防腐層測(cè)厚儀

1、防腐層測(cè)厚儀使用說(shuō)明書(shū)基本概述防腐層測(cè)厚儀又叫管道防腐層測(cè)厚儀、3PE防腐層測(cè)厚儀、鋼結(jié)構(gòu)鍍層測(cè)厚儀、鋼結(jié)構(gòu)油漆測(cè)厚儀、電鍍鍍層測(cè)厚儀、熱鍍鋅鋅層測(cè)厚儀、鍍鋅層測(cè)厚儀、鍍鋅厚度檢測(cè)儀、電鍍涂層測(cè)厚儀、鍍涂層測(cè)厚儀價(jià)格、兩用型涂層測(cè)厚儀、鍍層涂層測(cè)厚儀、涂層厚度測(cè)厚儀、便攜式涂層測(cè)厚儀、數(shù)字式涂層測(cè)厚儀、兩用涂層測(cè)厚儀、油漆涂層測(cè)厚儀、鐵基/非鐵基涂層測(cè)厚儀、電子涂層測(cè)厚儀、非磁性涂層測(cè)厚儀、涂層鍍層測(cè)厚儀、高精度涂層測(cè)厚儀、涂層測(cè)厚儀、漆膜厚度測(cè)量?jī)x是便攜式、快速、無(wú)損、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車、造船、

2、輕工、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。附表一:功能OU3500F OU3500N OU3500FN 測(cè)量原理磁性渦流磁性/渦流測(cè)量范圍標(biāo)準(zhǔn)配置探頭(F1/N1:0 1250m測(cè)量精度±(3%H+1m(零點(diǎn)校準(zhǔn)±(1%H+1m(二點(diǎn)校準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)量平均值(MEAN、最大值(MAX、最小值(MIN、測(cè)試次數(shù)(NO、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV存貯和統(tǒng)計(jì)500個(gè)測(cè)量值零點(diǎn)校準(zhǔn)二點(diǎn)校準(zhǔn)刪除功能自動(dòng)關(guān)機(jī)蜂鳴聲提示錯(cuò)誤提示標(biāo)準(zhǔn)配置主機(jī)、F1探頭、基體、校準(zhǔn)片、說(shuō)明書(shū)、包裝箱主機(jī)、N1探頭、基體、校準(zhǔn)片、說(shuō)明書(shū)、包裝箱F1(N1探頭、基體、校準(zhǔn)片、說(shuō)明書(shū)、包裝箱選配件F400、N400、F1/90、F10、CN02F

3、400、N400、F1/90、F10、CN02F400、N400、F1/90、F10、CN02、打印機(jī)、通訊軟件一、概述本儀器根據(jù)探頭類型的不同,分別運(yùn)用磁感應(yīng)和渦流原理測(cè)量覆層厚度,并符合以下工業(yè)標(biāo)準(zhǔn):JB/T 8393-1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x1.1 應(yīng)用本儀器是便攜式、快速、無(wú)損、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。配置不同的探頭,適用于不同場(chǎng)合。1.2 測(cè)量原理本儀器根據(jù)探頭類型的不同,采用了磁性法和渦流法兩種測(cè)厚方法。F型探頭采用磁性法,可測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、

4、鐵、合金和硬磁性鋼等上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等。N型探頭采用渦流法,可測(cè)量非鐵磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等和奧氏體不銹鋼上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:橡膠、油漆、塑料、陽(yáng)極氧化膜等。1.3 儀器配置主機(jī) -1臺(tái)探頭(F1或N1 -1支基體 -1塊標(biāo)準(zhǔn)片 -5片9V堿性電池-1節(jié)使用說(shuō)明書(shū) -1本其他型號(hào)探頭 -(適用于OU3500打印機(jī) -1臺(tái)(適用于OU3500B通訊電纜 -1條(適用于OU3500B- 1 - 2 -1.4 使用環(huán)境溫度:0 40濕度:20%RH 90%RH 無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境1.5 電源一節(jié)9V 堿性干電池1.6 儀器各部件的名稱 4、鍵盤1、RS23

