TYPEC數(shù)據(jù)線規(guī)格書

1、關頭詞：TYPE C、數(shù)據(jù)線之五兆芳芳創(chuàng)作摘要：本文介紹了數(shù)據(jù)線的規(guī)格，性能及測試標準 縮略語：1規(guī)模尺度適用于 TYPE A TO C 數(shù)據(jù)線需求規(guī)格書，未盡規(guī)格描述以 TYPE C 協(xié)會標準 V1.1 為準.2編寫依據(jù)序號 No.文件編號 Doc No.文件名稱 Doc Title1GJB1217電連接器試驗辦法2MILSTD202GTestmethodsta ndardelectro nica ndelectricalcomp onen tparts3GB/T 3048電線電纜電性能試驗辦法4GB4098射頻電纜試驗辦法5EIA364101Atte nuati on Test Proce

2、dure for Electrical Conn ectors, Sockets, CableAssemblies or In terc onn ecti on Systems6EIA364106Sta nding Wave Ratio (SWR) Test Procedure for Electrical Conn ectors7EIA364108Impeda nee, Reflecti on Coefficie nt, Retur n Loss, and VSWR Measured inthe Time and Frequency Domain Test Procedure for Ele

3、ctrical Conn ectors,Cable Assemblies or In terc onn ecti on Systems8任務電容試驗電橋法9EIA364103Propagati on Delay Test Procedure for Electrical Conn ectors, Sockets,Cable Assemblies or In terc onn ecti on Systems10IEC 6821根本情況試驗規(guī)程試驗 A:冰冷11電工電子產(chǎn)品根本情況試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗辦法12IEC 6822根本情況試驗規(guī)程試驗 A:干熱13電工電子產(chǎn)品根本情況試驗規(guī)程試驗B:

4、低溫試驗辦法14IEC 68210電工電子產(chǎn)品情況試驗第 2 部分：試驗辦法試驗 J 和導則：長霉0020 的15電工電子產(chǎn)品情況試驗第 2 部分：試驗辦法試驗 J 和導則：長霉 J16ASTM G 21Sta ndard Practice for Determi ning Resista nee of Syn theticPolymericMaterials to Fungi17IEC 615871Mecha ni cal structures for electro nic equipme nt Tests for IEC60917 and IEC 60297 Part 1Climatic

5、 mechanical tests andsafety aspectsfor cab in ets racks subracks and chassis18GR 487Gen eric Requireme nts for Electro nic Equipme nt Cabin ets19IEC 68230根本情況試驗規(guī)程試驗 Db 及導則：交變濕熱（12 + 12h 循環(huán)）20電工電子產(chǎn)品根本情況試驗規(guī)程試驗Db :交變濕熱試驗辦法21IEC 68252電工電子產(chǎn)品情況試驗第 2 部分：試驗試驗 Kb :鹽霧，交變（氯化序號 No.文件編號 Doc No.文件名稱 Doc Title鈉浴液）

6、22電工電子產(chǎn)品情況試驗第 2 部分：試驗試驗 Kb :鹽霧，交變（氯化 鈉溶液）23IEC 529Degrees of protecti on provided by en closure(IP code)24GB 4208外殼防護等級（IP 代碼）25EIA36438BCable pullout test procedure for electrical conn ectors26EIA36441CCable flex ing test procedure for electrical conn ectors27IEC 60950Safety of i nformatio n tech n

7、o logy equipme nt28EN60950Safety of i nformatio n tech no logy equipme nt29UL60950Safety of i nformatio n tech no logy equipme nt30GB4943信息技巧設備的平安31IEC60332Tests on electric cabies under fire conditions32GB/T18380電纜在火焰條件下的燃燒試驗33UL1581Reference standard for electical wires,cables,and flexible cords34

8、GR 1217Gen eric requireme nts for separable electrical conn ectors used intelecommu ni cati ons hardware35GR 950Gen eric Requireme nts forOptical Network Uni t (ONU)Closures363數(shù)據(jù)線正常任務和存儲條件3.1數(shù)據(jù)線應能在下列條件下正常任務:3.1.1 任務情況溫度：20C+55C；（僅作單體驗證 目的，與整機匹配時以整機試驗情況為準）；3.1.2 相對濕度：5%95%;3.1.3 大氣壓力：86 kPa 106kPa;3.

