整機(jī)可靠性測(cè)試手冊(cè)

1、 深深 圳圳 市市 世世 融融 通通 電電 子子 公公 司司產(chǎn)品測(cè)試手冊(cè)產(chǎn)品測(cè)試手冊(cè)編制部門： 品質(zhì)部 日期： 擬定： 日期： 審核： 日期： 批準(zhǔn)： 日期： V1.0 整機(jī)測(cè)試手冊(cè)第 2 頁(yè) 共 11 頁(yè)版本時(shí)間修改內(nèi)容修改人 V1.0 整機(jī)測(cè)試手冊(cè)第 3 頁(yè) 共 11 頁(yè)目目 錄錄1 簡(jiǎn)介.42. 整機(jī)測(cè)試項(xiàng)目 .52.1.電性能測(cè)試.52.2 ESD 測(cè)試.52.3 環(huán)境測(cè)試.52.4 壽命測(cè)試.42.5 機(jī)械強(qiáng)度測(cè)試.43.整機(jī)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn).63. 1 電性能測(cè)試標(biāo)準(zhǔn).63. 2 ESD 靜電測(cè)試標(biāo)準(zhǔn).53. 3 環(huán)境測(cè)試標(biāo)準(zhǔn).73. 4 壽命測(cè)試標(biāo)準(zhǔn).83. 5 機(jī)械強(qiáng)度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn).9 V

2、1.0 整機(jī)測(cè)試手冊(cè)第 4 頁(yè) 共 11 頁(yè)1 簡(jiǎn)介1.1目的為了規(guī)范世融通公司產(chǎn)品測(cè)試的各項(xiàng)工作，使公司產(chǎn)品研發(fā)、品質(zhì)管理按照共同的測(cè)試項(xiàng)目和測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試，以使項(xiàng)目各階段品質(zhì)保證能達(dá)到手機(jī)的測(cè)試要求，特制定本測(cè)試手冊(cè)。1.2適用范圍本手冊(cè)適用于本公司所有項(xiàng)目的整機(jī)測(cè)試。1.3責(zé)任公司產(chǎn)品研發(fā)、品質(zhì)保證都需按本測(cè)試手冊(cè)進(jìn)行相關(guān)測(cè)試，對(duì)問(wèn)題進(jìn)行分析，確定責(zé)任部門，由責(zé)任部門提出改善對(duì)策。2 整機(jī)整機(jī)測(cè)試測(cè)試項(xiàng)目項(xiàng)目2.1 電性能測(cè)試按照產(chǎn)品檢驗(yàn)規(guī)范和行業(yè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)試手機(jī)的各項(xiàng)重要電性能指標(biāo)；2.2 ESD 測(cè)試測(cè)試手機(jī)在靜電環(huán)境中的性能；2.3 環(huán)境測(cè)試模擬公司各產(chǎn)品使用的各種惡劣環(huán)境，測(cè)

3、試其性能是否達(dá)到要求；主要包括高/低溫試驗(yàn)、濕熱試驗(yàn)、防塵試驗(yàn)等。2.4 壽命測(cè)試測(cè)試產(chǎn)品各易損部件的工作壽命是否達(dá)到規(guī)格要求；主要包括讀卡器，打印機(jī)，制票機(jī)等產(chǎn)品試驗(yàn)。2.5 機(jī)械強(qiáng)度測(cè)試測(cè)試?yán)ㄗx卡器，打印機(jī)，制票機(jī)等機(jī)械結(jié)構(gòu)的強(qiáng)度；主要包含振動(dòng)測(cè)試、跌落測(cè)試等。3.整機(jī)整機(jī)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)3.1 電性能測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)依照公司規(guī)范、行業(yè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)試公司產(chǎn)品的電性能。參考標(biāo)準(zhǔn):1.公司的產(chǎn)品行業(yè)環(huán)境要求和試驗(yàn)方法。2.公司產(chǎn)品根據(jù)公司可靠測(cè)試設(shè)備測(cè)試。 V1.0 整機(jī)測(cè)試手冊(cè)第 5 頁(yè) 共 11 頁(yè)3.根據(jù)公司可靠性設(shè)備進(jìn)行安全要求和產(chǎn)品驗(yàn)證進(jìn)行試驗(yàn)3.2 ESD 靜電測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品在接充電器和不接

