友聯(lián)PXUT350操作手冊

1、pxut-350+型全數(shù)字智能超聲波探傷儀操作手冊（版本號: 2009/2-rt）目 錄第一章 序言聲明-1-1安全- 1-2特性- 1-3指標(biāo)- 1-4約定- 1-5第二章 儀器組件和外圍設(shè)備儀器組件儀器前部與右側(cè)- 2-1儀器上部- 2-2外圍設(shè)備- 2-3 儀器的進(jìn)入與時間更改- 2-4第三章 參量說明增益- 3-1聲程- 3-2波門- 3-3零點(diǎn)- 3-4延時- 3-5聲程標(biāo)度- 3-6探頭類型- 3-7探頭k值- 3-8晶片尺寸- 3-9探頭前沿- 3-10探頭頻率- 3-11工件聲速- 3-12表面補(bǔ)償- 3-13判廢偏移- 3-14定量偏移- 3-15評定偏移- 3-16濾波頻帶

2、- 3-17按鍵聲音- 3-18探頭阻尼-3-19發(fā)射電壓-3-20第四章 鍵盤及其功能記錄- 4-1波門- 4-2通道/設(shè)置- 4-3零點(diǎn)/測試- 4-4增益/補(bǔ)償- 4-5聲程/標(biāo)度- 4-6聲速/標(biāo)準(zhǔn)- 4-7k值-4-8功能- 4-9延時/抑制- 4-10選項- 4-11查詢- 4-12增量-4-13減量-4-14返回#-4-15確定¿-4-16鍵盤鎖-4-17第五章 儀器調(diào)試測零點(diǎn)聲速-5-1測折射角度-5-2制作dac（avg）-5-3測儀器性能-5-4測缺陷高度-5-5第六章 功能使用初始化-6-1回波包絡(luò)-6-2峰值記憶-6-3門內(nèi)報警-6-4dac門-6-5深度補(bǔ)償

3、-6-6其它功能-6-7第七章 數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)存儲-7-1屏幕拷貝-7-2數(shù)據(jù)檢索-7-3數(shù)據(jù)刪除-7-4報告-7-5調(diào)用-7-6數(shù)據(jù)通訊-7-7第八章 探傷舉例斜探頭dac法(自動測試) -8-1斜探頭dac法(人工測試) -8-2直探頭avg法-8-3雙晶探頭調(diào)試方法-8-4輔助功能使用舉例-8-5第九章 附加資料常見問題解答-9-1故障及處理方法-9-2超聲波探傷儀計量檢定說明-9-3數(shù)據(jù)輸入 拼音-9-4 區(qū)位-9-5 英文字母-9-6 刪除-9-7 負(fù)數(shù)輸入法-9-8 退出輸入狀態(tài)-9-9充電說明與電池保養(yǎng)-9-10儀器的清潔-9-11儀器的運(yùn)輸-9-12隨機(jī)資料-9-13重要提示-9

4、-14附錄1：焊縫圖示設(shè)置附錄2：報告樣本附錄3：報告樣本（tp up-nh32p打印機(jī)）附錄4: 儀器操作流程圖附錄5： aws標(biāo)準(zhǔn)使用說明第一章 序言l 感謝您使用友聯(lián)公司的產(chǎn)品，您能成為我們的用戶，是我們莫大的榮幸。該款全數(shù)字智能超聲波探傷儀采用國際先進(jìn)的數(shù)字集成技術(shù)和新型tft顯示器件，其各項性能指標(biāo)均達(dá)到或超過國際先進(jìn)水平。儀器采用人工智能技術(shù)，功能強(qiáng)勁，使用方便。為了您能盡快熟練掌握該款超聲波探傷儀，請務(wù)必仔細(xì)閱讀本操作手冊以及隨機(jī)配送的其他相關(guān)資料，以便您更好地使用探傷儀。l 請您仔細(xì)核對您所購儀器及其配件與裝箱單是否一致，如不一致請您拒收并立即與友聯(lián)公司聯(lián)系；購買儀器后，請您認(rèn)

