QZTT3002-2016無源分布系統(tǒng)多系統(tǒng)接入平臺(tái)(POI)檢測規(guī)范

1、中國鐵塔股份有限公司企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)Q/ZTT 30022016代替Q/ZTT 1003.22014 無源分布系統(tǒng)多系統(tǒng)接入平臺(tái)（POI） 檢測規(guī)范Passive Distribution System Multi-system Point of Interface (POI) Test Specification版本號(hào)：V2.02016 - 02 - 15發(fā)布2016 - 02 - 15實(shí)施中國鐵塔股份有限公司發(fā)布 Q/ZTT 30022016目次前言III1 范圍12 規(guī)范性引用文件13 術(shù)語和定義24 檢測項(xiàng)目35 基本測試環(huán)境35.1 常規(guī)測試條件35.2 極限測試條件35.3 不確定度及判定

2、依據(jù)46 電氣指標(biāo)測試要求46.1 插入損耗和帶內(nèi)波動(dòng)46.2 駐波比56.3 端口（系統(tǒng)）隔離度66.4 單系統(tǒng)互調(diào)66.5 二階互調(diào)和組合互調(diào)86.6 功率容量106.6.1 環(huán)境驗(yàn)證106.6.2 加入待測POI設(shè)備116.6.3 向待測件發(fā)送大功率116.6.4 加電加信號(hào)進(jìn)行測試116.6.5 結(jié)果判定117 環(huán)境與可靠性試驗(yàn)檢測要求127.1 環(huán)境與可靠性試驗(yàn)檢測項(xiàng)目127.2 環(huán)境與可靠性試驗(yàn)條件127.2.1 振動(dòng)試驗(yàn)137.2.2 高溫試驗(yàn)137.2.3 低溫試驗(yàn)157.2.4 恒定濕熱試驗(yàn)（選做）167.2.5 鹽霧試驗(yàn)（選做）168 結(jié)構(gòu)和工藝的檢測要求16附 錄 A （

3、規(guī)范性附錄） 測量設(shè)備要求18A.1 試驗(yàn)負(fù)載18A.2 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀18A.3 校準(zhǔn)件18A.4 電纜標(biāo)準(zhǔn)測試件18A.5 互調(diào)測試儀18A.6 高低濕溫箱19A.7 調(diào)溫調(diào)濕箱19A.8 振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)19A.9 鹽霧試驗(yàn)箱19 19前言本標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)相關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，結(jié)合中國鐵塔股份有限公司（以下均簡稱為“中國鐵塔”）的實(shí)際情況，細(xì)化和明確了無源分布系統(tǒng)多系統(tǒng)接入平臺(tái)（POI）的檢測規(guī)范，滿足多系統(tǒng)共享室內(nèi)分布系統(tǒng)的應(yīng)用需求，并為入網(wǎng)檢測和無源分布系統(tǒng)建設(shè)提供技術(shù)依據(jù)。本標(biāo)準(zhǔn)主要包含多系統(tǒng)接入平臺(tái)（POI）產(chǎn)品的檢測項(xiàng)目和檢測要求，適用于多系統(tǒng)接入平臺(tái)（POI）產(chǎn)品的質(zhì)量檢測，適用于送檢

4、和抽檢產(chǎn)品的檢測。本標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)和同期發(fā)布的Q/ZTT 3001-2016無源分布系統(tǒng)多系統(tǒng)接入平臺(tái)（POI）技術(shù)要求配套使用。本標(biāo)準(zhǔn)代替Q/ZTT 1003.2-2014無源分布系統(tǒng)多系統(tǒng)接入平臺(tái)（POI）技術(shù)要求和測試方法（試行）中測試方法相關(guān)的內(nèi)容。自本標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布之日起，原標(biāo)準(zhǔn)同時(shí)廢止。本標(biāo)準(zhǔn)由中國鐵塔通信技術(shù)研究院負(fù)責(zé)解釋和監(jiān)督執(zhí)行。本標(biāo)準(zhǔn)主編單位：中國鐵塔通信技術(shù)研究院。無源分布系統(tǒng)多系統(tǒng)接入平臺(tái)（POI）檢測規(guī)范1 范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了多系統(tǒng)接入平臺(tái)（POI）產(chǎn)品的檢測項(xiàng)目和檢測要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于中國鐵塔股份有限公司規(guī)定的多系統(tǒng)接入平臺(tái)（POI）產(chǎn)品的質(zhì)量檢測，適用于送檢和抽檢產(chǎn)品的檢測。2