9、1.4 數(shù)據(jù)線的存儲溫度：40C+85C;4數(shù)據(jù)線主要參數(shù)4.1數(shù)據(jù)線連線規(guī)格詳細尺寸以及工藝要求以3D 圖檔為準1、 type C 金屬插頭，要求必須是整體拉伸成型，不克不 及是折彎成型，不接受接縫；2、金屬插頭部分，要求做不銹鋼原色，概略噴砂處理50u” 150u ” MATT NICKEL PLATING OVER ALL3、包管至少 3A 通流能力整條線纜產(chǎn)品詳細規(guī)格（BOM 清單,包含端子圖紙 2D &可 拆解版本的 3D）要有確認才干認可（認證時必須提供以上文 件）.4.2線材主體信息：4.2.1外不雅5V/3A A plug TO C plug, cover 式，白色半霧

10、面，素材細 咬花處理，MT110064.2.2主體結構項目規(guī)格說明長度16mm不含金屬插頭部分顏色白色半霧面材質Overmold& Cable&Hous ing&其他輔 料NONPVC無鹵滿足 ROSH,且無如下有害物質添加：溴系阻燃劑 Bromi nated Flame Retarda nts 氯系阻燃劑Chlori nated Flame Retarda nts 聚氯乙烯 PolyvinylChloride (PVC) 鄰苯二甲酸酯 Phthalates 三氧化銻Antimony Trioxide 鈹及其化合物 Beryllium (Be) and itscompo

11、u nds接口USBi BreceptacletoTYPE C plug滿足 5V 3A其他Voltage Rati ng:30VAC/DC導體材質規(guī)格如下:材質：鍍錫銅Signal NameWire Gauge (AWG)VBUS/GND端到端阻抗不大于 80mQ絕緣材質 NONPVC，須滿足 5.2 章節(jié)測試性能要求423關頭尺寸423.1USB2.0 B plug參考協(xié)會標準4.2.3.2TYPEC plug1.紅圈標示尺寸為重點尺寸，其余尺寸依據(jù)協(xié)會標準要 求2.各組件 BOM LIST 原資料信息需明確到具體牌號4.2.3.3鍍層厚度測試區(qū)域規(guī)則關于鍍層測試區(qū)域和辦法：TYPE C/

12、A : TYPE C/A 產(chǎn)生接觸的關頭區(qū)域為PIN 針頭部觸點，因此鍍層工藝為考慮成本一般只籠蓋PIN 針觸點位置，其他區(qū)域為 flash Au,所以鍍層的量測規(guī)模定義在4.2.4線序Table 320 USB TypeC to USB 2.0 AM Wiring USBTypeC PlugUSB 2.0 AMPinSignal NamePinSignal NamePIN 針觸點弧頂?shù)淖罡咛庡儗雍穸葹樵谟|點弧頂最高點的規(guī)模內進行丈量，同一觸點在規(guī)模內丈量三次取平均值A1, B1, A12, B12GND4GNDA4, B4, A9, B9VBUS1VBUSA5CCA6Dp13D+A7Dn12

13、D-ShellShieldShellShieldNotes:1.Pin A5 (CC) of the USB TypeC plug shall be conn ected to VBUS through a resistor Rp. SeeSection 4.5.322 and Table 413 for the functional description and value of Rp.2. Con tacts B6 and B7 should not be prese nt in the USB TypeC plug.3.All VBUS pins shall be conn ected