5、真仔細(xì)地閱讀儀器的相關(guān)資料，以便了解您應(yīng)有的權(quán)利和義務(wù)。l 友聯(lián)公司生產(chǎn)的數(shù)字超聲波探傷儀是設(shè)計先進(jìn)、制造精良的高科技產(chǎn)品，在研發(fā)和制造過程中經(jīng)過了嚴(yán)格的技術(shù)評測，具有很高的可靠性。即使如此，您仍可能會在使用中遇到一些問題，甚至?xí)υ摦a(chǎn)品質(zhì)量產(chǎn)生懷疑。為此，我們在手冊中進(jìn)行了詳細(xì)說明，以消除您的疑慮。如果您在儀器使用過程中遇到問題，請查閱本操作手冊相關(guān)部分（特別是第九章），您也可以在友聯(lián)網(wǎng)站bbs上發(fā)貼提問，或直接與友聯(lián)公司聯(lián)系。感謝您的合作。聲明l 因版權(quán)所有，未經(jīng)友聯(lián)公司的書面許可不得翻印或以其它任何形式或方法使用此印刷資料或軟件中的某個部分。友聯(lián)公司對此印刷資料或軟件中所含資訊之使用或因

6、此而造成的損害一概不予負(fù)責(zé)。友聯(lián)公司有權(quán)更改此印刷資料或軟件之特征及內(nèi)容，恕不征求意見或事先通告。l 可通過以下任一種方式與友聯(lián)公司取得聯(lián)系：服務(wù)熱線：85296971電子郵件： saleut-公司網(wǎng)址： http:/www.ut-l 、友聯(lián)、union 均為南通市友聯(lián)數(shù)碼開發(fā)有限公司注冊商標(biāo)。epson 為精工公司擁有商標(biāo)，hp為惠普公司商標(biāo)，microsoft 和 windows為微軟公司擁有商標(biāo)，其他品牌及商品名稱屬于所有者的資產(chǎn)。1-1 安全l 使用指定的電源類型，如有不詳情況請與友聯(lián)公司或經(jīng)銷商聯(lián)系。l 不要在插頭連接松弛的地方使用充電器。l 如使用其他

7、電源線，其負(fù)載應(yīng)不小于隨機(jī)配備電源線的安培數(shù)。l 儀器應(yīng)存放在干燥清潔的地方，避免強(qiáng)烈振動。l 儀器長時間不工作時，應(yīng)定期充放電，一般每月一次。l 外部設(shè)備與儀器連接時，須在關(guān)機(jī)狀態(tài)下進(jìn)行。l 進(jìn)行打印操作時，必須使用友聯(lián)公司提供的打印機(jī)專用電纜。l 如果本儀器運(yùn)行有所失常，請與友聯(lián)公司或經(jīng)銷商聯(lián)系。l 請勿擅自拆裝本儀器，修理事宜請與友聯(lián)公司或經(jīng)銷商聯(lián)系。1-2特性l 日歷時鐘，儀器自動記錄工作日期和時間。l 10個獨(dú)立探傷通道（可擴(kuò)展至數(shù)百個），多種探傷工藝和標(biāo)準(zhǔn)自動生成，可自由設(shè)置各行業(yè)探傷工藝標(biāo)準(zhǔn)，現(xiàn)場探傷無需攜帶試塊。l 缺陷回波參數(shù)（距離、垂直、水平、波幅、db或當(dāng)量孔徑值）實(shí)時顯

8、示；多次波探測缺陷的實(shí)際深度可直接顯示。l dac、avg曲線自動生成并能分段制作，取樣點(diǎn)不受限制，并可進(jìn)行補(bǔ)償與修正。dac曲線隨增益自動浮動、隨聲程自動擴(kuò)展、隨延時自動移動；可實(shí)現(xiàn)指定回波的距離波幅補(bǔ)償。能顯示任意孔徑的avg線。l 進(jìn)波門和失波門讀數(shù)及報警，門位、門寬、門高任意可調(diào)；雙門可同時進(jìn)波讀數(shù)。獨(dú)具dac/avg門功能。l 0.1、1.0、2.0、6.0四種步進(jìn)，獨(dú)特的無操作式增益自動調(diào)節(jié)及補(bǔ)償增益功能，使探傷既快捷又準(zhǔn)確。l 具有峰值記憶、回波包絡(luò)、波形凍結(jié)等功能。l 完備的焊縫和工件剖面顯示，使探測結(jié)果更直觀。l 可利用端點(diǎn)衍射波實(shí)現(xiàn)缺陷裂紋的自動測高。l 數(shù)據(jù)處理能力強(qiáng)，可

