可控硅企業(yè)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)_第1頁
可控硅企業(yè)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)_第2頁
可控硅企業(yè)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)_第3頁
可控硅企業(yè)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)_第4頁
可控硅企業(yè)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)_第5頁
免費預(yù)覽已結(jié)束,剩余6頁可下載查看

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進(jìn)行舉報或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡介

1、Q/WR武漢武整整流器有限公司企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)Q/JS-BPB027.2012可控硅企業(yè)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)2014年04月11日發(fā)布2012年04月12日實施武漢武整整流器有限公司部品部發(fā)布目錄目錄I使用前言說明n標(biāo)準(zhǔn)范圍及引用川1主體種類說明 .12使用環(huán)境要求 .13部品外觀相關(guān)要求 .14包裝、貯存要求 .14.1包裝 .14.2貯存 .15阻燃狀況要求 .16部品檢測儀器設(shè)備的要求 .17檢驗規(guī)則 .27.1適用規(guī)范 .27.2檢驗樣品的抽取說明 .27.3檢驗結(jié)果的判定及處理 .28部品常規(guī)檢驗要求 .28.1 部品尺寸檢驗 .28.2部品基本電性能檢測 .28.2.1陰陽極擊穿電壓測試 .28.2.

2、2 陰陽極反向漏電流測試 .38.3可焊性檢測 .38.4 機械性檢測 .38.5 標(biāo)示耐擦性檢測 .38.6 RoHS 測試 .48.6.1 歐盟ROHS旨令限制物質(zhì)以及含量 48.6.2 測試結(jié)果判定 .49可靠性實驗 .49.1 溫度沖擊 .49.2 高溫反偏實驗 .510試產(chǎn)檢測項目 .6I標(biāo)準(zhǔn)使用前言說明可控硅是我司主要生產(chǎn)元器件,在電源電路起自動控制開關(guān)的作用!根據(jù)可控硅的承認(rèn)書和中華 人民共和國標(biāo)準(zhǔn)化法規(guī)定,特制訂本企業(yè)標(biāo)作為 IQC 部品來料檢驗及部品工程認(rèn)定和組織生產(chǎn)銷售的 依據(jù)。本標(biāo)準(zhǔn)的格式和結(jié)構(gòu)安排符合 GB/T 1.1-2000 和 GB/T 1.2-2002 標(biāo)準(zhǔn)要求

3、。 本標(biāo)準(zhǔn)由武漢武整整流器有限公司提出并負(fù)責(zé)解釋。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:武漢武整整流器有限公司 本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:李淵博。本標(biāo)準(zhǔn)首次發(fā)布日期: 2014年 04月 11日標(biāo)準(zhǔn)范圍及引用nn1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了可控硅的分類、使用環(huán)境要求、產(chǎn)品標(biāo)示要求、本體外觀要求、包裝貯存要求、阻燃要 求、檢測設(shè)備要求、檢測規(guī)則、部品常規(guī)檢驗、可靠性實驗。本標(biāo)準(zhǔn)適用于各供應(yīng)商交給武整公司的所有可控硅材料的標(biāo)準(zhǔn)驗收。2規(guī)范性標(biāo)準(zhǔn)引用文件F列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這

4、些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T 2421-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第1部份:總則GB/T 2422-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗術(shù)語GB/T 2423.1-2001電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法GB/T 2423.2-2001電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法GB/T 2423.3-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca:恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗N:溫度變化試驗方法GB/T 4857.5-1992包裝運輸包裝件跌落試驗方法1主體種類說明出a)按材料可分

5、為硅管和鍺管兩種。b)按性能可分為單向和雙向兩種。C)按頻率可分為普通,快速和高頻三種。2使用環(huán)境要求a)環(huán)境溫度:-50 C150 C;b)相對濕度:40%80%c)氣壓:86106kPa。3部品外觀相關(guān)要求a)可控硅本體有品牌、極性標(biāo)識、型號、批號;b)引腳表面不應(yīng)有銹蝕、裂痕和其它機械性損傷,本體標(biāo)識應(yīng)清晰、不易擦掉;c)外觀尺寸、安裝尺寸應(yīng)符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定要求。4包裝、貯存要求4.1 包裝:包裝箱應(yīng)標(biāo)有制造廠名稱、產(chǎn)品名稱、產(chǎn)品型號、檢驗日期和定性標(biāo)志,有要求時應(yīng)標(biāo)有客戶元件號。對于無鉛產(chǎn)品應(yīng)該在包裝箱上貼上無鉛標(biāo)簽。包裝箱外應(yīng)印刷或貼有“小心輕放”、“怕濕”、“向上”等運輸標(biāo)志,運