5、規(guī)范性引用文件下列國家及行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于本標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用必不可少。凡是注日期的，僅注日期的版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。凡是不注日期的，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。YD/T 883-2009 900/1800MHz TDMA數(shù)字蜂窩移動(dòng)通信網(wǎng)基站子系統(tǒng)設(shè)備技術(shù)要求及無線指標(biāo)測試方法YD/T 1556-2013 800MHz/2GHz cdma2000數(shù)字蜂窩移動(dòng)通信網(wǎng)設(shè)備技術(shù)要求 基站子系統(tǒng)YD/T 2738-2014 2GHz WCDMA數(shù)字蜂窩移動(dòng)通信網(wǎng)無線接入子系統(tǒng)設(shè)備技術(shù)要求（第七階段）增強(qiáng)型高速分組接入（HSPA+）YD/T 1782-2011 2GHz TD-SCDMA數(shù)字蜂窩移動(dòng)通信網(wǎng) 多媒體廣播系統(tǒng)

6、無線接入子系統(tǒng)設(shè)備技術(shù)要求（第一階段）YD/T 1849-2015 2GHz TD-SCDMA 數(shù)字蜂窩移動(dòng)通信網(wǎng) 高速上行分組接入（HSUPA）無線接入子系統(tǒng)設(shè)備技術(shù)要求YD/T 2573-2013 LTE FDD數(shù)字蜂窩移動(dòng)通信網(wǎng) 基站設(shè)備技術(shù)要求（第一階段）YD/T 2571-2015 TD-LTE數(shù)字蜂窩移動(dòng)通信網(wǎng) 基站設(shè)備技術(shù)要求（第一階段）YD/T 2164.4-2013 電信基礎(chǔ)設(shè)施共建共享技術(shù)要求 第4部分：室內(nèi)分布系統(tǒng)YD/T 5120-2015 無線通信室內(nèi)覆蓋系統(tǒng)工程設(shè)計(jì)規(guī)范YD/T 2740.1-2014 無線通信室內(nèi)信號(hào)分布系統(tǒng) 第1部分：總體技術(shù)要求YD/T 274

7、0.5-2014 無線通信室內(nèi)信號(hào)分布系統(tǒng) 第5部分：無源器件技術(shù)要求和測試方法YD 5191-2009 電信基礎(chǔ)設(shè)施共建共享工程技術(shù)暫行規(guī)定3GPP TS05.05 無線發(fā)射和接收3GPP TS25.104 FDD基站無線發(fā)射和接收3GPP TS25.105 TDD基站無線發(fā)射和接收3GPP2 C.S0010-C cdma2000基站系統(tǒng)的推薦最低性能3GPP TS36.104 E-UTRA基站系統(tǒng)的最低性能3 術(shù)語和定義以下術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。3.1 多系統(tǒng)接入平臺(tái) Point of Interface簡稱POI，指位于多系統(tǒng)基站信源與室內(nèi)分布系統(tǒng)天饋之間的特定設(shè)備，它相當(dāng)于性能指標(biāo)更

8、高的合路設(shè)備，將多系統(tǒng)基站信源的下行信號(hào)進(jìn)行合路并輸出給室內(nèi)分布系統(tǒng)的天饋設(shè)備，同時(shí)反方向?qū)碜蕴祓佋O(shè)備的上行信號(hào)分路輸出給各系統(tǒng)信源。3.2 插入損耗 Insertion Loss發(fā)射機(jī)輸出功率和接收機(jī)輸入功率通過POI引起的傳輸損耗，包括功率分配損耗、導(dǎo)體損耗、介質(zhì)損耗、反射損耗等。3.3 電壓駐波比 Voltage Standing-wave Ratio (VSWR)POI的輸出端口與標(biāo)稱阻抗負(fù)載相連接，信源輸入端與無損耗傳輸線相連接并當(dāng)作其負(fù)載時(shí)，該傳輸線中駐波電壓的最大值與最小值之比。3.4 端口（系統(tǒng)）隔離度 IsolationPOI接入的不同系統(tǒng)發(fā)射頻段載波功率與此載波在其它系統(tǒng)

9、端口上可得到的功率之比（-10lgP（反）/P（in）。3.5 無源互調(diào) Passive Intermodulation無源互調(diào)是指當(dāng)兩個(gè)或多個(gè)發(fā)射頻率信號(hào)經(jīng)過POI時(shí)，由于非線性而引起的新的頻率分量。POI應(yīng)具備一定的互調(diào)抑制能力。3.6 功率容量 Power CapacityPOI正常工作時(shí)信源側(cè)端口所允許的最大輸入功率，其衡量標(biāo)準(zhǔn)分為平均功率和峰值功率。3.7 帶內(nèi)波動(dòng) Inband RipplePOI傳輸頻帶內(nèi)信號(hào)的最大衰減與最小衰減的差值。4 檢測項(xiàng)目表1 POI檢測項(xiàng)目說明序號(hào)分類指標(biāo)備注1電氣性能指標(biāo)平均功率容量2插入損耗3駐波比4端口（系統(tǒng)）隔離度5帶內(nèi)波動(dòng)6互調(diào)抑制包含單系統(tǒng)

