鋯石U-Pb同位素年代學(xué)測試技術(shù)概論及定年方法

1、.2012.3.成都.) 1ln(1NDt) 1ln(1NDt.1ln12382068238/206UPbt1ln12352075235/207UPbt1ln12322082232/208ThPbt1188.137185206207tteePbPb.Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS .UPb238206UPb235207ThPb232208PbPb206207UThPbPbPbPb235232208207206204205Pb233U離子計(jì)數(shù)器離子計(jì)數(shù)器檢測器檢測器法拉第杯法拉第杯+ +離子計(jì)數(shù)器離子計(jì)數(shù)器TIMSSIMSMC-ICP-MSQ-ICP-

2、MS.束斑直徑：束斑直徑：通常通常10-30m10-30m.束斑直徑1280: 5- mNanoSIMS: Pb-Pb 2 mU-Pb 44m.LA-ICP-MSLA-ICP-MS能夠獲得和能夠獲得和SHRIMPSHRIMP在精密度和準(zhǔn)確度上在精密度和準(zhǔn)確度上相媲美的相媲美的U-PbU-Pb年代學(xué)數(shù)據(jù)！年代學(xué)數(shù)據(jù)！.解決什么問題？解決什么問題？樣品的類型（碎屑巖樣品的類型（碎屑巖/ /花崗巖）花崗巖）鋯石物理鋯石物理( (粒徑粒徑) )化學(xué)化學(xué)(U(U含量含量) )特征特征成本成本.A bridgeRaw SignalAccurate data report.數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)處理.niiirh12

3、V剝蝕量剝蝕量&ICP-MS&ICP-MSLA-ICP-MS分析信號變化特征分析信號變化特征.儀器狀態(tài)儀器狀態(tài)束斑大小束斑大小剝蝕方式剝蝕方式( (單點(diǎn)單點(diǎn)/ /線掃線掃) ).QCSQCSQCSQCSQCS.596+/- 8.6Ma625+/- 8.4Ma567+/-10.7MaGJ-124 m和外標(biāo)區(qū)間一致和外標(biāo)區(qū)間一致和外標(biāo)區(qū)間不一致和外標(biāo)區(qū)間不一致和外標(biāo)區(qū)間不一致和外標(biāo)區(qū)間不一致.123數(shù)據(jù)不確定度大，MSWD小數(shù)據(jù)不確定度小，MSWD大.Parrish and Stephen (2003).WetherillWetherill諧和曲線圖諧和曲線圖Tera-WasserburgTera-Wasserburg諧和曲線圖諧和曲線圖.Xu et al., 2012 (Lithos).Tera-Wasserburg圖解對于含普通Pb鋯石的年齡計(jì)算非常合適（Jackson et al., 2004, CG）.ICP-MS (Agilent 7500a, 7700 x) + MC-ICP-MS (Neptune Plus) + LA (兩臺GeoLas Pro)LA-MC-ICP-MS實(shí)驗(yàn)室.Triton TI TIMSTIMS實(shí)驗(yàn)室.NewWave MicroMill.超純水制備超純酸制備樣