6、輸標(biāo)志應(yīng)符合GB 191的規(guī)定。包裝箱外印刷或貼的標(biāo)志不應(yīng)因運輸條件和自然條件而褪色、脫落。包裝箱應(yīng)符合防潮、防塵、防震的要求,包裝箱內(nèi)應(yīng)有裝箱清單、產(chǎn)品合格證、附件 及有關(guān)隨機文件。4.2 貯存:產(chǎn)品使用前應(yīng)存放在原包裝箱內(nèi),存放產(chǎn)品的倉庫環(huán)境溫度-20 C40C,相對濕度不大于75%倉庫內(nèi)不允許有各種有害氣體、易燃、易爆的產(chǎn)品及有腐蝕性的化學(xué)物品,并且應(yīng)無強烈的機械振動、沖 擊和強磁場作用,包裝箱應(yīng)墊離墻壁、地面至少10cm,距離熱源、冷源、窗口或空氣入口至少50cm,在本條規(guī)定條件下的貯存期,若無其他規(guī)定時,一般應(yīng)為6個月,超過6個月時,應(yīng)重新進(jìn)行交收檢驗。5阻燃狀況要求環(huán)氧樹脂圭寸裝產(chǎn)

7、品必需達(dá)到 UL94V- 0等級;實驗標(biāo)準(zhǔn)可參照 UL94標(biāo)準(zhǔn)。6部品檢測儀器設(shè)備的要求a)檢測儀器設(shè)備必需是經(jīng)過國家儀器設(shè)備校驗實驗室進(jìn)行校驗;b)檢測儀器設(shè)備使用期間必需在校驗有效期內(nèi)使用;c)檢測儀器設(shè)備必需要接地;d)檢測儀器設(shè)備輸出電壓電流必需在誤差范圍之內(nèi);e)電壓表精度為0.001Vf)電流表精度為0.001UA7檢驗規(guī)則-1-7.1適用規(guī)范a)IQC進(jìn)料檢驗;a)研發(fā)部需求的新品檢驗;b)部品部導(dǎo)入第二供應(yīng)商或第二品牌的部品檢驗;c)更改設(shè)計和主要工藝或更換材料而有可能影響產(chǎn)品質(zhì)量的部品檢驗。d)采購周期相隔一年的部品,需要從新檢驗部品;e)每月的部品例行實驗7.2檢驗樣品的抽

8、取說明在各項實驗中,實驗樣品不能低于5PCS7.3檢驗結(jié)果的判定及處理a)新品與第二品牌部品檢驗中出現(xiàn)故障或任一項目通不過時,應(yīng)查明故障原因,等確定是部品故障 的原因后,判定此部品不合格,最后用發(fā)聯(lián)絡(luò)單形式通知供應(yīng)商,并叫供應(yīng)商做分析;如部品需重新送樣檢 驗,檢驗超過三次不合格后,此部品列為禁用品;b)例行實驗時,部品檢驗不合格,通知供應(yīng)商此批貨作退貨處理,并且叫供應(yīng)做出分析處理結(jié)果與 后續(xù)改善對策。8部品常規(guī)檢驗要求8.1部品尺寸檢驗要求8.1.1用游標(biāo)卡尺&量度尺測量部品尺寸,尺寸參數(shù)要與訂貨要求或部品文件相符;8.1.2允許公差,符合相關(guān)文件,默認(rèn)為:a)部品尺寸w 5mm,則公差為:+

9、0.5/-0.5mm ;b)10mm部品尺寸5mm,則公差為:+1/-1mm ;c)部品尺寸10mm,則公差為:+2/-2mm ;8.2部品基本電性能檢測8.2.1陰陽極擊穿電壓測試a)測試條件1、環(huán)境溫度 Ta=25C;2、測試電流I r與部品規(guī)格書上的測試電流相同;b)測試設(shè)備:半導(dǎo)體管特性圖示儀 XJ4810c)測試方法把圖示儀的正電極接可控硅的陰極,負(fù)電極接可控硅的陽極(雙向可控硅可以任意接),接上后,再調(diào)節(jié) Y軸電流按鈕和 X軸電壓按鈕到指定的電壓電流;最后慢慢地把調(diào)制峰值電壓按鈕從 0%主上調(diào)高,當(dāng)LCD面板的坐標(biāo)圖顯示被擊穿圖形時,其讀數(shù)為可控硅的擊穿電壓測試Srmd)測試結(jié)果判

10、斷1 、100%t檢品的擊穿電壓值一定在規(guī)格書的范圍值內(nèi),否則NG;2 、擊穿電壓 Vrr値的CPK直大于1.0,否則NG-5-822 陰陽極反向漏電流測試a)測試條件1、環(huán)境溫度 Ta=25C;2、測試電壓與部品規(guī)格書上的測試電壓相同;b)測試設(shè)備1、可調(diào)直流電源;c) 測試方法被測可控硅2、電流表(最高精度為 O.OOluA)-I-可調(diào)直 流電源圖1可控硅陰陽極漏電流I RRM的測量方法。把測試設(shè)備和被測可控硅如圖1線路連接起來,然后將可調(diào)直流電源輸出電壓VOUT調(diào)到指定的測試電壓VrrM寸,電流表所測的讀數(shù)即為可控硅陰陽極的漏電流IrrM直。d)測試結(jié)果判斷1 、100%t檢品的漏電流值

