最新SPC培訓(xùn)教材-完整版[特制材料]

1、SPC應(yīng)用技術(shù)應(yīng)用技術(shù) 1技術(shù)資料 課程大綱課程大綱 第一部分：第一部分：SPC技術(shù)概述技術(shù)概述 第二部分：第二部分：SPC相關(guān)統(tǒng)計學(xué)原理與概念相關(guān)統(tǒng)計學(xué)原理與概念 第三部分：管制圖的原理、制作及圖形分析第三部分：管制圖的原理、制作及圖形分析 第四部分：制程能力分析第四部分：制程能力分析 第五部分：第五部分：SPC應(yīng)用實務(wù)應(yīng)用實務(wù) 第六部分：測量系統(tǒng)分析第六部分：測量系統(tǒng)分析 2技術(shù)資料 第一部分：第一部分：SPC技術(shù)概述技術(shù)概述 1.1品質(zhì)觀念的發(fā)展史程：品質(zhì)觀念的發(fā)展史程： 操作員的品質(zhì)管制 領(lǐng)班的品質(zhì)管制 檢驗員的品質(zhì)管制 統(tǒng)計品質(zhì)管制 全面品管 3技術(shù)資料 1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個重要觀念

2、有關(guān)品質(zhì)的幾個重要觀念 可能出問題的地方可能出問題的地方 一定會出問題一定會出問題 4技術(shù)資料 不可能出問題的不可能出問題的 地方也可能出問題地方也可能出問題 1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個重要觀念有關(guān)品質(zhì)的幾個重要觀念 5技術(shù)資料 品質(zhì)是品質(zhì)是“習(xí)慣習(xí)慣”出來出來 的的 1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個重要觀念有關(guān)品質(zhì)的幾個重要觀念 6技術(shù)資料 不要認(rèn)為一個小小不要認(rèn)為一個小小 的缺點沒關(guān)系，反的缺點沒關(guān)系，反 正不會影響使用正不會影響使用 1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個重要觀念有關(guān)品質(zhì)的幾個重要觀念 7技術(shù)資料 不要認(rèn)為最便宜的原不要認(rèn)為最便宜的原 材料就會給企業(yè)帶來材料就會給企業(yè)帶來 最低的成本最低的成本 1.2有關(guān)品

3、質(zhì)的幾個重要觀念有關(guān)品質(zhì)的幾個重要觀念 8技術(shù)資料 不要認(rèn)為百分百全不要認(rèn)為百分百全 檢，品質(zhì)就一定很檢，品質(zhì)就一定很 好了好了 1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個重要觀念有關(guān)品質(zhì)的幾個重要觀念 9技術(shù)資料 1.3 SPC1.3 SPC的定義及歷程的定義及歷程 SPCSPC：Statistical Process Statistical Process ControlControl 統(tǒng)計制程控制統(tǒng)計制程控制/ /統(tǒng)計過程管制統(tǒng)計過程管制 利用統(tǒng)計學(xué)的原理對制造業(yè)制程中的品質(zhì)進行 管制，以達到第一次就把品質(zhì)做好。（在有大量數(shù) 據(jù)產(chǎn)生的地方都可利用） 10技術(shù)資料 QC統(tǒng)計方法的工作程序 整理 觀察 判斷 組織

4、協(xié)調(diào) 歸納 分析 專業(yè)技術(shù) 收 集 數(shù) 據(jù) 數(shù)、表 圖形 特征值 統(tǒng) 計 規(guī) 律 主 要 問 題 提 高 質(zhì) 量 11技術(shù)資料 2. 變異的特殊原因與一般原因變異的特殊原因與一般原因 變變異: : 沒有兩件產(chǎn)品/特性是完全相同的，任何過程都存在許多引 起變因的原因，產(chǎn)品間的差異及產(chǎn)品與標(biāo)準(zhǔn)間的差距總是存在 的，這種差異叫 變異。 變變異產(chǎn)生的原因產(chǎn)生的原因：普通原因和特殊原因 普通原因：普通原因：（共同原因/非機遇性原因 Common Cause) 制程中變異因素是在統(tǒng)計的管制狀態(tài)下，其產(chǎn)品特性有固定的 分布。 特殊原因：特殊原因：（機遇性原因Special Cause) 制程中變異因素不在統(tǒng)

5、計的管制狀態(tài)下，其產(chǎn)品特性沒有固定 的分布。 12技術(shù)資料 普通原因變異的曲線圖：普通原因變異的曲線圖： 預(yù)測 范圍 時間 目標(biāo)值線 特殊原因變異的曲線圖：特殊原因變異的曲線圖： 預(yù)測 范圍 時間 目標(biāo)值線 13技術(shù)資料 過程控制的概念過程控制的概念: : a.首先當(dāng)出現(xiàn)變差的特殊原因時提供統(tǒng) 計信號，從而對這些特殊原因采取適 當(dāng)?shù)拇胧?或是消除或是保留)； b.通過對系統(tǒng)采取措施從而減少變差的 普通原因；提高過程能力，使產(chǎn)品符 合規(guī)范。 14技術(shù)資料 3.SPC3.SPC的作用與實質(zhì)：的作用與實質(zhì)： 就是利用統(tǒng)計的工具，識別企業(yè)生產(chǎn)過程中 的變差，從而消除機遇性變差（特殊原因引起）， 采取系

6、統(tǒng)的管理措施消除變差的普通原因來改進 過程的能力。 15技術(shù)資料 第二部分：第二部分：SPCSPC相關(guān)統(tǒng)計學(xué)原理與概念相關(guān)統(tǒng)計學(xué)原理與概念 1.1.數(shù)據(jù)的種類：數(shù)據(jù)的種類： a. a. 計量值型數(shù)據(jù)：計量值型數(shù)據(jù)：尺寸、重量、化學(xué)成份、電壓等以 物理單位表示，具有連續(xù)性的數(shù)據(jù)。連續(xù)型隨機變量 b.b.計數(shù)值型數(shù)據(jù)計數(shù)值型數(shù)據(jù)：以特性分類、計算具有相同特性的 個數(shù)，是為間斷性數(shù)據(jù)。離散型隨機變量是以計產(chǎn)品的 件數(shù)或點數(shù)的表示方法。 16技術(shù)資料 2.2.分布及正態(tài)分布：分布及正態(tài)分布： a.a.分布分布：各事件所產(chǎn)生的頻次會趨近于一個客觀機率， 只要有足夠多的測量值，則測量值會趨向于一個 可預(yù)測