5、2接口(OU3500B 2、探頭插座3、液晶顯示器1. 工作方式指示2. 測(cè)量厚度值3.統(tǒng)計(jì)值4. 測(cè)頭類型指標(biāo)5. 低電壓指標(biāo)6. 設(shè)限界指示7. 打印指示D PRINT LIMITMAX=50.2 MIN=49.9MEAN=50.1NO=1050.0Fem m1276543所有探頭(CN02除外都安裝在滑套里,以確保探頭安全穩(wěn)定地定位,并保持探頭適當(dāng)?shù)慕佑|壓力?；浊岸说腣 型槽可保證在凸面上準(zhǔn)確測(cè)量。測(cè)量時(shí)須握住探頭上的滑套,保持探頭軸線與被測(cè)面垂直。探頭的頂端由耐用的硬質(zhì)材料制成。2、滑套1、測(cè)頭部分3、插頭(與主機(jī)連接用戶根據(jù)需要測(cè)量工件的特點(diǎn)選用下列不同探頭與儀器。表一:主機(jī)可選用

6、探頭表探頭F1F1/90N1F400N400F10CN02OU3500AOU3500B OU3500A OU3500B 主機(jī)表二:探頭技術(shù)參數(shù)表:H標(biāo)稱值F型:工作原理磁感應(yīng)探頭型號(hào)F400F1F1/90°F10測(cè)量范圍(m m0 4000 12500 10000低限分辨力(m m1110示值誤差一點(diǎn)校準(zhǔn)(m m±(3%H+0.7±(3%H+1±(3%H+10二點(diǎn)校準(zhǔn)(m m±(1%H+0.7± (1%H+1±(1%H+10工作原理渦流探頭型號(hào)N400N1CN02測(cè)量范圍(m m0 4000 125010 200銅上鍍鉻 0

7、 40低限分辨力(m m111示值誤差一點(diǎn)校準(zhǔn)(m m±(3%H+0.7±(3%H+1.5±(3%H+1二點(diǎn)校準(zhǔn)(m m±(1%H+1± (1%H+1.5-測(cè)試條件最小曲率半徑(mm凸1.5凸3僅為平直最小面積的直徑(mmF4F5F7N型:表三探頭選用參考表(1覆蓋層覆蓋層基體基體有機(jī)材料等非金屬覆蓋層(如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等覆蓋層厚度不超過(guò)100m m覆蓋層厚度超過(guò)100m m如鐵、鋼等磁性金屬被測(cè)面積的直徑大于30mmF400型探頭0 400mmF1型探頭0 1250m mF400型探頭 0 400m mF1型探頭

8、0 1250m mF10型探頭 0 10mm 被測(cè)面積的直徑小于30mmF400型探頭0 400m mF1型探頭 0 1250m mF400型探頭 0 400m m如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬被測(cè)面積的直徑大于10mmN400型探頭0 400m mN1型探頭 0 1250m mN400型探頭 0 400m mN1型探頭 0 1250m m被測(cè)面積的直徑小于10mmN400型探頭0 400m mN1型探頭 0 1250m mN400型探頭 0 400m m非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等覆蓋層厚度不超過(guò)100m m覆蓋層厚度超過(guò)100m m如鐵、鋼等磁性金屬被測(cè)面積的直徑

9、大于30mmF400型探頭0 400mmF1型探頭0 1250m mF400型探頭 0 400m mF1型探頭 0 1250m mF10型探頭 0 10mm 被測(cè)面積的直徑小于30mm僅用于銅上鍍鉻N400型探頭0 40m m-如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬被測(cè)面積的直徑大于10mm-被測(cè)面積的直徑小于10mmN400型探頭0 400m mN1型探頭 0 1250m mN400型探頭 0 400m m塑料、印刷線路非金屬基體被測(cè)面積的直徑大于7mmCN02型探頭10 200m m探頭選用參考表(2二、儀器使用前的準(zhǔn)備使用本儀器前,請(qǐng)務(wù)必仔細(xì)閱讀第3章(校準(zhǔn)和第8章(影響測(cè)量精度的因素2.1