11、一定在規(guī)格書范圍值內(nèi),否則NG;2 、反向漏電流的 CPK值大于1.5,否則NG8.3可焊性檢測可控硅引腳端應(yīng)易于粘錫(錫爐溫度為260 5C吃錫時間為2-3S),引出端長度2/3的可焊面積應(yīng)大于95%浸錫后錫面應(yīng)光亮、均勻。8.4機械性檢測a)引腳拉力強度將可控硅本體進(jìn)行固定,在其引腳與本之間施加一個2Kg拉力,施加時間為10 1S,實驗后引腳不可斷裂,本體不可有拉傷現(xiàn)象,其電氣性能要符合規(guī)格書要求;否則為不合格。b)引腳彎折強度將可控硅本體進(jìn)行固定,在管腳上進(jìn)行來回90彎折,彎折次數(shù)為 10次,實驗后其引針不可斷裂,其電氣性能要符合規(guī)格書要求;否則為不合格。8.5標(biāo)示耐擦性檢測用干凈棉布沾

12、上酒精在樣品上來回擦拭五遍,觀察樣品表面字跡不可出現(xiàn)變色、模糊不清或無法辨 認(rèn)等異常。8.6 RoHS 測試861 歐盟ROHS旨令限制物質(zhì)以及含量跟據(jù)歐盟ROHS旨令規(guī)定,針對電子電氣產(chǎn)品中的鉛( Pb)、汞(Hg)、鎘(Cd)、六價鉻(Cr6)、多溴 聯(lián)苯(PBB、多溴聯(lián)苯醚(PBDE六種有害物質(zhì)進(jìn)行限制。下表為限制物質(zhì)的限值標(biāo)準(zhǔn)一覽表:限制物質(zhì)限值標(biāo)準(zhǔn)一覽表大分類化學(xué)物質(zhì) 及其存在形式限值標(biāo)準(zhǔn)備注重金屬及其化合物鎘及其化合物100ppm歐盟RoHS旨令規(guī)定 的六類限制物質(zhì)鉛及其化合物1000ppm汞及其化合物1000ppm六價鉻及其化合物1000ppm含溴有機化合物多溴聯(lián)苯類(PBB10

13、00ppm多溴二苯醚(PBDE1000ppm聚氯聯(lián)苯(PCB不能含有聚氯化萘(PCN不能含有聚氯二聯(lián)苯(PCT不能含有短鏈型氯代烷烴(碳鏈長10-13,含氯量為48wt%以上)1000ppm其它甲醛一石棉類不能含有偶氮類染料、顏料:不能含有 :臭氧層破壞物(蒙特利爾協(xié)議 書對象物質(zhì))不能含有放射性物質(zhì)r不能含有包裝材料中重金屬8.6.2 測試結(jié)果判定可控硅的引腳與環(huán)氧樹脂部分的限制物質(zhì)含量不能超過上表的限制值,否則為不合格。9可靠性實驗9.1溫度沖擊a)測試條件1、最咼環(huán)境溫度:2、最低環(huán)境溫度:Ta=150C;Ta=-50 C。b)測試設(shè)備1、高溫箱(溫度為150 C)2、低溫箱(溫度為-5

14、0 C)c)測試方法把可控硅放進(jìn)150C高溫箱內(nèi),放置半小時后,再快速把可控硅從高溫箱拿到-50 C低溫箱內(nèi),放置半小時,這樣來回沖擊10次;沖擊實驗完成后,等可控硅本體溫度恢復(fù)常溫 25C時,再測其電性參數(shù)。d)測試結(jié)果判斷1、可控硅本體不能有裂痕、斷裂現(xiàn)象;2、實驗后進(jìn)行基本性能檢測,性能參數(shù)必須規(guī)格之內(nèi),否則為不合格。 9.2高溫反偏實驗a)測試條件1、環(huán)境溫度Ta=125C;2、實驗電壓與部品規(guī)格書上的測試電壓相同;3、實驗時間168小時b)測試設(shè)備1 、直流電源;2 、限流電阻(R=1KD)3 、電流表(最高精度為 0.001mA)4 、高溫箱(溫度為125 C)c)測試方法+直流電源125 C高溫箱被測可控硅圖2可控硅125C高溫反偏實驗方法。把測試設(shè)備和被測可控硅如圖2線路連接起來,然后把可控硅放進(jìn)125C高溫箱內(nèi),再將可調(diào)直流電源輸出電壓 Wut調(diào)到指定的測試電壓時,就開始老化。d)測試結(jié)果判斷1、可控硅本體不能有裂痕、斷裂現(xiàn)象;2、實驗后進(jìn)行基本性能檢測,性能參數(shù)必須規(guī)格之內(nèi),否則為不合格。10試產(chǎn)檢測項目可控硅通過以上實驗后,下一步進(jìn)行試產(chǎn)檢測,以下圖表為試產(chǎn)時

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網(wǎng)僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論