GR-326-CORE規(guī)范講解

1、GR-326-CORE精義精義 GR-326-CORE 儀器設(shè)備介紹儀器設(shè)備介紹 相關(guān)術(shù)語簡介相關(guān)術(shù)語簡介 測試項(xiàng)目目錄測試項(xiàng)目目錄 使用壽命測試使用壽命測試 可靠性測試可靠性測試 一般文件要求一般文件要求儀器設(shè)備介紹儀器設(shè)備介紹環(huán)境測試設(shè)備環(huán)境測試設(shè)備環(huán)境測試機(jī)環(huán)境測試機(jī)光纖通迅性能測試儀光纖通迅性能測試儀(OCETS)(OCETS)OCETSOCETS使用參考使用參考:OCET(58CHANNEL):OCET(58CHANNEL)操作方法操作方法 機(jī)械測試設(shè)備機(jī)械測試設(shè)備振動(dòng)測試振動(dòng)測試振動(dòng)分析儀振動(dòng)分析儀耐用性測試耐用性測試扭力測試扭力測試彎曲測試彎曲測試張力負(fù)載張力負(fù)載 傳輸測試傳輸測

2、試撞擊測試撞擊測試光纖扭力分析儀光纖扭力分析儀輔助設(shè)備輔助設(shè)備JDS400倍放大鏡黑白顯示器假頭輔助設(shè)備輔助設(shè)備3D干涉儀熔接機(jī)切割刀相關(guān)術(shù)語簡介相關(guān)術(shù)語簡介 光學(xué)性能標(biāo)準(zhǔn)：IL（Insertion Loss）, RL(Return Loss) 電纜介質(zhì)種類：1、 2.0&3.0 2、0.9 3、0.25裸纖 測試樣品：Samples(Pigtail,Patchcord) 測試樣本 不合格處理 損壞標(biāo)準(zhǔn) 幾何要求光學(xué)性能標(biāo)準(zhǔn)：損失（光學(xué)性能標(biāo)準(zhǔn)：損失（ILIL）和反射損失（）和反射損失（RLRL）Requirement（要求）-Requirement里面包含著shall（應(yīng)該） 或 m

3、ust（必須），用R表示。Conditional Requirement（條件性要求）-條件可能引起條件性要求，適用但不是限制于特定的顧客應(yīng)用環(huán)境，因素和其他需求。Conditional Requirement用字母CR表示。Objective （目標(biāo)）目標(biāo)表示所要達(dá)到的目的。Objective用字母O表示。Conditional Objective（條件性目標(biāo)） 它代表在具體條件下所要達(dá)到的目的。假如客戶認(rèn)為條件性目標(biāo)有必要，那這就要被看作是要求。Conditional Objective用字母CO表示。Condition（條件）-情況會(huì)引起條件性要求和條件性目標(biāo)。Condition用字母C

4、n表示。 測試項(xiàng)目最大損失平均損失損失增加(R)(O)(R)(O)(R)(O)新產(chǎn)品0.400.200.200.15-測試期間無負(fù)載0.500.300.300.200.300.20測試期間有負(fù)載-0.500.30測試的結(jié)尾0.500.300.300.20-測試項(xiàng)目反射比反射比的增長(R)(CR)(CO)(R)(O)新產(chǎn)品405560-測試期間無負(fù)載40556052測試期間有負(fù)載40556052測試的結(jié)尾40556052用在數(shù)字系統(tǒng)的連接器應(yīng)該滿足“Requirement”中反射比的標(biāo)準(zhǔn)：不超過40dB。用在AM-VSB（模擬視頻）系統(tǒng)中的連接器應(yīng)該滿足“Conditional Requirem

5、ent”的反射比標(biāo)準(zhǔn)：不超過55dB。用在AM-VSB（模擬視頻）系統(tǒng)中的連接器應(yīng)該滿足“Conditional Objective”的反射比標(biāo)準(zhǔn)：不超過60dB。電纜介質(zhì)種類可分為以下幾種電纜介質(zhì)種類可分為以下幾種種類I 任何直徑覆上套的電纜作為跳線；2.0&3.0種類II 帶有900 um緩沖外被的電纜，它可能被加固，也可能不被加固；0.9種類III 用250 um外被將連接器安裝在光纖上。0.25的裸纖 測試樣品測試樣品(samples) (samples) 尾纖(pigtail)組裝件：包括2個(gè)匹配的連接器插頭和帶有非終結(jié)導(dǎo)線(unterminated leads)的轉(zhuǎn)換器。每

