Raman(拉曼)光譜原理和圖解.

1、 Raman（拉曼）光譜E需梟衣翹黑鋼1疇務(wù)翻羨9用亦 戶92眸怦次發(fā)現(xiàn)的.本人也COO拉受測(cè)董的是什么？Rtal StMtiYitiihanalSlUMOVOAVirvwnMM IRStdlCM R/umRyM*AM SMh Rama*FHaavtl托丸獨(dú)受剛nQMrtftWF*|蔽射光中，MtaHDllIf占主導(dǎo) liif后AWX 分了敝射光財(cái)入射光創(chuàng)H同的頻率光散射拉曼帕JBo 1入射尤o65hf分 f9iH)散紂比屮的何。光子之一是拉曼）歆射尤丸唱8L使5 f femissionPVOAxaUiion拉曼光譜的優(yōu)點(diǎn)和特點(diǎn)Y對(duì)樣品尢接觸.無(wú)損傷：Y樣胡無(wú)帝制孤Y快速分析.臨別&沖材料的待

2、性與結(jié)構(gòu):Y能適介黑色和含水樣品!IHY髙、低汨及髙壓條件下測(cè)血jY比譜成像快述、簡(jiǎn)便，分卅半高：Y儀器帥體積適屮，Y維護(hù)成本低.便用叭COO為何便用顯It拉受High Sp;i1ialreMliitioii:高空何分卿率（對(duì)包良體僉用石壓砧中的樣 品巧尤辣有用）Non-destructive unalys;無(wú) IS 分柄Alninxl no simple 卩rciuralion:幾乎不用樣品（備Very smi iimount of sample;所殖樣&量少Ch:ircteriMic ilir:ition:il K|iectrum:捋玻性養(yǎng)動(dòng)itInformation obtained f

3、rom Raman spectroscopy w受上的曲獨(dú)曼認(rèn) changM In frequency of Raman peakpoianzKion ofRmmpf4ikrcompotiUon of mitwia wnmeg MoS.MoOjtEU 機(jī)r”SUMg. $4 eShift per S ttraincryMai lynrnthy and onentfior 廿對(duì) WttWURjeg orientation of CVD -diamond grgmquality of g afnount of plastic deformationamount d matmii0Ie g. thi

4、dcness of trsrKparentcxxingcharacteristicRimanFroquenaeswidhcf Raman peakWintensrty of Ramn peak拉曼光譜的特點(diǎn)和主要因難 N性們時(shí)紡豐臭橄比*叔近Reni shawil*光譜儀的優(yōu)勢(shì):高靈敏度優(yōu)勢(shì)1 高靈敏度:Y 乂險(xiǎn)度遠(yuǎn)髙于氏它同類拉如譜儀檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):硅三階峰（約在1440 an-1）的信噪比10 1.檢測(cè) 條件為s激光輸出功率2mW,波K514.5nm.除縫寬度50微米 t曝光時(shí)間60秒.累加次敎5次.binning為1或2光櫥為1800刻 線。顯微僥頭為X50帶規(guī)銳頭。OVOA離靈敏度f(wàn)l廣的

5、ts.KFMRMV/t離靈給度尼紹挖受光譜儀光用結(jié)構(gòu)示您曲高總定性、重復(fù)性優(yōu)勢(shì)2高穩(wěn)定性.高靈復(fù)性。定性、譏臭性杯念臺(tái)儀器的順訊保證了數(shù)據(jù)的可檳件及匝父件足檢測(cè)光讒微小變化的關(guān)鍵性魏如材料的應(yīng)力、應(yīng)變引起的波數(shù)位移coo高穩(wěn)定性.高重復(fù)性u(píng)尼妬拉岐尢諭僅的僧動(dòng)邙件使用了世 界?U.的RG2找花和IM形儉叫爲(wèi)丸脛 rmwfnM.總妬比諭儀帶來(lái)它創(chuàng)比審飽1 尺尬定-MM高穩(wěn)定性.高里復(fù)性4譏心的IZ 嚇白型F存觀麻了 WtfiQ 1 re (x andy-axes)1 uh |r&-is)高穩(wěn)定性.高重復(fù)性岡形編碼器控制的光柵轉(zhuǎn)勸rr-技術(shù) i 1同時(shí)編糾魯榊代何fltt號(hào)制典轉(zhuǎn)昧 而非采用計(jì)1*

