超聲波探傷儀斜探頭的自動校準步驟

1、超聲波探傷儀斜探頭的自動校準步驟（動作分解）（圖1）如圖1所示，由于探頭零點、前沿、K值會給探傷帶來誤差，所以探傷前必須校準，校準步驟如下：第一步：按【參數(shù)】鍵，旋轉(zhuǎn)旋鈕，選擇探頭類型，按【確認】鍵，旋轉(zhuǎn)旋鈕，選擇斜探頭，按【確認】鍵,按【參數(shù)】鍵，退出參數(shù)設置第二步：按【校準】鍵，啟動自動校準功能如圖2所示，左右移動探頭，找到R50和R100兩個圓弧的最高波，保持探頭不動，按2次【F5】鍵，材料聲速和探頭零點自動校準完成。第三步：在上述第二步，保持探頭不動的情況下，在探頭刻度尺上讀出試塊零刻度對應的刻度值，即為探頭前沿,按F3鍵，旋轉(zhuǎn)旋鈕輸入前沿值；第四步：如圖3所示左右移動探頭，找到最高波

2、，保持探頭不動，按2次【F3】鍵，探頭K值自動校準完成。 （圖2：校準材料聲速、探頭零點、探頭前沿） （圖3：校準探頭K值）DAC曲線的制作與探傷標準的自定義輸入步驟（動作分解）一制作DAC曲線：按【DAC】鍵，啟動DAC菜單。：如圖4所示，將探頭放在CSK-3A試塊的位置，左右移動探頭找到深為10mm孔的最高回波，此波不能超過滿屏高度，用A閘門套住此波，按【F3】鍵，使標定點增加為“1”；：如圖4所示， 將探頭放在CSK-3A試塊的位置，左右移動探頭找到深為20mm孔的最高回波，此波不能超過滿屏高度，用A閘門套住此波，按【F3】鍵，使標定點增加為“2”；此時已添加了2個標定點，DAC開關已自

3、動打開，DAC曲線自動繪制在屏幕上重復的步驟，可以找到孔深為30、40、50mm等反射體的最高回波，使標定點增加為3、4、5.，標定點可按孔深的任意順序進行記錄（圖4：DAC曲線制作）二偏置設置（探傷標準的輸入）： 按【F5】鍵，進入第三頁，找到判廢線、定量線、評定線設置項按【F2】鍵，選擇評定線 ，旋轉(zhuǎn)旋鈕調(diào)節(jié)評定線的值，比如設為 -16db按【F3】鍵，選擇定量線 ，旋轉(zhuǎn)旋鈕調(diào)節(jié)定量線的值，比如設為 -10db按【F4】鍵，選擇判廢線 ，旋轉(zhuǎn)旋鈕調(diào)節(jié)判廢線的值，比如設為 -4db三設置表面補償和評估曲線按【F5】鍵，進入第四頁按【F2】鍵選擇表面補償 ，旋轉(zhuǎn)旋鈕設定工件表面補償值，一般設為

4、+4db 按【F5】鍵選擇評估曲線 ，旋轉(zhuǎn)旋鈕，一般設定為評定線4 保存通道按【通道】鍵，旋轉(zhuǎn)旋鈕選擇一個空的通道號，按【F3】保存通道此時，校準的參數(shù)和DAC曲線均保存在了通道里?！咀?由于試塊種類繁多，使用方法也較多，以上方法較為常用，僅供選擇使用】直探頭的自動校準步驟(動作分解)（圖5）由于“材料聲速的不同”和“直探頭保護層厚度”會給探傷帶來誤差，所以探傷前必須校準“材料聲速”和“探頭零點”這兩個參數(shù)。運用自動校準功能，步驟如下：第一步：按【參數(shù)】鍵，旋轉(zhuǎn)旋鈕，選擇探頭類型，按【確認】鍵，旋轉(zhuǎn)旋鈕，選擇直探頭，按確認鍵 按【參數(shù)】鍵，退出參數(shù)設置第二步：按【校準】鍵，啟動自動校準功能。屏

5、幕下方出現(xiàn)“請輸入位置1 mm”， 旋轉(zhuǎn)旋鈕輸入試塊的厚度值按【確認】鍵，屏幕下方出現(xiàn)“請輸入位置2 mm”， 旋轉(zhuǎn)旋鈕輸入試塊2倍的厚度值，按確認鍵。第三步：把探頭放在試塊上1. 按Db+鍵、Db-鍵調(diào)整增益，使一次波達到屏高的約80%；也可以按自動增益鍵調(diào)整一次波達到屏高的80%。2. 旋轉(zhuǎn)旋鈕，調(diào)整聲速使A門套住一次波，B門套住二次波第四步：按2次【F5】鍵, “材料聲速”和“探頭零點”自動調(diào)校完成。注：雙晶直探頭的校準和單晶直探頭校準方法相同直探頭AVG曲線的制作 (動作分解)第一步：開機后，按確認鍵，打開功能列表，旋轉(zhuǎn)旋鈕，選擇AVG菜單，按確認鍵，打開AVG功能項。按第二步：按【F5】鍵至第2頁a.按【F3】鍵，選擇晶片頻率，旋轉(zhuǎn)旋鈕，調(diào)整晶片頻率為所使用探頭的實際頻率b.按【F4】鍵，選擇晶片直徑，旋轉(zhuǎn)旋鈕，調(diào)整晶片直徑為所使用探頭的實際直徑第三步：按【F5】鍵至第3頁a.連續(xù)按參考類型下的【F2】鍵，選擇大平底、平底孔或短橫孔b.按【F3】鍵，選擇參考尺寸，旋轉(zhuǎn)旋鈕調(diào)整為已知參考缺陷尺寸第四步： 將探頭置于標準試塊上，使參考缺陷的最高反射回波顯示在探傷儀屏幕上，并調(diào)整A閘門的起點以保證回波在該閘門