10、互調(diào)、二階互調(diào)和組合互調(diào)7環(huán)境與可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目振動(dòng)試驗(yàn)8高溫試驗(yàn)9低溫試驗(yàn)10恒定濕熱試驗(yàn)選做11鹽霧試驗(yàn)選做12結(jié)構(gòu)和工藝檢測項(xiàng)目產(chǎn)品外觀和內(nèi)部排列結(jié)構(gòu)13三維尺寸和凈重量14電纜走線和射頻連接電纜規(guī)格15器件螺桿與平行平面的距離16壁掛安裝型設(shè)備的孔位間距5 基本測試環(huán)境5.1 常規(guī)測試條件除特殊規(guī)定外，所有測試均應(yīng)在下列條件下進(jìn)行： 溫度：+15+35； 相對(duì)濕度：45%75% ； 大氣壓：70kPa106kPa。5.2 極限測試條件極限測試條件參考6.2節(jié)中環(huán)境試驗(yàn)要求。5.3 不確定度及判定依據(jù)Q/ZTT 3001-2016無源分布系統(tǒng)多系統(tǒng)接入平臺(tái)（POI）技術(shù)要求（V2.0）中定

11、義的所有指標(biāo)，均已包含測試系統(tǒng)不確定度影響，所有指標(biāo)測試判斷均按照技術(shù)要求中定義的指標(biāo)要求判斷。6 電氣指標(biāo)測試要求6.1 插入損耗和帶內(nèi)波動(dòng)a) 設(shè)置網(wǎng)絡(luò)分析儀的中頻帶寬為1KHz，POWER為0dBm，掃描點(diǎn)數(shù)最低為801，可以設(shè)置更多的掃描點(diǎn)數(shù)，對(duì)測試儀表進(jìn)行雙端口校準(zhǔn)；b) 按圖1所示連接測試系統(tǒng)，網(wǎng)分的PORT1接POI的輸入端口(比如CDMA850)，網(wǎng)分PORT2接合路口(ANT1口)，在其他端口和ANT2上加匹配負(fù)載；圖1 插入損耗和帶內(nèi)波動(dòng)測試c) 設(shè)置矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的工作頻段為該輸入端口的工作頻段，下行鏈路顯示參數(shù)為S21、上行鏈路顯示參數(shù)為S12；d) 讀取曲線上的最大值

12、和最小值；e) 最小值的絕對(duì)值即為測試端口通路的插入損耗；f) 用最小值的絕對(duì)值減去最大值的絕對(duì)值即為測試通路的帶內(nèi)波動(dòng)；g) 更換輸入端口或輸出端口，更改網(wǎng)分的頻段為待測頻段，用同樣方法測試所有通路的插損和帶內(nèi)波動(dòng)；h) 比較所測所有端口測試值，將最大值（最差值）記錄為設(shè)備的插入損耗和帶內(nèi)波動(dòng)；i) 測試低頻透傳端口插入損耗時(shí)，把POI的其他輸入端口接負(fù)載，網(wǎng)絡(luò)分析儀的PORT1和PORT2分別接到ANT1和ANT2端口，讀取透傳系統(tǒng)對(duì)應(yīng)頻段的S21和S12的最差值即為透傳端口插入損耗。6.2 駐波比a) 設(shè)置網(wǎng)絡(luò)分析儀的中頻帶寬為1KHz，POWER為0dBm，掃描點(diǎn)數(shù)最低為801，可以設(shè)

13、置更多的掃描點(diǎn)數(shù)，對(duì)測試儀表進(jìn)行校準(zhǔn)；b) 按圖2所示連接測試系統(tǒng)，網(wǎng)分的PORT1接POI的輸入端口(比如CDMA850)，網(wǎng)分PORT2接合路口(ANT1口)，在其他端口和ANT2上加匹配負(fù)載；圖2 駐波比測試c) 測試POI設(shè)備電壓駐波比時(shí)，將測試帶寬分別設(shè)置為每個(gè)通路的工作頻段，顯示參數(shù)為S11； d) 分別讀取每段測試帶寬曲線上的最大值，再比較每個(gè)頻段內(nèi)的最大值（最差值）即POI設(shè)備駐波比，S11為輸入駐波比；e) 更換其它頻段輸入端口重復(fù)上述操作，測試其它端口駐波時(shí)，將測試帶寬設(shè)置為該通路工作頻段即可；f) 比較所測所有端口測試值，最大值（最差值）即POI設(shè)備的輸入端口駐波比；g)