7、的狀態(tài)，這種狀態(tài)就叫分布。 b.b.正態(tài)分布正態(tài)分布: : 以數(shù)學(xué)公式訂定，其分布與平均值呈絕 對的對稱且具有常見的鐘型，是實踐中最常見的 一種分布，如產(chǎn)品的長度、寬度、重量、高度、 測量的誤差等都近似服從正態(tài)分布。 17技術(shù)資料 2.14% 0.13% 2.14% 0.13% 13.6%13.6% 34.13%34.13% 21 X 3132 正態(tài)分布圖正態(tài)分布圖 18技術(shù)資料 c. c. 中央極限定理中央極限定理： 不論母群體是否正態(tài)分布，但在其中抽取n個樣品的平均數(shù)而 組成的群體，則此群體非常接近正態(tài)分布。 d.d.正態(tài)分布的判定正態(tài)分布的判定： 如果某一個量的變化受到許多隨機因素的影響

8、，這種影響的總 后果是各個因素的疊加，而且這些因素中沒有任何一個起主導(dǎo)作用， 那么這個量就是一個服從正態(tài)分布的隨機變量。 2.分布及正態(tài)分布：分布及正態(tài)分布： 19技術(shù)資料 3.SPC3.SPC的基本概念：的基本概念： 1). 均值（數(shù)學(xué)期望）均值（數(shù)學(xué)期望）：平均值 離散型變量均值： 連續(xù)型變量均值： 2).方差方差: : 3).標(biāo)準(zhǔn)差：標(biāo)準(zhǔn)差： 4).全距全距： 20技術(shù)資料 5).中位數(shù)中位數(shù): : M 6).眾數(shù)：眾數(shù)：M0 7).不良率：不良率：P 8).不良數(shù)：不良數(shù)：NP 9).缺點數(shù)：缺點數(shù)：C 10).單位缺點單位缺點( (缺點率缺點率) )： U 11). 百萬分之不良百萬

9、分之不良： PPM 3.SPC的基本概念：的基本概念： 21技術(shù)資料 12).管制上限管制上限( (控制上限控制上限): ): UCL 13).管制中心線管制中心線( (控制中心線控制中心線) )： CL 14).管制下線管制下線( (控制下限控制下限) )：LCL 15).規(guī)格上限：規(guī)格上限：USL 16).規(guī)格中心線：規(guī)格中心線：SL 17).規(guī)格下限：規(guī)格下限：LSL 18).偏移度偏移度： Ca 3.SPC的基本概念：的基本概念： 22技術(shù)資料 19).制程能力指數(shù)制程能力指數(shù): : Cp 表示制程特性的一致性程度。越大越集中，越小越 分散。 20)制程能力指數(shù)制程能力指數(shù)（Cpk）：

10、 直接反映制程能力，值越大越好。通?？蛻舳家?Cpk在1.33以上。 3.SPC的基本概念：的基本概念： 23技術(shù)資料 4.SPC4.SPC列管對象列管對象： 1）品質(zhì)特性：影響產(chǎn)品規(guī)格的因素（生產(chǎn)條件）、產(chǎn) 品屬性分類、產(chǎn)品規(guī)格。 2）制程角度：不合格率最高、成本最高、安規(guī)問題 。 3）檢驗角度：破壞性產(chǎn)品、無法于后工程檢驗、檢驗 成本很高。 24技術(shù)資料 第三部分：管制圖的原理、制作及圖形分析第三部分：管制圖的原理、制作及圖形分析 X-R平均數(shù)全距 不良率管制圖P-chart 計量： X-平均值標(biāo)準(zhǔn)差 計數(shù)值： 不良數(shù)管制圖NP-chart X-Rm個別值移動全距 缺點數(shù)C-chart

11、Mo-R中位值、全距管制圖 單位缺點數(shù)U-chart ( (一）一）Xbar-RXbar-R平均數(shù)全距管制圖平均數(shù)全距管制圖 1.1.簡介：簡介：是SPC計量值部份最重要、最常用的管制圖之一?？梢允刮覀兒芎玫亓私庵瞥?品質(zhì)的進展?fàn)顟B(tài)（發(fā)展趨勢）。分為： 1 1）解析管制圖：）解析管制圖：根據(jù)實際量測出來的數(shù)據(jù)，經(jīng)過計算出管制圖上下限之后畫出。 用途：用途：主要用來對產(chǎn)品初期品質(zhì)進行測定和監(jiān)控，以了解在現(xiàn)有環(huán)境中品質(zhì)的制程能力。 2 2）制程管制圖：）制程管制圖：根據(jù)之前的歷史數(shù)據(jù)，也可以根據(jù)經(jīng)驗或相似的各項標(biāo)準(zhǔn)，并以此為依據(jù)作為今 后管制圖的管制界限。 以之前較好或標(biāo)準(zhǔn)的管制界限來衡量近期的品

12、質(zhì)狀況。 25技術(shù)資料 2.2.圖形制作：圖形制作： 1 1）數(shù)據(jù)收集：）數(shù)據(jù)收集：確定子組大小、頻率、小組數(shù)的大小 a.子組大?。鹤咏M大?。哼x擇子組應(yīng)使得一個子組內(nèi)各樣本之間的出現(xiàn)變差的 機會小。 b.應(yīng)注意：應(yīng)注意：子組樣本的容量應(yīng)穩(wěn)定。 c.頻率：頻率：子組間的時間間隔。 d.子組數(shù)的大小子組數(shù)的大?。喊?00個或更多單值讀數(shù)的25個或更多子組的數(shù)據(jù) 26技術(shù)資料 2 2）將數(shù)據(jù)列表，并計算各組數(shù)據(jù)的平均數(shù)及全距）將數(shù)據(jù)列表，并計算各組數(shù)據(jù)的平均數(shù)及全距 Xi=Ri=每組中最大-每組中最小值 3 3）計算出平均數(shù)和全距的中心線與管制上下線：）計算出平均數(shù)和全距的中心線與管制上下線： X

13、CL= RCL= 每組量測數(shù)值總和 每組樣本數(shù) X1+X2+X K R1+R2+Rt K 2.圖形制作：圖形制作： 27技術(shù)資料 管制上下限有兩種算法管制上下限有兩種算法: : 第一種:計算法:(嚴(yán)格按照管制圖的原理來做) a 計算出標(biāo)準(zhǔn)差:b.計算管制上、下限 X= XUCL=XCL+3X XLCL=XCL-3X R= RUCL=RCL+3R RLCL=RCL-3R 第二種:查表法: XUCL= XLCL= RUCL= RLCL= 28技術(shù)資料 經(jīng)過計算出每組數(shù)據(jù)的平均值和全距列表如下（注意四舍五入） 序號檢驗時間NO1NO2NO3NO4NO5XBarR 12001/10/1 PM 05:0

14、8:58109.9710.059.9810.0310.010.08 22001/10/2 PM 05:09:2010.0210.011010.039.9810.010.05 32001/10/3 PM 05:09:339.989.9610.029.9510.029.990.07 42001/10/4 PM 05:09:511010.05109.969.959.990.10 52001/10/5 PM 05:10:039.9610.029.981010.0710.010.11 62001/10/6 PM 05:10:1610.0910.0610.110.1210.0210.080.10 7200