14、 together withi n the USB TypeC plug. Bypass capacitors arenot required for the VBUS pins at this cable.4. All Grou nd retur n pins shall be conn ected together with in the USB TypeC plug.5. All USB TypeC plug pins that are not listed in this table shall be ope n (not conn ected).Table 413 DFP CC Te

15、rmin ati on (Rp) Requirements DFP Advertiseme ntCurre nt Source to 1.7-5.5 VResistor pullup to4.75 -5.5 VResistor pullup to 3.3V 5%Default USB Power80uA 士 20%56 kQ士 20% (Note -)36 kQ士 20%1.5 A 5 V180uA 士 8%22 kQ士 5%12 kQ士 5%3.0 A 5 V330uA 士 8%10 kQ士 5%4.7 kQ士 5%Notes:1. For Rp whe n impleme nted in

16、the USB TypeC plug on a USB TypeC to USB 3.1 Sta ndardA CableAssembly, a USB TypeC to USB 2.0 Sta ndardA Cable Assembly, a USB TypeC to USB 2.0 MicroBReceptacle Adapter Assembly or a USB TypeC captive cable conn ected to a USB host, a value of 56 kQ士 5%sshd3llrtoerder to provide toleranee to IR drop

17、 on VBUS andGND in the cable assembly.5技巧要求5.1線材外不雅要求5.1.1線材外不雅要求如下:外不雅金屬插頭/pin 腳查抄1、參照樣品和 PDM 圖紙查驗，線纜兩端插頭的結構外型（型號）要 求與樣品一致；2、插頭不允許氧化/生銹、殘破、變形；3、用干布（無塵布）能擦除的臟污，允許；用干布（無塵布）不克不及擦除的臟污，不允許；【注：金屬插頭臟污不良超岀1%（不良數(shù)/樣本數(shù)）時，提交不及格電子流確認】4、插頭上不允許有油漬；5、劃痕 L 2mm,WS 0.1mm 用手觸摸無深度感，允收一條；6、 USB A 公插頭內不允許有溢膠的現(xiàn)象；7、 USB A

18、公插頭內的連接器 PIN 腳不允許氧化/生銹、翹高、變形、PIN 腳內陷/斷裂不良；標簽查抄1、參照樣品和 PDM 圖紙查驗，標簽上的印刷圖案和字體要求一 致；2、標簽不允許破損、漏貼；注塑部位1、注塑部位（USB A 公外膜、DC 插頭外膜、磁環(huán)外膜）不允許缺膠、破損；2、合模線（毛邊）H 0.2mm3、 水口位（毛邊）在不刺手的前提下，HW1mm 可接收；4、 壓痕 L 25mm,允收 6 個；4、線狀壓痕 LW5mm WW1mm , DS 25mm,允收 3 條；扎帶下的壓 痕允許；5、 有感刮傷：LW5mm,WW1mm, DS 25mm,允收 2 條；無感刮傷： LW30mm,WW1m

19、m, DS 30mm,允收 3 條;未盡事宜參考終端數(shù)據(jù)線查驗通用操縱指導書5.2線材性能要求Test conditionTemperature:15Cto 35CAir pressure : 86 to106 kPaRelative humidity : 25% to 85%NOTest descripti onTest procedurePerforma neeRelated standard1插拔耐久測試數(shù)據(jù)線插頭無破損，配件插頭尺 寸在規(guī)格內，接觸良好，電氣性能正 常.測試前，測試后插拔力應滿足要求， 樣品外不雅結構、功效及電氣性能應 正常，允許端子接觸點概略有正常磨 損，但不允許有物

20、理損壞以拔出力和拔出力測試 尺度為依據(jù)，測試 TYPEC 端子插拔次數(shù) 10000 次 （正反標的目的各 5000次，每 2500 次換一個標 的目的）做元 25 次插拔之后，插 拔力變更不克不及超出33%A 公插拔 1500 次測試結束后端子外不雅 無異常、插拔力需要滿 足要求EIA364092拔出力EIA36413插拔耐久測試前后：Type C:拔岀力 520N ；USB AM: 35N（MAX）EIA364133拔出力EIA36413插拔耐久測試前后：EIA36413Type C:拔岀力 820NUSB AM: 10N(Mi n)4滾筒測試跌落高度 1 米，跌落次數(shù) 150 次，每 50