14、 測試低頻透傳端口駐波時(shí)，把網(wǎng)絡(luò)分析儀的PORT1和PORT2分別接到ANT1和ANT2端口，讀取透傳系統(tǒng)對(duì)應(yīng)頻段的S11和S22的最差值即為透傳端口駐波比。6.3 端口（系統(tǒng)）隔離度a) 設(shè)置網(wǎng)絡(luò)分析儀的中頻帶寬為1KHz，POWER為0dBm，掃描點(diǎn)數(shù)最低為801，可以設(shè)置更多的掃描點(diǎn)數(shù)，對(duì)測試儀表進(jìn)行雙端口校準(zhǔn)；b) 按圖3所示連接測試系統(tǒng)，除待測端口外，在其他端口加匹配負(fù)載；圖3 端口隔離度測試c) 設(shè)置矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的工作頻段為PORT1接入端口的工作頻段，顯示參數(shù)為S21；將2個(gè)ANT口全部連接匹配負(fù)載；d) 讀取PORT1接入端口工作頻段的S21曲線上的最大值（最差值），其絕對(duì)值

15、為該P(yáng)ORT1接入端口對(duì)PORT2接入端口的隔離度；e) 更換其它端口重復(fù)上述操作。6.4 單系統(tǒng)互調(diào)a) 根據(jù)端口工作頻率范圍配置合適工作制式的互調(diào)測試儀分別測試；b) 按照?qǐng)D4連接測試系統(tǒng)，POI設(shè)備輸入端口接儀表REV端口(2載波功率輸出端口)，其他輸出端口接低互調(diào)測試負(fù)載，其余輸入端口可空載，如有條件最好接低互調(diào)負(fù)載，各接口均使用力矩扳手按規(guī)定力矩（N頭：1015N；DIN頭：1520N）擰緊，測試完畢前不得再次觸碰測試電纜和被測設(shè)備；c) 按照表2說明設(shè)置互調(diào)測試儀載波頻率和無源互調(diào)階數(shù)；d) 設(shè)置互調(diào)測試儀輸出功率，兩載波均為43dBm；e) 設(shè)置互調(diào)測試儀測試模式，要求為反向(R

16、erverse)模式；f) 設(shè)置互調(diào)測試儀掃描方式，要求為掃頻方式；g) 執(zhí)行測試；h) 讀取儀表所顯示的電平值；i) 取最大電平值即為該次測試反射模式的無源互調(diào)值；j) 更換端口或者互調(diào)儀類型，對(duì)所有的端口分別進(jìn)行測試；k) 所有測試值中的最大值（最差值）記為該P(yáng)OI設(shè)備的無源互調(diào)值；l) 第一次測試中發(fā)現(xiàn)設(shè)備互調(diào)指標(biāo)測試不合格時(shí)，重新連接所有接頭（連接要求與步驟b中一致），再進(jìn)行一次測試。單個(gè)設(shè)備的單個(gè)端口最多允許測試3 次，在3次測試結(jié)果中取最優(yōu)值記為該端口的反射互調(diào)結(jié)果。圖4 單系統(tǒng)互調(diào)測試示意圖表2 單系統(tǒng)互調(diào)測試說明頻段系統(tǒng)下行（MHz）上行（MHz）互調(diào)測試階數(shù)要求頻段1移動(dòng)/聯(lián)

17、通GSM900934-960889-915寬帶掃頻-三階頻段2移動(dòng)GSM18001805-18301710-1735下行25M-七階頻段3移動(dòng)TD-LTE（F頻段）1885-1915不做測試(TDD)頻段4移動(dòng)TD-LTE（E頻段）2320-2370不做測試(TDD)頻段5電信CDMA800865-880820-835不做測試(不落入上行)頻段6電信LTE FDD1.8G1860-18801765-1785不做測試(不落入上行)頻段7電信LTE FDD2.1G2110-21301920-1940不做測試(不落入上行)頻段8聯(lián)通GSM1800/LTE FDD1.8G1830-18601735-1