4、充電器的情況下，分別測(cè)試產(chǎn)品在常用使用狀態(tài)下的 ESD 性能，待機(jī)和運(yùn)行狀態(tài)是必須要測(cè)試的狀態(tài)。接觸放電為6KV,對(duì)裸露的金屬件續(xù)放電各 10 次后對(duì)地放電,應(yīng)無(wú)數(shù)據(jù)丟失和功能損壞等；接觸放電每點(diǎn)每個(gè)測(cè)試電壓連續(xù)放電 10 次(加嚴(yán)測(cè)試20 次)；空氣放電10KV，主機(jī)底殼等處進(jìn)行放電，被選點(diǎn)每點(diǎn)每個(gè)測(cè)試電壓放電 10 次(加嚴(yán)測(cè)試20 次)，每放電一次需對(duì)地放電，狀況應(yīng)良好，應(yīng)無(wú)數(shù)據(jù)丟失和功能損壞。注：測(cè)試后功能恢復(fù)正常，及外觀檢查應(yīng)良好（電鍍層不應(yīng)有掉鍍層等不良現(xiàn)象）。完成后作好記錄。所需手機(jī)數(shù)為 2 部。參考標(biāo)準(zhǔn):行業(yè)可靠性技術(shù)要求和測(cè)試方法 ESD 實(shí)驗(yàn)室環(huán)境要求:環(huán)境溫度： +15

5、+35相對(duì)濕度： ESD 實(shí)驗(yàn)室濕度應(yīng)嚴(yán)格控制到 3060RH大氣壓力： 86106kPa 3.3 環(huán)境測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試項(xiàng)目及條件：測(cè)試項(xiàng)目測(cè)試條件/參考標(biāo)準(zhǔn)主要測(cè)試階段數(shù)量注意事項(xiàng)低溫儲(chǔ)存試驗(yàn) T=-303，試驗(yàn)時(shí)間 12 小時(shí)，回溫 2h后檢測(cè)功能、外觀、機(jī)械和電性能有無(wú)異常。 項(xiàng)目 PR1 階段，首次量產(chǎn)，重要元器件或元器件的供應(yīng)商，結(jié)構(gòu)材料變更；4試驗(yàn)中手機(jī)帶電池關(guān)機(jī)狀態(tài)。低溫工作試驗(yàn)T=-203，試驗(yàn)時(shí)間 8 小時(shí)，測(cè)試過(guò)程中需進(jìn)行中間檢測(cè)，觀察信號(hào)指示并進(jìn)行撥打測(cè)試（或用儀器測(cè)試電性能），測(cè)試持續(xù)時(shí)間到后立即在該溫度下進(jìn)行電性能和功能測(cè)試，最終檢測(cè)：將試驗(yàn)樣品回溫2h 后檢測(cè)呼叫連接、

6、外觀、機(jī)械等應(yīng)正常。中間檢測(cè)及最終檢測(cè)均正常測(cè)試才為合格。 項(xiàng)目 PR1 階段，首次量產(chǎn)，更改重要元器件或元器件的供應(yīng)商，結(jié)構(gòu)材料變更；4試驗(yàn)中手機(jī)處于待機(jī)狀態(tài)（如果 T=-203條件下電性能有異常情況，品質(zhì)可按照 T=-103的實(shí)驗(yàn)條件作為最低出貨標(biāo)準(zhǔn)。若選擇觀測(cè)信號(hào)指示與被叫的方式，需將手機(jī)工作在帶 SIM 卡的標(biāo)準(zhǔn)用戶模式) V1.0 整機(jī)測(cè)試手冊(cè)第 6 頁(yè) 共 11 頁(yè)高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)T=652，試驗(yàn)時(shí)間 12 小時(shí)，儲(chǔ)存時(shí)間到后立即檢測(cè)功能、外觀、機(jī)械和電性能應(yīng)正常。（可立即調(diào)低溫度至 552進(jìn)行高溫工作試驗(yàn)） 項(xiàng)目 PR1 階段，首次量產(chǎn)，更改重要元器件或元器件的供應(yīng)商，結(jié)構(gòu)材料變更；