9、按日期、存儲編號和序號進(jìn)行檢索和處理，高可靠數(shù)據(jù)保護(hù)，高速數(shù)據(jù)接口，快速實(shí)現(xiàn)報告打印。l 具有智能拼音輸入法，可方便快捷地輸入漢字，國內(nèi)首創(chuàng)。l 國內(nèi)領(lǐng)先tft顯示器，國內(nèi)屏幕最大，屏幕亮度清晰，具有常用模式和戶外專用模式，適應(yīng)各種操作環(huán)境，在強(qiáng)陽光下無需遮光罩，就能獲得滿意的觀察效果。l 配置高容量鋰電池，充電快、待機(jī)時間長。儀器重量僅1.4kg，體積小巧，攜帶使用輕松自如。1-3指標(biāo)l 頻帶范圍： 0.415mhzl 增益范圍： 110db，0.1，1.0，2.0，6.0步進(jìn)l 動態(tài)范圍： 30dbl 垂直線性： 4%l 水平線性： 1%l 探測范圍： 06000 mm（鋼中縱波）l 分

10、辨 力： 30dbl 靈敏度余量： 55db（200mm2平底孔，2.5pf20）l 探頭類型： 單探頭，雙晶探頭，穿透探頭l 聲程位移： 06000mm（鋼中縱波）l 閘 門： 進(jìn)波門（直方門、dac門）、失波門l 報 警： 蜂鳴l 顯 示： tft顯示器l 電 源： 16v dc；220v±10%，50hz acl 儀器重量： 1.4kg（帶電池）1-4注:以上指標(biāo)是在探頭頻率為2.5m的情況下所測得的。約定l 注：指用戶在儀器使用過程中應(yīng)予以注意的過程或方式l < >：尖括號內(nèi)表示鍵名1-5第二章 儀器組件和外圍設(shè)備儀器組件l 儀器前部及右側(cè)屏幕區(qū)鍵盤區(qū)指示燈r電源

11、開關(guān)r/t充電時，充電指示燈為黃色；充電完成后，充電指示燈關(guān)閉；外接指示燈為綠色。2-1l 儀器上部1、打印機(jī)連接端口2、usb通訊連接端口3、適配器連接端口2-2外圍設(shè)備 儀器不僅可以獨(dú)立地進(jìn)行探傷，而且可與打印設(shè)備相連將探傷結(jié)果打印，可與計算機(jī)通訊。 監(jiān)視器 攝/錄像機(jī) 探傷儀 電源適配器 充電器計算機(jī)及網(wǎng)絡(luò)打印機(jī)繪圖儀 2-3儀器的進(jìn)入與時間更改：一、 探傷界面的進(jìn)入：開啟電源鍵后，出現(xiàn)時間顯示界面，按任意鍵（習(xí)慣上按<¿>鍵）儀器出現(xiàn)自檢完成及相應(yīng)功能的選擇界面（停留顯示約3秒），此時如不選擇，儀器將自動進(jìn)入探傷界面。如果在自檢完成界面上，要選擇按鍵執(zhí)行相應(yīng)功能，

12、此時必須快速按鍵，具體如下：快速按下“9”可將儀器初始化；快速按下“8”可進(jìn)入儀器檢定的界面；快速按下“0”可查看電池信息。但開機(jī)一次只能選擇其中某一項操作。二、 時間更改：··開啟電源鍵后，出現(xiàn)時間顯示界面，此時長按<¿>鍵10秒左右放開，屏幕上出現(xiàn)閃爍光標(biāo)，按 鍵將光標(biāo)移至需修改處（可循環(huán)移動），選擇相應(yīng)數(shù)字鍵輸入，要輸入“星期日”，可通過輸入數(shù)字“0”來實(shí)現(xiàn)。最后一處修改完成后，須將 鍵右移至下一位上，再按<¿>鍵生效，此時儀器出現(xiàn)自檢完成界面，之后自動進(jìn)入探傷界面。 2-4第三章 參量說明增益、范圍（聲程）、波門、零點(diǎn)、延

