標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 11682-1989 低本底α測(cè)量儀》是中國一項(xiàng)關(guān)于低本底α粒子測(cè)量儀器的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了低本底α測(cè)量儀的術(shù)語定義、分類、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則以及標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和儲(chǔ)存要求，旨在確保此類設(shè)備的性能穩(wěn)定、測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確可靠，并促進(jìn)其在環(huán)境監(jiān)測(cè)、輻射防護(hù)、核科學(xué)及同位素研究等領(lǐng)域的應(yīng)用。

標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容概覽：

  1. 范圍：明確了本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)量α射線能量大于4MeV，探測(cè)效率不低于0.1cpm/(mBq)的低本底α放射性物質(zhì)的儀器。不適用于瞬時(shí)α輻射測(cè)量或能量低于4MeV α粒子的測(cè)量。

  2. 術(shù)語定義：對(duì)“低本底”、“探測(cè)效率”等關(guān)鍵術(shù)語進(jìn)行了明確界定，為標(biāo)準(zhǔn)的理解和實(shí)施提供基礎(chǔ)。

  3. 分類：根據(jù)測(cè)量原理、結(jié)構(gòu)特點(diǎn)等將低本底α測(cè)量儀進(jìn)行分類，便于用戶根據(jù)實(shí)際需求選擇合適的儀器類型。

  4. 技術(shù)要求：

    • 性能指標(biāo)：規(guī)定了儀器的基本性能參數(shù)，如能量分辨率、探測(cè)效率、本底計(jì)數(shù)率等應(yīng)達(dá)到的標(biāo)準(zhǔn)。
    • 結(jié)構(gòu)與材料：要求儀器設(shè)計(jì)合理，使用低放射性材料制造，以減少本底干擾。
    • 穩(wěn)定性與可靠性：儀器需具有良好的長期穩(wěn)定性和重復(fù)性，能在規(guī)定條件下穩(wěn)定工作。

  5. 試驗(yàn)方法：詳細(xì)說明了如何對(duì)儀器進(jìn)行性能測(cè)試，包括能量校準(zhǔn)、探測(cè)效率測(cè)定、本底計(jì)數(shù)率測(cè)試等，確保測(cè)試過程標(biāo)準(zhǔn)化、可重復(fù)。

  6. 檢驗(yàn)規(guī)則：制定了產(chǎn)品出廠前的檢驗(yàn)流程和合格判定標(biāo)準(zhǔn)，以及用戶接收時(shí)的驗(yàn)收準(zhǔn)則。

  7. 標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和儲(chǔ)存：要求產(chǎn)品外包裝需清晰標(biāo)注產(chǎn)品信息、生產(chǎn)日期、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)等，同時(shí)對(duì)運(yùn)輸和儲(chǔ)存條件提出具體要求，以保護(hù)儀器不受損壞。


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  • 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替，建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 11682-2008
  • 1989-10-14 頒布
  • 1990-05-01 實(shí)施
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文檔簡(jiǎn)介

UDC681.2：621.039F85中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB11682-89低本底“測(cè)量儀Lowbackgroundalphameasuringinstrument1989-10-14發(fā)布1990-05-01實(shí)施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布中華人民共和國國國家標(biāo)準(zhǔn)低本底“測(cè)量儀GB11682-89中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復(fù)興門外三里河北街16號(hào)郵政編碼：100045htp:/電話：63787337、637874471990年11月第一版20X4年11月電子版制作書號(hào)：1550661-7539版權(quán)專有侵權(quán)必究舉報(bào)電話：（010）68533533中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB1168289本測(cè)0Lowbackgroundalphamcasuringinstrument主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了低本底“測(cè)世儀應(yīng)具有的輻射特性、電特性、環(huán)境特性以及對(duì)這些特性的檢驗(yàn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于在室內(nèi)測(cè)量弱。放射性活度或表面發(fā)射率的儀器，也適用于多用途儀器中的測(cè)量弱放射性的部分本標(biāo)準(zhǔn)不適用于測(cè)量能譜類型的儀器2引用標(biāo)準(zhǔn)38996GB核核電子儀器用樣品盤尺寸GB10257核儀器與核輻射探測(cè)器質(zhì)量檢驗(yàn)規(guī)則3術(shù)語3.1輻射及測(cè)量儀3.1.1儀器本底instrumentalbackeround儀器在正常工作條件下，樣品盤中無放射源時(shí)，儀器的指示值3.1.2空白樣品blanksample由無外加放射性而與樣品相同物質(zhì)，按正常程序制作的待測(cè)平面樣品。3.1.3空白樣品本底backeroundofblanksample儀器在正常工作條件下,測(cè)量空白樣品的指示值。3.1.4低本底測(cè)址儀1owbackgroundalphameasuringinstrument測(cè)量弱“放射性活度或表面發(fā)射率的儀器，3.1.5放射性活度radioactivity一定數(shù)最的某種放射性核素在單位時(shí)間內(nèi)發(fā)生自發(fā)核變化的個(gè)(次)數(shù)。放射性活度的單位，在法定計(jì)量單位中，稱為貝可【勒爾】符號(hào)為Bq3.1.6表面發(fā)射率surfaccemissionrate對(duì)于一個(gè)給定的放射源，在單位時(shí)間內(nèi)由該源表面發(fā)射出的給定類型的粒子數(shù)目。3.1.7儀器探測(cè)效率detectioncfficiencyorinstrument在一定探測(cè)條件下.測(cè)到的粒子數(shù)與在同一時(shí)間間隔內(nèi)放射源表面發(fā)射出的該種粒子總數(shù)的比值3.1.8兒何因子gcometryfactors決定探測(cè)效率之諸因素之一。它可由探測(cè)器靈敏面與放射源之間的幾何關(guān)系計(jì)算出來。也可認(rèn)為是一定幾何條件下的探測(cè)效率極限值。3.1.9效率比efficiencyratio儀器探測(cè)效率測(cè)定值與幾何因子之比，也就是除幾何因子以外其他決定探測(cè)效率諸因素之積。3.1

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