電子元器件的破壞性物理分析

1、    電子元器件的破壞性物理分析    摘 要隨著我國(guó)社會(huì)經(jīng)濟(jì)的快速發(fā)展，電子技術(shù)發(fā)展迅猛，逐漸被各個(gè)領(lǐng)域所使用。但是電子元器件在使用過(guò)程中經(jīng)常會(huì)發(fā)生破壞情況，從而對(duì)相關(guān)設(shè)備的正常運(yùn)行產(chǎn)生嚴(yán)重影響。基于此，本文就對(duì)電子元器件的破壞性物理分析進(jìn)行詳細(xì)的闡述，以期為電子元器件檢修工作提供參考依據(jù)?！娟P(guān)鍵詞】電子元器件 破壞性 物理分析隨著我國(guó)社會(huì)經(jīng)濟(jì)的快速發(fā)展，電子技術(shù)發(fā)展迅猛，逐漸成為現(xiàn)代社會(huì)的支撐產(chǎn)業(yè)。但是電子元器件在設(shè)備運(yùn)行階段經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)破壞，所以相關(guān)人員需要定期對(duì)電子元器件進(jìn)行檢查，從而保證電子元器件的正常使用?；诖吮疚木蛯?duì)電子元器件的破壞性物理

2、分析進(jìn)行講解。1 電子元器件破壞性物理分析電子元器件的破壞性物理分析是指對(duì)電子元器件進(jìn)行解剖，對(duì)電子元器件內(nèi)部結(jié)構(gòu)元素進(jìn)行詳細(xì)分析，從而保證電子元器件的設(shè)計(jì)合格、結(jié)構(gòu)組合一致、材料運(yùn)用符合標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)一步保證電子元器件的使用質(zhì)量符合要求。電子元器件的破壞性物理分析就是pda，英文為destructive physical analysis，主要是指對(duì)電子一般情況下，pda的目的包含以下兩個(gè)方面內(nèi)容：一方面，對(duì)電子元器件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行、使用材料、工藝設(shè)計(jì)等方面內(nèi)容進(jìn)行檢查，保證這些部分組成合理，符合質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)，從而可以為為電子元器件破壞性物理分析奠定堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。另一方面，pda可以為部分電子元器件的改進(jìn)

3、提供參考依據(jù)，并可以對(duì)電子元器件的生產(chǎn)狀況和生產(chǎn)質(zhì)量效率進(jìn)行針對(duì)性評(píng)價(jià)。2 我國(guó)電子元器件破壞性物理分析的應(yīng)用效果2.1 相關(guān)半導(dǎo)體器件質(zhì)量合格率高隨著我國(guó)社會(huì)經(jīng)濟(jì)的快速發(fā)展，我國(guó)半導(dǎo)體器件的使用逐漸提升，但是半導(dǎo)體器件在使用過(guò)程中還存在著嚴(yán)重的質(zhì)量實(shí)效性問(wèn)題，因此，相關(guān)人員需要對(duì)半導(dǎo)體器件的破壞情況進(jìn)行全面分析，并針對(duì)半導(dǎo)體器件中存在的問(wèn)題制定針對(duì)性解決措施，保證半導(dǎo)體器件產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量合格，從而提高我國(guó)相關(guān)半導(dǎo)體器件質(zhì)量合格率。2.2 加快電子元器件質(zhì)量問(wèn)題的原因發(fā)現(xiàn)速度隨著經(jīng)濟(jì)全球化的到來(lái)，我國(guó)逐漸成為經(jīng)濟(jì)大國(guó)，半導(dǎo)體器件的使用數(shù)量也逐漸呈現(xiàn)出上升的趨勢(shì)，通過(guò)對(duì)相關(guān)數(shù)據(jù)的分析可知，我國(guó)電子

4、元器件破壞性物理分析中的不合格項(xiàng)目的發(fā)現(xiàn)機(jī)率上升，內(nèi)部檢測(cè)不合格率、芯片剪切不合格率等情況直線上升，所以，電子元器件的破壞性物理分析可以加快電子元器件質(zhì)量問(wèn)題的原因發(fā)現(xiàn)速度。2.3 為相關(guān)器件改進(jìn)措施提供參考依據(jù)一般情況下，相關(guān)人員在進(jìn)行相關(guān)器件的破壞性物理分析后，經(jīng)常會(huì)經(jīng)分析數(shù)據(jù)提供給器件的生產(chǎn)廠家，然后器件生產(chǎn)廠家在對(duì)相關(guān)器件的破壞性物理分析數(shù)據(jù)進(jìn)行整理，并對(duì)數(shù)據(jù)顯示中的不合格元器件進(jìn)行分析，改進(jìn)生產(chǎn)加工方法，從而保證相關(guān)器件的質(zhì)量合格。與此同時(shí)，相關(guān)廠家也會(huì)對(duì)電子元器件破壞性物理因素進(jìn)行分析，并在內(nèi)部建立相關(guān)分析部門，在相關(guān)器件生產(chǎn)出廠之前，對(duì)器件進(jìn)行破壞性物理分析檢查，讓電子元器件生產(chǎn)

