電子測(cè)量測(cè)試中常見(jiàn)問(wèn)題分析_提升測(cè)試精度、縮短測(cè)試時(shí)間

1、Agenda 模擬數(shù)據(jù)域聯(lián)合調(diào)試 簡(jiǎn)化Xilinx和Altera FPGA系統(tǒng)調(diào)試 數(shù)字系統(tǒng)電源帶載/噪聲/紋波測(cè)試 雷達(dá)脈沖信號(hào)（低占空比）測(cè)量 自動(dòng)保存/記錄波形數(shù)據(jù) 自定義眼圖測(cè)試模擬數(shù)據(jù)域聯(lián)合調(diào)試iCaptureTM+wiewTM+iVeHfyTM信號(hào)完整性調(diào)試、分析工具DDDTektronixDigital Age Drivers - Pervasive ElectronicsEmbedded Systems Trends and ImplicationsFPGADDRIndustry/Technology/Market TrendsSmarter devices enabled b

2、y embedded digital technologyPervasive embedded applicationsIndustry driven and proprietary technologiesWidespread industry adoption of PC driven technologiesCANController Area Nel電urkImplications for Test and MeasurementIncreasing requirements for test performance to address new technologiesGreater

3、 measurement complexity due to mix-signal technologiesNeed for more application specific product functionality4TektronixDigital Age Drivers信號(hào)完整性方面的挑戰(zhàn)更快的同步總線體系結(jié)構(gòu)一時(shí)鐘和數(shù)據(jù)速率加快-信號(hào)上升和下降時(shí)間加快-建立與保持時(shí)間縮短電路和物理方面的挑戰(zhàn)- 邏輯電路偏移量減小- 差分信號(hào)- 信號(hào)阻抗和終接問(wèn)題-復(fù)雜信號(hào)導(dǎo)致信號(hào)完整性問(wèn)題- 輸出驅(qū)動(dòng)器- 信號(hào)布局- 信號(hào)負(fù)荷- 信號(hào)端接- 地線和電源分配軟件問(wèn)題- 邏輯問(wèn)題- 軟硬件配合問(wèn)題- 實(shí)

4、時(shí)軟件問(wèn)題- 系統(tǒng)崩潰問(wèn)題Tektronix定位問(wèn)題使用LA復(fù)雜的觸發(fā)定位問(wèn)題解決電路故障的思路：從宏觀玲到微觀-觀察整個(gè)系統(tǒng)，然后發(fā)現(xiàn)故障現(xiàn)象、跟蹤故障根源Digital Bus OperationIndividual Digital SignalsClose Up (MagniVu)Analog Characteristic of-Problem Signals實(shí)例：發(fā)現(xiàn)并定位MCU內(nèi)存訪問(wèn)違規(guī)問(wèn)題:翔梨雅腳掣柴”猾審礁腮黑峭1辱籌短旭出耶C3/2 £3依 XJ*2 Al/O 5.A3/2 AL/OStep 1:探測(cè) Direct Probing-模擬帶寬3GHz- D-MaxT

5、M高密度封裝 Fixture & Interposer一 DDR1/2/3-PCIE Gen l/llStep 2:使用LA尋找信號(hào)完整性問(wèn)題 設(shè)定LA觸發(fā)為T(mén)rigger Glitch or Setup/Hold time ViolationTektronix并且設(shè)置LA存儲(chǔ)所有發(fā)現(xiàn)的毛刺Step 3:理解LA的采集捕獲的毛刺用紅色加亮顯示檢查捕獲的波形數(shù)據(jù)：關(guān)注出現(xiàn)問(wèn)題的時(shí)序(highlighted in red)Step 4:定位問(wèn)題使用MagniVuTM顯示“問(wèn)題”通道波形的細(xì)節(jié)LA的每一條通道都會(huì)經(jīng)過(guò)MagniVifM采樣落以?。〨S采樣Step 5:聯(lián)合數(shù)字、模擬信號(hào)調(diào)試、