6、 巧達(dá)轉(zhuǎn)辻E少關(guān)的辦汕I 光侖轉(zhuǎn)動(dòng)的用瞼rsm高重復(fù)性、高穩(wěn)定性O(shè)VD A高重復(fù)性、高穩(wěn)定性a光I*轉(zhuǎn)動(dòng)復(fù)性實(shí)檢14220 cm】 14430 cm1 14885 cm i 14971 cm 1OVOAThis etroc plot how tliat din ing noniuil wo(i11 the errors track and die typical arois are less than 0.05 cin1高重復(fù)性.高穗定性糾;/出戲的比柵24小時(shí)R功的怦顧砂慾呱ftr 節(jié)；30分仲的JI功足山廠電內(nèi)； 空鼻的心4兒卻閘起的1*Frequency shift due to str

7、ess520：Side or Raman Peaktensile coo凌股2點(diǎn)忡IH的必人編4是門(mén)并 帥環(huán)堆空溫浚赧低遙成的 盡仃圧存液羋牧人的環(huán) m （而iraL應(yīng)檸剖旳實(shí)臉電環(huán) 境）加人候出也個(gè)T006cm1高穩(wěn)定性.高重復(fù)性YVidih/arr1 (HZWMi0 10 20 30 -0 50硅B件應(yīng)力測(cè)ftPoston/crrr15235/拉曼峰的/權(quán)小務(wù)動(dòng)52300 10 20 30 40 505225 s exposcre per specfrum51x51=2601 specMjfr.同步連續(xù)掃描專利技術(shù)優(yōu)勢(shì)3同步連續(xù)掃描專利技術(shù)(SynchroScan)(Patent No.

8、EP0638788, US工689333)nJ次性連純鈦収任怠迎波段范|耳光譜（拉曼及發(fā)光光諂、 無(wú)需人為接譜.無(wú)需使用低分辨半的光期.H保還品分辨半 片町Y均掉單探測(cè)點(diǎn)嗓甘及缺陷“同步連續(xù)掃描專利技術(shù)同步連續(xù)扌I描(SynchroScan)-尢權(quán)違披轉(zhuǎn)動(dòng)-CCD電何的轉(zhuǎn)功與先悝的於型同步優(yōu)點(diǎn)-無(wú)離接諭-連紋機(jī)竭大軌I由 區(qū)(9000aMLU I: )heHUfiCCD的 18個(gè)nj電他 ifi電尋聲平均抻示會(huì)產(chǎn)生質(zhì)謚麗聞戶的紂lfi同步連續(xù)掃描專利技術(shù)同步連續(xù)掃描專利技術(shù)JJOO同步連續(xù)掃描專利技術(shù)恃別注意連續(xù)扌加的尤諂收集方式應(yīng)誨足値常規(guī)使用同仃實(shí)用性仃盤(pán)幾 RmMiwQM的拉城系坎的連續(xù)

9、川描功危圧任實(shí)檢中域常用的尤ift收 集力兒PH專利保護(hù)現(xiàn)其它廠家無(wú)法使用如果仃氏它也禰之劉迸續(xù)和描光満收集方九 伸須用巨量時(shí)間則 無(wú)實(shí)用盤(pán)文OVOA采用Leica顯微鏡優(yōu)勢(shì)去采用Leica顯微鏡V島熱穩(wěn)宦性和機(jī)械穩(wěn)定性Y Hk Leica原此 符合歐洲及北蔓企安全標(biāo)準(zhǔn)好處月&. 高分辨.大視野吋方便.準(zhǔn)確地才找鍛米級(jí)樣品：如礦物包 圾體等.以及低反涇樣A緘b.町安全地觀察激尢然點(diǎn).以確認(rèn) 激光魚(yú)點(diǎn)足否聚俺在微米顆粒上.Y同時(shí)配有攝像機(jī)：彩色，荷分辨可觀察激光焦點(diǎn)，不飽和.捉供國(guó)像采集卡及軟件,可衽計(jì)算機(jī)上存借門(mén)光照片，無(wú)需 照相機(jī).Y照明光汕Leica甌配.確保頂量.PVOA數(shù)字化界微系統(tǒng)?

