檢出限、測定限、最佳測定范圍區(qū)別

1、.檢出限、測定限、最正確測定X圍區(qū)別檢出限檢出限為某特定分析方法在給定的置信度內(nèi)可從樣品中檢出待測物質(zhì)的最小濃度或最小量。所謂“檢出是指定性檢出，即判定樣品中存有濃度高于空白的待測物質(zhì)。檢出限除了與分析中所用試劑和水的空白有關(guān)外，還與儀器的穩(wěn)定性及噪聲水平有關(guān)。在靈敏度計算中沒有明確噪聲的大小，因而操作者可以將檢測器的輸出信號，通過放大器放到足夠大，從而使靈敏度相當(dāng)高。顯然這是不妥的，必須考慮噪聲這一參數(shù)，將產(chǎn)生兩倍噪聲信號時，單位體積載氣或單位時間內(nèi)進入檢測器的組分量稱為檢出限。那么：D = 2N / S式中：N噪聲mV或A；S檢測器靈敏度；D檢出限，其單位隨S不同也有三種：Dg=2N /

2、Sg,單位為mg/mlDv=2N / Sv,單位為ml/mlDt=2N / St,單位為g/s有時也用最小檢測量MDA或最小檢測濃度MDC作為檢測限。它們分別是產(chǎn)生兩倍噪聲信號時，進入檢測器的物質(zhì)量g或濃度(mg/ml)。不少高靈敏度檢測器，如FID、NPD、ECD等往往用檢出限表示檢測器的性能。靈敏度和檢出限是兩個從不同角度表示檢測器對測定物質(zhì)敏感程度的指標(biāo)，前者越高、后者越低，說明檢測器性能越好。從而可見，測量方法的檢出限于分析空白值、精細(xì)度、靈敏度密切相關(guān)。他是分析方法的一個綜合性的重要計量參數(shù)。檢出限的計算方法1在"全球環(huán)境監(jiān)測系統(tǒng)水監(jiān)測操作指南"中規(guī)定：給定置信水

3、平為95%時，樣品測定值與零濃度樣品的測定值有顯著性差異即為檢出限D(zhuǎn).L。這里的零濃度樣品是不含待測物質(zhì)的樣品。D.L = 4.6式中：  空白平行測定批內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)偏差重復(fù)測定20次以上。2)國際純粹和應(yīng)用化學(xué)聯(lián)合會IUPAC對分析方法的檢出限D(zhuǎn).L作如下規(guī)定。在與分析實際樣品完全一樣的條件下，做不參加被測組分的重復(fù)測定即空白試驗，測定次數(shù)盡可能多試驗次數(shù)至少為20次。算出空白觀測值的平均值Xb和標(biāo)準(zhǔn)偏差Sb。在一定置信概率下，被檢出的最小測量值XL以下式確定：XL= Xb+ KSb式中：Xb  空白屢次測得信號的平均值；Sb 空白屢次測得信息的標(biāo)準(zhǔn)偏差；K 根據(jù)一定置信水平確

4、定的系數(shù)。與XL-Xb(即K Sb)相應(yīng)的濃度或量即為檢出限:D.L = XL- Xb/ K = kSb/ K式中：k 方法的靈敏度即校準(zhǔn)曲線的斜率。為了評估Xb和Sb，實驗次數(shù)必須至少20次。1975年，IUPAC建議對光譜化學(xué)分析法取k=3。由于低濃度水平的測量誤差可能不遵從正態(tài)分布，且空白的測定次數(shù)有限，因而與k=3相應(yīng)的置信水平大約為90%。此外，尚有將K取為4、4.6、5及6的建議。3美國EPASW-846中規(guī)定方法檢出限：MDL=3.143(重復(fù)測定7次)4在某些分光光度法中，以扣除空白值后的與0.01吸光度相對應(yīng)的濃度值為檢出限。5氣相色譜分析的最小檢測量系指檢測器恰能