18、765下行30M-七階頻段9聯(lián)通WCDMA21002130-21701940-1980不做測試(不落入上行)頻段10移動(dòng)TD-SCDMA（A頻段）2010-2025不做測試(TDD)頻段11電信TD-LTE2.3G2370-2390不做測試(TDD)頻段12聯(lián)通TD-LTE2.3G2300-2320不做測試(TDD)6.5 二階互調(diào)和組合互調(diào)圖5 二階互調(diào)測試示意圖圖6 組合互調(diào)測試示意圖a) 根據(jù)測試目的設(shè)置功放功率，無要求時(shí)使用默認(rèn)功率為43dBm；b) 分別按照如圖5和圖6的連接方式連接，不接被測件時(shí)應(yīng)保證系統(tǒng)殘余互調(diào)小于-160dBc；c) 分別按照表3和表4（具體操作時(shí)可選擇全部或者

19、其中部分組合）設(shè)置互調(diào)測試儀載波頻率，在測試設(shè)備滿足條件情況下，盡量按照對(duì)應(yīng)系統(tǒng)進(jìn)行掃頻測試；d) 按照測試需求將被測件相應(yīng)端口連接至互調(diào)儀對(duì)應(yīng)端口；e) 設(shè)置互調(diào)測試儀輸出功率，兩載波均為43dBm；f) 設(shè)置互調(diào)測試儀掃描方式，要求為掃頻方式；g) 執(zhí)行測試；h) 讀取儀表所顯示的電平值；i) 第一次測試中發(fā)現(xiàn)設(shè)備互調(diào)指標(biāo)測試不合格時(shí)，重新連接所有接頭（連接要求與步驟b中一致），再進(jìn)行一次測試。單個(gè)設(shè)備的單個(gè)端口最多允許測試3 次，在3次測試結(jié)果中取最優(yōu)值記為該端口的反射或傳輸互調(diào)結(jié)果。表3 二階互調(diào)測試說明干擾系統(tǒng)下行頻段（MHz）二階互調(diào)頻段（MHz）（F1+F2）受干擾系統(tǒng)受干擾頻段

20、（MHz）電信CDMA800865-8801730-1760移動(dòng)GSM1800/聯(lián)通GSM1800/LTE FDD1.8G1730-1735/1735-1760移動(dòng)GSM900934-9541868-1908移動(dòng)TD-LTE(F頻段)1885-1908表4 組合互調(diào)測試說明組合方案掃頻設(shè)置點(diǎn)頻設(shè)置受干擾系統(tǒng)聯(lián)通LTE FDD1.8G+移動(dòng)TD-LTE(F頻段)聯(lián)通LTE FDD1.8G：1830-1860MHz移動(dòng)TD-LTE(F頻段)：1885-1915MHz聯(lián)通LTE FDD1.8G：1850MHz移動(dòng)TD-LTE(F頻段)：1900MH聯(lián)通LTE FDD1.8G聯(lián)通WCDMA2100電信

21、LTE FDD2.1G聯(lián)通LTE FDD1.8G+電信LTE FDD1.8G聯(lián)通LTE FDD1.8G：1830-1860MHz電信LTE FDD1.8G：1860-1880MHz聯(lián)通LTE FDD1.8G：1850MHz電信LTE FDD1.8G：1870MHz移動(dòng)TD-LTE(F頻段)電信LTE FDD1.8G+電信LTE FDD2.1G電信LTE FDD1.8G：1860-1880MHz電信LTE FDD2.1G：2110-2130MHz電信LTE FDD1.8G：1865MHz電信LTE FDD2.1G：2115MHz移動(dòng)TD-LTE(E頻段) 電信TD-LTE2.3G電信CDMA80

22、0+電信CDMA800電信CDMA800：878-880電信CDMA800：865-867MHz電信CDMA800：880MHz電信CDMA800：865MHz移動(dòng)GSM900電信CDMA800+移動(dòng)GSM900電信CDMA800：878-880MHz移動(dòng)GSM900：934-936MHz電信CDMA800：878 MHz移動(dòng)GSM900：936 MHz電信CDMA800聯(lián)通WCDMA2100+電信TD-LTE2.3G聯(lián)通WCDMA2100：2165-2170 MHz電信TD-LTE2.3G：2370-2390 MHz聯(lián)通WCDMA2100：2165MHz電信TD-LTE2.3G：2390 M

23、Hz聯(lián)通WCDMA2100聯(lián)通WCDMA2100+聯(lián)通TD-LTE2.3G聯(lián)通WCDMA2100：2130-2150 MHz聯(lián)通TD-LTE2.3G：2300-2320 MHz聯(lián)通WCDMA2100：2130MHz聯(lián)通TD-LTE2.3G： 2320 MHz聯(lián)通WCDMA2100移動(dòng)GSM1800+移動(dòng)GSM1800移動(dòng)GSM1800：1805-1807 MHz移動(dòng)GSM1800：1825-1830 MHz移動(dòng)GSM1800：1805 MHz移動(dòng)GSM1800：1830 MHz電信LTE FDD1.8G電信LTE FDD1.8G+電信LTE FDD1.8G電信LTE FDD1.8G: 1873