15、1/10/7 PM 05:14:2110109.910.0989.979.990.20 82001/10/8 PM 05:10:5010.0510.0210.0210.0410.0910.040.07 92001/10/9 PM 04:34:40109.89.99.9109.920.02 102001/10/10 PM 04:35:58109.9109.99.99.940.01 112001/10/11 PM 04:35:27109.910.110.19.910.000.02 122001/10/12 PM 04:35:37109.910.2109.89.980.04 132001/10/13

16、 PM 04:36:331010.0210.0310.011010.010.03 142001/10/14 PM 04:36:449.989.971010.0210.0110.000.05 152001/10/15 PM 05:02:151010.0110.01109.9910.000.02 29技術(shù)資料 30技術(shù)資料 4 4）制作圖形：）制作圖形： 圖形分四個部分：一個品質(zhì)記錄說明區(qū)； 一個品質(zhì)指標(biāo)說明區(qū)； 一個平均數(shù)管制圖區(qū)； 一個全距管制圖區(qū)。 31技術(shù)資料 32技術(shù)資料 X-RX-R圖制作步驟及注意事項總結(jié)：圖制作步驟及注意事項總結(jié)： 1 1、確定控制對象。、確定控制對象。 2 2、取

17、預(yù)備數(shù)據(jù)。、取預(yù)備數(shù)據(jù)。 3 3、計算、計算XbarXbar、RiRi。 4 4、計算中心線。、計算中心線。 5 5、計算、計算R R圖控制線并作圖。圖控制線并作圖。 6 6、將預(yù)備數(shù)據(jù)并繪在、將預(yù)備數(shù)據(jù)并繪在R R圖中，并對狀態(tài)進行判斷。圖中，并對狀態(tài)進行判斷。 7 7、計算、計算X X圖控制線并作圖。圖控制線并作圖。 8 8、計算過程能力指數(shù)并檢驗其是否滿足技術(shù)要求。、計算過程能力指數(shù)并檢驗其是否滿足技術(shù)要求。 9 9、進行日常管理。、進行日常管理。 33技術(shù)資料 課堂實兵演練課堂實兵演練 34技術(shù)資料 3.3.圖形分析：圖形分析： 11）注意規(guī)格界限與管制界限之間的比較。）注意規(guī)格界限與

18、管制界限之間的比較。 可分三種狀態(tài)：包含關(guān)系包含關(guān)系 交叉關(guān)系交叉關(guān)系 不相干不相干 2 2）超出管制界限）超出管制界限 35技術(shù)資料 3 3）連續(xù)幾點上升或下降）連續(xù)幾點上升或下降 可認(rèn)定是有某種趨勢，表明是一種系統(tǒng)原因在推動這種 趨勢， 4 4）連續(xù)幾點在管制線上方或下方）連續(xù)幾點在管制線上方或下方 一般設(shè)定3點或5點以上，但有時候由于產(chǎn)品的特性可能 有周期性，可設(shè)定更多點。 3.圖形分析：圖形分析： 36技術(shù)資料 5 5）連續(xù)幾點一升一降）連續(xù)幾點一升一降 一般為5點或7點，但有時候由于產(chǎn)品的特性可能有周 期性，可設(shè)定更多點。此種狀態(tài)分兩種：一是越變越大； 二是越變越少。 6 6）連續(xù)幾

19、點在）連續(xù)幾點在3 3倍的標(biāo)準(zhǔn)差以外倍的標(biāo)準(zhǔn)差以外 一般為3點，但有時候也要注意當(dāng)品質(zhì)非常好而考慮成 本放松的變化，建議點數(shù)不要設(shè)定更大。 3.圖形分析：圖形分析： 37技術(shù)資料 7 7）連續(xù)幾點中有幾點在）連續(xù)幾點中有幾點在2 2倍標(biāo)準(zhǔn)差以外倍標(biāo)準(zhǔn)差以外 一般初始為連續(xù)7點中有3點在2倍標(biāo)準(zhǔn)差以外，但有時候 也可根據(jù)產(chǎn)品特性可能有周性而設(shè)更多點，如連續(xù)9點中有4 點在2倍標(biāo)準(zhǔn)差以外。 此種狀況反應(yīng)出制程能力開始下降，一般屬于系統(tǒng)問題， 但暫時還不算嚴(yán)重，要多多注意監(jiān)控， 3.圖形分析：圖形分析： 38技術(shù)資料 8 8）連續(xù)幾點中有幾點在）連續(xù)幾點中有幾點在1 1倍標(biāo)準(zhǔn)差以內(nèi)倍標(biāo)準(zhǔn)差以內(nèi) 一般

20、為連5點中有3點在1倍標(biāo)準(zhǔn)差以內(nèi)，但有時候也可根據(jù)產(chǎn)品特 性可能有周期性而設(shè)更多點。 此種狀況反應(yīng)品質(zhì)朝較好方向發(fā)展，所以只要注意監(jiān)控，并把相 關(guān)重要參數(shù)記錄下來，以利于做標(biāo)準(zhǔn)化。 9 9）連續(xù)幾點在中心線兩側(cè)，但未在）連續(xù)幾點在中心線兩側(cè)，但未在1 1倍標(biāo)準(zhǔn)差之內(nèi)倍標(biāo)準(zhǔn)差之內(nèi) 一般為連續(xù)5點在中心線兩側(cè)，但未在1倍標(biāo)準(zhǔn)差之內(nèi)，但有時候 也可根據(jù)產(chǎn)品特性可能有周性而設(shè)更多點。 此種狀況反應(yīng)品質(zhì)可能雖然穩(wěn)定，但能力不夠或整體向上或下移 動少許，多屬系統(tǒng)原因，應(yīng)加強系統(tǒng)改善。 3.圖形分析：圖形分析： 39技術(shù)資料 圖形分析還應(yīng)注意：圖形分析還應(yīng)注意： 1）平均數(shù)管制圖看是否偏離方向，全距管制圖看

21、穩(wěn)定程度。所以平均數(shù)管制 圖是波動越小越好，全距管制圖是越往下越好，表示每組數(shù)據(jù)中變異越少。 2）當(dāng)平均數(shù)管制圖有連續(xù)3 點上升或下降，而R圖沒有較大波動時，則表示 制程中有某個因素正在慢慢朝某個方向發(fā)生變化。 3）當(dāng)平均數(shù)管制圖沒有較大幅度變化，而全距管制圖有出現(xiàn)連續(xù)3點上升， 則表示機臺有較大松動。 4)所有圖形分析，都需要同以前在相同條件下做比較分析，并盡可能尋找可 能的周期性變化趨勢，同時去驗證一到兩次。 40技術(shù)資料 統(tǒng)計過程診斷（統(tǒng)計過程診斷（SPDSPD） Statistical Process DiagnosisStatistical Process Diagnosis SPD

