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文檔簡(jiǎn)介

1、測(cè)井知識(shí)小結(jié)1、 測(cè)井原理按常規(guī)測(cè)井來(lái)講:9條曲線。分別是三條巖性曲線(CALI,SP,GR)三條孔隙度曲線(CNL,DEN,AC)三條電阻率曲線(RT,RI,RXO) 巖性曲線用來(lái)劃分儲(chǔ)層與非儲(chǔ)層,孔隙度曲線用來(lái)計(jì)算儲(chǔ)層孔隙度的大小,電阻率曲線用來(lái)判斷儲(chǔ)層的含油性。1.劃分地層自然電位測(cè)井(SP)目的:計(jì)算和識(shí)別泥巖適用地層:富含高礦化度地層水的砂泥巖剖面利用:電化學(xué)性質(zhì)(即地層水的礦化度與泥漿濾液的礦化度之差異)測(cè)量:地層中的擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì)和擴(kuò)散吸附電動(dòng)勢(shì)曲線的作用:主要用于砂泥巖坡面的巖性劃分(即在砂泥巖剖面上識(shí)別砂巖和泥巖),其具體做法是第一,確定泥巖基線(即找出泥巖的趨勢(shì)值);第二,找出

2、含水純砂巖(在自然電位曲線先表現(xiàn)為最低值,且一般是厚層,也就是說(shuō)偏離泥巖基巖幅度最大位置);第三,位于泥巖基巖與含水純砂巖之間的那些曲線段則可能為砂質(zhì)泥巖或泥質(zhì)砂巖(這主要看是偏向泥巖基線還是偏向含水純砂巖,一般情況下,偏向泥巖基線較多的則為砂質(zhì)泥巖。不過(guò),巖層中含有油氣也會(huì)對(duì)自然電位曲線有影響,一般表現(xiàn)為峰值向泥巖基線方向移動(dòng),這主要是由于油氣是高阻的緣故)。如下圖所示:自然伽馬測(cè)井(GR)目的:計(jì)算和識(shí)別泥巖適應(yīng)情況:套管井、干井、油基泥漿、高阻地層(一般如碳酸鹽巖剖面)測(cè)量:鉆井剖面的天然放射性強(qiáng)度(假設(shè)沉積巖本身是不含放射性的,一般而言,沉積巖的放射性主要取決于巖層中泥質(zhì)的含量,產(chǎn)生放

3、射性的物質(zhì)主要有U、Th、K)曲線的作用:主要用于劃分巖層。在自然伽馬測(cè)井曲線上,泥巖和頁(yè)巖顯示明顯的高放射性,而且可以形成一條比較穩(wěn)定的泥巖線(儲(chǔ)積巖是低放的);在砂泥巖剖面,純砂巖GR最低,粘土最高,泥質(zhì)砂巖較低,泥質(zhì)粉砂巖和砂質(zhì)泥巖較高,即自然伽馬隨泥質(zhì)含量的增加而升高;在碳酸鹽巖地層,純石灰?guī)r和純白云巖GR最低,泥巖和頁(yè)巖最高,泥灰?guī)r較高,泥質(zhì)石灰?guī)r和泥質(zhì)白云巖介于它們之間,也是隨泥質(zhì)含量增加而升高;在膏鹽剖面中,石膏層的GR值最低,泥巖最高,砂巖在二者之間。2.測(cè)量地層的電阻率普通電阻率測(cè)井、側(cè)向測(cè)井、微電阻率測(cè)井和感應(yīng)測(cè)井目的:探測(cè)不同徑向深度的電阻率值R,識(shí)別流體(油、氣、水)測(cè)

4、量:地層中各個(gè)帶的電阻率(沖洗帶電阻率、過(guò)渡帶電阻率、原狀地層電阻率)適應(yīng)情況:一般用于侵入條件下(即泥漿濾液侵入到地層中形成沖洗帶、過(guò)渡帶和原狀地層)曲線作用:在SP或GR粗略分層的基礎(chǔ)上,電阻率測(cè)井可以用于精細(xì)劃分儲(chǔ)層。曲線的幅度變化(即電阻率值的大?。┓从沉说貙又须娮杪实淖兓?,巖石的巖性將影響電阻率的大小。一般主要對(duì)照深淺側(cè)向電阻曲線的差異,再結(jié)合沖洗帶電阻率測(cè)量曲線,綜合確定儲(chǔ)層,深淺側(cè)向有幅度差是儲(chǔ)層顯示,此時(shí)還可參照井徑曲線,如果出現(xiàn)縮徑現(xiàn)象(即井徑減小,出現(xiàn)泥餅),則說(shuō)明是良好儲(chǔ)層,也可以參看沖洗帶電阻率測(cè)量曲線(如微球形聚焦)。(1) 普通電阻率測(cè)井普通電阻率測(cè)井有兩種裝置,如