24、.5-1875MHz電信LTE FDD1.8G: 1860-1862MHz電信LTE FDD1.8G：1873.5 MHz電信LTE FDD1.8G：1862 MHz移動(dòng)TD-LTE(F頻段)聯(lián)通LTE FDD1.8G+聯(lián)通LTE FDD1.8G聯(lián)通LTE FDD1.8G：1858.5-1860 MHz聯(lián)通LTE FDD1.8G：1830-1832 MHz聯(lián)通LTE FDD1.8G：1858.5 MHz聯(lián)通LTE FDD1.8G：1832 MHz移動(dòng)TD-LTE(F頻段)移動(dòng)TD-LTE(F頻段)+ 移動(dòng)TD-LTE(F頻段)移動(dòng)TD-LTE(F頻段)：1910-1915 MHz移動(dòng)TD-LT

25、E(F頻段)：1885-1900 MHz移動(dòng)TD-LTE(F頻段)：1910 MHz移動(dòng)TD-LTE(F頻段)：1900 MHz電信LTE FDD2.1G聯(lián)通WCDMA21006.6 功率容量6.6.1 環(huán)境驗(yàn)證功率容量測試之前需對(duì)系統(tǒng)有效性進(jìn)行驗(yàn)證，確保系統(tǒng)滿足測試需要。圖7給出的GSM900測試環(huán)境可作為參考，其他頻段的測試環(huán)境只需更換信號(hào)源和功放。測試頻點(diǎn)選擇與6.6.3節(jié)步驟b中一致。將被測設(shè)備省略，直通跨過，信號(hào)源及對(duì)應(yīng)頻率功放按照測試要求配置載波、發(fā)送功率和頻點(diǎn)設(shè)置。試驗(yàn)5 min，要求功率計(jì)的功率和駐波比讀數(shù)穩(wěn)定無變化，且頻譜儀所觀察的接收帶內(nèi)帶噪聲電平值-110dBm/100K

26、Hz。圖7 功率容量測試連接圖6.6.2 加入待測POI設(shè)備按圖5-7所示連接設(shè)備，功放具有駐波比告警功能（駐波比1.5時(shí)產(chǎn)生告警自動(dòng)關(guān)斷信號(hào)）；如果被測件為多端口設(shè)備，測試時(shí)其它ANT端口接大功率匹配負(fù)載。6.6.3 向待測件發(fā)送大功率a) 設(shè)置信號(hào)發(fā)生器信號(hào)類型：信號(hào)源發(fā)送4載波EDGE信號(hào)；b) 設(shè)置信號(hào)發(fā)生器信號(hào)頻率：測試時(shí)，設(shè)置測試載波頻點(diǎn)為規(guī)定頻點(diǎn)（規(guī)定頻點(diǎn)在每次測試前給出，測試頻點(diǎn)建議設(shè)置為工作頻帶內(nèi)高端頻點(diǎn)，規(guī)則為邊頻回退1MHz，同時(shí)頻點(diǎn)分配應(yīng)避免在接收段產(chǎn)生較大互調(diào)產(chǎn)物）。其他測試頻段按照相同原則執(zhí)行；c) 調(diào)整信號(hào)功率：根據(jù)功放增益及環(huán)境插損，調(diào)整信號(hào)源輸出功率，使得進(jìn)入

27、待測設(shè)備入口的有用信號(hào)載波均值功率達(dá)到指標(biāo)要求，同時(shí)此處信號(hào)的互調(diào)及調(diào)制譜性能滿足-65dBc的要求。6.6.4 加電加信號(hào)進(jìn)行測試當(dāng)采用常溫狀態(tài)下進(jìn)行測試時(shí)，加電加信號(hào)，連續(xù)試驗(yàn)30分鐘。當(dāng)采用高溫狀態(tài)下進(jìn)行測試時(shí)，將器件放置+55 高溫箱內(nèi)，加測試信號(hào)連續(xù)試驗(yàn)10分鐘。6.6.5 結(jié)果判定a) 判定在接收帶內(nèi)是否有飛弧現(xiàn)象在整個(gè)測試過程中，當(dāng)頻譜儀顯示雜散和寬帶噪聲電平值-107dBm/100KHz，則為飛弧, 核查整體寬帶噪聲抬升或飛弧的數(shù)量（以200KHz為單位進(jìn)行核查），若大于5個(gè)，則判定存在飛弧打火。b) 判定設(shè)備是否有燒毀現(xiàn)象判斷以下2個(gè)方面，若有一項(xiàng)不滿足，則判定為設(shè)備有燒毀現(xiàn)