22、SPD診斷案例診斷案例 41技術(shù)資料 （二）（二）Xbar- Xbar- 平均數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)差管制圖平均數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)差管制圖 1.意義：意義：當(dāng)每組樣本數(shù)較大 (n10)時，全距R容易受個別值影響較大，而標(biāo)準(zhǔn) 差相對較小，所以成為過程變異性更有效的指標(biāo)，此時一般用XbarXbar -S() 代替XbarXbar -R.。 2. 2.制圖的區(qū)別之處：制圖的區(qū)別之處： 計算每組數(shù)據(jù)的Xbar及（s）： 計算管制中心線： 計算管制上、下限 管制圖標(biāo)準(zhǔn)差： a.計算法：SUCL= SLCL= b.查表法：SUCL= SLCL= 3. 3.圖形分析圖形分析: :與Xbar-R基本相同 42技術(shù)資料 XbarS管制

23、圖管制圖 檢驗站別：PQC - 1 頁次：1/1頁 產(chǎn)品名稱：陶瓷電容產(chǎn)品編號：B4022 - 33管制特性：腳寬時間：2001/10/12001/10/16 樣本數(shù):5規(guī)格上限：10.5規(guī)格下限：9.5規(guī)格水準(zhǔn)：3 USLSLLSLXUC L XBA R X L C L SUC L S B A R SLC L CaCpCpkPPM 10.5109.510.119.9989.8910.1580.0490- 0.004 2.53 9 2.52 9 0 組數(shù)123456789101112131415 平 均 值 10.00 6 10.00 8 9.98 6 9.99210.00 6 10.07 8

24、 9.99410.04 4 9.929.94109.9810.01 2 9.99 6 10.00 2 全距0.080.050.070.10.110.10.1980.070.20.10.20.40.030.050.02 標(biāo) 準(zhǔn) 差 0.0340.0190.03 3 0.040.0420.0390.0710.0290.08 4 0.0550.10.14 8 0.0130.02 1 0.008 43技術(shù)資料 （三）中位數(shù)全距管制圖（三）中位數(shù)全距管制圖（M-RM-R） 1 1意義：意義： 優(yōu)點：優(yōu)點：可產(chǎn)生與Xbar-R圖相同的作用（結(jié)論），中位數(shù)易于使用，并不 要求很多計算，使車間工人易于接受控制

25、圖方法。 缺點：缺點：中位數(shù)在統(tǒng)計意義上沒有均值理想。 2 2圖形制作：圖形制作： 中位數(shù)的算法：先將數(shù)據(jù)按大小順序排列，再取中間的一個數(shù)據(jù)。 計算管制中心線及管制上、下限 中心線：直按取各組中位數(shù)的平均值 Xm=Xmcl= 中位數(shù)管制圖標(biāo)準(zhǔn)差：Xm= XmUCL=XmCL+3Xm XmLCL=XmCL-3Xm 3 3圖形分析圖形分析：同Xbar-R 44技術(shù)資料 分別計算出它們的中位數(shù)（如遇偶數(shù)個數(shù)據(jù)，建議統(tǒng)一取前面或后面一個數(shù)據(jù)） 序號 檢驗時間 NO1 NO2 NO3 NO4 NO5 R Xm 1 2001/10/1 PM 05:08:58 10 9.97 10.05 9.98 10.0

26、3 0.08 10 2 2001/10/2 PM 05:09:20 10.02 10.01 10 10.03 9.98 0.05 10.01 3 2001/10/3 PM 05:09:33 9.98 9.96 10.02 9.95 10.02 0.07 9.98 4 2001/10/4 PM 05:09:51 10 10.05 10 9.96 9.95 0.1 10 5 2001/10/5 PM 05:10:03 9.96 10.02 9.98 10 10.07 0.11 10 6 2001/10/6 PM 05:10:16 10.09 10.06 10.1 10.12 10.02 0.1 1

27、0.06 7 2001/10/7 PM 05:14:21 10 10 9.9 10.098 9.97 0.19 10 8 2001/10/8 PM 05:10:50 10.05 10.02 10.02 10.04 10.09 0.07 10.04 9 2001/10/9 PM 04:34:40 10 9.8 9.9 9.9 10 0.2 9.9 10 2001/10/10 PM 04:35:58 10 9.9 10 9.9 9.9 0.1 9.9 11 2001/10/11 PM 04:35:27 10 9.9 10.1 10.1 9.9 0.2 10 12 2001/10/12 PM 04:

28、35:37 10 9.9 10.2 10 9.8 0.4 10 13 2001/10/13 PM 04:36:33 10 10.02 10.03 10.01 10 0.03 10.01 14 2001/10/14 PM 04:36:44 9.98 9.97 10 10.02 10.01 0.05 10 15 2001/10/15 PM 05:02:15 10 10.01 10.01 10 9.99 0.02 10 案例 45技術(shù)資料 Xm-R 中位數(shù)全距管制圖中位數(shù)全距管制圖 檢驗站別：PQC - 1 頁次：1/1頁 產(chǎn)品名稱：陶瓷電容產(chǎn)品編號：B40211 - 33管制特性：腳寬時間：200

29、1/10/12001/10/16 樣本數(shù):5規(guī)格上限：10.5規(guī)格下限：9.5規(guī)格水準(zhǔn)：3 USLSLLSLXmUCLXmBARXmLCLSUCLSBARSLCLCaCpCpkPPM 10.5109.510.0739.9939.9130.4010.1190-0.0042.5392.5290 組數(shù)123456789101112131415 是位數(shù)1010.019.98101010.061010.049.99.9101010.011010 全距0.080.050.070.10.110.10.1980.070.20.10.20.40.030.050.02 標(biāo)準(zhǔn)差0.0340.0190.0330.04

30、0.0420.0390.0710.0290.0840.0550.10.1480.0130.0210.008 46技術(shù)資料 （四）（四）X-RmX-Rm（個別值與移動全距管制圖）（個別值與移動全距管制圖） 1.意義：意義： 以不分組的方式描點作管制圖，要求每次或每組的樣本數(shù)為1。在計量值 中，當(dāng)每次取樣數(shù)為1時，不能用以上三種管制圖。 使用場合使用場合： 一次只能收集到一個樣本數(shù)據(jù)，如損耗率； 制程的品質(zhì)極為均勻，不需要多取樣本，如液體濃度、PH值等； 取得測定值既費時成本又高，如復(fù)雜的化學(xué)分析及破壞性試驗等。 2. 2.應(yīng)注意：應(yīng)注意： X-Rm在檢查過程變化時不如Xbar-R圖敏感 X-Rm