5、產(chǎn)生與噪聲相區(qū)別的響應(yīng)信號時所需進入色譜柱的物質(zhì)的最小量，一般認(rèn)為恰能區(qū)分的響應(yīng)信號，最小應(yīng)為噪聲的兩倍。最小檢測濃度系指最小檢測量與進樣量體積之比。6某些離子選擇電極法規(guī)定：當(dāng)校準(zhǔn)曲線的直線局部外延的延長線與通過空白電位且平行于濃度軸的直線相交時，其交點所對應(yīng)的濃度值及為該離子選擇電極法的檢出限。光度分析中，雖然吸光度最小測讀值為0.001，靈敏度也以A=0.001所相應(yīng)的被測物濃度表示，但實際上慣常以A=0.05相應(yīng)的被測物濃度作為有充分置信度的測定限，即最小能夠可靠測定的濃度。這是因為，在吸光度A接近零的情況下，測定值與真實值之比即相對誤差趨向無限大。其次，由于比色皿的成對性不易做到完全

6、匹配，尤其是使用已久的比色皿的成對性不易保證，因此吸光度很小的測量值在不同操作者、不同試驗室之間常會不一致，除非操作者很有經(jīng)歷，十分注意比色皿成對性對測量的影響，并在每次測量時予以試驗校正。測定限測定限為定量X圍的兩端，分為測定上限與測定下限。測定下限在測定誤差能滿足預(yù)定要求的前提下，用特定方法能準(zhǔn)確地定量測定待測物質(zhì)的最小濃度或量，稱為該方法的測定下限。測定下限反映出分析方法能準(zhǔn)確地定量測定低濃度水平待測物質(zhì)的極限可能性。在沒有或消除了系統(tǒng)誤差的前提下，他受精細(xì)度要求的限制精細(xì)度通常以相對標(biāo)準(zhǔn)偏差表示。分析方法的精細(xì)度要求越高，測定下限高于檢出限越多。美國EPASW-846中規(guī)定4MDL為定

7、量下限RQL，即4倍檢出限濃度作為測定下限，其測定值的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差約為10%。日本JIS規(guī)定定量下限為10倍的MDL。測定上限在限定誤差能滿足預(yù)定要求的前提下，用特定方法能夠準(zhǔn)確地定量測定待測物質(zhì)的最大濃度或量，稱為該方法的測定上限。對沒有或消除了系統(tǒng)誤差的特定分析方法的精細(xì)度要求不同，測定上限也將不同。測定限對于定量分析，進一步計算才能得到與分析物有關(guān)的值例如，各個結(jié)果的平均值。因此，條件更加苛刻，所以測定限總是高于檢出限。檢測限有三種常用的表示方式1儀器檢測下限可檢測儀器的最小訊號，通常用信噪比來表示,當(dāng)信號與噪聲之比大于等于3時，相當(dāng)于信號強度的試樣濃度，定義為儀器檢測下限。2方法檢測下

8、限即某方法可檢測的最低濃度。通常用低濃度曲線外推法可求的方法檢測下限。3樣品檢測下限即相對于空白可檢測的樣品最小含量。樣品檢測下限定義為：其信號等于測量空白溶液的信號的標(biāo)準(zhǔn)偏差的3倍時的濃度。檢測下限是選擇分析方法的重要因素。樣品檢測下限不僅與方法檢測下限有關(guān)，而且與空白樣品中空白含量以及空白波動情況有關(guān)。只有當(dāng)空白含量為零時，樣品檢測下限等于方法檢測下限。然而，空白含量往往不等于零，空白大小受環(huán)境對樣品的污染，試劑純度、水質(zhì)純度、容器的質(zhì)地及操作等因素的影響。因此，由外推法可求得方法檢測下限可能很低，但由于空白含量的存在，以及空白含量的波動，樣品檢測下限可能要比方法檢測下限大得多。從實用中考

9、慮，樣品檢測下限較為 有用和切合實際。最正確測定X圍最正確測定X圍也稱有效測定X圍指在限定誤差能滿足預(yù)定要求的前提下，特定方法的測定下限至測定上限之間的濃度X圍。在此X圍內(nèi)能夠準(zhǔn)確地定量測定待測物質(zhì)的濃度或量。最正確測定X圍應(yīng)小于方法的適應(yīng)X圍。對測量結(jié)果的精細(xì)度通常以相對標(biāo)準(zhǔn)偏差表示要求越高，相應(yīng)的最正確測定X圍越小。方法的線性X圍方法的線性X圍是指信號與樣品濃度呈線性的工作曲線直線局部。通常把相當(dāng)于10倍空白的標(biāo)準(zhǔn)偏差相應(yīng)的濃度定為方法的線性X圍的定量檢測下限。取工作曲線中高濃度時，彎曲處作為方法的線性X圍的定量檢測上限。好的分析方法要有寬的線性X圍。有的分析方法線性X圍只有一個數(shù)量級，有