28、象：1) 整個(gè)測試過程中，功率計(jì)和功放不得出現(xiàn)駐波告警（門限是1.5）；2) 整個(gè)試驗(yàn)過程中，功率計(jì)的功率讀數(shù)下降不得超過3dB。7 環(huán)境與可靠性試驗(yàn)檢測要求7.1 環(huán)境與可靠性試驗(yàn)檢測項(xiàng)目環(huán)境與可靠性試驗(yàn)應(yīng)按照Q/ZTT 3001-2016無源分布系統(tǒng)多系統(tǒng)接入平臺(tái)（POI）技術(shù)要求（V2.0）中第8節(jié)中規(guī)定的溫濕度范圍進(jìn)行試驗(yàn)，對(duì)各技術(shù)指標(biāo)進(jìn)行測試。其內(nèi)容見表5。表5 環(huán)境與可靠性試驗(yàn)檢測項(xiàng)目表名稱POI測試內(nèi)容高低溫濕熱試驗(yàn)振動(dòng)試驗(yàn)鹽霧試驗(yàn)插入損耗Ö帶內(nèi)波動(dòng)Ö駐波比Ö互調(diào)Ö隔離度Ö外觀檢查ÖÖ內(nèi)部材質(zhì)檢查Ö注

29、： 根據(jù)實(shí)際使用場景選擇測試內(nèi)容和項(xiàng)目。7.2 環(huán)境與可靠性試驗(yàn)條件環(huán)境與可靠性試驗(yàn)條件要求如表6規(guī)定。表6 環(huán)境與可靠性試驗(yàn)條件要求試驗(yàn)名稱試驗(yàn)項(xiàng)目要求方 法低溫試驗(yàn)試驗(yàn)溫度（）穩(wěn)定時(shí)間（h）持續(xù)時(shí)間（h）恢復(fù)時(shí)間 (h)溫度變化速率-40±21211/minGB2423.1 -2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A： 低溫高溫試驗(yàn)試驗(yàn)溫度（）穩(wěn)定時(shí)間（h）持續(xù)時(shí)間（h）恢復(fù)時(shí)間 (h)溫度變化速率+55±21211/min2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫恒定濕熱試驗(yàn)試驗(yàn)溫度（）相對(duì)濕度（%）持續(xù)時(shí)間（

30、h）恢復(fù)時(shí)間 (h)+40±290%95%241GB/T 2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法振動(dòng)試驗(yàn)安裝方向經(jīng)受頻率（Hz）W位移單振幅；加速度振動(dòng)周期次數(shù)方向各振動(dòng)時(shí)間（h）9-2001.5mm；10 m/s25次循環(huán)XYZ3個(gè)軸向0.5/方向GB 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)fc和導(dǎo)則: 振動(dòng)(正弦)鹽霧試驗(yàn)配制濃度調(diào)整pH值化學(xué)類別溫度鹽酸沉降率為用氯化鈉和蒸餾水配制、濃度為5+0.1%（重量）pH值為6.57.2，稀鹽酸或氫氧化鈉水溶液35+2°C、1.02.0mL/(h80c

31、m2)。GB/T 2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ka：鹽霧試驗(yàn)方法17.2.1 振動(dòng)試驗(yàn)試驗(yàn)溫度：室溫；試驗(yàn)儀表：電動(dòng)振動(dòng)系統(tǒng)、互調(diào)分析儀；振動(dòng)頻率：9-200Hz；掃頻速率：系統(tǒng)默認(rèn)；加速度：10m/s2；振幅峰峰值：1.5mm；振動(dòng)方向：XYZ軸；振動(dòng)時(shí)間：XYZ軸每個(gè)方向0.5小時(shí)。注： 試驗(yàn)過程中，完全按照振動(dòng)臺(tái)的規(guī)定進(jìn)行，整個(gè)振動(dòng)測試過程要有人值守，以免出現(xiàn)振幅不穩(wěn)或者振幅失控等現(xiàn)象。振動(dòng)試驗(yàn)完成后，進(jìn)行Error! Reference source not found.中要求的電性能指標(biāo)測試和外觀檢查。7.2.2 高溫試驗(yàn)試驗(yàn)條件：+55試驗(yàn)設(shè)備：高低