31、圖不能區(qū)分過程的零件間重復(fù)性，因此在很多情況下最好還是使用 常規(guī)的了組樣本容量較?。?-4）的Xbar-R圖。 47技術(shù)資料 3.3.圖形制作：圖形制作： 移動全距的計算：Ri=|Xi-X（I-m）| ； 當(dāng)I-m1時 ，Ri=|SL-Xi| 移動位置值m：指組距Ri要用當(dāng)前一個數(shù)據(jù)減去前面第n個位置的數(shù)據(jù)。通常是由 產(chǎn)品的相關(guān)性來定的。 如果是前后點有相關(guān)性， 則 m=1； 如果是前后兩點間有相關(guān)性，則 m=2。 計算各中心線及管制上、下限 X =個別值管制圖：XUCL= XCL = Rm= XLCL= 移動全距管制圖：RmUCL= RmCL = RmLCL= 例例5 5 4.4.圖形分析：

32、圖形分析：同Xbar-R分析方法。 48技術(shù)資料 某 電 子 廠 對 每 批 芯 片 研 磨 制 程 進 行 管 制 , 其 厚 度 規(guī) 格 化 為 3 + 0 。 1 u ， 希 望 建 立 管 制 圖 ， 以 在 量 產(chǎn) 時 對 制 程 上 的 厚 度 進 行 有 效 的 管 制 。 因 同 一 批 差 異 很 小 ， 所 以 每 一 批 次 取 一 個 樣 量 測 記 錄 如 下 ： 序 號檢 驗 時 間量 測 值移 動 全 距 12 0 0 1 / 1 1 / 1 P M 0 3 : 2 3 : 2 72 . 9 50 . 0 5 22 0 0 1 / 1 1 / 2 P M 0 3

33、: 2 3 : 5 63 . 0 40 . 0 9 32 0 0 1 / 1 1 / 3 P M 0 3 : 2 4 : 0 33 . 0 10 . 0 3 42 0 0 1 / 1 1 / 4 P M 0 3 : 2 4 : 0 92 . 9 70 . 0 4 52 0 0 1 / 1 1 / 5 P M 0 3 : 2 4 : 1 63 . 0 70 . 1 0 62 0 0 1 / 1 1 / 6 P M 0 3 : 2 4 : 2 13 . 0 50 . 0 2 72 0 0 1 / 1 1 / 7 P M 0 3 : 2 4 : 2 63 . 0 90 . 0 4 82 0 0 1

34、/ 1 1 / 8 P M 0 3 : 2 4 : 3 33 . 0 80 . 0 1 92 0 0 1 / 1 1 / 9 P M 0 3 : 2 4 : 4 03 . 0 10 . 0 7 1 02 0 0 1 / 1 1 / 1 0 P M 0 3 : 2 4 : 5 63 . 0 60 . 0 5 1 12 0 0 1 / 1 1 / 1 1 P M 0 3 : 2 5 : 0 03 . 0 20 . 0 4 1 22 0 0 1 / 1 1 / 1 2 P M 0 3 : 2 5 : 0 92 . 9 80 . 0 6 1 32 0 0 1 / 1 1 / 1 3 P M 0 3 :

35、 2 5 : 1 22 . 9 60 . 0 2 1 42 0 0 1 / 1 1 / 1 4 P M 0 3 : 2 5 : 2 02 . 9 70 . 0 1 1 52 0 0 1 / 1 1 / 1 5 P M 0 3 : 2 5 : 2 62 . 9 20 . 0 5 案例 49技術(shù)資料 X-Rm 管制圖管制圖 檢驗站別：PQC - 1 頁次：1/1頁 產(chǎn)品名稱：211芯片產(chǎn)品編號：B34223 -221管制特性：厚度分析時間：2001/11/12001/11/15 樣本數(shù):1規(guī)格上限：3.1規(guī)格下限：2.9規(guī)格水準(zhǔn)：3 USLSLLSLXUCLXBARXLCLRmUCLRmBARRm

36、LCLCaCpCpkPPM 3.132.93.1413.0122.8830.1230.04500.120.6380.62123054 組數(shù)123456789101112131415 X值2.953.043.012.973.073.053.093.083.013.063.022.982.962.972.92 全距0.080.050.070.10.110.10.1980.070.20.10.20.40.030.050.02 標(biāo)準(zhǔn)差0.050.090.030.040.100.020.040.010.070.050.040.060.020.010.05 50技術(shù)資料 計數(shù)值型控制圖計數(shù)值型控制圖 （五

37、）（五）P-chart P-chart 不良率管制圖不良率管制圖 1. 1.意義：意義：利用管制圖的原理對產(chǎn)品不良率進行管制，是SPC計數(shù)值型最常用最 主要的分析圖之一。 特點特點： 可以掌握某產(chǎn)品或類別或生產(chǎn)線等取樣母體的不良率狀況，了解本系 統(tǒng)在正常情況下的不良狀況，有助于做成本分析； 對于突發(fā)事件（特殊原因）影響程度及時了解； 便于預(yù)測下一階段的不良率。 51技術(shù)資料 一般應(yīng)用在如下場合：一般應(yīng)用在如下場合： 單個產(chǎn)品在某一工序的不良率 單個產(chǎn)品在某幾工序的不良率 多個產(chǎn)品在某同一工序的不良率 多個產(chǎn)品在某同幾工序的不良率 單個客戶某一產(chǎn)品的不良率 單個客戶部分產(chǎn)品的不良率 單個客戶全部

38、產(chǎn)品的不良率 多個客戶同一產(chǎn)品的不良率 關(guān)鍵原料各供貨商所供產(chǎn)品的不良率 關(guān)鍵原料部分供貨商所供產(chǎn)品的不良率 52技術(shù)資料 同一產(chǎn)品在不同部門或生產(chǎn)線的不良率 同一部門或生產(chǎn)線生產(chǎn)不同產(chǎn)品的不良率 不同班次所生產(chǎn)產(chǎn)品不良率 某些班次所生產(chǎn)產(chǎn)品不良率 不同檢驗人員所檢驗的不良率 某些檢驗人員所檢驗的不良率 不同時期限的不良率 不同機臺的生產(chǎn)的不良率 等等 一般應(yīng)用在如下場合：一般應(yīng)用在如下場合： 53技術(shù)資料 2.2.圖形制作：圖形制作： 計算管制中心線 CL=Pbar=不良數(shù)之和/檢驗數(shù)之和 計算管制上、下線 a. 各組檢驗數(shù)相同，有兩種算法： 第一種（原理法）：UCL= LCL= 第二種（經(jīng)

