瓷片電容-SMD貼片電容檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

1、深圳市好禮來電子產(chǎn)品廠 頁 數(shù) 第 1 頁 共 3 頁 工 作 文 件 生效日期 分 發(fā) 號文件名瓷片電容/SMD貼片電容檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 文件編號 版本狀態(tài) A1.0 目的 為深圳市好禮來電子產(chǎn)品廠所使用的瓷片電容/SMD貼片電容提供檢驗(yàn)依據(jù).2.0 適用范圍 僅適用于深圳市好禮來電子產(chǎn)品廠所使用的瓷片電容/SMD貼片電容.3.0 參考資料 中華人民共和國行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電容器4.0 抽樣水準(zhǔn) 按MIL-STD-105E正常單次()抽樣計劃進(jìn)行抽樣: CRI:0 MAJ:0.65 MIN:1.0 (如客戶有要求按客戶要求) 5.0 所需工具 電容測試儀(L.C.R儀)一臺 電流表一塊 電壓表一塊 可調(diào)直流

2、穩(wěn)壓源一臺 30W烙鐵一把 6.0 檢驗(yàn)方法 6.1 外觀檢驗(yàn) 6.1.1 引腳是否氧化、生鏽、脫落、過短. 6.1.2 主體是否變形、破損、破裂. 6.1.3 字跡模糊或標(biāo)識不清. 6.1.4 用手指或棉簽沾酒精輕輕擦試主體字符是否會脫落. 6.1.5 SMD貼片電容需置于20倍顯微鏡下觀察不能有裂痕. 6.2 容量測量 用電容測試儀(L.C.R儀)【測試頻率為1KHZ,測試電壓為1.0V】對其進(jìn)行 容量測量,其容量應(yīng)誤差范圍內(nèi). 注#:中括號內(nèi)要求只有在使用L.C.R儀測試時才參照 編制 審批 日期 日期 深圳市好禮來電子產(chǎn)品廠 頁 數(shù) 第 2 頁 共 3 頁 工 作 文 件 生效日期 分

3、 發(fā) 號文件名瓷片電容SMD貼片電容檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 文件編號 版本狀態(tài)A 附: 電容容量誤差字母表示 F表示±1% J表示±5% M表示±20% Z表示(+80,-20)% 6.3漏電流測試 將被測電容按下圖串入線路中,將直流電壓調(diào)至與電容耐壓相等,此時A表 的顯示應(yīng)小于0.1A. 6.4 耐壓測試 將被測電容按上圖串入線路中,將直流電壓調(diào)至與電容耐壓相等,對其進(jìn)行連 續(xù)充電12小時,不能出現(xiàn)冒湮、變黑、異味、裂開、短路、開路等現(xiàn)象. 6.5 高低溫測試: 將在常溫下測試容量、漏電均正常的電容放入-10的溫度中2小時.然后用 30W烙鐵對其進(jìn)行加熱3秒,再測試容量,漏電

4、是否合格.如此連續(xù)反復(fù)3次高 低溫試驗(yàn),其容量,漏電應(yīng)正常. 6.6 吃錫試驗(yàn): 用30W烙鐵對兩焊點(diǎn)做吃錫試驗(yàn),3秒內(nèi)應(yīng)吃錫良好. 7.0 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):序號檢驗(yàn)項(xiàng)目品 質(zhì) 要 求判定CRIMAJMIN 編制 審批 日期 日期 深圳市好禮來電子產(chǎn)品廠 頁 數(shù) 第 3 頁 共 3 頁 工 作 文 件 生效日期 分 發(fā) 號文件名瓷片電容SMD貼片電容檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 文件編號 版本狀態(tài)A序號檢驗(yàn)項(xiàng)目品 質(zhì) 要 求判定CRIMAJMIN7.1外觀引腳氧化、生鏽、脫落、過短.主體變形、破損、破裂.字跡模糊或標(biāo)識不清.用手指或棉簽沾酒精輕輕擦試主體字符會脫落.SMD貼片電容需置于20倍顯微鏡下觀察有裂痕.7.2容量容量大小超出充許誤差范圍7.3漏電漏電流超出充許誤差范圍7