6、解決問(wèn)題 iView允許LA在觸發(fā)的時(shí)候同時(shí)將外 部示波器觸發(fā)，而實(shí)現(xiàn)同步數(shù)據(jù)采集TLA7000Logic Analyzer ProbesSUT使用iView采集、測(cè)量數(shù)據(jù)，LA和示 波器能夠完成時(shí)間相關(guān)的多域聯(lián)合調(diào) 試，在LA上可以同時(shí)顯示模擬和數(shù) 字波形。TLA多域時(shí)間相關(guān)聯(lián)合調(diào)試iViewTLA7BBx Logic Analyzer & DPO OscilloscopeTLA Logic AnalyzerUp Up Up to200 MB Record Length50 GHz Sampler3 GHz Analog Mux4 ChSingle Probe For LA &

7、; Scope Digital Meas.簡(jiǎn)化Xilinx和Altera FPGA系統(tǒng)調(diào)試TektronixnDD(Tektronix®FPGA調(diào)試挑戰(zhàn)設(shè)計(jì)檢驗(yàn)已經(jīng)成為一個(gè)關(guān)鍵瓶頸-設(shè)計(jì)尺寸和復(fù)雜性提高-獲得內(nèi)部信號(hào)受限產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期限制使調(diào)試時(shí)間縮短-調(diào)試時(shí)間可能會(huì)占設(shè)計(jì)周期的50%以上簡(jiǎn)單地查看外部針腳是不夠的在FPGA中增加調(diào)試電路會(huì)影響設(shè)計(jì)- 占用寶貴的芯片空間- 要求額外的時(shí)間- 可能會(huì)影響設(shè)計(jì)的定時(shí)性能- 接入通常使用芯片上稀缺的針腳- 可能很難測(cè)試板卡上的多個(gè)信號(hào)潛在問(wèn)題-功能定義錯(cuò)誤- 在FPGA上或系統(tǒng)級(jí)功能系統(tǒng)交互問(wèn)題系統(tǒng)級(jí)定時(shí)問(wèn)題- 異步事件- 實(shí)際環(huán)境交互，特別

8、是快速交互- 很難仿真定時(shí)違規(guī)- IC之間的信號(hào)保真度- 噪聲，串?dāng)_，反射: 負(fù)荷，EMI 互連可靠性問(wèn)題- 焊接界面,連接器-電源問(wèn)題- 瞬態(tài)信號(hào)和負(fù)荷變化0功耗由于仿真不全面而沒(méi)有發(fā)現(xiàn)的FPGA設(shè)計(jì)錯(cuò)誤- 太復(fù)雜,不能覆蓋100%代碼- 耗費(fèi)時(shí)間太長(zhǎng)，不能實(shí)現(xiàn)和運(yùn)行TektronixFPGA設(shè)計(jì)流程Vender Specific ToolsSinplify,Leonardo Spectrum, Design Compiler FPGA設(shè)計(jì)階段的任務(wù)- 設(shè)計(jì)輸入- 設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)- 仿真調(diào)試和檢驗(yàn)階段-驗(yàn)證設(shè)計(jì)-校正發(fā)現(xiàn)的任何漏 洞調(diào)試和驗(yàn)證方法-仿真-在線檢驗(yàn)TektronixSignalTap

9、 II ELAQUARTUSiniHhlUflHIIIHHlIlillllDownload Cable to Quartus II SoftwareSignalTap II HubSignalTap II ELA傳統(tǒng)FPGA調(diào)試方法-“嵌入式”邏輯分析儀SignalTap II / ChipScope ILAFPGA廠商提供綜合邏輯分析儀(ILA)內(nèi)核- SignalTap® II (Altera)-ChipScope ILA (Xilinx)在設(shè)計(jì)中插入邏輯分析儀功能- 包含觸發(fā)和存儲(chǔ)資源- 使用FPGA片內(nèi)資源- 通過(guò)JTAG接口訪問(wèn)測(cè)試內(nèi)核- 在FPGA廠商的查看軟件中顯示數(shù)據(jù)