7、4試驗(yàn)中手機(jī)帶電池關(guān)機(jī)狀態(tài)。高溫工作試驗(yàn)T=552，試驗(yàn)時(shí)間 8 小時(shí)，測(cè)試過(guò)程中需進(jìn)行中間檢測(cè)，進(jìn)行主叫撥打測(cè)試（或用儀器測(cè)試電性能），測(cè)試持續(xù)時(shí)間到后在該溫度下進(jìn)行電性能和功能測(cè)試，最終檢測(cè)：將試驗(yàn)樣品回溫 2h 后進(jìn)行功能、外觀、機(jī)械和電性能等檢測(cè)。中間檢測(cè)及最終檢測(cè)均正常測(cè)試才為合格。 項(xiàng)目 PR1 階段，首次量產(chǎn)，更改重要元器件或元器件的供應(yīng)商，結(jié)構(gòu)材料變更；4試驗(yàn)中手機(jī)處于待機(jī)狀態(tài)。主叫可采用直接拔打 112的方式。恒定濕熱試驗(yàn)T=402，RH=933%，試驗(yàn)時(shí)間 48 小時(shí)，測(cè)試過(guò)程中需進(jìn)行中間檢測(cè)，進(jìn)行主叫撥打測(cè)試（或用儀器測(cè)試電性能），測(cè)試時(shí)間到后在該溫度下進(jìn)行電性能和功能測(cè)

8、試，回溫 2h 后檢測(cè)呼叫連接、外觀、機(jī)械等應(yīng)正常。項(xiàng)目 PR1 階段，首次量產(chǎn)必須要測(cè)，更改重要元器件或元器件的供應(yīng)商，結(jié)構(gòu)材料變更4試驗(yàn)中手機(jī)處于待機(jī)狀態(tài)。（翻蓋手機(jī)翻蓋處于打開(kāi)狀態(tài)，使用大 LCD 也處于工作狀態(tài)，主叫采用撥打112 的方式）。濕熱循環(huán)試驗(yàn)從室溫以不大于 1/MIN 速度變到 40，RH:933%，保持 1H；再以不大于 1/min速度變到-10，保持 1h；循環(huán) 13 次。循環(huán)期滿，回溫 2H 后檢測(cè)功能、外觀、機(jī)械和電性能應(yīng)正常。項(xiàng)目 PR1 階段，首次量產(chǎn)，更改重要元器件或元器件的供應(yīng)商，結(jié)構(gòu)材料變更；4試驗(yàn)中手機(jī)處于待機(jī)狀態(tài) V1.0 整機(jī)測(cè)試手冊(cè)第 7 頁(yè) 共

9、11 頁(yè)鹽霧測(cè)試三個(gè)噴霧周期，每個(gè)2h，每個(gè)噴霧周期后有一個(gè)為期22h的濕熱儲(chǔ)存周期。噴霧條件為溫度為(1535)，濃度為(5.0 1)的氯化鈉溶液；儲(chǔ)存條件為(40 2),相對(duì)濕度為 9095項(xiàng)目 PR1 階段2手機(jī)帶電池關(guān)機(jī)狀態(tài)防塵試驗(yàn)將手機(jī)放置在粉塵試驗(yàn)箱內(nèi)，樣品體積綜合不得超過(guò)試驗(yàn)箱有效空間的 1/3，底面積不得超過(guò)有效水平在積的 1/2；與實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)壁距離應(yīng)不小于 100mm。啟動(dòng)粉塵試驗(yàn)箱，使氣流能夠?qū)⒒覊m均勻緩慢地沉降在試驗(yàn)樣品上，最大值不得超過(guò) 2m/s。測(cè)試時(shí)間到后，將手機(jī)在粉塵箱內(nèi)靜置 2H，進(jìn)行功能、外觀及裝配檢測(cè)。（在儀器未到位前，也可采用袋子裝上少許灰塵，把手機(jī)裝進(jìn)袋子