13、時等各常用參量為連續(xù)可調(diào)，調(diào)節(jié)時屏幕左上角將出現(xiàn)提示，調(diào)節(jié)時請加以注意；其它各項參數(shù)在參數(shù)菜單中選取或輸入或?qū)崪y得到。儀器屏幕顯示如下：補(bǔ)償增益回波參數(shù)增益增益是數(shù)字式儀器的回波幅度調(diào)節(jié)量（靈敏度），在模擬儀器中通常稱為“衰減”，這兩種概念剛好相反，即增益加大，回波幅度增高；而衰減加大，回波幅度則下降。增益調(diào)節(jié)見4-5。3-1聲程（距離聲程、垂直聲程、水平聲程）聲程表示聲波在被檢測物體中的傳輸距離，根據(jù)聲程標(biāo)度的不同分為距離聲程、垂直聲程和水平聲程三種。聲程調(diào)節(jié)見4-6。 3-2波門波門有a門和b門，a門即進(jìn)波門，主要用途是顯示門內(nèi)回波狀態(tài)數(shù)據(jù)及門內(nèi)波峰報警，b門可選設(shè)為進(jìn)波門讀數(shù)（可顯示門內(nèi)

14、回波狀態(tài)及數(shù)據(jù)）及報警或用為失波報警。波門調(diào)節(jié)見4-2 3-3零點(diǎn)零點(diǎn)是指探頭和儀器的固定聲波延時，如探頭楔塊或保護(hù)膜聲程。零點(diǎn)調(diào)節(jié)見4-4 3-4延時延時可使回波位置大幅度左右移動，而不改變回波之間的距離；可將不需要觀察的回波調(diào)到屏幕外，以充分利用屏幕的有效觀察范圍。延時調(diào)節(jié)見4-10 3-5聲程標(biāo)度聲程標(biāo)度是指回波在不同坐標(biāo)軸上的聲程投影值，聲程標(biāo)度分為距離（s）、水平（x）、垂直（y）三種（見右圖）。參見4-6 ysx 3-6探頭類型探頭類型即探頭中聲波發(fā)射方式，分為直探頭、斜探頭、雙晶和穿透四種。參見4-3 3-7探頭k值及折射角探頭k值和折射角相互關(guān)聯(lián)，k值等于折射角的正切值。折射角

15、調(diào)節(jié)見4-8 3-8晶片尺寸晶片尺寸是指探頭晶片的面積，斜探頭用長×寬表示，直探頭用直徑表示。參見4-33-9探頭前沿探頭前沿是指斜探頭的入射點(diǎn)至探頭最前端的距離。參見4-3 3-10探頭頻率探頭頻率是指探頭中晶片固有（諧振）頻率。參見4-33-11工件聲速工件聲速是指聲波在工件中傳播的速度。參見4-33-12表面補(bǔ)償表面補(bǔ)償是指由于工件表面粗糙度等原因而對靈敏度進(jìn)行的補(bǔ)償，補(bǔ)償后回波出現(xiàn)變化，但dac/avg曲線不會變化，即回波當(dāng)量值出現(xiàn)改變。參見4-11 3-13判廢偏移判廢偏移是指dac曲線中判廢線（rl線）與母線可選擇的偏移量。參見4-11 3-14定量偏移定量偏移是指dac

16、曲線中定量線（sl線）與母線可選擇的偏移量。參見4-11 3-15評定偏移（測長偏移）評定偏移是指dac曲線中評定線（測長線）（el線）與母線可選擇的偏移量。參見4-113-16濾波頻帶濾波頻帶可選，分為：2.5mhz，5.0 mhz， wide。通過選擇與探頭頻率相配的頻帶，可以獲得最佳的信噪比和分辨力，務(wù)必使用與探頭頻率相一致的濾波頻帶。參見4-33-17按鍵聲音按鍵時是否伴有聲音。參見4-113-18探頭阻尼探頭阻尼可調(diào)，分為：50和400歐姆。選擇與探頭及探頭線相匹配的探頭阻尼，可以獲得最佳的信噪比及分辨力。阻尼一般指并聯(lián)在輸出端的阻尼電路，其作用是電路衰減、阻抗匹配、縮短前沿等，以便