10、Tektronix優(yōu)點(diǎn)要求的針腳數(shù)量較少- 使用JTAG針腳測(cè)試簡(jiǎn)單- 只需接上JTAG電纜即可- 報(bào)入式邏輯分析儀核心的成本相對(duì)較低缺點(diǎn)核心尺寸限制了其在大型FPGA中的使用設(shè)計(jì)人員必須使用片內(nèi)存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)采集 的數(shù)據(jù)- 存儲(chǔ)深度有限只能在狀態(tài)模式下運(yùn)行，速度有限- 不能把FPGA信號(hào)數(shù)據(jù)與其它系統(tǒng)信號(hào)關(guān) 聯(lián)起來(lái)選擇適當(dāng)?shù)腇PGA調(diào)試方法特性嵌入式邏輯分析儀外部測(cè)試設(shè)備采樣深度/調(diào)試定時(shí)問(wèn)題能力關(guān)聯(lián)性/性能觸發(fā)功能/輸出針腳使用情況采集速度/Tektronix/FPGA實(shí)時(shí)邏輯調(diào)試解決方案 概述-FPGAView-支持Xilinx和Altera FPGA設(shè)備I- 由First Silicon

11、 Solutions () I 開(kāi)發(fā)的軟件包- 在Windows 2000和Windows XP機(jī)器上 _ 運(yùn)行一混合信號(hào)示波器JTAG電纜功能解決方案復(fù)用器Xilinx: FS2 TestCoreAltera: Quartus® II v5.1控制軟件FS2 FPGAView測(cè)試 設(shè)備MS04000混合信號(hào)示波器或TLA系列邏輯分析儀 (>V4.3)JTAG 電纜Xilinx:Altera:Platform Cable USB及其它USBBlasterTM 或 ByteBlasterTM邏輯分析儀FPGAView 軟件Tektronix/使用 FPGAView第1步-創(chuàng)建和插

12、入接口模塊Tektronix創(chuàng)建接口模塊 第1步-創(chuàng)建邏輯分析儀或MSO接口模塊 第2步-針對(duì)調(diào)試環(huán)境配置FPGAView 第3步-把FPGA針腳與邏輯分析儀或MSO對(duì)應(yīng)起來(lái) 第4步-進(jìn)行測(cè)量 Altera-使用Altera Quartus II邏輯分析儀接口編輯器，定義和插入邏輯分析儀接口-在所有版本的Quartus II中提供，包括免費(fèi)的Web版本 Xilinx-使用FS2芯片內(nèi)儀器化發(fā)生器(OCI GEN)定義并把測(cè)試內(nèi)核插入設(shè)計(jì)中 Altera-使用Node Finder選擇信號(hào)，指配組Lojjcd Vrv?X£cIupVckv%水 0-,State'Pin inde

13、xNodeL58 raidniuiyiyTypeAliasName一State0©CCUTROL ConVolJState(2HflSBCD 硯n1&CONTROL Cantrolj state( 1)2CONTROL:ControLiState(0)151 w3_JL_0tc4CONTROL CanVoUMcdeIQ* NJ*?AjlB3r>:e5©CONTROL： ConucljStart.l.與減£6CONTROLCortrol (Load7e COHTROL:Contr_ihc_nde:<6CONTROL ControLiExpired

14、9CONTROL ConuolJB In <10CO NTRO L Cortrol_(Bu zz11CONTROL Cor.troLtCtear12CONEOLCcntrcL匕13心Clt14©CLKDMTkFenncBSs15&CLKDMTidcerfTicLmsNode FinderNamed: 3Lcck in:Node令 FourdS3 tnefja EO pwmjaFigi: |Signallap II pre- jJ J qCuaomize.Iniude wtbsn 曲 8NameaN«me3 8皿 眇Ck <debucMode <&g