39、驗法）： 注：當(dāng)LCL計算出來曾負數(shù)時，應(yīng)改為0。 P-chart 各組檢驗數(shù)相同 各組檢驗數(shù)相差較大 各組檢驗數(shù)相差不大 各組檢驗數(shù)不同 54技術(shù)資料 b. 各組檢驗數(shù)不同： 第一種：各組檢驗數(shù)相差較大,最大檢驗數(shù)與最小檢驗數(shù)之間超過20% CL = UCLi= LCLi= 其中：UCLi、LCLi:表示對應(yīng)第I組數(shù)據(jù)的管制上、下限。 注：各點管制界限不一定相同。注：各點管制界限不一定相同。 第二種：各組檢驗數(shù)相差較小，低于20%時 UCL= LCL = 注：各點管制界限默認(rèn)近似相等。注：各點管制界限默認(rèn)近似相等。 例6 2.圖形制作：圖形制作： 55技術(shù)資料 作出以每天為一點的不良率管制圖

40、。 Pi=di *100 ni 式中：P 表示不良率 i 表示第幾組數(shù)據(jù) d 表示檢驗數(shù) n 表示不良數(shù) 數(shù)據(jù)列表為： 日期12345678910111213 批量數(shù)120001500010000110001100080001800018000112001001000120001000 檢驗數(shù)315315200315315400600600500100100031580 不良數(shù)14158111210158100472 某陶瓷電容廠，對2 0 0 1 年5 月1 日 到 5月 1 3 日 這段時 間，制一部 二線白 班 生產(chǎn)3 4 5 B 0 - D 的5 0 0 0 0 皮法的電 容，其檢驗

41、數(shù)據(jù)為： 日期12345678910111213 批量數(shù)120001500010000110001100080001800018000112001001000120001000 檢驗數(shù)315315200315315400600600500100100031580 不良數(shù)14158111210158100472 不良率%4.44.7643.943.812.52.51.33200.42.222.5 56技術(shù)資料 說明：說明：當(dāng)檢驗數(shù)認(rèn)為相同時 57技術(shù)資料 說明：說明：當(dāng)檢驗數(shù)認(rèn)為不同時 P P 管管 制制 圖圖 檢驗站別：貼片產(chǎn)品編號：B4022 - 33 組數(shù)：9產(chǎn)品名稱：陶瓷電容時間：200

42、1/5/12001/5/10 樣本數(shù):5規(guī)格上限：10.5規(guī)格下限：9.5 組數(shù)123456789 批量15000100001100010010001200010001000010000 檢驗數(shù)315200315100100031580200200 不良數(shù)847047155 不良數(shù)2.5422.2200.42.221.252.52.5 58技術(shù)資料 3.3.圖形分析：圖形分析： 1)1)當(dāng)點已跑出管制界限當(dāng)點已跑出管制界限 除了后面7種狀況，如點已跑出管制界限，一般是指有特殊原 因?qū)е虏涣汲霈F(xiàn)較大的變化。 2 2）連續(xù)幾點在中心線上方或下方）連續(xù)幾點在中心線上方或下方 這表明制程有偏移發(fā)生，如

43、往上偏移，則表明不良率升高， 如往下偏移則表明不良率下降。 59技術(shù)資料 3 3）連續(xù)幾點上升或下降）連續(xù)幾點上升或下降 這表明制程有一種趨勢發(fā)生，分向上和向下兩種。向上則表 明不良率升高，向下則表明不良率下降。 4 4）連續(xù)幾點互著一升一降）連續(xù)幾點互著一升一降 也表明是一種趨勢，分為變化幅度變大、變小、不變。幅度 變大，則表明制程越來越不穩(wěn)定；幅度變小，則表明制程越來越 穩(wěn)定；不變則表明制程已經(jīng)是穩(wěn)定的，但要注意是否較大、是否 全體都在可接受范圍內(nèi)，如否，則請采用系統(tǒng)問題的處理方式盡 快處理。 3.圖形分析：圖形分析： 60技術(shù)資料 5 5）連續(xù)幾點在）連續(xù)幾點在3 3倍標(biāo)準(zhǔn)差以外倍標(biāo)準(zhǔn)差

44、以外 出現(xiàn)此狀況的原因一般為： a.剛剛采取過措施； b.制程某個參數(shù)發(fā)生突變； c.發(fā)生特殊問題，而未采取措施或沒有監(jiān)控； 此狀況分為三種形式： 連續(xù)連續(xù)3 3點在管制界限上方點在管制界限上方。 連續(xù)連續(xù)3 3點在管制界限下方點在管制界限下方。 連續(xù)連續(xù)3 3點在管制界限外，但不在同一側(cè)點在管制界限外，但不在同一側(cè)。 3.圖形分析：圖形分析： 61技術(shù)資料 6 6）連續(xù)幾點中有幾點在）連續(xù)幾點中有幾點在2 2倍標(biāo)準(zhǔn)差以外倍標(biāo)準(zhǔn)差以外 此狀況一般是用來表明一個狀態(tài)，一般表明制程不是很好，如有此狀況， 則表明制程本身不是很好，要注意監(jiān)控，一般為系統(tǒng)原因。 7 7）連續(xù)幾點中有幾點在中心線兩側(cè)之）

45、連續(xù)幾點中有幾點在中心線兩側(cè)之1 1倍標(biāo)準(zhǔn)差以內(nèi)倍標(biāo)準(zhǔn)差以內(nèi) 此狀況也是用來表明一個狀態(tài)，出現(xiàn)此狀況是一件好事，表明制程相對 較穩(wěn)定，如成本不是很高或不能接受，可以繼續(xù)保持。 8 8）連續(xù)幾點在中心線兩側(cè)，但未在一倍標(biāo)準(zhǔn)差以內(nèi)）連續(xù)幾點在中心線兩側(cè)，但未在一倍標(biāo)準(zhǔn)差以內(nèi) 此狀況也是用來表明一狀態(tài)，表明制程不算很好， 有一定的差異。 3.圖形分析：圖形分析： 62技術(shù)資料 （六）（六）NP-chartNP-chart不良數(shù)管制圖不良數(shù)管制圖 1. 1.意義：意義：表示不合格品的實際數(shù)量而不是與樣本的比率。是對不良率管制圖的一個補充。 應(yīng)用要求為檢驗數(shù)相同應(yīng)用要求為檢驗數(shù)相同。一般應(yīng)用在以下幾種狀

46、況下： 在自動化程度較高，人為因素相對較少，對不良分析是以計 數(shù)為主； 當(dāng)不良率相對較低時，用PPM不良率分析又較難時； 各批檢驗數(shù)相同，也可用不良數(shù)管制圖。 2. 2.圖形制作：圖形制作： 計算平均不良數(shù)（管制中心線） np = CL = 計算控制限 UCL= LCL= 注:用管制圖原理計算也可以 3. 3.圖形分析：圖形分析：完全類似P-chart，可以直接參照。 例例7 7 各組不良數(shù)之和 組數(shù) 63技術(shù)資料 64技術(shù)資料 （七）（七）U-chartU-chart單位缺點數(shù)管制圖單位缺點數(shù)管制圖 1. 1.意義：意義：是對P-chart的一種補充，是制造部門考核的一個較好工具。 注：注：