6、一個(gè)非終結(jié)導(dǎo)線應(yīng)該長為30.5米, 這樣可以使接合部分位于環(huán)境實(shí)驗(yàn)室(environmental chamber)之外。 光纜跳接線（jumper cable）組裝件：包括一個(gè)光纜跳接線，它的兩端由插頭和轉(zhuǎn)換器端接，兩個(gè)轉(zhuǎn)換器和另外的兩個(gè)帶有非終結(jié)導(dǎo)線的連接器插頭相連。光纜跳接線有30.5米。每一個(gè)非終結(jié)導(dǎo)線也應(yīng)該有30.5米長，這樣可以使接合部分位于環(huán)境實(shí)驗(yàn)室之外。 小型連接器（small form factor connectors）：指那些插針體外徑小于2.0mm的連接器。小型連接器（比如MU,LCTM,LX.5）的截面面積比較小，大約是傳統(tǒng)連接器（比如SC,FC,D4和ST）的一半。

7、樣本樣本(population) (population) 包括（15個(gè)）尾纖組裝件和（5個(gè)）光纜跳接線組裝件。尾纖組裝件樣品將依次進(jìn)行環(huán)境和機(jī)械測試，光纜跳接線組裝件只需進(jìn)行環(huán)境測試 不合格處理不合格處理 被“熱備份”替代的起初測試的樣本的數(shù)目應(yīng)該不超過10個(gè)。 損壞標(biāo)準(zhǔn)損壞標(biāo)準(zhǔn) 在相應(yīng)的測試完成時(shí)，應(yīng)該檢查連接器的插頭和適配器是否有損壞，以免對(duì)連接器的性能產(chǎn)生影響。檢查的部分包括：外圍部分的變形(distortion of housing parts)，比如，在插入時(shí)有困難，不合適的連接(improper snap-fits)等。插針體和套筒(ferrules and sleeves)的變

8、型，比如，接合力改變和端面幾何形狀的改變等可能造成。裂痕有碎片，刮痕等。侵蝕或殘?jiān)鼊e的可能影響使用的損壞。新產(chǎn)品測量中永久性的超過0.5dB的損失增長。新產(chǎn)品測量中永久性的的超過5dB的反射比增長。 細(xì)查(examination)也包括在放大100倍的情況下檢查插針體研磨后的端面的裂痕，碎片，或者擦傷。幾何要求幾何要求 光纖突出量是相對(duì)于由曲率半徑給出的球形弧頂?shù)墓饫w位置。頂點(diǎn)偏移量是從纖芯中心到FERRULE表面球形弧頂。無角度PC連接器的RERRULE端面： 光纖凸出量Y應(yīng)小于50nm； 半徑應(yīng)該在7mm到25mm之間； 偏移量應(yīng)小于50m。有角度APC連接器的端面 ： 光纖凸出量Y應(yīng)小于

9、100nm； 半徑應(yīng)該在5mm到12mm之間； 偏移量應(yīng)小于50m。實(shí)驗(yàn)室的周邊條件實(shí)驗(yàn)室的周邊條件作這個(gè)報(bào)告中的測試所需的實(shí)驗(yàn)室的周邊條件如下：溫度：23 2C (73 4F)濕度：小于75% RH 能夠在1310nm和1550nm波長處測量損失和反射損失 光源的中心波長為：1310 20 nm 和 1550 20 nm； 光源的譜寬為：小于75nm； 損失測量的精確度為：0.05dB； 后向反射測量的精確度為：RL-64 dB 時(shí)， 2 dB ； - 65 dB -80 dB 時(shí)， 5 dB； 光學(xué)測量儀器的要求光學(xué)測量儀器的要求 測試項(xiàng)目目錄測試項(xiàng)目目錄測試標(biāo)準(zhǔn)章節(jié)新產(chǎn)品R4-219-C