10、檢查電源(a 本儀器使用9V 堿性電池。(b 按鍵,檢查電池。 開(kāi)機(jī)時(shí)無(wú)顯示,表示無(wú)電池或電池電壓太低,無(wú)法顯示。需更換電池。 無(wú)低電壓指示,表示電池電壓充足。 有低電壓指示,表示電池電壓不足則顯示低壓指示約1秒鐘后自動(dòng)關(guān)機(jī)。這時(shí)應(yīng)立即更換電池。2.2 更換電池(a 按 鍵關(guān)機(jī);(b (c 取出電池,放入新電池;(d 蓋好電池倉(cāng)蓋。注意:儀器長(zhǎng)時(shí)間不使用時(shí)應(yīng)將電池取出,以避免電池漏液腐蝕儀器。2.3 選擇探頭(a準(zhǔn)備好待測(cè)試件,將測(cè)頭置于開(kāi)放空間,按一下鍵開(kāi)機(jī),正常開(kāi)機(jī)后顯示上次關(guān)機(jī)前的測(cè)量值;如: 說(shuō)明:開(kāi)機(jī)時(shí)若電池電壓不足則顯示低壓指示約1秒鐘后自動(dòng)關(guān)機(jī)。這時(shí)應(yīng)立即更換電池;D50.0Fe

11、 m m(b如果需要校準(zhǔn)儀器,則選擇適當(dāng)?shù)男?zhǔn)方法進(jìn)行校準(zhǔn)(參見(jiàn)第三章;(c測(cè)量迅速將測(cè)頭與測(cè)試面垂直地接觸并輕壓測(cè)頭定位套,隨著一聲?shū)Q響,屏幕顯示測(cè)量值,提起探頭可進(jìn)行下次測(cè)量;(d關(guān)機(jī)在無(wú)任何操作的情況下,大約2-3min后儀器自動(dòng)關(guān)機(jī)。按一下鍵,立即關(guān)機(jī)。 說(shuō)明: 1. 如果在測(cè)量中探頭放置不穩(wěn),顯示一個(gè)明顯的可疑值,可刪除該值;2.重復(fù)測(cè)量三次或三次以上,測(cè)量后可顯示四個(gè)統(tǒng)計(jì)值:平均值(MEAN、測(cè)量次數(shù)(NO.、最大測(cè)量值(MAX、最小測(cè)量值(MIN。2.5 功能設(shè)置該儀器具有兩種工作方式:直接方式和成組方式(a直接方式:此方式用于隨意性測(cè)量,此方式下可存儲(chǔ)100個(gè)測(cè)量值,當(dāng)存滿10

12、0個(gè)值時(shí),新的測(cè)量值將替掉舊的測(cè)量值,總保留最新的100個(gè)測(cè)量值。(b成組方式:此方式便于用戶分批記錄所測(cè)試的數(shù)據(jù),一組最多存100個(gè)測(cè)量值,總共五組,可存500個(gè)測(cè)量值。當(dāng)每組存滿100個(gè)值時(shí),屏幕將顯示“存儲(chǔ)器滿”,此時(shí),仍可進(jìn)行測(cè)量,但是測(cè)量值只顯示不存儲(chǔ),也不參與統(tǒng)計(jì)計(jì)算。只有刪除該組數(shù)據(jù),才能保存新的測(cè)量值。每組內(nèi)設(shè)有一個(gè)校準(zhǔn)值,即該組下各個(gè)數(shù)據(jù)都是基于這個(gè)校準(zhǔn)值測(cè)得的。成組方式下,每個(gè)測(cè)量統(tǒng)計(jì)計(jì)算。只有刪除該組數(shù)據(jù),才保存新的測(cè)量值。每組內(nèi)設(shè)有一個(gè)校準(zhǔn)值都參與統(tǒng)計(jì)計(jì)算。因?yàn)槌山M方式下,可存貯幾套基于不同校準(zhǔn)值的測(cè)量數(shù)據(jù),因此該方式特別適合于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。該儀器具有兩種測(cè)量方式:單次測(cè)量