15、t; dcbucModcR OdcbucModeRl debugNodeR2 G dsbugModGR20 技 DIGIT O>DIGIT(1 <>DIGir2J DIGIT ODIGIIR DIGIT" ODIGITF 咳 DIGIT-2 ODP6 |bmer_ 印 ddxj/cdeFH 0 Wmci_3ldeb / Mc±H2 B Ibmer-tcpideb.gMcdeRZO 薪 IbmcjkdDIGIT Xilinx-使用FS2芯片內(nèi)儀器化發(fā)生器(OCI Gen)定義測(cè)試內(nèi)核參數(shù)指定模式指定組數(shù)指定調(diào)試針腳數(shù)量- 可以選擇插入通過(guò)JTAG接口 設(shè)置/

16、讀取的通用。寄存器-在HDL代碼中插入內(nèi)核使用 FPGAView第2步一配置FPGAView通信TektronixJTAG Interface回區(qū)“ JTAG cable is connected to this machine.localhostJTAG serverhostname or IPaddress.JTAG serverpassword.ConnectSelect JTAGinterface力USEHa攻曰USB-。TLA Network AddressCancelOKEnter TLA hostnarne or IPaddress (dotted-decimial format

17、)“ FPGAView is running on the TLA指定JTAG接口ocalhostOK使用 FPGAView第4步-進(jìn)行測(cè)量閉區(qū)Diag Igk fiom FPGA kt to Locjc 卻問(wèn) list to mdeh yoir bcaid's eclual cor/igutalizn.Select FPGA PoitWbara6 生(YGdm_CL。Fl URShrjc 片grd_K_QjF1N.N19d 匕 1、弟匕”15(1_后_0_2F1N.N17dhra lepyrmd I* 0 3FIH_N16Ma 代歸*d la 0 4FIN N14dteia less

18、sfvd lei 0 5FIN P20tera 哈百vd la 0 6FIN P19Wte 陷e 生(vedm_CLTFPLP15dtcw_icsa«d_Ia_0_8F1HJ117&hr：LJC?jTfvcdai_Q_9ANJAajdter】jekrvi5d_b_Qj 0F1NJJ19d31d lejwrvtd la 0 11FIX R16振e ie g< vwd I ci 0 12FIN T17tera leserved la 0 13FIN T193必陷 2犯tved la 0 14FIN T18建tera_i8 生(Yedm_CU 5m LU 17L iaq an

19、f Drop >»FPGA SignalSjgn&NsrrcLcc&hnMercure wT_bjJ J derqjbbad|J-8MbucwT_I"CIJJ d l qjc為間吸。_1 J w a_ie xer vcdJai_0_2 aM jie 維 ved_laL0_3 atM3_rw2aT«j_lai_0_d 立冒平綸七d_lai_0_5 盤(pán)僅3_陽(yáng)到7<1此0_6 ol:cfQ_rccf/cd_IouO_713 5 7 9 133579111112 oxdtera_tesrv«d_la_L 0 &t”：uc*c

20、fvcd_6_1_1 &匕 rajc3Ei?de_1_2<it9ra_rejfv«dja_1_4 dtera_te3fY«d_la_ IWtcra_iczcrvcdjai_6 &tcrL3avcd_6_L。dtcrjie 方crvede_L9b-ra_ie served J a_D_lO 33合_哈阻 vgd_lei_QJ 1 tera_iejfv«d_la_0_12 dtera_ies£fv«d_la_0_13 tera_iG5fv«d_la_D_l 4 dtcra ic5crv«d_la 0,15C

