單片機，利用其內(nèi)部的計數(shù)器完成計數(shù)，然后再進行數(shù)據(jù)處理和顯示，但單片機在處理高速信號時略顯吃力。方案3：利用FPGA對調(diào)理后的被測信號實現(xiàn)高速計數(shù)，單片機軟件執(zhí)行高精度浮點數(shù)運算并顯示。單片機完成系統(tǒng)的數(shù)據(jù)處理、邏輯控制和人機交互功能；大規(guī)模現(xiàn)場可編程器件（FPGA）實現(xiàn)外圍計數(shù)功能。電路框圖如圖1所示。單片機FPGA（測頻測周測相位差）相移電路顯示鍵盤輸入放大整形通道被測信號 圖1 方案3系統(tǒng)框圖方案比較與選擇：方案1 采用中小規(guī)模集成電

3、路來實現(xiàn)，系統(tǒng)電路較復(fù)雜，擴展性能差；方案2用外圍電路配合單片機實現(xiàn)測量功能，信號頻率比較高時需外加分頻電路，影響測量精度和系統(tǒng)穩(wěn)定性，且單片機任務(wù)繁重，給軟件設(shè)計和調(diào)試工作帶來不便；方案3用一片高度集成的可編程邏輯器件可完成有關(guān)電路所有模塊的設(shè)計，大大降低了電路復(fù)雜度，減少引線信號間的干擾，提高電路的可靠性和穩(wěn)定性。加上單片機控制，應(yīng)用單片機的數(shù)學(xué)運算和控制功能，輔以有效的軟件濾波算法，能夠進一步提高測量精度，且控制靈活、易于擴展和調(diào)試簡單，能夠達到題目要求。故本設(shè)計采用方案3，系統(tǒng)框圖如圖1所示。二、理論分析與計算1、頻率和周期測量方法分析由于頻率和周期之間存在倒數(shù)關(guān)系(f=1T)，所以只

4、要測得兩者中的一個，另一個可通過計算求得。1）直接測量法 對測頻在低頻端1Hz時，若閘門時間為1s，其1量化誤差大到100%。為了滿足測試精度的要求，顯然不能采用直接測量法；2）直接與間接測量相結(jié)合的方法 需對被測頻率和中界頻率的關(guān)系進行判斷，在中界頻率附近仍不能達到較高的測量精度；3）等精度測量法 圖2為等精度測頻、測周原理方框圖。 圖2 等精度測頻原理圖設(shè)在一次預(yù)置門時間中對被測信號計數(shù)值為，對標準頻率信號計數(shù)值為，有 （1） 于是 （2） 對式（2）兩邊微分得其測頻相對誤差為 = （3）由式（3）可知，測頻誤差僅取決于標準信號頻率和預(yù)置閘門寬度，增大 或提高，可以減少誤差，提高測量精度。

5、因為閘門實際開放時間等于被測信號周期整數(shù)倍，消除了被測信號計數(shù)值1量化誤差，所以測頻誤差與被測信號頻率無關(guān)。 若標準信號頻率為50MHz，閘門時間取1s，則測頻、測周相對誤差 ，滿足題目要求的性能指標，因此本設(shè)計采用等精度法測頻和測周。2 相位差測量方法分析 相位差的測量有很多種方法，如相位電壓轉(zhuǎn)換法、數(shù)值取樣法和相位差時間轉(zhuǎn)換法等。其中相位差時間轉(zhuǎn)換法實際上是測量兩個正弦信號波形上兩個相應(yīng)點之間的時間間隔t，若兩被測信號周期均為T，則時間間隔t對應(yīng)的相位差為： （4）如果只測量一個周期的t和T，無法滿足寬頻帶被測信號的測量精度。如果時間間隔t和周期T測量值比較準確，再通過單片機對實測數(shù)據(jù)進行

6、高精度浮點數(shù)運算及誤差修正，就可以達到精度要求。按照這一思路，結(jié)合上面對等精度測頻、測周原理及誤差的分析可知，此方法是切實可行的。設(shè)門控信號的開啟時間為，計數(shù)值為N，則 （5） 式中為時標信號的周期，由（5）式和（6）式得 （6）式中為被測信號頻率，為標準時基，N為計數(shù)值。3 寬帶通道放大器分析 因為三極管放大電路參數(shù)選擇復(fù)雜，低頻特性不好，抗噪性能差。因此，設(shè)計中采用了寬頻帶、低噪聲、高輸人阻抗的運算放大器組成高精度放大電路，以獲得良好的頻率特性和抗干擾能力。輸入通道中的放大級設(shè)計主要考慮增益和帶寬的指標。題目要求能夠測量信號幅度峰值范圍約為14mv7.07v。這個范圍是比較寬的，既涉及到小