17、在使用頻率不同類型的超聲探頭時獲得高靈敏度或高分辨率等較佳效果，推薦使用hd/400。參見4-43-19發(fā)射電壓發(fā)射電壓可調(diào)，分為：100v、200v、400v和800v。發(fā)射電壓的高低影響儀器的信噪比。發(fā)射電壓高，發(fā)射的脈沖超聲波就越強(qiáng)。但脈沖電壓提高到一定值時，輸出趨于飽和，此時反而會因脈沖加寬而增加盲區(qū)?？紤]到發(fā)射的脈沖電壓高低與上升時間有關(guān)，因此本儀器為兼顧不同需要將發(fā)射電壓分為四檔，儀器默認(rèn)為mv/400v。參見4-43-20第四章鍵盤及其功能在非測試狀態(tài)，用戶按<設(shè)置>、<測試>、<選項>、<標(biāo)準(zhǔn)>、<功能 >、和<

18、查詢>六鍵會出現(xiàn)相應(yīng)菜單，其它鍵代表相應(yīng)的含義，具體功能在本章詳細(xì)說明；在數(shù)據(jù)輸入狀態(tài)，各鍵為數(shù)字鍵及小數(shù)點(diǎn)，用于輸入數(shù)值；在出現(xiàn)菜單或?qū)υ捒蚝?，各鍵代表相關(guān)標(biāo)號選擇。本章內(nèi)容與其它章節(jié)內(nèi)容有較大關(guān)聯(lián)，在閱讀時可前后對照，以便加深理解，更有利于日后的探傷工作。該型儀器鍵盤見下圖。記錄1_/()波門2abc通道/設(shè)置 3def零點(diǎn)/測試 4ghi增益/補(bǔ)償 5jkl功能9wxyz+聲程/標(biāo)度 6mno延時/抑制 0-；+-聲速/標(biāo)準(zhǔn) 7pqrs選項 返回k值8tuv查詢確認(rèn)/2ndf 記錄數(shù)字式探傷儀的一大特點(diǎn)是能對探傷數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，可以打印、存儲探傷中發(fā)現(xiàn)的缺陷波及相關(guān)數(shù)據(jù)，這有助于提高

19、探傷報告的可靠性和權(quán)威性。如果 “回波包絡(luò)”或“峰值記憶”功能被啟用，按<記錄>鍵會提示是否存儲包絡(luò)或峰值，按<y>鍵則存儲包絡(luò)或峰值（參見7-1），按<n>鍵則存儲原波形；如果這兩項功能都未啟用，則直接出現(xiàn)存貯數(shù)據(jù)提示。（光標(biāo)閃爍，提醒輸入文件名），反復(fù)按<返回>鍵可以切換輸入法。若探傷時設(shè)置了“焊縫圖示”功能，按<記錄>鍵后，照儀器提示進(jìn)行則可。記錄功能使用詳見第七章。按<返回>鍵可退出記錄菜單。 4-1波門（a門/b門）<波門>鍵為復(fù)合功能鍵，可分別用于調(diào)節(jié)門a（進(jìn)波門）和門b（進(jìn)波門/失波門）的位置、寬

20、度和高度。按<波門>鍵儀器處于門參數(shù)更改狀態(tài)，屏幕左上角出現(xiàn)提示，在提示后有當(dāng)前參量的數(shù)值，按<確認(rèn)>可在門a和門b之間切換，反復(fù)按<波門>鍵可在門位、門寬和門高之間切換。按< >、< >鍵可對當(dāng)前參量進(jìn)行調(diào)節(jié)。a門有直方門和dac門兩種，可在功能菜單中切換。參見4-9、6-5。失波門高如果調(diào)為0%，失波門將不會在屏幕上顯示，同時其失波報警功能也會失去；如果將進(jìn)波門寬調(diào)為最小值，參數(shù)區(qū)會顯示該波門所處位置回波的實(shí)時參數(shù)，因此利用最小波門寬度可讀出屏幕上任一點(diǎn)的位置值（如讀回波前沿）。當(dāng)門a為進(jìn)波門、門b為失波門時，屏幕只實(shí)時顯示門a范

21、圍內(nèi)最高回波的位置、當(dāng)量等參數(shù)；若門a和門b同時設(shè)為進(jìn)波門，則屏幕能分別顯示兩個門內(nèi)最高回波的信息。（讀數(shù)時，波需處于門寬的范圍內(nèi)，并且波峰應(yīng)處于屏幕視覺范圍內(nèi)；而門的高度對讀數(shù)無影響，門高僅對報警有影響。）門功能的特殊應(yīng)用：1）當(dāng)b門設(shè)為進(jìn)波門時，可讀出b門內(nèi)最高波與a門內(nèi)最高波的間距差，波形區(qū)右上方有間距差讀值顯示。此法可用于測厚，且用多次波測量，數(shù)據(jù)更精確。2）為方便判斷，該儀器設(shè)計了波處于門高線之上或之下位置時顏色的區(qū)分。即當(dāng)門內(nèi)最高波的波峰高于門高線時，該最高波的右半部分即變?yōu)榕c門同一顏色。4-2通道/設(shè)置由于在現(xiàn)場探傷時往往要探測多個工件、更換多個探頭，這就需要在儀器調(diào)校時能根據(jù)不