21、LKI2I D1(2J D1(6) D峋 D平) D1Did) Dl(0) D0(?) D0(6) D峋 D0(4) DO D咐 D。 DQ(O)2 4 6 810121416182022242628303234OKCanedOeetHdp使用FPGAView把FPGA針腳“連接”到外部測(cè)試設(shè)備上-自動(dòng)更新通道名稱-拖放操作-支持多個(gè)測(cè)試內(nèi)核/FPGAMap FPGA Pins to Logic Analyzer Probe Pins使用Bank下拉列表，選擇要測(cè)量的Bank一在選擇后，F(xiàn)PGAView通過(guò)JTAG設(shè)置 測(cè)試內(nèi)核-使用相應(yīng)的信號(hào)名稱對(duì)邏輯分析儀或MSO編輯-可以簡(jiǎn)便地編譯測(cè)量結(jié)

22、果通過(guò)選擇不同的Bank,簡(jiǎn)便地切換內(nèi) 部測(cè)試點(diǎn)-不需要編譯Tektronix z把FPGA信號(hào)與設(shè)計(jì)中其它信號(hào)關(guān)聯(lián)起 來(lái)實(shí)例使用FPGAView調(diào)試狀態(tài)機(jī)使用FPGAView選擇狀態(tài)組-探測(cè)狀態(tài)變量的當(dāng)前狀態(tài)及與狀態(tài)機(jī)有關(guān)的關(guān)鍵控制信號(hào)FPGAView fpgaview_demo_V 1. laiFile Configure Options HelpOpenProbesJ TAGTLAGPI3RefreshHelpBankDcbjg Coresfcl # l:EP1C20fQx020£40DD)tirrcr_laiStateCapkro ModePower Ub Statetimi

23、ngbankO由.B BCD 由.B IO 由 B Dec-A pwm_!ai® B Counter + B Duty Cycfe + B Clock Divide S- B PWM12 3 4 5 6101112131415Type5gnal NameregCONTROL:Controljl5tate2regCONTROL:Corrtrol i|Statc1regCONTROL:ControljlState0unused corrbCONTROL:Control i!Mcdecorrtk©g %CONTROL:Controlj|StartCO NTRO L:Control

24、jiLoadregCO NTRO L :Control j jncJndexreg corrbCONTROL:ControlJ!ExoiredCONTROL:Control . BlinkcorrbCONTROL:ControljiBuzzregCO NTROL.ControljiCleorcorrbCO NTRO L:Control iialcrm sthpi-t corrbQkCLKDIV:TickefiTick05scorrbCLKDIV:Ticker|Tick msTektronixMa5pina operation complete實(shí)例使用FPGAView調(diào)試狀態(tài)機(jī)J5T I I把T

25、LA邏輯分析儀設(shè)置成觸 發(fā)可疑的錯(cuò)誤SB®3 M叼m1 1 acbg 5 "due " Tir&D"多個(gè)負(fù)荷脈沖意想不到的狀態(tài)機(jī)跳變26r»?20CONTRULCarhoIjSlaiefOrCClNlHIjLDarljoljExtiiedllG>H>9CD-Tcr«E> BCD OnetJ L ?2LZ5DX6index.inctaie7。e x-lOnsCONTROLrCarhoHpj&d_Irdii CON THOLCarirol_iLaed_lrdsx( 11v 6 的令 Sedtch10n?&

26、lt;62GOrw 26 m33 ns笛 m<lns 45”I i?WNIHULSMoljLMJ CCNTRCLCMmUBCD。"?CONTROL 加磯iBCOs眠CONTRCliWgLjBSoa 町 COW IROLCxjrtrolj BCOou憫C0HTR0L:CoriroHBCDari2CONTROLrCoEoLiBCDai 而1 CoJnROLrSrJroHpCDttjiio016Tektronix/小結(jié)縮短調(diào)試和驗(yàn)證時(shí)間- 選擇適當(dāng)?shù)腇PGA調(diào)試方法可以縮短調(diào)試和驗(yàn)證時(shí)間 了解問(wèn)題所在-嵌入式邏輯分析儀和外部測(cè)試設(shè)備各有優(yōu)缺點(diǎn) FPGAView消除了外部測(cè)試設(shè)備的大部

