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此文檔收集于網(wǎng)絡(luò)，如有侵權(quán)，請(qǐng)聯(lián)系網(wǎng)站刪除 MEMS濕法腐蝕工藝和過(guò)程 摘要：通過(guò)光刻膠或硬掩膜窗口進(jìn)行的濕法化學(xué)腐蝕在MEMS器件制造的許多工藝過(guò)程中大量存在。本章針對(duì)400多種襯底和淀積薄膜的組合介紹了800多種濕法腐蝕配方, 著重介紹了在大學(xué)和工業(yè)界超凈間中常見(jiàn)的實(shí)驗(yàn)室用化學(xué)品。另外給出了600多個(gè)有關(guān)選擇或開(kāi)發(fā)制造MEMS器件的新配方的文獻(xiàn)。也給出了近40個(gè)內(nèi)部整合的材料和腐蝕特性的圖表，方便讀者迅速尋找和比較這些配方。有關(guān)目標(biāo)材料和腐蝕特性的縮略語(yǔ)為方便比較都進(jìn)行了統(tǒng)一。腐蝕速率和對(duì)其他材料的腐蝕選擇性也給出了。除了重點(diǎn)討論在MEMS領(lǐng)域常用的硅和其他常用材料外，III-V化合物半導(dǎo)體和更新的材料也有涉及。本章討論主題涉及濕法腐蝕原理與過(guò)程；整合濕法腐蝕步驟的工藝方法；濕法腐蝕過(guò)程的評(píng)估和開(kāi)發(fā)及側(cè)重安全的設(shè)備和向代工廠轉(zhuǎn)移的預(yù)期；氧化物，氮化物，硅，多晶硅，和鍺各向同性腐蝕；標(biāo)準(zhǔn)金屬腐蝕；非標(biāo)準(zhǔn)絕緣介質(zhì)，半導(dǎo)體和金屬腐蝕；光刻膠去除和硅片清洗步驟；硅化物腐蝕；塑料和聚合物刻蝕；硅各向異性刻腐蝕，體硅和鍺硅自停止腐蝕；電化學(xué)腐蝕和自停止；光助腐蝕和自停止；薄膜自停止腐蝕；犧牲層去除；多孔硅形成；用于失效分析的層顯；缺陷判定；針對(duì)濕法化學(xué)腐蝕的工藝和過(guò)程，給出了幾個(gè)實(shí)際的案例。對(duì)器件設(shè)計(jì)人員和工藝研發(fā)人員，本章提供了一個(gè)實(shí)際和有價(jià)值的指導(dǎo)，以選擇或發(fā)展一個(gè)對(duì)許多類(lèi)型MEMS和集成MEMS器件的腐蝕。 8.1引言 很少有微機(jī)械化或集成化的器件是在沒(méi)有進(jìn)行一些濕法化學(xué)處理的情況下開(kāi)發(fā)或制造的。不管器件是否是電氣的，機(jī)械的，電子的，集成的，光學(xué)的，光電子學(xué)的，生物的，聚合的，微流控的傳感器或執(zhí)行器，有關(guān)這些器件的制造工藝或過(guò)程的替換決定將對(duì)最終的技術(shù)和商業(yè)成功有重要影響。這些器件通常在硅襯底、化合物半導(dǎo)體、玻璃、石英、陶瓷或塑性材料上制造，可能涉及在這些材料上淀積一層或多層薄膜并光刻和腐蝕。這些層和淀積順序受工藝和用于開(kāi)發(fā)和制造該器件的工藝單元限制，隨著層數(shù)的增長(zhǎng)變的越來(lái)越復(fù)雜和相互影響。 濕法腐蝕是使用液態(tài)腐蝕劑系統(tǒng)化的有目的性的移除材料，在光刻掩膜涂覆后（一個(gè)曝光和顯影過(guò)的光刻膠）或者一個(gè)硬掩膜（一個(gè)光刻過(guò)的抗腐蝕材料）后緊接該步腐蝕。這個(gè)腐蝕步驟之后，通常采用去離子水漂洗和隨后的掩膜材料的移除工藝。