5、下所示,一種是電位電極系,一種是梯度電極系,其中梯度電極系包括頂部梯度電極系和底部梯度電極系,如下所示:兩種電極系的小結(jié)梯度電極系電位電極系分層能力好一般薄層電阻率的真實(shí)性好一般徑向探測(cè)深度淺(L)深(2L)曲線形態(tài)不對(duì)稱(chēng)對(duì)稱(chēng)兩種電極系的優(yōu)點(diǎn)裝置簡(jiǎn)單經(jīng)濟(jì)兩種電極系的缺點(diǎn)井內(nèi)泥漿電流分流作用大,分層與測(cè)值精度不高(2)沖洗帶與原狀地層電阻率測(cè)量側(cè)向測(cè)井針對(duì):鹽水泥漿鉆井、低阻圍巖對(duì)供電電流的井內(nèi)分流作用等適應(yīng)地層:高阻目的層利用:同極性屏蔽聚焦電極使電流呈片狀進(jìn)入地層,有利于測(cè)得原狀地層電阻率Rt、提高地層縱向分辯率一般而言,深淺側(cè)向存在幅度差,說(shuō)明可能為儲(chǔ)集層。(3)沖洗帶電阻率測(cè)量A微側(cè)向(

6、RmLL)針對(duì):泥餅較厚采?。浩帘尉劢?,使電流呈束狀進(jìn)入地層B鄰近側(cè)向針對(duì):泥餅過(guò)厚優(yōu)點(diǎn):探測(cè)深度比微側(cè)向大,且受泥餅影響減少C微球形聚焦目的:適應(yīng)泥餅厚度變化,準(zhǔn)確測(cè)量近井軸沖洗帶電阻率曲線特點(diǎn):根據(jù)泥餅的厚度而擺動(dòng)(4)感應(yīng)測(cè)井針對(duì):油基泥漿、干井等適于:低阻目的層測(cè)量:地層的電導(dǎo)率缺點(diǎn):受高角度裂縫影響隨著儀器精度的改良,在同一個(gè)地方,俄羅斯感應(yīng)測(cè)井測(cè)得的電阻率比以前大,從而將以前認(rèn)為的油水層判為油層,這說(shuō)明,測(cè)值的精確性將影響最終的解釋成果。3. 測(cè)量孔隙度聲波時(shí)差測(cè)井(t或AC)任務(wù):計(jì)算孔隙度和礦物百分含量;氣水識(shí)別、力學(xué)參數(shù)計(jì)算測(cè)量:巖石的彈性性質(zhì),參數(shù)為時(shí)差曲線特征:1. 劃分

7、地層(1)在砂泥巖剖面,砂巖的速度一般較快,時(shí)差曲線數(shù)值低。砂巖的膠結(jié)物中,通常硅質(zhì)、鈣質(zhì)膠結(jié)比泥質(zhì)膠結(jié)的時(shí)差低,隨鈣質(zhì)增加時(shí)差減小,隨泥質(zhì)增加時(shí)差增加;泥巖時(shí)差高,粉砂巖、頁(yè)巖界于泥巖和砂巖之間;礫巖一般聲波時(shí)差較低,并且越致密時(shí)差越低。(2)在碳酸鹽巖地層,石灰?guī)r、白云巖都是低值,如果含泥質(zhì)會(huì)使時(shí)差增加,如果有孔隙性和裂縫性碳酸巖,聲波時(shí)差明顯增加,有時(shí)還會(huì)出現(xiàn)周波跳躍。巖性砂巖灰?guī)r白云巖硬石膏泥巖55.5474352大于55.52. 判斷氣層含氣的淺部地層有周波跳躍,時(shí)差大,曲線形態(tài)呈刺刀狀3. 確定孔隙度它主要反映的是均質(zhì)孔隙度,即巖層的總孔隙度,在固結(jié)、壓實(shí)的純地層中,孔隙度和時(shí)差的

8、關(guān)系為:其中,表示地層聲波時(shí)差,骨架的聲波時(shí)差,孔隙流體的聲波時(shí)差。密度測(cè)井目的:計(jì)算孔隙度、礦物百分含量特點(diǎn):基于基質(zhì)孔隙,利用康普頓散射,利用人工源(即中等放射源)測(cè)量:中等能量的源放出中等能量的射線,打擊地層介質(zhì)外部殼層的電子,測(cè)量散射后到達(dá)探測(cè)器的射線強(qiáng)度二、裂縫的測(cè)井響應(yīng)1.地層傾角測(cè)井(1)裂縫識(shí)別測(cè)井(FIL)水平裂縫在4條重疊曲線上均有較短的異常,1號(hào)極板方位曲線反映出正常旋轉(zhuǎn);垂直裂縫在兩條重疊曲線上有較長(zhǎng)井段的異常,1號(hào)極板方位不旋轉(zhuǎn)或旋轉(zhuǎn)速度變慢。(2)電導(dǎo)率異常檢測(cè)(DCA)在曲線對(duì)比垂向移動(dòng)允許范圍所確定的井段上,求出各極板與相鄰兩個(gè)極板的電導(dǎo)率讀數(shù)之間的最小正差異,