27、分問(wèn)題- 可以實(shí)時(shí)調(diào)試Xilinx和A代era FPGA- 適用于設(shè)計(jì)Xilinx和Altera FPGA的研發(fā)工程師- 允許設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)查看Xilinx或Altera FPGA設(shè)計(jì)的內(nèi)部運(yùn)行情況- 允許把這些信號(hào)與其它板卡信號(hào)關(guān)聯(lián)起來(lái)-提高工作效率，縮短調(diào)試時(shí)間- 隨時(shí)切換內(nèi)部測(cè)試點(diǎn)，不需要重新編譯- 每個(gè)調(diào)試針腳調(diào)試多個(gè)內(nèi)部信號(hào)-與其它調(diào)試方法相比，使用更簡(jiǎn)便，對(duì)調(diào)試信號(hào)影響最小!數(shù)字系統(tǒng)電源帶載/噪聲/紋波測(cè)試nDD(Tektronix®數(shù)字系統(tǒng)電源發(fā)展趨勢(shì)電源供電電壓越來(lái)越小-低功耗邏輯開(kāi)關(guān)翻轉(zhuǎn)速度越來(lái)越快一 dl/dt-負(fù)載變化大集成度越來(lái)越高-內(nèi)部空間小、電路密集混合系統(tǒng)測(cè)試

28、需求- 開(kāi)關(guān)電源輸出帶載測(cè)試- 開(kāi)關(guān)電源開(kāi)關(guān)損耗測(cè)試- 開(kāi)關(guān)電源輸出品質(zhì)測(cè)試- 開(kāi)關(guān)電源輸出紋波測(cè)試Tektronix電源帶載/噪聲/紋波測(cè)試挑戰(zhàn)示波器放大器精度- 示波器放大器精度(DC Gain Accuracy)直接決定了電壓測(cè)試的精度- Offset精度,示波器采樣方式一 Sample- Hi Resolution探測(cè)方式- Differential/Passive Probe的選擇- 耦合在DC上的AC噪聲測(cè)試需要考慮高動(dòng)態(tài)范圍- 自制1:1 50歐姆探頭測(cè)量帶寬一 Full Bandwidth- 20MHz測(cè)試之前的準(zhǔn)備工作示波器SPC-示波器內(nèi)部采集通道自動(dòng)補(bǔ) 償-無(wú)需人工干預(yù)探

29、頭校準(zhǔn)-利用示波器標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)輸出-配合相應(yīng)的探頭校準(zhǔn)夾具M(jìn)odelDP07000DP04000DS09000DS07000DC Gain Accuracy±1%(Reading)±1.5%(Reading)±2%(FS)±2%(FS)Offset Accuracy±0.35% *(offset valueposition) ±0.1 div ±1.5mV±0.5%*offset- position | + DC Balance± (1.25%* offset+1 % of full scale + 1 mV

30、)±0.1 div ±2.0 mV ±0.5%* offset valuePeak Error±3.8mV±5.5mV±11.6mV±5.6mV電源帶載測(cè)試測(cè)量電源輸出電壓隨負(fù)載的變化- 高精度差分探頭- 通過(guò)offset調(diào)節(jié)動(dòng)態(tài)范圍- 為了達(dá)到最好的動(dòng)態(tài)范圍，通常采 樣“超量程”設(shè)置,VH和VL會(huì)采用不同 的offset設(shè)置直流電平測(cè)試精度一 DC Gain Accuracy一 Offset Accuracy| CT "MV ,2/6 MGinv«l(- CT1W)5 <R M JCin«