濕法腐蝕可替換工藝包括干法刻蝕，即使用一種或多種低壓力的反應(yīng)氣體，采用RF感應(yīng)激勵(lì)后進(jìn)行反應(yīng)，然后再將反應(yīng)生成的氣態(tài)物質(zhì)抽出。非等離子干法刻蝕，例如雙氟化疝或氫氟酸的酸性蒸氣腐蝕，擁有各向同性濕法腐蝕的諸多特性，該腐蝕通常在一個(gè)有限的腔室內(nèi)完成。 近乎所有IC,MEMS,MOEMS,MST和NEMS類(lèi)的器件的產(chǎn)生都很可能與一些濕法腐蝕工藝有關(guān)。整個(gè)工藝流程可被描述為一系列步驟或者序列，這些濕法腐蝕常用于選擇性的去除淀積薄膜的一部分，剝?nèi)ブT如硬掩膜和光刻膠等特定的材料，為以后的加工清洗和準(zhǔn)備襯底，去除犧牲層和部分襯底，以及形成三維結(jié)構(gòu)。一個(gè)濕法腐蝕工序需要考慮如下一些因素，包括有效的腐蝕劑，腐蝕選擇性，腐蝕速率，各向同性腐蝕，材料的兼容性，工藝的兼容性，花費(fèi)，設(shè)備的可用性，操作人員的安全，技術(shù)支持和適當(dāng)?shù)膹U物處理。 盡管器件設(shè)計(jì)者，工藝設(shè)計(jì)師，或者制造商在工藝允許的情況下可能偏向使用一個(gè)完整的干法處理流程，但是許多標(biāo)準(zhǔn)的處理步驟例如光刻膠的顯影和圓片清洗仍然濕法的。與干法刻蝕相比，濕法腐蝕工序在成本，速度，性能發(fā)面更有優(yōu)勢(shì)。干法刻蝕的仿真還不可用，如常用的微結(jié)構(gòu)的選擇性鉆蝕或與晶向相關(guān)的腐蝕仿真等。相比濕法腐蝕，人們可能更傾向于選擇干法工藝，在一個(gè)裝備好的工藝線或者如果濕法腐蝕效果不好的情況下尤其如此。不管怎樣，對(duì)濕法加工來(lái)說(shuō)，其優(yōu)點(diǎn)是器件可以在相對(duì)低成本，低勞務(wù)管理費(fèi)用或者低的技術(shù)支持下開(kāi)發(fā)和制造?？紤]到干法刻蝕要求在一個(gè)昂貴的等離子區(qū)或者RIE腐蝕系統(tǒng)里有長(zhǎng)的腐蝕時(shí)間，濕法腐蝕變得特別有吸引力，需要同時(shí)處理整盒圓片（25片裝圓片盒）或更多的圓片時(shí)，濕法腐蝕在成本和時(shí)間上的效益更突出。 不管選擇干法還是濕法加工工藝，總是強(qiáng)烈受到在特定的加工環(huán)境下設(shè)備的可用性及對(duì)開(kāi)發(fā)者有用的工藝限制。成功的設(shè)計(jì)者，開(kāi)發(fā)者和制造商幾乎總是使用或修改趁手的工藝。除非是必須開(kāi)發(fā)新工藝，安裝新設(shè)備，或者取得新的工藝技能，一般總是避免額外的需求。理解什么時(shí)候要應(yīng)用干法和濕法這兩個(gè)工藝并且在可能的情況下使用標(biāo)準(zhǔn)工藝是很重要的。表8.1總結(jié)比較濕法和干法刻蝕之間的一般注意事項(xiàng)。 表8.1濕法和干法刻蝕之間一般比較考慮干法刻蝕濕法腐蝕1存在腐蝕高高2腐蝕速率適中，可變高，可變3腐蝕均勻性適中，可變適中，可變4材料選擇性低，可變謹(jǐn)慎選擇下高5圓片產(chǎn)量適中高6掩膜選擇性適中，可變謹(jǐn)慎選擇下高7使用光刻膠掩膜高某些情況下不能用8光刻圖形分辨率高適中9背面襯底暴露低高10腐蝕可靠性高適中；采用自動(dòng)化可改進(jìn) 11腐蝕重復(fù)性高適中；采用自動(dòng)化可改進(jìn)12培訓(xùn)和維護(hù)適中低13操作者暴露于化學(xué)品低適中14單位工藝成本適中低15設(shè)備成本高低16設(shè)施成本高低 本章開(kāi)始對(duì)濕法腐蝕的原理及工藝過(guò)程等進(jìn)行了概述，然后一節(jié)討論濕法腐蝕設(shè)施和工藝為本地和遠(yuǎn)程用戶服務(wù)的評(píng)價(jià)和開(kāi)發(fā)應(yīng)用。