22、同情況測試并存儲多組探傷設(shè)置，且現(xiàn)場探傷時可直接調(diào)用。在此儀器中，一個通道可存儲一組探傷工藝數(shù)據(jù)，多個通道則可預(yù)先測試并存儲多組不同的探傷設(shè)置，現(xiàn)場直接調(diào)用而無需再調(diào)試儀器，使工作更輕松方便。按<通道>鍵使儀器處于通道更改狀態(tài)，儀器右側(cè)通道“x”將高亮顯示，此時按< >、< >鍵更改通道，通道顯示數(shù)有09共十個通道，屏幕顯示內(nèi)容將隨通道參數(shù)的不同而發(fā)生改變。該儀器通道可擴(kuò)充至數(shù)百個。方法為：在某通道調(diào)試后，按<記錄>鍵，則將該通道參數(shù)及探傷工藝存儲起來，之后，查詢出該數(shù)據(jù)，將其調(diào)用至“9通道”中操作，即存儲的通道工藝若調(diào)出使用均在“9通道”中進(jìn)行

23、。參見7-6。探傷過程中，增益、聲程、延時、波門、零點(diǎn)等參量需經(jīng)常更改，并且在更改時能立刻起到作用，在調(diào)節(jié)以上參量時，只需通過快捷的操作即可完成更改；而其它參量在探傷過程中一般無須更改或很少更改，這些參量可以預(yù)先在設(shè)置菜單中設(shè)置。按<通道/設(shè)置>鍵兩次后，出現(xiàn)設(shè)置菜單如下：第1頁共2頁1. 探頭類型：直探頭/ 斜探頭/ 雙晶/ 穿透 2. 探頭頻率：2.5 mhz3. 晶片尺寸：13×13mm4. 折射角度：0.0/0.0 °5. 工件聲速：3230m/s6. 探頭前沿：0.0 mm7. 通道標(biāo)準(zhǔn)：custom8. 濾波頻帶：2.5 mhz/ 5.0 mhz/

24、wide確定鍵生效返回鍵取消第2頁共2頁1. 探頭阻尼：ld/50，hd/400 2. 發(fā)射電壓：lv/100v，ml/200v，mh/400v，hv/800v確定鍵生效返回鍵取消如果需要查看或更改某項參數(shù)，按參數(shù)所在頁選擇參數(shù)前的序號即可對該項參數(shù)進(jìn)行設(shè)置。在輸入負(fù)數(shù)時，<>鍵為負(fù)號鍵，即在輸入負(fù)數(shù)時先按<>，再輸入一個數(shù)字則代表輸入一個負(fù)數(shù)（參見9-8）。下面對各項參數(shù)分別說明：1 “探頭類型”為四選一，按<1>鍵選取后出現(xiàn)子菜單，有“直探頭”、“斜探頭”、“雙晶”和“穿透”四個選項供選擇，按數(shù)字鍵14選中；該項參數(shù)變更后，儀器須重新調(diào)校。2 “探頭頻率

25、” 和“晶片尺寸”兩項參數(shù)按探頭標(biāo)稱值輸入。“晶片尺寸”一項在輸入時可用小數(shù)點(diǎn)代×號，比如輸入9. 13意為9×13，如果是直探頭，直接輸入直徑即可；這兩項參數(shù)決定探頭的近場區(qū)長度，由于制作avg曲線時，理論上只計算三倍近場區(qū)之后的曲線，在此之前為一條直線，在制作avg前應(yīng)選擇合適的探頭，并將正確的參數(shù)輸入。 3 “折射角度”：斜探頭一般先輸入標(biāo)稱值，之后在測試時將得到實(shí)測折射角度值，如果已知實(shí)際折射角度值則直接輸入。參見5-2，4-8。4 “工件聲速”一般在“測零點(diǎn)”時測量，但也可在設(shè)置菜單中輸入，聲速應(yīng)在200 9999m/s之間，超出范圍儀器將不接受輸入；當(dāng)此項發(fā)生更