31、;n.-1 _,儲(chǔ).中mRLSO&l*(CPU VTT帶載測(cè)試)10mv/div;測(cè)量Vh時(shí)候offset=1.6v；測(cè)量VI時(shí),offset=0.8vTektronix電源噪聲測(cè)試電源噪聲測(cè)試-耦合在DC上的微小的AC信號(hào)必須提供高動(dòng)態(tài)范圍- 使用最小示波器垂直刻度- 使用示波器AC耦合提高動(dòng)態(tài)范 圍- 或者使用探頭offset要求探頭接地回路面積最小-可以使用單端或差分探頭，但要 主要地線-最好使用自制50歐姆“探頭”測(cè)量RMS值或者直方圖2V檄：:ov將50歐姆BC或SMA同軸電纜一 段切斷。同軸電纜提供了最好 的屏蔽接地，而且和示波器50 歐姆匹配，具有很高的測(cè)試帶 窗電源紋波

32、測(cè)試 DPOPWR專用開(kāi)關(guān)電源測(cè)試分析軟件一 Input/Output Analysis一 Switch Loss Analysis-Active component一 Passive componentPeak To Peak Ripple31.7mVPeak to Peak Line Ripple is 1,091VPeak to Peak Switching Ripple is 31.7淵R吟垂直分辨率-加探頭以后呢?Input sensitivity1 Mil: 1 niV/div to 5 V/div50 fl:1 mV/divto 1 V/div3 50D input: Full

33、scale is defined a5 8 vertical divisions. Magnification is used below 10mV/divr full-cale is defined as 80 mV. The major scale settings are 5m IDmV, 20mV,50 mV. 100mV 200 mV. 500 mVJV.1Mfl input: Full scale is defined asS venical divkions. Magnification is used below 5mV/diu full-scale is defined as

34、 40 mV. The major scale settings are 5(nV 1 OmV, 20mV, 50 mV, 100 mV 200 mV： 500 rnVJUZV, 5V.Tektronix完整開(kāi)關(guān)電源測(cè)試方案示波器DP07000-最好的垂直精度指標(biāo)±1%-最完備的采樣系統(tǒng)電壓探頭-P52XX系列高壓差分：5600Vpk-P6015高壓?jiǎn)味耍?0000Vpk電流探頭一 DC/AC探頭一種類豐富：200UA-1000AInput FilterSwitchTransformerRectifier & FilterTektronix/如何測(cè)量雷達(dá)脈沖信號(hào)（低占空比）D

35、DDTektronix®挑戰(zhàn)時(shí)域高速率窄脈沖脈寬(PW)高速率 寬脈沖脈沖重復(fù) 間隔 (PRI=1/PRF)低速率窄脈沖低速率寬脈沖頻域Tektronix傳統(tǒng)測(cè)試方法1.長(zhǎng)內(nèi)存捕獲如果想查看多個(gè)連續(xù)脈沖，必須提高采集的時(shí)間窗口。讓多個(gè)脈沖落 在示波器提供的有限存儲(chǔ)器內(nèi),很多時(shí)候必須通過(guò)降低采樣率來(lái)達(dá)到。 降低采樣率本身會(huì)降低水平分辨率，使得時(shí)間測(cè)試精度大大下降。TektronixDPO的洞察力快幀F(xiàn)astframe1 泰克采用FastFrame分段存儲(chǔ)技術(shù)的示波器，允許把現(xiàn)有的存儲(chǔ)器分成 一系列段，然后每一次觸發(fā)后采集的數(shù)據(jù)只填充其中一段，每次采集都 可使用所需的采樣率。通過(guò)根據(jù)測(cè)試