10、且用人手抖動(dòng)袋子 1 分鐘方式）。 項(xiàng)目 PR1 階段，首次量產(chǎn)；2試驗(yàn)中手機(jī)帶電池關(guān)機(jī)。 測(cè)試后的手機(jī)顯示區(qū)域內(nèi)、攝相頭區(qū)域內(nèi)不得有粉塵出現(xiàn)。 備注：對(duì)于本環(huán)境測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)中未涉及的新工藝，新標(biāo)準(zhǔn)，可以根據(jù)具體情況采用行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)進(jìn)行測(cè)試。備注：對(duì)于本環(huán)境測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)中未涉及的新工藝，新標(biāo)準(zhǔn)，可以根據(jù)具體情況采用行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)進(jìn)行測(cè)試。 * *防塵測(cè)試在沒(méi)有專用測(cè)試儀器的情況下，可以采用手動(dòng)測(cè)試的方式代替。防塵測(cè)試在沒(méi)有專用測(cè)試儀器的情況下，可以采用手動(dòng)測(cè)試的方式代替。 3.4 壽命測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) 測(cè)試項(xiàng)目測(cè)試方法/標(biāo)準(zhǔn)主要測(cè)試階段數(shù)量注意事項(xiàng)以 4060 次/分鐘的速度翻動(dòng)翻蓋，來(lái)回為1 次，要求翻蓋達(dá)到最大

11、轉(zhuǎn)動(dòng)位置。每3000 次檢查 1 次。要求翻蓋最少測(cè)試 8 萬(wàn)次。測(cè)試結(jié)束后首先對(duì)樣品進(jìn)行功能、結(jié)構(gòu)檢測(cè)；然后拆機(jī)檢查鉸鏈周圍殼體以及FPC 有無(wú)外觀異常，并對(duì) FPC 阻值進(jìn)行測(cè)量。 第一次裝機(jī)，首次量產(chǎn)，轉(zhuǎn)軸供應(yīng)商變更；4翻/滑蓋壽命試驗(yàn)以 4060 次/分鐘的速度滑動(dòng)滑蓋，來(lái)回為1 次，要求滑動(dòng)達(dá)到最大行程位置。每3000 次檢查 1 次。要求滑蓋最少測(cè)試 10萬(wàn)次。測(cè)試結(jié)束后首先對(duì)樣品進(jìn)行功能、結(jié)構(gòu)檢測(cè)；然后拆機(jī)檢查滑軌、FPC 外觀，并對(duì) FPC 阻值進(jìn)行測(cè)量。 第一次裝機(jī)，首次量產(chǎn)，轉(zhuǎn)軸供應(yīng)商變更；4測(cè)試中手機(jī)處于待機(jī)狀態(tài)；測(cè)試中手機(jī)應(yīng)無(wú)異常（關(guān)機(jī)，顯示亂等）；測(cè)試后手機(jī)應(yīng)無(wú)結(jié)構(gòu)松