13、和連續(xù)測(cè)量單次測(cè)量測(cè)頭每接觸被測(cè)件1次,隨著一聲?shū)Q響,顯示一個(gè)測(cè)量結(jié)果;連續(xù)測(cè)量不提起測(cè)頭動(dòng)態(tài)測(cè)量,測(cè)量過(guò)程中不伴鳴響,屏幕 連續(xù)顯示測(cè)量結(jié)果; 兩種方式的轉(zhuǎn)換方法:(a 儀器開(kāi)機(jī)后,自動(dòng)進(jìn)入直接工作方式,工作方式區(qū)顯示【D 】。按 鍵,顯示如右圖:(b 按 鍵,進(jìn)入系統(tǒng)設(shè)置;按 或 鍵,選擇【工作方式】設(shè)置;(c 按 鍵,設(shè)置工作方式。說(shuō)明:【*】表示該組中已有校準(zhǔn)值;(d 按兩次 鍵退出。 兩種方式的轉(zhuǎn)換方法:(a 按 鍵,選擇【系統(tǒng)設(shè)置】;(b 按 鍵,選擇測(cè)量方式;(c 按 鍵,選擇單次測(cè)量或連續(xù)測(cè)量;(d 按兩次 鍵退出。 (a 按鍵, 選擇系統(tǒng)設(shè)置;(b 按鍵,再按或鍵選擇 【單位

14、】設(shè)置; (c 按鍵,選擇【um 】或【mils 】;(d 按兩次鍵,退出。 在線打印 : 每測(cè)量一個(gè)值就立即打印這個(gè)值,在線打印功能開(kāi)時(shí),屏幕顯示【PRINT 】提示符。(a 按鍵, 選擇【系統(tǒng)設(shè)置】;(b 按鍵,再按或鍵選擇 【在線打印】設(shè)置; (c 按鍵選擇在線打印:【開(kāi)】或 【關(guān)】;(d 按兩次鍵,退出。 說(shuō)明:在選擇“在線打印:開(kāi)”之前,應(yīng)按6.1打印機(jī)的連接連接好打印機(jī)(a 按 鍵, 選擇系統(tǒng)設(shè)置;(b 按鍵,再按或鍵選擇 【在線統(tǒng)計(jì)值】設(shè)置; (c 按鍵選擇在線統(tǒng)計(jì)值:【開(kāi)】 或【關(guān)】;(d 按兩次鍵,退出。 (a 按鍵,然后按或鍵,選 擇【限界設(shè)置】; (b 按鍵,進(jìn)入【限界設(shè)

15、置】;(c 按鍵選擇【上限】或【下 限】,數(shù)據(jù)區(qū)顯示以前設(shè)置的上限或下限的值,按或鍵設(shè)定新的上限或下限的值; (d 按兩次鍵,退出。 說(shuō)明: 1.大于上限或小于下限的測(cè)試結(jié)果由蜂鳴聲報(bào)警;2.限界以外的測(cè)試結(jié)果與其它測(cè)試結(jié)果一起被存貯并進(jìn)行統(tǒng)計(jì)計(jì)算。3.上限與下限的接近程度是有限的。在上限值為200m 以上時(shí),上、下限最小接近程度為上限的3%,在上限值為200m 以下時(shí),上、下限最小接近程度為5m 。按鍵可隨時(shí)打開(kāi)或關(guān)閉背光。 三、儀器的校準(zhǔn)為使測(cè)量準(zhǔn)確,應(yīng)在測(cè)量場(chǎng)所對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。3.1 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片(包括箔和基體已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片。簡(jiǎn)稱標(biāo)準(zhǔn)片。(a 校準(zhǔn)箔對(duì)