47、同P-chart一樣，不需要檢驗數(shù)相同。 2. 2.圖形制作：圖形制作： 將收集的缺點數(shù)換算成單位缺點數(shù)： Ui = Ci/Ni 其中:Ui 表示第i組數(shù)據(jù)單位缺點數(shù) Ci表示第I組數(shù)據(jù)缺點數(shù) Ni表示第I組數(shù)據(jù)檢驗數(shù) 計算管制中心線和上下限: Ubar=CL= UCL= LCL= 3. 3.圖形分析：圖形分析：同P-chart 例例8 8 65技術(shù)資料 66技術(shù)資料 （八）缺點數(shù)管制圖（八）缺點數(shù)管制圖(C-chart)(C-chart) 1. 1.意義：意義：用來管制相對缺點數(shù)的變化狀況,是對U-chart的一種補充,它們的 關(guān)系如同P-chart和NP-chart 注意注意: :C-ch

48、art同不良數(shù)管制圖一樣,也要求檢驗數(shù)相同才有意義。 2. 2.圖形制作：圖形制作： CL = Cbar = UCL = LCL = 3. 3.圖形分析：圖形分析：參照P圖，只不過分析的內(nèi)容是缺點數(shù)，而不是不良率。 例例9 9 67技術(shù)資料 68技術(shù)資料 （九）柏拉圖：（九）柏拉圖： 1.意義：意義：是SPC中非常重要的一種圖形，主要用來分析各種不良原因或缺點項 目的重點部份，以便抓住在品質(zhì)方面要注意和改善的重點。 2.使用場合：使用場合： 全廠所有缺點； 某個或某幾個部門、生產(chǎn)線、機臺、人員等的所有缺點； 某個或某幾個產(chǎn)品的所有缺點； 某個或某幾個客戶所要之產(chǎn)品的所有缺點。 69技術(shù)資料 3

49、.用途：用途： 1）作為降低不良之依據(jù)； 2）決定改善品質(zhì)的工作目標(biāo) 3）確認(rèn)改善效果（改善前后之比較） 4）應(yīng)用發(fā)掘現(xiàn)場的重要問題點 5）確認(rèn)或調(diào)整特性要因圖 6）用于整理報告或記錄 70技術(shù)資料 4.圖形制作：圖形制作： 將數(shù)據(jù)進行分類； 把分類好的數(shù)據(jù)進行匯總，由多到少進行排序，并計算出類別所占百分比； 計算出各類之總和； 以總數(shù)和為左縱軸，以總數(shù)的十分之一為一單位格，各個類別為橫軸，以每 一類別為一單位格，以100%的比例來做右邊的縱軸，之間幅度為10%為一單 位格，在80%處畫一條橫虛線； 在橫軸上，按多到少的順序進行每一單位格填寫，再根據(jù)每一類別的數(shù)量在 畫出相應(yīng)高度的方格，最后從

50、左邊第一方格右上角描第一點，第二方格右 邊上面的第一點高度加本方格高度處描第二點，第三方格右邊上面的第二 點高度加本方格高度處描第三點，以此類推，描到最后一點的100%處。 例例1010某電子廠在來料檢驗中有如下數(shù)據(jù)某電子廠在來料檢驗中有如下數(shù)據(jù) 71技術(shù)資料 72技術(shù)資料 73技術(shù)資料 第三步第三步：以總數(shù)和為左縱軸，以總數(shù)的十分之一為一單位格，各個類別為橫 軸，以每一類別為一單位格，以100%的比例來做右邊的縱軸，之間幅度為 10%一單位格，在80%之處畫一條橫虛線。 74技術(shù)資料 第四步第四步：在橫軸上，按多到少的順序進行每一單位進行填寫，再根據(jù)每一類別的 數(shù)量在畫出相應(yīng)高度的方格，最后

51、從左邊第一方格右上角描第一點，第二方格右 邊上面的第一點高度加本方格高度處描第二點，第三方格右邊上面的第二高點高 度加本方格高度處描第三點，以此類推，描到最后一點的100%處。 75技術(shù)資料 c. 因果圖又叫魚刺圖，用來羅列問題的原 因， 并將眾多的原因分類、分層的圖形 X X X X Y=f(x) Y 76技術(shù)資料 案例：某車間生產(chǎn)效率一直偏低，連續(xù)三個月均在定額指標(biāo)65%75%之 間。 步驟一：特性為“生產(chǎn)效率低落” 步驟二：找出大方向原因從5M1E方向著手。 生產(chǎn)效率低 生產(chǎn)效率低 77技術(shù)資料 步驟三： 找出形成大原因之小原因。 78技術(shù)資料 步驟四： 找出主要原因，并把它圈起來。 7

52、9技術(shù)資料 步驟五： 主要原因進行再分析。 步驟六： 依據(jù)提出之原因擬訂改善計劃，逐項進行， 直至取得成果。 d. 帕累托圖與腦力風(fēng)暴與魚刺圖之并聯(lián) 80技術(shù)資料 針對車間存在的各類質(zhì)量問題運用 帕累托圖+腦力風(fēng)暴+魚刺圖對車間 存在的主要質(zhì)量問題進行分析找主 要原因并訂出改善計劃。 81技術(shù)資料 第四部分：制程能力分析第四部分：制程能力分析 （一）、制程能力指數(shù)（一）、制程能力指數(shù)（CPKCPK）分析：）分析： 主要就是利用CPK推移圖來了解某項產(chǎn)品的某一重要管制特性在一段時間 內(nèi)的宏觀品質(zhì)變化狀態(tài)。CPK推移圖需要設(shè)定一CPK目標(biāo)值。 1.CPK 1.CPK目標(biāo)值的設(shè)定目標(biāo)值的設(shè)定: :

53、一般設(shè)定為1.33或1.54(6.9PPM)。也可根據(jù)實際情況，比如現(xiàn)品質(zhì)比較 差在0.7左右。希望達到1.0(2700PPM)，就可設(shè)立目標(biāo)值為1.0。 2. 2.計算計算CPKCPK值值: : 雙邊規(guī)格：CPK =（1-Ca）* Cp 值越大表示制程能力越強 單邊規(guī)格：CPK = Cp 82技術(shù)資料 補充：補充： Ca Ca ：準(zhǔn)確度：準(zhǔn)確度，表示制程特性中心位置的偏移程度，值等于零表示不偏移， 值越大表示偏移越大。 Ca = CpCp：精密度：精密度，表示制程特性的一致性程度，越大越集中。 Cp = 3.CPKCPK推移圖的描點制作推移圖的描點制作 4.4.例例1111 83技術(shù)資料 把