26、改時，儀器須重新調(diào)校。5 “探頭前沿”在“測零點(diǎn)聲速”時測量，也可在設(shè)置菜單中輸入，如果前沿值已輸入，則參數(shù)顯示區(qū)顯示的實(shí)時水平值將是已減去前沿的數(shù)值，對此應(yīng)予以注意，不能重復(fù)相減；此外此值輸入不準(zhǔn)確，會影響缺陷的水平定位。6 “通道標(biāo)準(zhǔn)”用于設(shè)置當(dāng)前通道使用何種標(biāo)準(zhǔn)，此標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置好后在“初始化”菜單中執(zhí)行初始化“當(dāng)前通道”后，通道內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)依然為之前設(shè)置的標(biāo)準(zhǔn)不變。只有執(zhí)行“所有通道”或“儀器”后，會將所有通道內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)為儀器默認(rèn)的標(biāo)準(zhǔn)。7 “濾波頻帶”為三選一，按數(shù)字13分別可選2.5mhz、5.0mhz、wide。通過選擇與探頭頻率相配的頻帶，可以獲得最佳的信噪比和分辨力。8 “探頭阻尼”為

27、二選一，按數(shù)字1和2分別可選低阻尼ld/50和高阻尼hd/400，選擇與探頭及探頭線相匹配的阻尼可以獲得最佳的信噪比及分辨力。9 “發(fā)射電壓”為四選一，按數(shù)字14可分別可選電壓lv/100v 、ml/200v、mh/400v，hv/800v。發(fā)射電壓的高低影響儀器的信噪比。當(dāng)菜單中某項或多項參數(shù)有誤或取值超出范圍，則儀器會提示“數(shù)據(jù)取值不當(dāng)”，應(yīng)檢查需輸入數(shù)值的各參數(shù)項，重新輸入正確值；按<返回>鍵，則放棄輸入并退出參數(shù)設(shè)置菜單。注意：更改的數(shù)據(jù)在按< ¿ >鍵確認(rèn)退出設(shè)置菜單后才生效。 4-3零點(diǎn)/測試按<零點(diǎn)/測試>鍵，屏幕左上角的提示為“探頭

28、零點(diǎn)”字樣，按< >、< >鍵可對零點(diǎn)進(jìn)行設(shè)置（手工調(diào)節(jié)零點(diǎn)的詳細(xì)方法參照8-2）。零點(diǎn)值變化后，回波會相應(yīng)的水平移動，其參數(shù)也會變動，但dac/avg曲線沒有同步變化，即回波定位及當(dāng)量值將會改變，因此儀器在測試完dac/avg曲線之后不能改變零點(diǎn)，以免出現(xiàn)錯誤。自動或手動測試零點(diǎn)后，也可按<零點(diǎn)/測試>鍵，使屏幕出現(xiàn)“零點(diǎn)”兩字，查看所測的零點(diǎn)值。在初始狀態(tài)，儀器的各參量是預(yù)置的固定數(shù)值，跟實(shí)際情況可能不符（如探頭k值、工件聲速、零點(diǎn)等），如果直接探傷，在缺陷的定位、定量時會不準(zhǔn)確，甚至不能查找出缺陷，因此儀器在探傷前需進(jìn)行一些前期校驗(yàn)工作，對一些重要參量

29、進(jìn)行調(diào)試，從而使得探傷時操作輕松、結(jié)果正確。這些前期工作我們將其組合在測試菜單中，以方便使用。按<零點(diǎn)/測試>鍵兩次（或先按<零點(diǎn)/測試>鍵，再按<確認(rèn)>鍵）后屏幕波形區(qū)右上方出現(xiàn)調(diào)校菜單：1 測零點(diǎn)聲速2 測折射角度3 制作dac4 制作avg5 測儀器性能6 測缺陷高度按標(biāo)號1-6即選中相關(guān)測試，出現(xiàn)相應(yīng)菜單，根據(jù)提示輸入數(shù)據(jù)或進(jìn)行相應(yīng)選擇后即可開始測試，測試過程及具體操作詳見第五章。按<返回>或<確認(rèn)>鍵退出調(diào)校菜單。4-4增益（基本/補(bǔ)償）<增益>鍵為復(fù)合功能鍵，可分別用于調(diào)節(jié)系統(tǒng)增益和補(bǔ)償增益。增益的調(diào)節(jié)由<