10、O4-8254.4.1環(huán)境測試1高溫老化測試R4-926-O4-1027R4-1127-O4-1228R4-1330-O4-1431R4-1532-O4-1633NoneR4-1734-O4-1835R4-4962-O4-53664.4.2.12高溫循環(huán)4.4.2.23高濕老化4.4.2.34高濕/冷凝循環(huán)4.4.2.45烘干步驟4.4.2.56冷凝后高溫循環(huán)4.4.2.67灰塵4.4.4.1機(jī)械測試1彎曲測試R4-2138-CO4-23218R4-2440-O4-2541R4-2642-CO4-28219R4-2944-CO4-36221R4-3750-O4-3851R4-3952-O4-4

11、457R4-1936-O4-20374.4.3.22扭曲測試4.4.3.33耐力測試4.4.3.44施加張力負(fù)載下的傳輸4.4.3.55撞擊測試4.4.3.76耐用性測試4.4.3.87震動(dòng)測試4.4.3.1材料測試1粘性測試R4-5467R4-5568-R4-5871R4-5972-R4-6275R4-6376-O4-6477R4-6578-CR4-66794.4.4.22空氣污染物測試4.4.4.33鹽水噴霧測試4.4.4.44浸漬/腐蝕測試4.4.4.55地下水侵蝕測試4.4.4.6幾何要求1無角度PC端面幾何形狀R4-6780 - R4-69824.4.5.12有角度APC端面的幾何形

12、狀R4-702224.4.5.23端面幾何測量面積R4-712234.4.5.3使用要求1連接器安裝測試R4-72224 - O4-752264.4.6 測試項(xiàng)次名稱章節(jié)1Ferrule 端面幾何形狀4.4.52新產(chǎn)品4.4.13高溫老化測試(可選)4.4.2.14高溫循環(huán)4.4.2.25高濕老化4.4.2.36高濕/冷凝循環(huán)4.4.2.47烘干步驟4.4.2.58冷凝后高溫循環(huán)4.4.2.69振動(dòng)測試4.4.3.110彎曲測試4.4.3.211扭曲測試4.4.3.312耐力測試4.4.3.413施加張力負(fù)載下的傳輸4.4.3.514撞擊測試4.4.3.715耐用性測試4.4.3.816連接器

13、安裝測試4.4.617測試標(biāo)準(zhǔn)結(jié)尾（end of test criteria）4.4.3.9, 4.4.5使用壽命測試（測試序列和測試流程）使用壽命測試（測試序列和測試流程）可靠性測試可靠性測試測試項(xiàng)次名稱章節(jié)測試樣品（種類）1擴(kuò)展的高熱老化GR-1221-CORE6.2.4跳接線組件2擴(kuò)展的高濕GR-1221-CORE6.2.5跳接線組件3擴(kuò)展的高熱循環(huán)GR-1221-CORE6.2.7跳接線組件4鹽水噴霧4.4.4.4 尾纖組件5空氣污染物4.4.4.3 尾纖組件7地下水侵蝕4.4.4.6尾纖組件8浸漬/侵蝕測試4.4.4.5尾纖組件和插頭使用壽命測試使用壽命測試Service Life

14、TestService Life Test使用壽命測試使用壽命測試-環(huán)境測試（環(huán)境測試（1 1）操作條件：溫度 230C(40F) （在230C（730F）溫度下，至少2個(gè)小時(shí)達(dá)到平衡。） 濕度 2RH(溫度/濕度循環(huán)測試?yán)?樣本：15（尾纖組件）+5（跳接線組件）+10（熱備份）高溫老化測試條件高溫老化測試條件溫度：850C (1850F)持續(xù)時(shí)間：168小時(shí)（7天）高低溫循環(huán)測試條件高低溫循環(huán)測試條件溫度：400C+700C持續(xù)時(shí)間：21個(gè)周期，168小時(shí)（7天）損失和反射比測量：在每一個(gè)溫度平臺(tái)，在測試結(jié)束時(shí)溫度為230C都要進(jìn)行測量。在溫度平臺(tái)上進(jìn)行的測量至少在平臺(tái)起始點(diǎn)30分鐘后開