16、于磁性方法,“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。對(duì)于渦流方法,通常采用塑料箔?！安庇欣谇嫔系男?zhǔn),而且比用有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片更合適。(b 有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結(jié)合的覆蓋層作為標(biāo)準(zhǔn)片。對(duì)于磁性方法,覆蓋層是非磁性的。對(duì)于渦流方法,覆蓋層是非導(dǎo)電的。3.2 基體(a 對(duì)于磁性方法,標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的磁性和表面粗糙度,應(yīng)與待測(cè)試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對(duì)于渦流方法,標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì),應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的電性質(zhì)相似。為了證實(shí)標(biāo)準(zhǔn)片的適用性,可用標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬與待測(cè)試件基體金屬上所測(cè)得的讀數(shù)進(jìn)行比較。(b 如果待測(cè)試件的金屬基體厚度沒(méi)有超過(guò)表一

17、中所規(guī)定的臨界厚度,可采用下面兩種方法進(jìn)行校準(zhǔn):(1 在與待測(cè)試件的金屬基體厚度相同的金屬標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn);(2 用一足夠厚度的,電學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊金屬標(biāo)準(zhǔn)片或試件,但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無(wú)間隙。對(duì)兩面有覆蓋層的試件,不能采用襯墊法。(3 如果待測(cè)覆蓋層的曲率已達(dá)到不能在平面上校準(zhǔn),則有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片的曲率或置于校準(zhǔn)箔下的基體金屬的曲率,應(yīng)與試樣的曲率相同。3.3 校準(zhǔn)方法本儀器有三種測(cè)量中使用的校準(zhǔn)方法: 零點(diǎn)校準(zhǔn)、二點(diǎn)校準(zhǔn)、在噴沙表面上校準(zhǔn)。二點(diǎn)校準(zhǔn)法又分一試片法和二試片法。還有一種針對(duì)測(cè)頭的基本校準(zhǔn)。本儀器的校準(zhǔn)方法是非常簡(jiǎn)單的。(a 在基體上進(jìn)行一次測(cè)量,屏幕顯示<

18、15;.×m>。(b 按鍵,屏顯<0.0>。校準(zhǔn)已完成,可以開(kāi)始測(cè)量了。 (c 重復(fù)上述a、b步驟可獲得更為精確的零點(diǎn),高測(cè)量精度。零點(diǎn)校準(zhǔn)完成后就可進(jìn)行測(cè)量了。這一校準(zhǔn)法適用于高精度測(cè)量及小工件、淬火鋼、合金鋼。(a 先校零點(diǎn)(如上述。(b 在厚度大致等于預(yù)計(jì)的待測(cè)覆蓋層厚度的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量,屏幕顯示<×××m>。(c 用或鍵修正讀數(shù),使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值。校準(zhǔn)已完成可以開(kāi)始 測(cè)量了。 注意:1.即使顯示結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)片值相符,按或鍵也是必 不可少的,例如按一次一次。這一點(diǎn)適用于所有校準(zhǔn)方法。2. 如欲較準(zhǔn)確地進(jìn)行二點(diǎn)校準(zhǔn),可

19、重復(fù)b、c過(guò)程,以提高校準(zhǔn)的精度,減少偶然誤差。兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)片厚度至少相差三倍。待測(cè)覆蓋層厚度應(yīng)該在兩個(gè)校準(zhǔn)值之間。這種方法尤其適用于粗糙的噴沙表面和高精度測(cè)量。(a 先校零值;(b 在較薄的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量,用或鍵修正讀數(shù),使其 達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值;(c 緊接著在厚的一個(gè)樣片上進(jìn)行一次測(cè)量,用或鍵修正讀 數(shù),使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值。校準(zhǔn)已完成,可以開(kāi)始測(cè)量了。適用于N型測(cè)頭,并使用特殊的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片。必須使用一試片法。使用標(biāo)有“銅上鍍鉻” (CHROME ON COPPER 字樣的特殊標(biāo)準(zhǔn)片。說(shuō)明:在溫度變化極大的情況下,如冬季或盛夏在室外操作時(shí),應(yīng)在與待測(cè)箔厚度接近的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行校準(zhǔn)。校準(zhǔn)時(shí)的環(huán)境溫度應(yīng)與使