10、的分析方法線性X圍可達56個數(shù)量級。同一分析方法可用常量、微量、痕量的物質(zhì)分析。校準(zhǔn)曲線校準(zhǔn)曲線包括標(biāo)準(zhǔn)曲線和工作曲線，前者用標(biāo)準(zhǔn)溶液系列直接測量，沒有經(jīng)過預(yù)處理過程，這對于樣品往往造成較大誤差；而后者所使用的標(biāo)準(zhǔn)溶液經(jīng)過了與樣品一樣的消解、凈化、測量等全過程。凡應(yīng)用校準(zhǔn)曲線的分析方法，都是在樣品測得信號值后，從校準(zhǔn)曲線上查得其含量或濃度。因此，繪制準(zhǔn)確的校準(zhǔn)曲線，直接影響到樣品分析結(jié)果的準(zhǔn)確與否。此外，校準(zhǔn)曲線也確定了方法的測定X圍。校準(zhǔn)曲線的繪制用一系列被測物標(biāo)準(zhǔn)溶液，按照標(biāo)準(zhǔn)方法規(guī)定的步驟，將被測物轉(zhuǎn)變?yōu)橛猩芤?。制備好的?biāo)準(zhǔn)系列和空白，在方法選定的波長下，測定吸光度。已被測物濃度為橫坐

11、標(biāo)，吸光度為縱坐標(biāo)，繪制校準(zhǔn)曲線。o 對標(biāo)準(zhǔn)系列，溶液以純?nèi)軇閰⒈冗M展測量后，應(yīng)先作空白校正，然后繪制標(biāo)準(zhǔn)曲線。o 標(biāo)準(zhǔn)溶液一般可直接測定，但如試樣的預(yù)處理較復(fù)雜致使污染或損失不可忽略時，應(yīng)和試樣同樣處理后再測定。o 校準(zhǔn)曲線的斜率常隨環(huán)境溫度、試劑批號和貯存時間等實驗條件的改變而變動。因此，在測定試樣的同時，繪制校準(zhǔn)曲線最為理想，否那么應(yīng)在測定試樣的同時，平行測定零濃度和中等濃度標(biāo)準(zhǔn)溶液各兩份，取均值相減后與原校準(zhǔn)曲線上的相應(yīng)點核對，其相對差值根據(jù)方法精細(xì)度不得大于5%10%，否那么應(yīng)重新繪制校準(zhǔn)曲線。校準(zhǔn)曲線的檢驗1線性檢驗: 即檢驗校準(zhǔn)曲線的精細(xì)度。對于以46個濃度單位所獲得的測量信號

12、值繪制的校準(zhǔn)曲線，分光光度法一般要求其相關(guān)系數(shù) | r | 0.9990，否那么應(yīng)找出原因并加以糾正，重新繪制合格的校準(zhǔn)曲線。2截距檢驗：即檢驗校準(zhǔn)曲線的準(zhǔn)確度，在線性檢驗合格的根底上，對其進展線性回歸，得出回歸方程 y= a+bx ，然后將所得截距a與0作t檢驗，當(dāng)取95%置信水平，經(jīng)檢驗無顯著性差異時，a可做0處理，方程簡化為y= bx，移項得x=y/b。在線性X圍內(nèi)，可代替查閱校準(zhǔn)曲線，直接將樣品測量信號值經(jīng)空白校正后，計算出試樣濃度。當(dāng)a與0有顯著性差異時，表示校準(zhǔn)曲線的回歸方程計算結(jié)果準(zhǔn)確度不高，應(yīng)找出原因予以校正后，重新繪制校準(zhǔn)曲線并經(jīng)線性檢驗合格。在計算回歸方程，經(jīng)截距檢驗合格后