32、溫箱、網(wǎng)絡(luò)分析儀測試條件要求：a) 測試電纜、測試負(fù)載、測試轉(zhuǎn)接頭等需滿足不低于+70的溫度狀態(tài)下，其指標(biāo)性能應(yīng)滿足附錄A中規(guī)定的測量設(shè)備要求；b) 測試線纜與被測POI連接不允許采用快插的方式，必須使用擰緊方式；POI未連接的端口需蓋上防塵帽，防止接頭或端口進(jìn)水等問題。測試步驟：a) 將待測器件放入到高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)托盤上，并通過試驗(yàn)箱測試引線孔與試驗(yàn)箱外的網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行正確連接；b) 設(shè)置高低溫試驗(yàn)箱以1/min速度升溫，直至+55。溫度穩(wěn)定后恒溫保持2小時(shí)，保持器件在高溫環(huán)境中，進(jìn)行Error! Reference source not found.中要求的電性能指標(biāo)測試（已測試完成的端口

33、，快速蓋上防塵帽）；c) 在線測試完電性能指標(biāo)后，取出器件，恢復(fù)常溫后，觀察外觀變化；d) 第一次測試不合格應(yīng)重新連接后再次測試；若重新連接兩次波形圖均無明顯變化，則判斷該項(xiàng)存在問題?？蓞⒖既缦路绞捷o助判斷問題原因：1) 如測試波形由于左右偏移（金屬在不同的問題范圍內(nèi)會(huì)出現(xiàn)熱脹冷縮，會(huì)導(dǎo)致濾波器波形左右漂移）導(dǎo)致指標(biāo)惡化/不合格，屬產(chǎn)品質(zhì)量問題； 圖8 高低溫測試波形圖左右偏移變化示意2) 如波形圖嚴(yán)重塌陷、衰落/惡化（水汽等接觸不良原因），屬測試操作問題，應(yīng)重新測試。圖9 高低溫測試波形圖塌陷變化示意7.2.3 低溫試驗(yàn)試驗(yàn)條件：-40試驗(yàn)儀表：高低溫箱、網(wǎng)絡(luò)分析儀測試條件要求：a) 測試電

34、纜、測試負(fù)載、測試轉(zhuǎn)接頭等需滿足在不高于-50的溫度狀態(tài)下，其指標(biāo)性能應(yīng)滿足附錄A中規(guī)定的測量設(shè)備要求；b) 測試線纜與被測POI連接不允許采用快插的方式，必須使用擰緊方式；POI未連接的端口需蓋上防塵帽，防止接頭或端口進(jìn)水等問題。測試步驟：a) 將待測器件放入到高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)托盤上，并通過試驗(yàn)箱測試引線孔與試驗(yàn)箱外的網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行正確連接；b) 設(shè)置高低溫試驗(yàn)箱以1/min速度降溫，直至-40。溫度穩(wěn)定后恒溫保持2小時(shí)，保持器件在低溫環(huán)境中，進(jìn)行Error! Reference source not found.中要求的電性能指標(biāo)測試（已測試完成的端口，快速蓋上防塵帽）；c) 在線測試完電性

35、能指標(biāo)后，取出器件，恢復(fù)常溫后，觀察外觀變化；d) 第一次測試不合格應(yīng)重新連接后再次測試；若重新連接兩次波形圖均無明顯變化，則判斷該項(xiàng)存在問題。可參考如下方式輔助判斷問題原因：1) 如測試波形由于左右偏移（金屬在不同的問題范圍內(nèi)會(huì)出現(xiàn)熱脹冷縮，會(huì)導(dǎo)致濾波器波形左右漂移）導(dǎo)致指標(biāo)惡化/不合格，屬產(chǎn)品質(zhì)量問題；2) 如波形圖嚴(yán)重塌陷、衰落/惡化（水汽等接觸不良原因），屬測試操作問題，應(yīng)重新測試。7.2.4 恒定濕熱試驗(yàn)（選做）a) 將器件放入溫度箱中，把溫度調(diào)整在溫度為+40±2 進(jìn)行預(yù)熱；b) 等樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定后調(diào)整溫度箱的相對(duì)濕度為9095%的恒定濕熱條件；c) 經(jīng)受 48h 的試驗(yàn)后進(jìn)行在線或迅速取出器件的電性能指標(biāo)測試；d) 恢復(fù)常溫后，檢查器件外觀即外表面是否有符合要求。7.2.5 鹽霧試驗(yàn)（選做）a) 將器件放置鹽霧試驗(yàn)箱內(nèi)；b) 按GB/T 2423.17中鹽霧試驗(yàn)規(guī)定測試條件配制鹽溶液體；c) 試驗(yàn)時(shí)應(yīng)確保樣品不與箱體相接觸，樣品之間也不互相接觸。鹽霧不直接噴射到樣品上，試驗(yàn)箱頂、壁上凝集的水珠不得滴落在樣品上；d) 試驗(yàn)時(shí)間持續(xù)為 2小時(shí)連續(xù)霧