21、 查抄一次，跌落速度參考值1012次/分次(以跌落在滾筒鐵板中心位置 為準)測試后，樣品外不雅、 機械結構應正常，功效 和電氣性能正應常的5端子強度測試1.F1/F2(+/Y)=50N，做到 75N 不雅察損壞情況F3,F4(+/X)=50NF5(+Z)=100NF1和F2標的目的的測試均采取新樣 品測試，F(xiàn)3F5 標的目的視情況進行互 用施力點為接口到SR 處 15mm (從外殼平面量起 15mm ；如 SR 缺乏 15mm，以SR 的末端為施力位置，如 SR 末端剛性缺乏以施加力，則以剛 性位置的末端為施力位置)測試速度：5mm/mi n上下左右4個標的目的力 量要求大于 5.0Kg，拔岀

22、 標的目的要求大于10Kg，連接器不允許有 失效，接口允許有可恢 復的變形，數(shù)據(jù)線電氣 性能正常；結構無松脫，無斷裂6殼體抗拉脫器件選型尺度：公頭鐵殼上掛重10kgf，持續(xù)時間 1 分鐘進料查驗尺度：公頭鐵殼上掛重6kgf，持續(xù)時間 1 分鐘兩端殼體都需要測試抗 拉脫力，測試后兩端殼 體不該有脫落現(xiàn)象7端子強度耐久 測試測試力：F 仁 F2=2kgf測試次數(shù)：2000 次/標的目的； 施力點為接口到SR 處 15mm (從靠近金屬頭尾部量起15mm.如 SR 缺乏15mm，以 SR 的末端為施力位置，如 SR 末端剛性缺乏以施加力，則以剛 性位置的末端為施力位置)； 測試速度：1015 次/m

23、in數(shù)據(jù)線外不雅結構、功 效及電氣性能應正常，端子不該有損壞或嚴重 變形8端子鍍層膜厚膜厚測試儀.Type C 端/ uB 母座.最少樣品數(shù)量：每個端子3pcsType C /Bplug Plat ing goldAu 不小于30,Plating NF 小于809成品電阻測試1、C TO A 測試2、屏蔽層測試殼對殼3、壽命前后均要滿足阻抗要求25C時實驗室測試尺度：線材規(guī)格1M,電源22AWG10溫升測試TYPE C Vbus/GND 通電 5A(4 對 pin)，USBAM 單 VBUS/GND 通電 3ATYPE C/USB AM 非電源 pin 腳通流0.25A ；利用 shield/

24、GND 回流，通流不低于25C時測試溫度穩(wěn)定 30 分鐘后測試 針對plug單體和 cable 組 件整體的兩項測試均需 滿足任意點溫升不允許超岀USB TypeCCableandConn ectorSpecificati on3A30 度11接觸阻抗LLCR 是從 REC 焊接點的尾部到Plug焊點,包含 Plug 端和 Rec 所有內部的 端子和Paddle Cards*使用四線測試法*測試電壓 20mV 最大，電流 100mA.VBUS/GND 初始接觸阻抗30mQ,其他 pin 初始接觸阻抗40mQMax 最大，所有 Pin 情況測試后 LCCR 最大增量為 10mQ連接器13耐壓測試