13、投入使用。回歸方程如不經(jīng)上述檢驗和處理，就直接投入使用，必將給測定結(jié)果引入差值相當(dāng)于解決a的系統(tǒng)誤差。3)斜率檢驗: 即檢驗分析方法的靈敏度，方法靈敏度是隨實驗條件的變化而改變的。在完全一樣的分析條件下，僅由于操作中的隨機誤差導(dǎo)致的斜率變化不應(yīng)超出一定的允許X圍，此X圍因分析方法的精度不同而異。例如，一般而言，分子吸收分光光度法要求其相對差值小于5%，而原子吸收分光光度法那么要求其相對差值小于10%等等。校準(zhǔn)曲線的控制被測物轉(zhuǎn)變?yōu)橛猩芤旱姆错懛Q為顯色反響或發(fā)色反響。顯色反響的介質(zhì)PH條件、顯色劑用量、顯色反響的時間和溫度、為消除共存物干擾而參加的掩蔽劑、甚至加試劑的順序，都要按照方法步驟的要

14、求執(zhí)行。有時，標(biāo)準(zhǔn)系列雖然不像實際試樣那樣組成復(fù)雜，但仍要求與試樣進展同樣的處理步驟，以便控制校準(zhǔn)曲線上的數(shù)據(jù)點的空白、回收率等因素。建立校準(zhǔn)曲線時，測量吸光度的參比有兩種選擇。第一種方法用純?nèi)軇┳鲄⒈?，兩個比色皿都放溶劑時，“樣品比色皿 的吸光度測定值為比色皿成對性校正值，此后所有樣品吸光度測定值都須扣除此值，進展校正。然后，以純?nèi)軇閰⒈龋瑴y定空白及標(biāo)準(zhǔn)系列的吸光度，繪制校準(zhǔn)曲線。第二種方法直接用空白為參比。當(dāng)兩個比色皿都放空白時，測定比色皿成對性校正值，然后測定標(biāo)準(zhǔn)系列的吸光度，繪制校準(zhǔn)曲線。兩種方法得到的兩條校準(zhǔn)曲線互相平行，但第一種方法可測定空白的水平，后一種方法不能測定空白，理論上

15、校準(zhǔn)曲線通過原點。假設(shè)空白為零，兩條校準(zhǔn)曲線重合。無論用什么作參比，實樣測定時應(yīng)該使用與建立校準(zhǔn)曲線一樣的比色皿和同樣的參比。比色皿的成對性校正對于使用已久的比色皿是必要的，尤其是測量吸光度很小的樣品時，校正可保證測量值的可靠性和重復(fù)性。分析空白一.分析空白的主要來源和控制措施環(huán)境對樣品的玷污主要是由空氣中的污染氣體和沉降微粒引起的。普遍實驗室中每立方米空氣中含有數(shù)百微克的微粒。這些微粒含有多種元素，因而可引起多種和痕量元素的玷污。來自環(huán)境的玷污不但顯著，而且變動性大。應(yīng)采取局部或整個實驗室的防塵與空氣凈化措施。試劑對樣品的玷污試劑對樣品的玷污隨試劑用量而變化。對一定的試劑用量是恒定的。樣品處

16、理過程中用量最多的是水和酸。器皿對樣品玷污貯存、處理樣品所用的一切器皿，如燒杯、瓶子、過濾器、研缽等，由于其材質(zhì)不夠純或者未洗滌干凈均可能玷污樣品。在痕量分析中應(yīng)選用高純惰性材料制成的器皿， 并運用適宜的清洗技術(shù)。 聚四氟乙烯、透明的合成石英的高壓聚乙烯是比擬適宜的器皿材料。分析測試者對樣品的玷污分析測試者用手觸摸樣品可引起多種元素的玷污；分析測試者的化裝品常常不知不覺地帶來許多元素的玷污；分析測試者使用的內(nèi)服和外用藥物也常常玷污樣品；以及分析測試者假設(shè)不注意個人衛(wèi)生也會引起樣品的玷污。所以，分析測試者不但要具有正確熟練的操作技巧，而且要知道自身對樣品可能帶來什么玷污，以采取消除玷污的必要措施。二.分析空白的監(jiān)測和空白值的扣除空