20、用時(shí)的環(huán)境溫度一致。注意: 1. 出現(xiàn)下列情況,必需重新校準(zhǔn)。-校準(zhǔn)時(shí),輸入了一個(gè)錯(cuò)誤值-操作錯(cuò)誤2.在直接方式下,如果輸入了錯(cuò)誤的校準(zhǔn)值,應(yīng)緊接著做一次測(cè)量,隨后再做一次校準(zhǔn),即可獲取新值消除錯(cuò)誤值;3. 每一組單元中,只能有一個(gè)校準(zhǔn)值。4.零點(diǎn)校準(zhǔn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)都可以重復(fù)多次,以獲得更為精確的校準(zhǔn)值,提高測(cè)量精度但此過(guò)程中一旦有過(guò)一次測(cè)量,則校準(zhǔn)過(guò)程便告結(jié)束。刪除組單元中的所有數(shù)據(jù)和校準(zhǔn)值之后才能重新校準(zhǔn)。否則將出現(xiàn)錯(cuò)誤提示和鳴響報(bào)警。3.4 基本校準(zhǔn)的修正在下述情況下,改變基本校準(zhǔn)是有必要的:-測(cè)頭頂端被磨損。-特殊的用途。在測(cè)量中,如果誤差明顯地超出給定范圍,則應(yīng)對(duì)測(cè)頭的特性重新進(jìn)行校準(zhǔn)稱

21、為基本校準(zhǔn)。通過(guò)輸入 6個(gè)校準(zhǔn)值(1個(gè)零和5個(gè)厚度值,可重新校準(zhǔn)測(cè)頭。(a 在儀器關(guān)閉的狀態(tài)下按住鍵同時(shí)再按鍵,顯示開(kāi)機(jī)后 放開(kāi)鍵繼續(xù)按住健即可進(jìn)入基本校準(zhǔn)狀態(tài);在儀器進(jìn)入基本校準(zhǔn)狀態(tài)屏幕菜單區(qū)顯示【基本校準(zhǔn)】。(c 使用標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn),按厚度增加的順序進(jìn)行,一個(gè)厚度上可做多次。每個(gè)厚度應(yīng)至少是上一個(gè)厚度的1.6 倍以上,理想的情況是2倍。例如F1探頭的校準(zhǔn):首先選5個(gè)厚度的校準(zhǔn)片分別約為:50m、100m、200m、400m 800m。最大值應(yīng)該接近但低于測(cè)頭的最大測(cè)量范圍。 次測(cè)量,屏幕顯示<×××m>。用或鍵修正讀數(shù),使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值。然后按順序進(jìn)行厚

22、度約為100m、200m、400m、800m的校準(zhǔn)片進(jìn)行校準(zhǔn)。 注意:1、即使顯示結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)片值相符,按或鍵也是必不可少的。2、每個(gè)厚度應(yīng)至少是上一個(gè)厚度的1.6 倍以上,否則視為基本校準(zhǔn)失敗。(d 在輸入 6個(gè)校準(zhǔn)值以后,測(cè)量一下零點(diǎn),儀器自動(dòng)關(guān)閉,新的校準(zhǔn)值已存入儀器。當(dāng)再次開(kāi)機(jī)時(shí),儀器將按新的校準(zhǔn)值工作。3.5 關(guān)于測(cè)量和誤差的說(shuō)明如果已經(jīng)進(jìn)行了適當(dāng)?shù)男?zhǔn),所有的測(cè)量值將保持在一定的誤差范圍內(nèi);根據(jù)統(tǒng)計(jì)學(xué)的觀點(diǎn),一次讀數(shù)是不可靠的。因此任何由該儀器顯示的測(cè)量值都是五次“看不見(jiàn)”的測(cè)量的平均值。這五次測(cè)量是在幾分之一秒的時(shí)間內(nèi)由探頭和儀器完成的;為使測(cè)量更加精確,可利用統(tǒng)計(jì)程序在一個(gè)點(diǎn)多次