10、Z利技術(shù)優(yōu)勢(shì)5.數(shù)字化顯微北喪系統(tǒng)專利技術(shù)OVAA敖字化眾微共佻系統(tǒng)?/利技術(shù)mmm!itUflnM tMi |i .tfinjrir substrate Laser 633 nm HeNe Spectrometer settings-Slitwidth 10 pm|數(shù)丫化界敘人系統(tǒng)？利技術(shù) Con dili onsx5C objective 一 gwn thrpMsh “mpU from PE to PP Resultsweak PP features seen on PE spectrum -strength rncreaset untl only PP seenCOO4故字化顯微丿系統(tǒng)利

11、技術(shù)數(shù)字化顯微共魚(yú)技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)爪需農(nóng)龍外的ifHft 儘兮it過(guò)申A 檢作簡(jiǎn)單、靈活澡度共焦的效果：一 ！、244COOUsing Ihosb sMs instead of pohoiw m#Ks w eas 創(chuàng) to make the optical alignments needed for confocal Raman meKuremnts (KAiasaft K TguNTrj”F3i AaaIc d Ch*ifbT. 9 X!44MicrometersSample SlO2 pattern on Si substrateScan over a sharp edge, intensity

12、 variation shows lateral resolutioneBU- ZhaoioataXY26 MAP|m itw wv 4I IM-FrorrX二 4633 V= 1 1 S17SToX-V 714 Y- 11 51*70Atvp,aajecw故字化界微夬似系統(tǒng)（/利技術(shù)激光擴(kuò)束技術(shù)空間分辨率可達(dá)至理論衍射極 隔OVOARaman microscopy; Confocal basicsLateral spatial resolutionThe system laser focus beam waist (d) is determined by:1) Excitation wave

13、length:入2) Microscope objective focal length : fEffective laser beam diameter at the the objective back aperture D(尼紹拉受尢姦儀尢踣結(jié)構(gòu)示童罔澈光功*以及激光功車密度連續(xù)變化優(yōu)第6.1.c 可從 tog 毛 5“0%2 SUflttJt擴(kuò)JRflrtt術(shù).町以XM*JtUSftXJK大小(1- 250米、建i&可以用于轄占上的減檜度尢血*過(guò)更宥橄光功車密良過(guò)贏WffFffpitte. tfcK) 樣品最偲不會(huì)破耳個(gè)仗竟加筋會(huì)產(chǎn)生趨力.y致獨(dú)曼峰的 棒笏.了丈笛K的雇性.0散M功導(dǎo)

14、16級(jí)&弘壯擴(kuò)4i11MMh 2 - - 4II自動(dòng)化程度高優(yōu)勢(shì)7.自動(dòng)化程度高* ajtrtM-關(guān)北比帰可門(mén)處準(zhǔn).aMKmridiMA-櫛 Bft-創(chuàng)釗諄尢片門(mén)砂圳矗-比圧uHlJUJ提-張?bào)先诵☆甉iflN-” 功IB-期*甲呷舸理|-取諾我蔡?hào)楺HbCWfl功切攥-門(mén)功切換徹克的碩貸犢疋和CCD芯片尺寸的選擇I 優(yōu)勢(shì)8.選擇了最佳成像質(zhì)童的CCD芯片尺寸為什么Renishaw町以透擇小尺寸芯片？岡為仃利保護(hù)的連續(xù)打描技術(shù)，可以保證連績(jī)獲 収任總盤(pán)波段范即I的）1誥ClCCD芯片尺寸的選擇viW SmitEEV!G24x2fifi286*wiSnEV76iWSH t,W7m(TwnUTit ccde片比 aittjuiitri:coo優(yōu)勢(shì)9.可以選擇的僅器分辨辜f靈敏度 分辨率和靈敏度是一對(duì)矛甌 分辨率提髙的同時(shí). 靈敏度將會(huì)下降.分辨率和多種因素有關(guān)，不僅僅取決于題長(zhǎng).在Renishaw的儀器上，用戶可根據(jù)所研究的樣品來(lái) 選擇分辨率和靈敏度.既可選擇離分券率.也可選 擇高靈敏度分辨率/靈敏度的選擇Single siatic scan with 600 I/mm 10 stitched static scans with 2400