15、始。注意：如果為了完成測量的需要，這個(gè)周期可以通過減少過渡時(shí)間和增加保持時(shí)間來修改 。濕度老化測試條件濕度老化測試條件溫度：750C(1670F)濕度：95持續(xù)時(shí)間：168小時(shí)（7天）損失和反射比測量：在測試的開始和結(jié)束（230C）, 以及在測試期間，測量至少每隔6小時(shí)測量。使用壽命測試使用壽命測試-環(huán)境測試（環(huán)境測試（2 2）高溫循環(huán)測試條件高溫循環(huán)測試條件溫度：100C+650C濕度：在顯示的任何點(diǎn)上為90100RH持續(xù)時(shí)間：14個(gè)周期，168小時(shí)（7天）損失和反射比測量：在每一個(gè)溫度平臺(tái)，在測試結(jié)束時(shí)溫度為230C都要進(jìn)行測量。在溫度平臺(tái)上進(jìn)行的測量至少在平臺(tái)起始點(diǎn)30分鐘后開始。 注意

16、：圖中，為了模擬在工廠以外的應(yīng)用時(shí)可能發(fā)生的最糟糕的冷凝條件，比如enclosure。為了使冷凝最大化，有必要讓實(shí)驗(yàn)室升溫的速度比樣品的更快，這樣可以使實(shí)驗(yàn)室中樣品的溫度仍保持在空氣的結(jié)露點(diǎn)以下。為了達(dá)到這個(gè)條件，發(fā)現(xiàn)必須把實(shí)驗(yàn)室的溫度最多在15到20分鐘以內(nèi)從100C升到650C。已經(jīng)發(fā)現(xiàn)這種情況下可以持續(xù)的產(chǎn)生大量的冷凝。烘干測試條件：烘干測試條件：750C進(jìn)行24小時(shí)（1天）的烘干 冷凝后的高溫循環(huán)測試?yán)淠蟮母邷匮h(huán)測試 ：同之前的高溫循環(huán)測試原理在濕度/冷凝循環(huán)中發(fā)生產(chǎn)生的一些變化的效果將會(huì)在冷凝被移除以后變的更明顯。比如，濕氣會(huì)填補(bǔ)在冷凝循環(huán)中產(chǎn)生的空氣隙，這樣在熱、濕冷凝期間在連

17、接器之間提供了一條光學(xué)通道。當(dāng)冷凝被移除的時(shí)候，空氣間隙依然存在，這將會(huì)造成一個(gè)更大的反射比和/或損失。使用壽命測試使用壽命測試-機(jī)械測試（機(jī)械測試（1 1）實(shí)驗(yàn)室的周邊條件如下：溫度：23 2C (73 4F)濕度：小于75% RH 樣本：15（尾纖組件）振動(dòng)測試振動(dòng)測試(vibration test)(vibration test)a. 把連接器組件裝入振動(dòng)儀，使振動(dòng)方向沿著一條基軸（例如，X軸）?？梢詥蝹€(gè)或成批的放進(jìn)去。b. 測量損失和反射比。c. 振動(dòng)連接器2個(gè)小時(shí)，振幅為1.5mm（峰與峰之間），連續(xù)來回的頻率在10到50Hz之間，并以45Hz每分鐘的頻率變化。d. 測量損失和反射比

18、e. 把振動(dòng)方向沿著連接器組裝件的第二條基軸放置（例如，Y軸），重復(fù)c, d兩步。f. 沿著第三條基軸（例如，Z軸）重復(fù)c, d兩步。使用壽命測試使用壽命測試-機(jī)械測試（機(jī)械測試（2 2）彎曲測試彎曲測試(flex test)(flex test)只適用于介質(zhì)類型(Media Type I) a. 測量損失和反射比。b. 施加0.9kgf.(2.0 lbf.)的負(fù)載，對(duì)于小型的連接器，負(fù)載水平可以減至0.6kgf.(1.3 lbf)。c. 按照下面的循環(huán)：00, 900, 00, -900, 00, 旋轉(zhuǎn)測試夾具臂的角度，重復(fù)100次這樣的循環(huán)。d. 移去負(fù)載。e. 測量損失和反射比。由上面“

19、e”步驟中的測量結(jié)果減去“a”步驟的結(jié)果，以此來決定是否滿足損失和反射比標(biāo)準(zhǔn)。原理Telcordia 技術(shù)論壇（Telcordia Technical Forum）一致認(rèn)為：小型連接器在施加部分負(fù)載(side loads)水平是較大的傳統(tǒng)連接器負(fù)載水平的2/3時(shí)，由于同時(shí)小型連接器的尺寸較小，它也必須能夠滿足損失和反射比要求。但是，有關(guān)點(diǎn)認(rèn)為小型連接器在施加部分負(fù)載時(shí)應(yīng)滿足對(duì)傳統(tǒng)連接器來說同樣的要求，論壇認(rèn)為這樣的觀點(diǎn)應(yīng)該成為一種目標(biāo)。 使用壽命測試使用壽命測試-機(jī)械測試（機(jī)械測試（3 3）扭曲測試扭曲測試a.把測試樣品放入測試設(shè)備中。b.測量損失和反射比。c.施加負(fù)載：介質(zhì)類型(Media