接下來(lái)的兩節(jié)介紹在人工和實(shí)際部門(mén)中采用IC兼容材料和非標(biāo)準(zhǔn)材料的濕法腐蝕工藝，IC兼容材料已經(jīng)被集成電路制造商普遍接受，非標(biāo)準(zhǔn)材料可能需要單獨(dú)或?qū)Ｓ迷O(shè)備，設(shè)施，后處理或其他特殊考慮。其他部分包括硅的各向異性腐蝕和腐蝕自停止，采用濕法腐蝕液的犧牲層去除，多孔硅形成，及分層濕法腐蝕和缺陷測(cè)定濕法腐蝕。濕法腐蝕技術(shù)和工藝的進(jìn)一步討論中可以在許多優(yōu)秀的書(shū)籍和期刊1-30中找到。 8.2濕法腐蝕原理和流程架構(gòu) 在典型的工藝和制造流程中，半導(dǎo)體和MEMS加工的許多工藝都可歸類(lèi)為淀積，光刻和腐蝕三類(lèi)工藝。淀積工藝可能包括某些添加工藝如外延式生長(zhǎng)，電子束蒸發(fā)，濺射，化學(xué)氣相沉積（CVD），低壓化學(xué)氣相沉積（LPCVD），有機(jī)金屬化學(xué)氣相沉積法（MOCVD），等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積（PECVD）或者包括其他工藝，如熱氧化或離子注入。光刻工藝一般包括旋涂光刻膠和采用接觸對(duì)準(zhǔn)機(jī)，步進(jìn)機(jī)，或使用規(guī)定的光致抗蝕劑厚度和曝光時(shí)間的電子束光刻機(jī)系統(tǒng)的曝光。尤其在薄膜高度變化大的情況下，光刻膠厚度和曝光時(shí)間可根據(jù)需要進(jìn)行調(diào)節(jié)，以確保獲得足夠的特征線條。腐蝕步驟一般基于等離子體或反應(yīng)離子刻蝕。在干法刻蝕不可用或?qū)σ粋€(gè)特定的腐蝕工藝不恰當(dāng)時(shí)，可以在流程中引入濕法腐蝕。通常是設(shè)計(jì)或開(kāi)發(fā)一個(gè)MEMS器件時(shí)選擇一個(gè)特定的濕法或干法刻蝕工藝，盡管當(dāng)設(shè)備升級(jí)或轉(zhuǎn)移到另一加工平臺(tái)時(shí)這個(gè)選擇可能被修改。 如圖8.1所示，對(duì)MEMS器件來(lái)說(shuō)，已經(jīng)有多種可用的或研制出來(lái)的工藝方法，如完全集成或完全定制的工藝，半定制或標(biāo)準(zhǔn)的MEMS工藝，其他已成熟工藝的變種，多個(gè)工藝平臺(tái)上的工藝單元模塊等。完全集成的MEMS流程可基于已建立的CMOS，BiCMOS工藝，或化合物半導(dǎo)體工藝。完全定制的流程一般是一個(gè)專用的工藝，掩膜次數(shù)極少，主要用于原型，最初的生產(chǎn)，或高產(chǎn)量的器件。半定制流程包括面向特定器件的MEMS工藝，該工藝可能位于集成電路工藝之前或之后，也可能是圓片級(jí)也可能是芯片級(jí)。標(biāo)準(zhǔn)MEMS工藝包括可靠的單層和多層多晶工藝，金屬工藝，SOI或LIGA工藝，以及多用戶和多器件工藝。