9、把這個(gè)最小正差異疊加在該極板的方位曲線上,作為識(shí)別裂縫的標(biāo)志。(3)定向微電阻率(OMRL)根據(jù)地層傾角測(cè)井記錄所回放的4條電阻率曲線直接重疊組合,當(dāng)出現(xiàn)低阻與高阻曲線的明顯分離且垂直方向有一定延續(xù)長(zhǎng)度的異常時(shí),可作為有裂縫存在的標(biāo)志,其裂縫的方位可由相應(yīng)的低阻極板方位求得。(4)利用SHDT測(cè)井資料的并列電極對(duì)比探測(cè)垂直裂縫被泥漿濾液充滿(mǎn)的裂縫,在原始測(cè)井曲線上表現(xiàn)為電導(dǎo)率高的尖峰,如果裂縫系統(tǒng)是垂直向的或接近垂直方向的,則電導(dǎo)尖峰只在成對(duì)的并列電極的一條曲線是哪個(gè)出現(xiàn);對(duì)于水平裂縫,電導(dǎo)尖峰將在兩條曲線上同時(shí)出現(xiàn)。(5)雙井徑曲線解釋概要1.雙井徑曲線值與鉆頭直徑均相等,為硬地層,既無(wú)泥餅

10、,又無(wú)井徑擴(kuò)大;2.雙井徑曲線均小于鉆頭直徑,為滲透層;3.雙井徑曲線值均大于鉆頭直徑,為泥巖或疏松易塌砂、礫巖;4.雙井徑曲線之一大于鉆頭直徑,另一等于或稍大于鉆頭直徑,呈橢圓井眼,為陡傾裂縫;5.雙井徑曲線之一大于鉆頭直徑,另一小于鉆頭直徑,這可能是儀器不正常,由于極板未接觸井壁或儀器校驗(yàn)不準(zhǔn),其特點(diǎn)是較長(zhǎng)井段或全井段異常。(6)地層傾角矢量圖在地層傾角測(cè)井矢量圖中,裂縫或是表現(xiàn)為層段之間無(wú)法進(jìn)行對(duì)比,或是表現(xiàn)為傾角看起來(lái)很混亂,如果屬于后一種,可以根據(jù)孤立的高傾角提示裂縫的存在,在有利條件下可以找出裂縫的方向。2.微電阻率掃描測(cè)井從極板上的小電極依次向地層發(fā)送電流,且保持電壓恒定,測(cè)量流

11、經(jīng)地層的電流變化,它反映地層電阻率的變化。當(dāng)電阻率高時(shí),流經(jīng)地層的電阻率變小,處理后顯示為淺色;當(dāng)?shù)貙与娮杪实蜁r(shí),流經(jīng)地層的電流變大,相應(yīng)的顯示為深色,裂縫、溶洞在圖像上將顯示為深色。3.電阻率測(cè)井(1)微電阻率測(cè)井(MSFL)裂縫在MSFL曲線上一般顯示為電阻率低值。(2)感應(yīng)測(cè)井由于感應(yīng)電流線(渦流)的分布是環(huán)狀的,所以它一般不受高角度裂縫的影響;高阻剖面中含泥漿濾液或地層水的水平裂縫,在雙感應(yīng)聚焦測(cè)井(DIL-SFL)組合測(cè)井曲線上,將顯示為低電阻率,3條曲線的測(cè)井值將反應(yīng)侵入性質(zhì)(增阻或減阻侵入剖面)。(3)雙側(cè)向測(cè)井(DLL)在高阻剖面中的裂縫發(fā)育層段上,曲線呈現(xiàn)明顯的低阻異常。一般

12、地說(shuō),對(duì)于600到700的高角度裂縫,DLL測(cè)井曲線呈正差異,即深側(cè)向視電阻率RLLd大于淺側(cè)向視電阻率RLLs,其比值約為1.5-2左右;對(duì)于低角度裂縫,特別是水平裂縫,雙側(cè)向測(cè)井曲線呈現(xiàn)小的差異或無(wú)差異。4.長(zhǎng)源距聲波測(cè)井(1)聲波時(shí)差水平裂縫往往使縱波首波時(shí)差增大,當(dāng)裂縫發(fā)育時(shí),由于首波能量嚴(yán)重衰減而產(chǎn)生周波跳躍。(2)縱、橫波幅度水平裂縫對(duì)橫波的衰減比縱波更嚴(yán)重,而高角度裂縫對(duì)縱波衰減更明顯。As/Ap比值(As表示橫波振幅,Ap表示縱波振幅)曲線上的低值,說(shuō)明有裂縫存在且阻斷聲波能量的通過(guò)。數(shù)值越低,則存在被流體充滿(mǎn)的張開(kāi)縫的可能性越大。(3)變密度測(cè)井(VDL)裂縫在變密度圖上的特征是:條帶顏色變淺,反差變?nèi)?;水平裂縫處出現(xiàn)“V”形和“X”形干涉條紋;有時(shí)條紋發(fā)生扭曲、中斷或呈臺(tái)階狀。5.放射性測(cè)井(1)自然伽馬能譜測(cè)井分析地層的自然伽馬能

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