20、Type I)，1.35kgf (3.0 lbf)介質(zhì)類型(Media Type II)，0.75 kgf (1.65 lbf)介質(zhì)類型(Media Type III)，0.5kgf (1.1 lbf)d.旋轉(zhuǎn)絞盤的X軸，使其與光纖的軸向重合。e.反向并旋轉(zhuǎn)Y軸。再次反向并旋轉(zhuǎn)Y軸。f.重復(fù)步驟“c”9次。g.移去負(fù)載，測量損失和反射比。介質(zhì)類型XY類型I2.55類型II1.53 耐力測試耐力測試本測試適用于介質(zhì)Ia.把測試樣品放入測試設(shè)備中。b.測試損失和反射比。直接拉拔(straight pull):c.沿著00角，施加4.5kgf(10 lbf)負(fù)載至少5秒鐘。d.移去負(fù)載，至少10秒鐘

21、后，測量損失和反射比。轉(zhuǎn)到“e”步驟，看下面的注意事項(xiàng)。e.沿著00角，施加6.8kgf(15 lbf)負(fù)載至少5秒鐘。f.移去負(fù)載，至少10秒鐘后，測量損失和反射比。90角側(cè)邊拉拔(900 side pull):g.沿著900角，施加2.3kgf(5.0 lbf)負(fù)載至少5秒鐘。對(duì)于小型連接器，負(fù)載水平可以減至1.5kgf(3.3 lbf)。h.移去負(fù)載，至少20秒鐘后，測量損失和反射比。轉(zhuǎn)到“i”步驟，看下面的注意事項(xiàng)。i.沿著900角，施加3.4kgf(7.5 lbf)負(fù)載至少5秒鐘。對(duì)于小型連接器，負(fù)載水平可以減至2.3kgf(5.0 lbf)。j.移去負(fù)載，至少20秒鐘后，測量損失和

22、反射比。使用壽命測試使用壽命測試-機(jī)械測試（機(jī)械測試（4 4）施加張力負(fù)載時(shí)的傳輸(Transmission with Applied Tensile Load) 介質(zhì)類型I負(fù)載0090013500.25kgf(0.55lbf)XXX0.7kgf(1.54lbf)XX 1.5kgf(3.3lbf)XX 2.0kgf(4.4lbf)XX 介質(zhì)類型II負(fù)載0090013500.25kgf(0.55lbf)XXX0.7kgf(1.54lbf)XX 介質(zhì)類型III負(fù)載0090013500.25kgf(0.55lbf)XX 0.55kgf(1.1lbf)XX 介質(zhì)類型I負(fù)載0090013500.25 k

23、gf(0.55 lbf) RaObO0.17 kgf(0.37 lbf) RR0.7kgf(1.54lbf)RO 0.47kgf(1.00lbf) R 1.5kgf(3.3lbf)RO 1.0kgf (2.2 lbf) R 2.0kgf(4.4lbf)RO 1.3kgf(2.9lbf) R 介質(zhì)類型II負(fù)載0090013500.25kgf(0.55lbf)ROO0.17kgf(0.37lbf) RR0.7kgf(1.54lbf)RO 0.47kgf(1.00lbf) R 介質(zhì)類型III負(fù)載0090013500.25kgf(0.55lbf)RO 0.17kgf(0.37lbf) R 0.5kgf

24、(1.1 lbf)RO 0.33kgf(0.73 lbf) R 小型連接器傳統(tǒng)連接器應(yīng)該滿足表應(yīng)該滿足表4 42 2和和4 43 3的的 “負(fù)載測試負(fù)載測試” 行中列出的行中列出的損失和反射比要求標(biāo)準(zhǔn)。損失和反射比要求標(biāo)準(zhǔn)。 使用壽命測試使用壽命測試-機(jī)械測試（機(jī)械測試（4 4）施加張力負(fù)載時(shí)的傳輸(Transmission with Applied Tensile Load) 和耐力測試（Proof Test）使用壽命測試使用壽命測試-機(jī)械測試（機(jī)械測試（5 5）撞擊測試撞擊測試(Impact Test)(Impact Test)a. 測量損失和反射比b. 從連接器組件中去掉一個(gè)插頭，通過它