30、;增益> 鍵與< >、< >鍵完成。其步驟如下：按<增益>鍵，在“增益”狀態(tài)下，再按< >、< >鍵，便完成了回波幅度的調(diào)節(jié)。該儀器的基本增益設(shè)置了四檔調(diào)節(jié)步長：增益 0.1調(diào)節(jié)步長按0.1db增減；增益 1.0調(diào)節(jié)步長按1db增減；增益 2.0調(diào)節(jié)步長按2db增減；增益 6.0調(diào)節(jié)步長按6db增減。增益步長的選擇操作步驟為：反復(fù)按<增益>鍵，便可交替選擇增益步長。在探傷中長按<增益>鍵實(shí)現(xiàn)自動增益功能，使門內(nèi)回波升高或降低到預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn)波高（一般為80），但在自動調(diào)節(jié)過程中總增益量不會超過80db；其增益

31、值加于基本增益之上。補(bǔ)償增益設(shè)置四檔調(diào)節(jié)步長：增益 0.0自動調(diào)節(jié)增益；增益 0.1調(diào)節(jié)步長按0.1db增減；增益 2.0調(diào)節(jié)步長按2db增減；增益 6.0調(diào)節(jié)步長按6db增減。當(dāng)補(bǔ)償增益為0.0時，按加號鍵可調(diào)節(jié)補(bǔ)償增益的大小使門內(nèi)回波升高或降低到預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn)波高（一般為80），但在自動調(diào)節(jié)過程中總增益量不會超過80db。按<->鍵可使補(bǔ)償增益迅速歸為0，波形還原至原先狀態(tài)。（標(biāo)準(zhǔn)波高見選項菜單第2頁第6項）在增益狀態(tài)下，該儀器設(shè)置了三種增益狀態(tài)，即基本增益（或稱起始靈敏度）、補(bǔ)償增益和表面補(bǔ)償。顯示在屏幕的右上角： “ 增益 xx.x db + xx.x db + xx.x db

32、” a b ca項為基本增益，b項為補(bǔ)償增益，c項為表面補(bǔ)償。儀器的總增益為a+b+c，基本增益和補(bǔ)償增益的轉(zhuǎn)換設(shè)置為在“增益”狀態(tài)下，反復(fù)按<確認(rèn)>鍵，光標(biāo)則會在兩者之間轉(zhuǎn)換，補(bǔ)償增益b相當(dāng)于探傷時掃查靈敏度的調(diào)節(jié)，為方便尋找缺陷用。表面補(bǔ)償則根據(jù)工件表面粗糙度狀況，在選項菜單中設(shè)置。在無dac/avg曲線時，基本增益與表面補(bǔ)償增益的調(diào)節(jié)效果一樣，不會影響探傷結(jié)果.在有dac/avg曲線時，三者就有顯著區(qū)別：（1）調(diào)節(jié)基本增益a，dac/avg曲線和回波幅度同步變化。在探傷時，為了找到某一回波，需要調(diào)節(jié)增益，但又不能改變回波與dac/avg曲線的相對當(dāng)量值（不改變已設(shè)置的探傷標(biāo)準(zhǔn)），此時應(yīng)在基本增益狀態(tài)下，調(diào)節(jié)增益。（2）調(diào)節(jié)補(bǔ)償增益b，可使門內(nèi)回波升高或降低，但其當(dāng)量值不變，dac/avg曲線也不變。（3）在探傷時，由于現(xiàn)場工件狀況與試塊測試時的區(qū)別，需要進(jìn)行表面補(bǔ)償時，應(yīng)修改表面補(bǔ)償增益c（靈敏度補(bǔ)償）。設(shè)置表面補(bǔ)償增益后，dac/avg曲線不變，但回波幅度改變，其相對當(dāng)量值也相應(yīng)變化。（見選項菜單第1頁第2項表面補(bǔ)償）4-5聲程/標(biāo)度按<聲程>鍵（聲程有時也稱范圍），當(dāng)屏幕左上角的提示為“´´聲程”時，儀器處于聲程更改狀態(tài)，用加減鍵可對當(dāng)前參量進(jìn)行調(diào)節(jié)。反復(fù)按<聲程>鍵可