12、動(dòng)，響聲等，外觀無(wú)掉漆、裂痕；殼體無(wú)破裂，F(xiàn)PC 無(wú)破裂； V1.0 整機(jī)測(cè)試手冊(cè)第 8 頁(yè) 共 11 頁(yè)Speaker 壽命測(cè)試采用電池加旅充充電的供電方式或者直接用 4.2V 直流電源供電方式，將試驗(yàn)樣機(jī)設(shè)置成長(zhǎng)時(shí)間播放狀態(tài)（采用播放 MP3，循環(huán)連續(xù)播放），連續(xù)播放時(shí)間不少于120H，功能應(yīng)正常。 項(xiàng)目 PR1 階段，speaker 音頻參數(shù)調(diào)整，供應(yīng)商變更；6選用音頻較高的歌曲；測(cè)試中突然掉電不超過(guò) 1 分鐘可以累積測(cè)試時(shí)間，超過(guò) 1 分鐘必須重新計(jì)算。馬達(dá)振動(dòng)壽命試驗(yàn)將手機(jī)設(shè)置為馬達(dá)長(zhǎng)時(shí)間振動(dòng)狀態(tài)，試驗(yàn)時(shí)間不少于 72H；對(duì)于單體馬達(dá)可采用：2 秒開(kāi) 1 秒關(guān)為一個(gè)周期，循環(huán) 5萬(wàn)次

13、以上，馬達(dá)功能應(yīng)正常。項(xiàng)目 PR1 階段，更換馬達(dá)供應(yīng)商；3單體振動(dòng)周期選取參考手機(jī)實(shí)際使用定出，選取最接近的振動(dòng)周期進(jìn)行測(cè)試機(jī)械按鍵壽命測(cè)試以 4060 次/分鐘的速度，不小于 5N 的力度均勻按鍵，Dome：10 萬(wàn)次；Switch：5萬(wàn)次；導(dǎo)航鍵：6 萬(wàn)次，每 2 萬(wàn)次檢查 1次，試驗(yàn)后功能應(yīng)正常。項(xiàng)目 PR1 階段，DOME 供應(yīng)商、按鍵設(shè)計(jì)變更；2手機(jī)處于關(guān)機(jī)狀態(tài)電池插拔測(cè)試裝上電池再取下電池。累計(jì) 2000 次以上。每插拔 100 次開(kāi)機(jī)檢查一次，手機(jī)功能應(yīng)正常。項(xiàng)目 PR1 階段，電池連接器變更；2測(cè)試速度不超過(guò) 30 次/分（插入拔出算一次）SIM 卡插拔測(cè)試插入 SIM 卡再

14、取出，累計(jì) 1000 次。每插拔100 次開(kāi)機(jī)檢查一次，手機(jī)不能有不識(shí)卡現(xiàn)象，測(cè)試完畢手機(jī)功能應(yīng)正常。（2 合一，3 合一卡座特殊處理）項(xiàng)目 PR1 階段，更換 SIM 卡座供應(yīng)商；2測(cè)試速度不超過(guò) 30 次/分（插入拔出算一次）外置內(nèi)存卡插拔試驗(yàn)插入內(nèi)存卡再取出，累計(jì) 1000 次。不支持熱插拔的機(jī)型，每插拔 100 次開(kāi)機(jī)檢查一次，支持熱插拔的機(jī)型必須在開(kāi)機(jī)狀態(tài)下測(cè)試，每插拔 100 次檢查一次，要求測(cè)試后存儲(chǔ)卡結(jié)構(gòu)正常（不能破裂），手機(jī)無(wú)不識(shí)卡問(wèn)題，內(nèi)存卡中的內(nèi)容不可丟失。項(xiàng)目 PR1 階段，更換 T 卡座供應(yīng)商；2插拔頻率不超過(guò) 30 次/分鐘。（插入拔出算一次）耳機(jī)插孔插拔試驗(yàn)將耳機(jī)