23、測(cè)量,對(duì)誤差較大的測(cè)量值可在測(cè)量后立即刪除。最后覆層的厚度為:CH = M+S+其中: CH:覆層厚度M:多次測(cè)量的平均值S:標(biāo)準(zhǔn)偏差:儀器允許誤差四、測(cè)量與統(tǒng)計(jì)4.1 存儲(chǔ)功能直接方式下自動(dòng)保留最新的100個(gè)測(cè)量值。成組方式下測(cè)量值自動(dòng)存入內(nèi)存單元,一組最多存100個(gè)數(shù)值,總共五組,可存500個(gè)數(shù)值。當(dāng)每組存滿100個(gè)值時(shí),屏幕將顯示“存儲(chǔ)器滿”,此時(shí),仍可進(jìn)行測(cè)量,但是測(cè)量值只顯示不存儲(chǔ),也不參與統(tǒng)計(jì)計(jì)算。只有刪除該組數(shù)據(jù),才能保存新的測(cè)量值。4.2 統(tǒng)計(jì)計(jì)算本儀器對(duì)測(cè)量值自動(dòng)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)處理,它需要至少三個(gè)測(cè)量值來(lái)產(chǎn)生5個(gè)統(tǒng)計(jì)值:平均值(MEAN、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV、測(cè)試次數(shù)(No.、最大

24、測(cè)試值(MAX、最小測(cè)試值(MIN。參加統(tǒng)計(jì)計(jì)算的測(cè)量值:在直接方式下所有測(cè)量值(包括關(guān)機(jī)前的測(cè)量值均參加統(tǒng)計(jì)計(jì)算。注意:當(dāng)存滿100個(gè)數(shù)值時(shí),總保留最新的100個(gè)測(cè)量值參加統(tǒng)計(jì)計(jì)算。在成組方式下,參加統(tǒng)計(jì)計(jì)算的測(cè)量值僅限于本組內(nèi)的數(shù)據(jù)。注意:每組當(dāng)存滿100個(gè)數(shù)值時(shí),盡管測(cè)量能繼續(xù),但不能修改統(tǒng)計(jì)值。4.3 數(shù)據(jù)瀏覽瀏覽統(tǒng)計(jì)值和測(cè)量值(a 按 鍵,然后按 或 鍵,選擇【瀏覽數(shù)據(jù)】;(b 按 鍵,然后按 或 ,可選擇瀏覽統(tǒng)計(jì)值或?yàn)g覽測(cè)量值; (c 按 鍵,選擇【統(tǒng)計(jì)值】可瀏覽五個(gè)統(tǒng)計(jì)值:平均值(MEAN、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV、測(cè)試次數(shù)(No.、最大測(cè)試值(MAX、最小測(cè)試值(MIN; (d 按

25、 鍵,選擇【測(cè)量值】在直接方式下,可瀏覽該方式下的所有測(cè)量值,在批組方式下可瀏覽該組的所有測(cè)量值,瀏覽時(shí)用 或 鍵進(jìn)行換頁(yè)。(e 按三次 鍵退出。NO=009MEAN=50.2S.DEV=0.1MAX=50.4MIN=50.1001 50.3m m002 50.4m m003 50.2m m004 50.2m m005 50.2m m006 50.2m m007 50.2m m008 50.1m m五、刪除功能5.1 刪除當(dāng)前測(cè)量值 無(wú)論在直接方式或成組方式下,只要在測(cè)量值顯示狀態(tài),按一下鍵,隨著一聲?shū)Q響,當(dāng)前測(cè)量值已被刪除。5.2 刪除當(dāng)前組數(shù)據(jù)刪除直接方式或成組方式下當(dāng)前組的所有測(cè)量值(a