25、兩兩 pin 之間打（含外殼）14絕緣電阻兩兩 pin 之間打（含外殼）認證測試：300VDC60S100MQ15低溫存儲轉接頭：（70+2）C,24H完成后前往常溫停留24 小時以上，進行測試連接器：（1052）C,120H完成后前往常溫停留24 小時以上，進行測試部品外不雅無損壞；線纜電氣性能正常16低溫存儲（402）C,120H完成后前往常溫停留24 小時以上，進行測試樣品外不雅無損壞；線纜電氣性能正常17溫度沖擊采取兩箱法，低溫 40C，低溫70C，凹凸溫各停留良多于20 分鐘，最大轉換時間為 20 秒， 10 個循環(huán).測試后，樣品外不雅、 機械結構應正常，功效 和電氣性能應正常18鹽

26、霧測試5% NaCl,35 C ,連續(xù)噴霧 48 小時（針 對 pin針，uB 鐵殼部分應可承受至少 24H 連續(xù)噴霧），噴霧時接口需斜向 下放置，確保鹽霧能進入，但同時不 克不及在接口中形成積水.然后移岀進 行 2 小時晾干.試驗后，樣品外不雅應 無明顯銹蝕、變色、及 鍍層剝落等現(xiàn)象.VBUS/GND 初始接觸阻 抗30mQ,其他 pin 初始接 觸阻抗40mQMax 最大，所有 Pin情況測試后LCCR 最大增量為 10 mQ（僅針對連接器）EIA 36419低溫高濕試驗溫度（70 2 ）C，濕度（85 ）%RH，進行 168 小時樣品外不雅無損壞；主要考察膠 料和線料20交變濕熱2555

27、C，相對濕度（95 3）%,168 小時測試后，樣品外不雅、 機械結構應正常，功效 和電氣性能應正常主要考察端 子21混雜氣體腐化 測試測試時間：7 天，產(chǎn)品狀態(tài)：5 天非配插，5 天配插，溫濕度：70%RH， 30C,氣體種類：Cl2 : 10+/3 ppb, NO2: 200+/50ppb, H2S: 10+/5 ppb, SO2: 100+/20 ppb試驗后，樣品外不雅應 無明顯腐化、變色、及 鍍層剝落等現(xiàn)象，功效 應正常.VBUS/GND 初始接觸阻 抗30nQ,其他 pin 初始接 觸阻抗40nQMax 最大，連接器所有 Pin 情況測試后LCCR 最大增量為 10mQ（僅針對連接

28、器）22耐化學溶劑測 試將家用化學物品（1.護手霜；2.防曬 乳液；3.口紅；4.化裝粉底；5.驅蟲凍 膠；6.食用油，所用化學用品型號或 配方為我司終端現(xiàn)有用品）涂在線 纜、SR、殼體上.放置 72 小時后用水 清洗掉家用化學品再放置兩個小時后 查抄 2.將以下溶劑（1.汽油；2.酒 精；3.人工汗液；4.5%食鹽水，所用 化學用品型號或配方為我司終端現(xiàn)有 用品）涂在線纜、SR、殼體上.放置72 小時（汽油放置 24 小時）后用水 清洗掉溶劑再放置兩個小時后查抄線纜、SR、殼體不會有 明顯腐化、開裂23耐 UV 輻射測 試耐 UV 輻照進行 1 個循環(huán)為 24 小時的測 試，具體為在干熱40

29、C下，太陽輻射強度為1120W/就，保持 20 小時，再封閉太陽輻 射源 4小時，試驗持續(xù)循環(huán)96 小時24EMCEMC class A 尺度CE/FCC25Differe ntialImpedaneeThis test ensures that the D+/D-lines of the cable assembly havethe proper impeda nee.For the en tire cable assembly.75 ohms min and 105 ohmsmax.400 ps rise time (20%80%).EIA 36410826Propagatio nDela

30、yThe purpose of the test is to verify theendtoend propagation of the D+/D- lines ofthe cable assembly.20 ns max.400 ps rise time (20%80%).EIA 36410327In trapair SkewThis test en sures that the sig nal on both theD+ and D- lines of cable assembly arrive atthe receiver at the same time.100 ps max.400 ps rise time (20%80%).EIA364-103D+/D- PairAtte nu atio nThis test ensures the D+