7、信號放大，又要考慮比較器輸入電壓限制問題，因此，應(yīng)根據(jù)信號幅度大小分段選擇放大器的增益。還有就是要滿足運放增益帶寬積的要求。 三、電路與程序設(shè)計1 輸入通道電路設(shè)計待測頻率信號由于衰減、傳輸干擾等原因，不能直接用于測量，需要經(jīng)過處理后才能適合邏輯控制器的輸入。輸入通道組成框圖如圖3所示。 圖3 輸入通道組成框圖 圖4 放大電路原理輸入信號經(jīng)電壓跟隨器緩沖后進入放大通路，靈敏度控制采用單片機控制繼電器的通斷來選擇不同的放大倍數(shù)，被放大的信號經(jīng)比較器輸出與被測信號同頻率的方波計數(shù)信號若要測相位差，則同頻信號經(jīng)放大后進入移相網(wǎng)絡(luò)，然后經(jīng)過零比較得到移相后的計數(shù)信號。比較器采用滯回接法，詳細電路見附錄

8、一，從而避免了過零點信號的毛刺造成整形信號的誤翻轉(zhuǎn)。其中放大電路基本原理如圖4所示，其中Rf為反饋電阻，R為輸入端電阻，有 Uo = - Ui × （ Rf / R ） （7） 由式（7）知，調(diào)節(jié)Rf的大小即可調(diào)整電路的增益。移相網(wǎng)絡(luò)電路如圖5所示。圖5 移相網(wǎng)絡(luò)電路圖對圖5電路分析知，兩級網(wǎng)絡(luò)的振幅特性均為，前級網(wǎng)絡(luò)相頻特性為，可見此為超前網(wǎng)絡(luò)；后級網(wǎng)絡(luò)相頻特性為，所以相位發(fā)生滯后，通過改變阻值r即可實現(xiàn)相移量調(diào)整。兩級級聯(lián)后移相范圍為。 2 FPGA 功能實現(xiàn)模塊FPGA實現(xiàn)部分主要分為信號同步處理,等精度計數(shù)和數(shù)據(jù)處理及傳輸3部分，如圖6所示。FPGA采用Altera公司的EP

9、2C5Q208C8，經(jīng)分析知能夠?qū)崿F(xiàn)題目要求。（1） 同步處理電路 待測信號從外時鐘域進入,屬于異步信號,對測量精度乃至整個系統(tǒng)的穩(wěn)定都有很大的影響,在這里,先對輸入信號進行一次采樣進行消抖,濾去可能存在的毛刺, 然后進行一級同步處理，盡可能有效地對異步信號進行同步處理。同 步處理 電 路計數(shù)測量數(shù)據(jù)存儲雙口RAM至單片機待測信號圖6 FPGA功能實現(xiàn)框圖. （2）計數(shù)測量 采用等精度法測頻率,利用相位時間轉(zhuǎn)換法進行相位差測量,并將測得數(shù)據(jù)進行寄存。（3） 數(shù)據(jù)存儲 將得到的并行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為串行數(shù)據(jù) 再通過時序控制將數(shù)據(jù)寫入雙口RAM，然后單片機以其自身的時鐘頻率進行讀取,從而有效地消除跨時鐘域

10、數(shù)據(jù)處理時所造成的不穩(wěn)定影響。.3 單片機控制模塊 在本系統(tǒng)中，單片機采用MSP430F149，主要完成放大通路靈敏度選擇、讀取實測數(shù)據(jù)及處理和鍵盤與顯示接口等三種功能。其中靈敏度選擇是通過控制繼電器的通斷來實現(xiàn)通路切換；按鍵采用紅外遙控方式，其中發(fā)射部分采用 PT2221，接收部分采用高靈敏度、高度集成的一種新型紅外遙控接收光電模塊HS0038，然后通過單片機直接軟件解碼處理，進而執(zhí)行與之對應(yīng)的中斷服務(wù)子程序；因為要同時顯示較多數(shù)據(jù)，所以我們采用字符型液晶顯示。4 主程序流程圖 單片機系統(tǒng)主要流程圖如圖9所示，具體程序見附錄三。開始讀數(shù)據(jù)顯示功能選擇 圖9 主程序流程圖四、測試方案與測試結(jié)果

11、1測試儀器（1）任意波形/函數(shù)發(fā)生器（Tektronix AFG3022B）（2）等精度通用計數(shù)器/相位計（Sample SP312B）（3）雙通道數(shù)字示波器（Tektronix TDS1002）2測試方法與步驟 本設(shè)計采用先分別進行子系統(tǒng)測試，待均測試成功后再將之組裝成總體系統(tǒng)，仔細檢查連接無誤后通電進行總體功能和性能測試，并記錄所測數(shù)據(jù)。 信號源標準通用計數(shù)器實測結(jié)果顯示標準測量結(jié)果顯示被測系統(tǒng)圖14總體系統(tǒng)測試方案 測試條件：閘門時間為1s；3主要測試結(jié)果及分析測試結(jié)果：（1）本設(shè)計實現(xiàn)了對正弦信號的頻率、周期和相位差的測量功能； （2）性能方面能夠基本達到基礎(chǔ)部分誤差要求；測量誤差主要