25、的光纜跳接線把那個(gè)插頭放進(jìn)撞擊測試夾具中。Ferrule cap套在插針體上只是為了保護(hù)光纖端面。 Ferrule cap不應(yīng)該阻止撞擊壓力，也不應(yīng)該保護(hù)連接器免于撞擊。 Ferrule cap不能夠蓋在外部支架或外殼的任何部分。 Ferrule cap應(yīng)該由不會(huì)污染插針體的材料制成。c. 把插頭升高到水平位置，然后放掉，這樣可以撞擊擋板。重復(fù)總共8次這樣的撞擊。d. 根據(jù)供應(yīng)商的選擇，按清洗流程A（4.3.1節(jié)）或清洗流程B(4.3.2節(jié))清洗連接器組件。e. 測量損失和反射比。 使用壽命測試使用壽命測試-機(jī)械測試（機(jī)械測試（6 6）耐用性測試耐用性測試在離地面上的每一個(gè)距離點(diǎn)上：1.8m(

26、6ft.), 1.4m(4.5ft.), 0.9m(3ft.)。A. 在6ft.高處，斷開然后再連接1個(gè)連接器組件。B. 在4.5ft.高處，斷開然后再連接1個(gè)連接器組件。C. 在3ft.高處，斷開然后再連接1個(gè)連接器組件。D. 在3ft.高處，斷開然后再連接1個(gè)連接器組件。E. 在4.5ft.高處，斷開然后再連接1個(gè)連接器組件。F. 在6ft.高處，斷開然后再連接1個(gè)連接器組件。G. 重復(fù)“a”到“f”步驟，一直到15個(gè)連接器組件都已經(jīng)被拆開和再連接過。H. 這個(gè)序列算作一次插入。在200次的插入過程中，使用下面的方案：A. 在插入次數(shù)為：24，49，74，99，124，149，174，19

27、9時(shí)，不用清洗，進(jìn)行測量。B. 在插入次數(shù)為：25，75，125，175時(shí)，進(jìn)行單邊的清洗后，記錄讀數(shù)。在這個(gè)點(diǎn)上，不需要再次清洗。C. 在插入次數(shù)為50、100、150、200，兩端都清洗以后，記錄讀數(shù)。D. 如果在200次插入結(jié)束以后，一些連接器不滿足光學(xué)標(biāo)準(zhǔn)，清洗以后它們?nèi)圆粷M足光學(xué)標(biāo)準(zhǔn)，那么將要進(jìn)行最多為2次的再清洗。9090產(chǎn)品應(yīng)該滿足表產(chǎn)品應(yīng)該滿足表4 42 2和和4 43 3的的 “負(fù)載測試負(fù)載測試” 行中列出的損失和反射比要求標(biāo)準(zhǔn)。行中列出的損失和反射比要求標(biāo)準(zhǔn)。測試標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)束測試標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)束在使用壽命測試，在所有的測試完成時(shí)，將使用下面的標(biāo)準(zhǔn)。R4-45 58 光學(xué)要求產(chǎn)品滿足表42和43的 “測試結(jié)束” 行中列出的損失和反射比要求標(biāo)準(zhǔn)。R4-46 59 光學(xué)目標(biāo)產(chǎn)品滿足表42和43的 “測試結(jié)束” 行中列出的損失和反射比目標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)。R4-47 60 插針體端面幾何形狀產(chǎn)品滿足端面幾何形狀要求標(biāo)準(zhǔn)。R4-48 61 損壞在測試結(jié)束的時(shí)候，應(yīng)該沒有影響連接器插頭或適配器性能的損壞。原理在極端的環(huán)境中，由于插針體端面幾何形狀的變化，玻璃中的氣泡或刻蝕，或別的損壞，將造成連接器的性能發(fā)生變化。 連接器安裝連接器安裝連接器應(yīng)該能夠在一個(gè)盒子或別的容器中正常工作，這