54、上例的數(shù)據(jù)以每天為一點做出如下的圖形： 84技術(shù)資料 如以每周為一點，就只有3點，如下圖 85技術(shù)資料 5.5.圖形分析圖形分析: : 主要是看每一個點與目標(biāo)值的比較狀況，和在這段時間內(nèi)品 質(zhì)變化幅度的大小，以利于做品質(zhì)工作的總結(jié)。 如某產(chǎn)品在連續(xù)生產(chǎn)的情況下，某項管制特性在連續(xù)2-3個月 時間內(nèi)都達到或超過目標(biāo)值，建議則提升品質(zhì)目標(biāo)值；如在連 續(xù)2-3個月內(nèi)CPK值達到2.0以上，可聯(lián)合品管、制造、工程開會 討論是否可減少該項管制特性的檢驗。 （二）、制程能力指數(shù)與不良率的對應(yīng)關(guān)系（二）、制程能力指數(shù)與不良率的對應(yīng)關(guān)系 86技術(shù)資料 87技術(shù)資料 第五部分：第五部分：SPCSPC之應(yīng)用之應(yīng)用

55、 一、如何選擇一、如何選擇SPCSPC控制圖：控制圖： 確定要制定控 制圖的特性 使用單值圖X-MR 是計量型 數(shù)據(jù)嗎？ 性質(zhì)上是否是均勻 或不能按子組取樣 一例如：化學(xué)槽液 批量油漆等？ 關(guān)心的是不合 格品率即 “壞”零件的 百分比嗎？ 關(guān)心的是不合格 數(shù)即單位零件不 合格數(shù)嗎？ 樣本容量 是否恒定？ 樣本容量 是否恒定？ 使用p圖 使用u圖 使用np或p圖 使用c或u圖 子組均值 是否能很 方便地計 算？ 是不能方便 地計算每個 子組的S值？ 子組容量 是否大于 或等于9？ 使用中 位數(shù)圖 使用 X-R圖 使用 X-R圖 使用 X-S圖 是 是 是 是 是 是 是 是 是 否 否 否 否

56、否 否 否 否 注：本圖假設(shè)測量系統(tǒng)已經(jīng)過評價并且是適用的 88技術(shù)資料 二二. SPC運作流程運作流程 繼續(xù)生產(chǎn) 描點繪圖 該批生產(chǎn)完成入庫 QE、生產(chǎn)主管、工程師分析 QC抽樣檢驗產(chǎn)品，并記錄數(shù)據(jù) QE分析品質(zhì)狀態(tài)圖及指標(biāo) 繼續(xù)嚴(yán)密監(jiān)控并提醒生產(chǎn)部門 管制圖異常 該批第一組否 連續(xù)510組否 狀態(tài)圖異常否 該批完成否 是否超出要求 檢看原始數(shù)據(jù) 問題嚴(yán)重否 通知產(chǎn)品工程師和生產(chǎn)部 停止生產(chǎn)調(diào)整或整頓 緊急研究對策及方案 如有可能，填 寫制程標(biāo)準(zhǔn)參 數(shù)記錄表 是 是 是 是 是 是 否 否 否 否 否 否 否 是 89技術(shù)資料 三、三、SPCSPC運作相關(guān)人員權(quán)責(zé)運作相關(guān)人員權(quán)責(zé)： 職 位

57、權(quán)責(zé)所需看和分析的圖形分析頻率 品 質(zhì) 副 總 核準(zhǔn)SPC推行方案,協(xié)調(diào) 各部門關(guān)系,監(jiān)督SPC運 作成效 PPM/不良率推移圖、柏 拉圖、CPK推移圖、直 方圖、 每月或重要客戶或 產(chǎn)品多看幾次 客 服 人 員 了解各批次品質(zhì)狀態(tài)P-Chart每一批次分析一次 采 購 了解進料部份品質(zhì)狀況 進料P-Chart、進料柏 拉圖 每一批次分析一次 90技術(shù)資料 職位權(quán)責(zé)所需看和分析的圖形分析頻率 PPM/不良率推移圖、柏拉圖、 CPK推移圖、直方圖 每2至3天分析一次 品質(zhì) 經(jīng)理 審核SPC推行計劃，定 時看 圖分 析品 質(zhì) 狀 態(tài) ， 界定 品管 部內(nèi) 部 關(guān) 系 ， 指導(dǎo)SPC系統(tǒng)運作，安排

58、今后的SPC培訓(xùn)動作。 Xbar-R chart 、 Xbar-S chart 、 Median-R chart 、 X-Rm char 、 制程能力分析 圖 每5個點分析一次 品質(zhì) 部 文 員 保管 所有 制程 標(biāo) 準(zhǔn) 參 數(shù) 記錄 表， 登記 所 有 外 送 客戶 制程 記錄 表 ， 了 解 和熟悉所有圖表形式。 SPC 專項 負責(zé) 人 處理今后SPC培訓(xùn)事務(wù)， 負責(zé) 界定 基本 資 料 ， 制 作SPC程序書，監(jiān)督所有 相關(guān)人員對SPC的應(yīng)用分 析。 所有圖形 每 3天 察 看 一 次 所 有圖形 91技術(shù)資料 職 位權(quán) 責(zé)所 需 看 和 分 析 的 圖 形分 析 頻 率 Xbar-R

59、Chart 、 Xbar-S Chart 、 Median-R Chart 、 X-RmChart 、 制 程 能 力 分 析 圖 P- Chart、 NP-Chart 、 C- Chart 、 U-Chart 最 好 適 時 監(jiān) 控 與 分 析 QA或 QE 適 時 觀 看 各 品 質(zhì) 圖 形 ， 界 定 各 基 本 資 料 ， 出 問 題 時 提 醒 生 產(chǎn) 和 工 程 部 門 ， 協(xié) 同 生 產(chǎn) 、 工 程 制 定 制 程 品 質(zhì) 標(biāo) 準(zhǔn) 。柏 拉 圖 、 PPM/不 良 率 推 移 圖 、 CPK推 移 圖 每 批 次 或 每 5 點 分 析 一 次 制 造 部 各 主 管 觀 看 本

60、 部 門 的 產(chǎn) 品 品 質(zhì) 狀 況 ， 對 出 問 題 采 取 具 體 執(zhí) 行 措 施 Xbar-R Chart 、 Xbar-S Chart 、 Median-R Chart 、 X-RmChart 、 制 程 能 力 分 析 圖 P- Chart、 NP-Chart 、 C- Chart 、 U-Chart、 CPK 每 收 集 完 成 1至 2個 點 分 析 一 次 或 一 個 批 次 生 產(chǎn) 完 或 與 品 管 討 論 品 質(zhì) 時 分 析 92技術(shù)資料 四、四、SPCSPC通常失敗的原因分析：通常失敗的原因分析： 1.分工不合理，沒有專門人員負責(zé)此事，或負責(zé)人員身兼多職，對此事意 識