26、 按鍵,然后按或鍵,選擇【功能選擇】; (b 按鍵,進(jìn)入【功能選擇】;按或 鍵,選擇【刪除當(dāng)前組數(shù)據(jù)】;(c 按 鍵,顯示刪除確認(rèn)提示,再按鍵,當(dāng)前文件中的測(cè)量值已 被刪除。(d 按兩次鍵,退出。 5.3 刪除當(dāng)前組所有數(shù)據(jù) 刪除直接方式或成組方式下當(dāng)前組的所有測(cè)量值,統(tǒng)計(jì)值、兩點(diǎn)校準(zhǔn)值、限界值(a 按鍵,然后按或鍵,選擇【功能選擇】; (b 按 鍵,進(jìn)入【功能選擇】;(c 按或鍵,選擇【刪除所有 數(shù)據(jù)】; (d 按鍵,顯示刪除確認(rèn)提示,再按鍵,當(dāng)前文件中所有測(cè)量 值、統(tǒng)計(jì)值、兩點(diǎn)校準(zhǔn)值、限界值已被刪除。e 按兩次鍵,退出。 六、打印(用于OU3500B帶打印機(jī)6.1 打印機(jī)的連接(a 將打印

27、機(jī)與主機(jī)用通訊電纜連接;(b 按 鍵打開(kāi)主機(jī);(c 將打印機(jī)設(shè)置為:波特率9600、8位數(shù)據(jù)、1位起始位、1位停止位、無(wú)校驗(yàn);6.2 打印功能操作(a 按 鍵,然后按 或 鍵,選擇“功能選擇”;(b 按 鍵,然后按 或 鍵,可選擇打印測(cè)量值、打印統(tǒng)計(jì)值、打印所有值:打印測(cè)量值-打印當(dāng)前工作方式下的所有測(cè)量值打印統(tǒng)計(jì)值-打印當(dāng)前工作方式下的五個(gè)統(tǒng)計(jì)值打印所有值-在直接方式下,打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值;在批組方式下則打印該組方式下的所有測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖(c 直方圖: (d按兩次 鍵,退出。- | 40 80%LO |-*M * |HI |-| 40 80%LO:設(shè)置的下界HI:設(shè)置的上界M:

28、平均值縱坐標(biāo)表示測(cè)量值橫坐標(biāo)表示測(cè)量值所占的百分比注意: 1.在設(shè)置限界之后才能打印出直方圖;與PC機(jī)通訊之前,按下圖所示,用本儀器附帶的通訊電纜,將儀器與PC機(jī)的串行接口連接好,儀器可將測(cè)量值全部發(fā)送到PC機(jī)。發(fā)送數(shù)據(jù)的波特率為9600,8位數(shù)據(jù)位,1位停止位,無(wú)校驗(yàn)位。(a 按 鍵,然后按 或 鍵,選擇【功能選擇】;(b 按 鍵,進(jìn)入【功能選擇】然后按 或 鍵,選擇【發(fā)送數(shù)據(jù)】;(c 按 鍵,在直接方式下,發(fā)送測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值;在批組方式下則發(fā)送該組的所有測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值;(d 按兩次 鍵退出。七、與PC機(jī)通訊(用于OU3500B 帶通訊八、影響測(cè)量精度的因素8.1 影響因素的有關(guān)說(shuō)明基體金屬

29、磁性質(zhì)磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的,為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。(a 基體金屬電性質(zhì)基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。(b 基體金屬厚度每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見(jiàn)附表1。(c 邊緣效應(yīng)本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。(d 曲率試件的曲率

30、對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。(e 試件的變形測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上不能測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。(f 表面粗糙度基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測(cè)量時(shí),在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。(g 磁場(chǎng)周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng),會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。(h 附著物質(zhì)本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,因此,必須清除附著物質(zhì),以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。(i 探頭壓力測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù),因此,要保