15、垂直插入耳機(jī)孔后，再垂直拔出，如此反復(fù)，累計(jì) 3000 次。功能應(yīng)正常。項(xiàng)目 PR1 階段，更換耳機(jī)插孔供應(yīng)商；2插拔頻率不超過(guò) 3040 次/分鐘。（插入拔出算一次）若手機(jī)采用數(shù)據(jù)線、耳機(jī)、充電器三合一接口，需要采用三種配件對(duì)應(yīng)同一個(gè)母座各測(cè)試 3000 次。I/O 插拔測(cè)試插入數(shù)據(jù)線再拔下，累計(jì) 3000 次。每插拔100 次開(kāi)機(jī)檢查一次，手機(jī)功能應(yīng)正常。項(xiàng)目 PR1 階段，更換 I/O 口供應(yīng)商；2插拔頻率不超過(guò) 30 次/分鐘。（插入拔出算一次）若手機(jī)采用數(shù)據(jù)線、耳機(jī)、充電器三合一接口，需要采用三種配件對(duì)應(yīng)同一個(gè)母座各測(cè)試 3000 次。 V1.0 整機(jī)測(cè)試手冊(cè)第 9 頁(yè) 共 11 頁(yè)

16、電池蓋插拔測(cè)試插上電池后蓋再拔下，累計(jì) 1000 次，外觀、功能應(yīng)正常。 項(xiàng)目 PR1 階段，更換電池蓋材料/供應(yīng)商；2插拔頻率不超過(guò) 30 次/分鐘 （插入拔出算一次）手寫筆插拔測(cè)試手寫筆垂直插入手機(jī)再拔出為一次，插拔10000 次，實(shí)驗(yàn)中檢查手機(jī)與手寫筆的配合有無(wú)不順暢現(xiàn)象。測(cè)試完畢后手機(jī)與手寫筆外觀、結(jié)構(gòu)應(yīng)正常。（試驗(yàn)速率：25 次/分鐘）項(xiàng)目 PR1 階段，更換手寫筆供應(yīng)商；210000次測(cè)試后，手機(jī)殼體卡扣彈片功能正常，無(wú)破裂；手寫筆可以鎖緊不會(huì)滑落，多段設(shè)計(jì)的手寫筆，拉出后應(yīng)為伸長(zhǎng)狀態(tài)觸摸屏點(diǎn)擊試驗(yàn)將手機(jī)固定在點(diǎn)擊測(cè)試儀器上，用固定在尖端的隨機(jī)手寫筆，加載 150g 的力，對(duì)觸摸屏

17、點(diǎn)擊 25 萬(wàn)次，每 5 萬(wàn)次對(duì)屏幕進(jìn)行檢查并清潔；手機(jī)處于待機(jī)狀態(tài)；測(cè)試完畢后，觸摸屏表面無(wú)損傷，功能正常。點(diǎn)擊速率：約 1 次/秒第一次送樣，更換 TP、觸摸IC；或更換LCD 供應(yīng)商；2采用手機(jī)自帶手寫筆進(jìn)行測(cè)試，同時(shí)驗(yàn)證手寫筆的可靠性。觸摸屏劃線試驗(yàn)將手機(jī)固定在劃線測(cè)試儀器上，用手機(jī)自帶的手寫筆沿觸摸屏的對(duì)角線進(jìn)行劃線測(cè)試，劃線壓力為 150g 力，測(cè)試次數(shù) 10 萬(wàn)次（反復(fù)來(lái)回為 2 次），每 1 萬(wàn)次對(duì)觸摸屏功能、結(jié)構(gòu)和外觀進(jìn)行檢測(cè)，并對(duì)觸摸屏進(jìn)行清潔。測(cè)試結(jié)束后，觸摸屏功能應(yīng)正常，外觀無(wú)損傷（劃痕）。（劃線速度：約 30mm/秒）第一次送樣，更換 TP、觸摸IC，或更換LCD 供