12、來自 1.信號前級處理電路,由隔直電容和運放等集成芯片產(chǎn)生; 2.信號傳輸過程中的延時; 3.異步信號對fpga測量計數(shù)造成的影響; 4.等精度測量所產(chǎn)生的絕對誤差隨信號頻率增大而被直接放大導(dǎo)致在對高頻信號測量時出現(xiàn)大的數(shù)據(jù)局部不精確五、結(jié)論 1、頻率、周期測量誤差達到-；相位差測量準確度達到1度；能夠?qū)崿F(xiàn)小信號測量； 2、由于本地時基的計數(shù)結(jié)果依然存在±l的計數(shù)誤差，制約了頻率和周期測量精度的提高。如果輔以模擬內(nèi)插法，可以進一步提高測量精度。六、參考文獻1、 蔣煥文等，電子測量，北京：中國計量出版社，2008（第三版）2、 高吉祥編，電子儀器儀表設(shè)計，北京：電子工業(yè)出版社，2007

13、3、吳繼華等，Altera FPGA及CPLD設(shè)計（高級篇），北京：人民郵電出版社，20054、曹磊編，MSP430單片機C程序設(shè)計與實踐，北京：北京航空航天大學(xué)出版社2007附錄一系統(tǒng)原理圖附錄二數(shù)字電路仿真結(jié)果P1.1此圖為QUARTUSII繪制的測試“等精度測量”的波形仿真文件 限于版面原因 在此取 預(yù)置門控信號為: |out :2.5MHz (400ns), fin:待測信號頻率,|Out:待測信號經(jīng)同步后的頻率; data1和data2 為測量數(shù)據(jù) P1.2此圖為 測試 “相位時間”法 的波形仿真文件 data_out 為 測試數(shù)據(jù) ph1 和 ph2 分別為兩輸入正弦波在整形后的方

14、波信號 pout 即兩方波信號異或后的波形.表一 頻率測量0.08Vrms0.5Vrms給定頻率（Hz）通用計數(shù)器測值(Hz)系統(tǒng)測值(Hz)誤差通用計數(shù)器測值(Hz)系統(tǒng)測值(Hz)誤差11.000033961.000129111951.000029201.0000004820100100.000246100.00307628100.000066100.0000600.051k1.00000051k1.00000856k81.00000010k1.00000216k230k30.0000012k30.0000648k230.0000006k30.0000648k20100k100.00000

15、4k100.000192k1.9100.000002k100.000200k2500k500.00002k500.000816k0.08500.00001k500.000816k1.61M1.00000002M1.00000200M21.00000002M1.000001020M1.25M5.0000001M未測出5.0000010M5.00005952M1.88M8.0000002M未測出8.0000001M8.00004060M4.01.5Vrms3Vrms給定頻率(Hz)通用計數(shù)器測值(Hz)系統(tǒng)測值(Hz)誤差通用計數(shù)器測值(Hz)系統(tǒng)測值(Hz)誤差11.000001721.0000

16、00520.51.000001961.000010841.08100100.000060100.0008840.82100.000084100.0010281.021k1.00000004k1.0000184k1.81.00000002k1.00000168k1.730k30.0000012k30.000616k6.130.0000012k30.0001554k1.5100k100.000004k100.000120k1.2100.000002k100.001184k1.1500k500.00001k500.006016k6.01500.00001k500.002984k2.91M1.0000

17、0002M1.00001200M1.21.00000004M1.00000192M1.95M5.0000001M5.00000952M9.65.0000001M5.0000952M9.58M8.0000001M8.00001600M1.68.0000001M8.00001600M1.6表二 周期測量0.08Vrms1Vrms給定周期通用計數(shù)器測值系統(tǒng)測值誤差通用計數(shù)器測值系統(tǒng)測值誤差125ns124.999997ns未測出124.999997124.9995043.94200ns200.000000ns未測出199.999996199.9976163.981us0.99999998us0.99

18、999796us2.02999.999999u999.988032ns3.982ms1.99999860ms1.99996032ms1.921.99999956ms1.99997760ms3.9810ms9.99997782ms10.0001440ms1.669.9999998ms9.99997584ms3.9920ms20.0000608ms19.9999820ms1.7519.9999988ms19.9997728ms4.021ms0.99999960ms0.999990184ms3.960.99998988ms0.999987160ms4.041s1.00079364s0.99976522s2.020.99999642s0.999964096s4.123Vrms給定周期通用計數(shù)器測值系統(tǒng)測值誤差125ns124.999996124.9995043.91200ns199.999992199.9997163.941us0.999960.999980323.962ms1.999999921.999976163.9710ms9.99999969.999879043.9720ms19.999999219.99976644.121ms0.999960.9999887364.161s0.99