X射線熒光光譜法_第1頁
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1.X射線熒光光譜法簡介2.方法和原理3.儀器結(jié)構(gòu)和原理返回l 當用x射線（一次x射線）做激發(fā)原照射試樣，使試樣中元素產(chǎn)生特征x射線（熒光x射線）時，若元素和實驗條件一樣，熒光x射線的強度Ii與分析元素的質(zhì)量百分濃度Ci的關(guān)系可以用下式表示：l 式中m是樣品對一次x射線和熒光射線的總質(zhì)量吸收系數(shù)，K為常數(shù)，與入射線強度I和分析元素對入射線的質(zhì)量吸收系數(shù)有關(guān)。l 在一定條件下（樣品組成均勻，表面光滑平整，元素見無相互激發(fā)），熒光x射線強度與分析元素含量之間存在線性關(guān)系。根據(jù)譜線的強度可以進行定量分析 返回高 壓 電 源分 光 晶 體準 直 器檢 測 器放 大 器脈 高 分 析 器計 數(shù) 率 器計 數(shù) 器1023123456KaKb20Kv15Kv10Kv5Kv特 征 譜 線連 續(xù) 譜 線X射線熒光光譜儀實物圖固體樣品和液體樣品Be-U之間任何元素的分析 SST超尖銳陶瓷X光管256道DMCA多道分析器，2 秒測定一個元素

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