18、應(yīng)商；2劃線測(cè)試距離不小于屏幕對(duì)角線距離的 1/3。備注：觸摸屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)為選作測(cè)試項(xiàng)目，只針對(duì)備注：觸摸屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)為選作測(cè)試項(xiàng)目，只針對(duì) TP 的新供應(yīng)商樣品做驗(yàn)證測(cè)試，標(biāo)準(zhǔn)屏不再安排此的新供應(yīng)商樣品做驗(yàn)證測(cè)試，標(biāo)準(zhǔn)屏不再安排此項(xiàng)測(cè)試。項(xiàng)測(cè)試。3.5 機(jī)械強(qiáng)度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試項(xiàng)目測(cè)試方法/標(biāo)準(zhǔn)主要測(cè)試階段數(shù)量注意事項(xiàng)跌落試驗(yàn)（單機(jī)）試驗(yàn)樣機(jī)插 SIM 卡，并裝配電池，手機(jī)處于正常待機(jī)狀態(tài)。將樣品放置在垂直跌落試驗(yàn)儀上，將高度調(diào)到 1.3m ，進(jìn)行垂直跌落測(cè)試。每個(gè)面各測(cè) 2 次，共跌落 12 次。跌落測(cè)試后，首先對(duì)樣品進(jìn)行外觀、功能，結(jié)構(gòu)檢測(cè)，記錄測(cè)試狀態(tài)后，再進(jìn)行拆機(jī)檢測(cè)。 （2.8 的

19、屏適用 1.3 米，2.8的屏適用 1 米） 第一次裝機(jī)，項(xiàng)目 PR1，首次量產(chǎn)，電池、殼體、屏等大的器件變更及供應(yīng)商變更；4試驗(yàn)從手機(jī)的最小面開(kāi)始跌落，每個(gè)循環(huán)中LCD 面為最后跌落面；有翻蓋（滑蓋）的移動(dòng)電話機(jī)應(yīng)將蓋合上；跌落后進(jìn)行外觀檢查，磨損是可以的，但不應(yīng)有破裂以及裂痕；電池蓋易脫落，手寫筆易脫出，兩次以內(nèi)的掉卡或掉電以及膠塞拉出但未脫落等現(xiàn)象不作為不合格的判定依據(jù)。 拆機(jī)檢測(cè)：內(nèi)部殼體無(wú)破裂機(jī)變形，定位柱等無(wú)變 V1.0 整機(jī)測(cè)試手冊(cè)第 10 頁(yè) 共 11 頁(yè)形，確保主板定位良好，主板元器件無(wú)損傷。試驗(yàn)中，若因?yàn)樵O(shè)計(jì)原因，無(wú)法滿足跌落后電池后蓋任然鎖緊狀態(tài)，可采用加貼膠紙的方式固定

20、電池蓋后再進(jìn)行測(cè)試 撞擊試驗(yàn)單體測(cè)試： 將單體顯示屏固定在剛性支撐面上，用 45g 鋼球，從 50cm 高處，以初速為 O 的狀態(tài)，垂直沖擊鏡片中心點(diǎn)位置共5 次。試驗(yàn)結(jié)束后，對(duì)樣品進(jìn)行外觀檢測(cè)。 整機(jī)測(cè)試：將試驗(yàn)樣品裝上配套電池。不開(kāi)機(jī)狀態(tài)下依靠在剛性的支撐面上，用 45g鋼球，從 50cm 高處，以初速為 O 的狀態(tài)，垂直沖擊中心位置共 5 次。試驗(yàn)結(jié)束后，對(duì)樣品進(jìn)行功能、外觀及裝配檢測(cè)。第一次裝機(jī)，改 LCD 組件或供應(yīng)商變更2單體測(cè)試試驗(yàn)： 采用45g鋼球從50cm處垂直落下的方式進(jìn)行。 單體測(cè)試后，顯示屏外觀無(wú)損傷，功能應(yīng)正常。 整機(jī)測(cè)試試驗(yàn)： 采用45g鋼球從50cm處垂直落下的方式進(jìn)行。 整機(jī)測(cè)試后，手機(jī)顯示應(yīng)無(wú)異常，觸摸屏外觀、功能應(yīng)正常。(不適用TP)微跌試驗(yàn)樣機(jī)插 SIM 卡開(kāi)機(jī)狀態(tài)，高度為 7cm 跌落到地面為 PVC（厚度 4m