工藝變種包括對(duì)已定型工藝相對(duì)輕微的調(diào)整，如起始材料的變化，薄膜厚度或腐蝕深度的微小變化，從一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的流程中消除無(wú)關(guān)光刻步驟。對(duì)于那些愿意將圓片在多個(gè)制造平臺(tái)之間傳遞的人來(lái)說(shuō)，工藝單元模塊可能在一到多個(gè)具有專門(mén)加工能力的小工藝平臺(tái)加工。這些平臺(tái)在諸如薄膜沉積，外延生長(zhǎng)或離子注入，光刻和腐蝕，化學(xué)機(jī)械拋光，和后道工藝切割和包裝等方面有專長(zhǎng)。 如果需要，完全集成的和標(biāo)準(zhǔn)的MEMS工藝往往提供給用戶選擇任何腐蝕劑的決定權(quán)，因?yàn)檫@些加工工藝在一個(gè)特定的平臺(tái)中已建立并規(guī)范化了。用戶可能不知道或不需要知道這些腐蝕工藝的詳細(xì)信息。一個(gè)完全集成的工藝范例是將集成電路工藝與認(rèn)可的兼容MEMS工藝混合在一起。全定制的MEMS工藝選擇濕法和干法刻蝕工藝最自由，對(duì)于早期的器件開(kāi)發(fā)，器件只需要幾個(gè)光刻版，非常高產(chǎn)量的器件尤其如此。半定制工藝允許MEMS工藝放在已經(jīng)制造的有源器件（即CMOS）工藝之前，更多放在之后，給開(kāi)發(fā)人員選擇濕法或干法刻蝕工藝的機(jī)會(huì)，以滿足特定的薄膜刻蝕的要求。工藝變化可包括對(duì)腐蝕步驟進(jìn)行修改，以滿足薄膜腐蝕的要求。工藝單元的用戶在濕法工藝的選擇和使用方面最有發(fā)言權(quán)。 圖 8.1 針對(duì)MEMS器件的工藝方案，包括全集成工藝、對(duì)標(biāo)準(zhǔn)集成電路或MEMS工藝的修改、半定制和全定制工藝、標(biāo)準(zhǔn)（如多器件和多用戶）MEMS工藝及工藝單元。濕法腐蝕工藝可以由所選工藝方案決定，對(duì)適合標(biāo)準(zhǔn)和全集成工藝的器件尤其如此。特殊的濕法腐蝕工藝可能需要選擇工藝參數(shù)、半定制、全定制或工藝單元。許多公司提供代工服務(wù)，代工范圍包括從任何地方單步加工工藝、工藝模塊到成熟的已建立流程。一些較大的代工廠提供MEMS服務(wù)，如有變更，請(qǐng)參考文獻(xiàn)31。例如，用戶可能會(huì)提交一個(gè)CAD設(shè)計(jì)到外包服務(wù)，該服務(wù)可以提供對(duì)各種材料的頂部進(jìn)行多層電鍍形成多層金屬結(jié)構(gòu)32。通過(guò)網(wǎng)上搜索，或與行業(yè)專家和代工廠的代表交流可以找到一些提供工藝單元的代工廠。圖8.2 濕法腐蝕選擇和開(kāi)發(fā)原則包括：確定有效性，顯示出重復(fù)性和可靠性，如果可能采用已有工藝，確保工藝兼容和評(píng)估成本 選擇濕腐蝕工藝模塊需要多方面的考慮，其中一些如圖8.2所示。對(duì)特定器件的一般工藝流程開(kāi)發(fā)之后，腐蝕工藝要進(jìn)行評(píng)估看是否應(yīng)該是濕法或干法刻蝕。 濕法腐蝕的第一選擇原則是，基于腐蝕選擇性，腐蝕速率，側(cè)壁上的工藝要求確定候選的腐蝕液或腐蝕工藝的有效性。選擇性必須足夠高以便在對(duì)掩膜材料損傷最小的情況下能刻蝕所想要刻的材料，并且任何暴露出來(lái)的要刻蝕材料必須被刻干凈。