儀器名稱激光拉曼光譜儀

1、儀器名稱：激光拉曼光譜儀數(shù)量： 2 臺，國產(chǎn)用途：用于了解拉曼散射用于分子結(jié)構(gòu)研究及光譜分析的機(jī)理；學(xué)習(xí)研究化合物分子受光照射后所產(chǎn)生的散射，散射光與入射光能級差和化合物振動頻率、轉(zhuǎn)動頻率的關(guān)系；使學(xué)生了解激光拉曼/ 熒光光譜儀的結(jié)構(gòu)工作原理及使用方法；進(jìn)行四氯化碳等溶液的拉曼散射譜的測定。技術(shù)指標(biāo)（ 標(biāo)注有 *的部分為重要技術(shù)條款，不能有負(fù)偏離）：序號1數(shù)量設(shè)備名稱及配置條件招標(biāo)參數(shù)子項(xiàng)總量激光拉曼光譜儀2 臺*1單色儀D/F=1/5.5 ，光柵 1200L/mm，狹縫寬度0-2mm連續(xù)可調(diào)，狹縫精度 0.01mm*2半導(dǎo)體激光器輸出波長： 532nm 輸出功率 40mW3外光路系統(tǒng)包括激光

2、聚焦光學(xué)系統(tǒng)，拉曼信號收集光學(xué)系統(tǒng)。光路中可放置起偏器，檢偏器，波片，拉曼濾光片等光學(xué)元件4樣品架五維可調(diào)垂直樣品架、水平液體樣品架、透明固體樣品架、斜入射固體樣品架、背散射樣品架*5單光子計(jì)數(shù)系統(tǒng)光子計(jì)數(shù)型光電倍增管，單光子信號甄別電路系統(tǒng)6焦距f=302.5mm7相對孔徑D/F=1/5.58掃描范圍200nm-800nm9線色散率2.7nm/mm10分辨率0.2nm（ 500nm）11狹縫寬度 02mm連續(xù)可調(diào)，示值精度 0.01mm，最大縫高 20mm12波長準(zhǔn)確性<0.4nm13波長重復(fù)性<0.2nm14雜散光10-3根據(jù)選擇實(shí)驗(yàn)內(nèi)容，系統(tǒng)給出實(shí)驗(yàn)配置清單以及相應(yīng)內(nèi)容15互

3、聯(lián)網(wǎng) +實(shí)驗(yàn)管理課前：預(yù)約、預(yù)習(xí)、微課欣賞、實(shí)驗(yàn)視頻觀看、虛擬實(shí)驗(yàn)操作平臺 軟件課中：實(shí)驗(yàn)結(jié)果比對上傳、實(shí)驗(yàn)視頻上傳、實(shí)驗(yàn)結(jié)果全球比對、微課上傳課后：成績查看、點(diǎn)擊量統(tǒng)計(jì)。*16光譜儀軟件功能可實(shí)現(xiàn)的功能及*17配置1，定波長掃描可在給定波長位置設(shè)定時(shí)間進(jìn)行掃描。2，自動尋峰系統(tǒng)可根據(jù)設(shè)置自動檢測峰谷，同時(shí)將峰谷信息放在對話框列表框中并在譜線上對應(yīng)的位置標(biāo)出。3，譜線連接可將兩條譜線根據(jù)用戶需要在相應(yīng)的位置連接，并存放在指定的寄存器中。4，域值窗口借助域值電平窗口，可以正確選定域值電平，從而提高儀器所給出的圖譜質(zhì)量。5，改變數(shù)據(jù)間隔可以修改源數(shù)據(jù)點(diǎn)之間的間隔值，并把結(jié)果譜線顯示在工作區(qū)中。6，

4、波長檢索可將當(dāng)前輸出波長移至用戶所需的位置。7，微分系統(tǒng)可將源寄存器中的數(shù)據(jù)進(jìn)行微分計(jì)算后，存放到結(jié)果寄存器中，并把計(jì)算后的譜線在工作區(qū)中顯示。8，計(jì)算系統(tǒng)可根據(jù)設(shè)置進(jìn)行計(jì)算，并把結(jié)果存放到結(jié)果寄存器中。同時(shí)，結(jié)果寄存器中的譜線將顯示在工作區(qū)中。9，平滑將所測得的源數(shù)據(jù)進(jìn)行平滑后放入結(jié)果寄存器中。1、計(jì)算機(jī)控制2、能自動記錄拉曼，熒光光譜3、高分辨率，低雜散光單色系統(tǒng)4、高靈敏度、低噪聲單光子計(jì)數(shù)器做接收系統(tǒng)5、大功率半導(dǎo)體激光器作為激發(fā)光源6、配有穩(wěn)定性好，精度高的外光路系統(tǒng)7、配有多種附件，適用于液體、固體樣品的分析8、配有用于減小瑞利散射的陷波濾波器，所配陷波濾波器為進(jìn)口品牌，配合濾波器

5、的機(jī)械調(diào)節(jié)支架，可對濾波器的光路調(diào)節(jié)，實(shí)時(shí)改變拉曼過濾的雜散譜線。后期可升級配置18及功能可配拓展性附件開設(shè)拓展性實(shí)驗(yàn)1）物體反射光譜的實(shí)驗(yàn)搭建和測量2）反射光譜測量的原理和標(biāo)定3）幾種樣品的反射光譜測量4）干涉薄膜反射光譜的測定5）根據(jù)干涉極值（峰谷）測定薄膜的厚度6）根據(jù)反射光譜用擬合算法來測定薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)。7）三刺激値的概念和測定8）透明物質(zhì)的色度測量9）紙張涂料的色度測量10）發(fā)光體的色度測量多種光譜測試平臺：包括三通樣品池，反射探頭支架，透射式樣品支架；各種光學(xué)調(diào)整架及機(jī)械夾持件，包括導(dǎo)軌、滑塊、調(diào)整架等。薄膜測厚軟件：擬合算法，薄膜測量厚度范圍 20nm-100um，可同時(shí)測量 1-4 層薄膜。光譜測量綜合軟件：光譜模式下操作光譜儀采集光譜數(shù)據(jù)，支持多種格式的數(shù)據(jù)導(dǎo)出，軟件內(nèi)置多種應(yīng)用模塊，包括顏色測量、透過率、反射率測量等。備注：根據(jù)招標(biāo)與采購相關(guān)管理規(guī)定：招標(biāo)參數(shù)必須滿足三家以上產(chǎn)品的指標(biāo)，不得指定品牌、型號等不符合政策規(guī)定的條件，采購單位提交指標(biāo)時(shí)不得編寫?yīng)毤壹叭耶a(chǎn)品無法滿足的招標(biāo)參數(shù)。提交時(shí)項(xiàng)目