5、廠家都對(duì)自家生產(chǎn)情況進(jìn)行了解，從而保證各個(gè)電子元器件生產(chǎn)廠家質(zhì)量合格。3 電子元器件破壞性物理分析的具體要項(xiàng)3.1 用戶委托形勢(shì)下的工作開展要點(diǎn)現(xiàn)階段，我國(guó)電子元器件破壞性物理分析已經(jīng)涉及到各個(gè)領(lǐng)域，對(duì)各個(gè)領(lǐng)域的發(fā)展都起到至關(guān)重要的作用，面對(duì)此種情況，相關(guān)人員需要對(duì)電子元器件的可靠性進(jìn)行分析，并使用用戶委托形式下的工作開展要點(diǎn)。一般情況下，用戶委托形勢(shì)下的工作開展要點(diǎn)需要從以下兩個(gè)方面進(jìn)行：一方面，相關(guān)人員需要嚴(yán)格按照國(guó)家下發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行電子元器件破壞性物理分析，并在雙方合同中對(duì)裁定標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行說(shuō)明，嚴(yán)格按照裁定標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行價(jià)格制定。另一方面，在進(jìn)行電子元器件的樣品制作過(guò)程中，相關(guān)人員需要采用科學(xué)合理的

6、解剖技術(shù)對(duì)電子元器件進(jìn)行解剖，分析電子元器件的外形結(jié)構(gòu)、內(nèi)部結(jié)構(gòu)、集合電路等方面內(nèi)容是否合理，然后再進(jìn)行其他項(xiàng)目的檢測(cè)工作。3.2 電子元器件破壞性物理分析工作的展開時(shí)機(jī)分析現(xiàn)階段，隨著我國(guó)社會(huì)經(jīng)濟(jì)的快速發(fā)展，對(duì)電子元器件破壞性物理分析工作的重視程度逐漸增加，面對(duì)此種情況，相關(guān)人員需要對(duì)電子元器件破壞性物理分析工作制定嚴(yán)格的規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)，保證電子元器件可以滿足設(shè)備的使用需求。相關(guān)單位可以在施工前期開展相關(guān)產(chǎn)品的破壞性物理分析工作，對(duì)產(chǎn)品情況進(jìn)行合理分析，并提高分析人員的電子元器件破壞性物理分析質(zhì)量。3.3 抽樣取樣的科學(xué)性分析在電子元器件的破壞性物理分析中最常見的工作就是抽樣取樣的科學(xué)性分析，具體

7、可以從以下個(gè)方面進(jìn)行：一方面，在電子元器件檢測(cè)中需要保證樣品數(shù)量不超過(guò)十個(gè)，且保證樣品數(shù)量占到生產(chǎn)總批數(shù)的百分之一。另一方面，相關(guān)人員需要對(duì)未經(jīng)過(guò)篩選的樣品進(jìn)行分析，并嚴(yán)格按照檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行執(zhí)行，進(jìn)一步動(dòng)我國(guó)電子技術(shù)的快速發(fā)展。4 總結(jié)語(yǔ)總而言之，隨著我國(guó)社會(huì)經(jīng)濟(jì)的快發(fā)展，電子元器件的應(yīng)用范圍逐漸擴(kuò)大，因此，相關(guān)人員要想保證電子元器件的正常使用就需要對(duì)電子元器件的破壞性物理分析進(jìn)行全面分析，并根據(jù)電子元器件的具體使用環(huán)境制定針對(duì)性維護(hù)措施，保證電子元器件的正常使用，從而推動(dòng)我國(guó)電子技術(shù)的快速發(fā)展。參考文獻(xiàn)1周慶波，王曉敏.電子元器件破壞性物理分析中幾個(gè)問(wèn)題的探討j.太赫茲科學(xué)與電子信息學(xué)報(bào)，2016，14（01）：155-158.2梁倩.電子元器件破壞性物理分析密封試驗(yàn)的探討與實(shí)踐c.四川省電子學(xué)會(huì)曙光分會(huì)第十七屆學(xué)術(shù)年會(huì)暨中物院第十屆電子技術(shù)青年學(xué)術(shù)交流會(huì)論文集，2014：482-488.3梁倩，王淑杰，龔國(guó)虎等.電子元器件密封試驗(yàn)的探討與實(shí)踐j.太赫茲科學(xué)與電子信息學(xué)報(bào)，2015，13（06）：1009-1013.4周慶波.電子元器件破壞性物理分析中幾個(gè)問(wèn)題的探討c.四川省電子學(xué)會(huì)曙光分會(huì)第十七屆學(xué)術(shù)年會(huì)暨中物院第十屆電子技術(shù)青年學(xué)術(shù)交流會(huì)