36、要求定義觸發(fā)條件，可以只捕獲感 興趣的波形段，然后將捕獲的每個(gè)事件存儲(chǔ)在擁有各自編號(hào)的存儲(chǔ)段 中。2 .采集完成以后，用戶可以按捕獲順序單獨(dú)查看各個(gè)存儲(chǔ)段的波形或幀數(shù)據(jù)，或分層顯示多個(gè)存儲(chǔ)段波形或幀數(shù)據(jù)，方便對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行比對(duì)，TektronixDPO的洞察力快幀F(xiàn)astframe （續(xù)） 3.輕松獲得每個(gè)脈沖間隔的絕對(duì)時(shí)間和相對(duì)時(shí)間3 - WordPiidFile- EditInsert Format Holp a 口 昌® mt小|工_ Zia Au 守 2 00*7 2 O : 1 e ISiiLl .21OO 1.3N.1-QrCUDNOONNO，ZLe，q-7N：LN98；

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40、Auirj2。720：X i5：.2：S i51.55 X：L7d2 S ,：L4豆5"2 00720:1 G:.2SSSO1H2 97232 6KJtxicy2口口720:16:.2 GOQS1SOS27。2rh14Auirj2。720：X i5：.215Z1.q8«5&Z T2 曰 r1.4元5"2 0072O :1. 6: ST 264SO14 6H3 1.Q2gl.ZLQJLxicy2口口72 0:16:.266QS1433口“1.4Auirj20 07ZO zX i5：.2 15S1.與乞 WZ SZ3 1,：L4豆5"200720:1

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42、發(fā)事件的能力。2,使用高采樣率，保留了波形細(xì)節(jié)。3 .如果脈沖重復(fù)速度小于示波器的最高觸發(fā)速率，則捕獲的脈沖之間沒(méi)有漏失脈 沖，保證有效利用記錄長(zhǎng)度存儲(chǔ)器。4 .可以迅速地以可視方式比較波形段，確定重疊的波形中是否會(huì)異常變化。脈沖信號(hào)（低占空比）測(cè)試系統(tǒng)配置列表1.2.DP07000 DSA70000B平臺(tái)示波器-20GHz, 16GHz, 12. 5GHz 帶寬，- 4通道同時(shí)支持50GS/s實(shí)時(shí)采樣率，- 每通道標(biāo)配10M內(nèi)存，最大支持200M內(nèi)存通道- 8GHz, 6GHz, 4GHz 帶寬，- 4通道同時(shí)支持25GS/s實(shí)時(shí)采樣率- 每通道標(biāo)配10M內(nèi)存，最大支持100M內(nèi)存/通道-

43、3. 5GHz, 2. 5 GHz, 1GHz, 500 MHz 帶寬，- 4通道同時(shí)支持10 GS/s實(shí)時(shí)采樣- 標(biāo)配40M內(nèi)存，最大支持400M內(nèi)存- DP0平臺(tái)支持250, 000 wfms/s波形捕獲率- 相關(guān)的一致性測(cè)試軟件探頭系統(tǒng)- P7516, P7513,P7313, P7380, P7360, P7350, P7330, TDP1000 差分 探頭- P7260, P7240, P7225, P6245, TAP2500, TAP1500, P6139單端探頭Tektronix如何自動(dòng)保存/記錄波形數(shù)據(jù)DDDTektronix當(dāng)前測(cè)試需求1 .波形監(jiān)測(cè)并自動(dòng)記錄數(shù)據(jù)2 .自動(dòng)

44、記錄測(cè)量結(jié)果數(shù)據(jù)3 .數(shù)據(jù)處理和分析4 .長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試記錄TektronixSave onTrigger自動(dòng)保存波形數(shù)據(jù)i.根據(jù)需求自動(dòng)保存數(shù)據(jù)- 數(shù)據(jù)格式：wfm, dat, csv, txt。-圖片格式：jpg, bmp, pngo-可設(shè)置延遲時(shí)間-自動(dòng)記錄每次采集數(shù)據(jù)的絕對(duì)時(shí)間Tektronix/A C：V» Savo nn 1 r由or V5gWofSWU9Mde-10 DonaI S丘 | CtoeFdderqrHe «ctd Folde* Topics' Xa/ a fdde*& FUikti chs fokler co the w»ba

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