在可能的情況下，腐蝕速率應(yīng)選擇在2-5分鐘左右完成腐蝕：腐蝕時(shí)間要足夠長(zhǎng)以便將插入圓片和潤(rùn)濕的影響降到最小，時(shí)間又要足夠短，以保持工作流程恰當(dāng)和降低工藝單元成本。專用腐蝕，如犧牲層腐蝕或襯底的各向異性刻蝕，可能需要幾個(gè)小時(shí)或更長(zhǎng)時(shí)間。 選擇濕法腐蝕時(shí)，側(cè)壁可以是一個(gè)重要的考慮因素。濕法腐蝕和干法刻蝕相比，能顯著鉆蝕掩膜圖案。在濕法腐蝕中，精細(xì)線條，如相鄰線和間隔等可能會(huì)完全消失。對(duì)暗場(chǎng)掩膜來(lái)說(shuō)，鉆蝕也會(huì)導(dǎo)致器件特征尺寸變寬，影響設(shè)計(jì)規(guī)則，并在某些情況下限制了芯片尺寸。在某些情況下，一般用濕法腐蝕產(chǎn)生的斜側(cè)壁是有利的，它能允許后續(xù)薄膜沉積和圖案有更好的臺(tái)階覆蓋。 濕法腐蝕的第二個(gè)選擇原則是，可證明重復(fù)性，可靠性，濕法腐蝕的魯棒性。舉例來(lái)說(shuō)，一個(gè)挑剔的腐蝕工藝要求操作者特別關(guān)注，甚至輕微的腐蝕變化就可以毀掉整個(gè)工藝。一個(gè)良好的濕法腐蝕工藝必須有過(guò)腐蝕的能力，允許5-15或以上的過(guò)腐蝕余量，同時(shí)對(duì)器件性能和產(chǎn)量的影響微乎其微。一個(gè)理想的濕法腐蝕有自停止特性的過(guò)腐蝕能力，對(duì)其他暴露材料有近無(wú)限的選擇性。腐蝕工藝的一個(gè)更有利的優(yōu)點(diǎn)是對(duì)操作者控制的腐蝕有一個(gè)可見(jiàn)的腐蝕終止點(diǎn)和能在線驗(yàn)證被腐蝕薄膜或底膜的薄膜厚度，這確保了所選材料在目標(biāo)區(qū)域內(nèi)徹底被腐蝕掉。 濕法腐蝕通常對(duì)腐蝕溫度，腐蝕液濃度，以前的使用量，腐蝕劑年齡，腐蝕劑的蒸發(fā)或在腐蝕液中的稀釋，腐蝕劑要腐蝕的晶圓數(shù)量、包括基板背面的暴露面積的百分比，特征尺寸，薄膜的成分，薄膜形貌，退火歷史，表面污染，表面殘留物，孵化時(shí)間，攪拌，室內(nèi)照明，對(duì)每一個(gè)可靠的腐蝕工藝控制的認(rèn)真態(tài)度等都敏感。 如果腐蝕太慢；對(duì)其他掩膜材料和襯底的選擇性不足；缺乏均勻性;針對(duì)后續(xù)襯底加工存在污染問(wèn)題;產(chǎn)生不想要的化合物；殘留物，或蝕點(diǎn)；引起裂縫，腫脹，脫皮，或掩膜層的過(guò)度鉆蝕；或需要笨重的存儲(chǔ)，處理， 處置，安全和設(shè)施考慮，可以考慮取消用該腐蝕液。雖然濕法腐蝕可能提供比干法刻蝕更高的對(duì)掩膜材料的選擇性，但他們也可能對(duì)膜的組成和退火更敏感。 濕法腐蝕的第三個(gè)選擇原則是盡可能地使用現(xiàn)有的工藝。加工中心一般都會(huì)有某些材料(如二氧化硅)和金屬(如鋁)的濕法腐蝕能力，針對(duì)所要的薄膜厚度，可以根據(jù)需要適當(dāng)修改工藝參數(shù)。對(duì)特定的工藝如襯底的各向異性腐蝕可能有專用的腐蝕槽位。對(duì)某些特殊的腐蝕要求，如廣泛使用的犧牲層腐蝕，聰明的做法是修改現(xiàn)有工藝和設(shè)備，只需實(shí)現(xiàn)所需的腐蝕特性。那些已經(jīng)開(kāi)發(fā)出專用腐蝕液以制造某個(gè)器件的人員知道要進(jìn)行開(kāi)發(fā)，特性檢測(cè)和規(guī)范化專用腐蝕液需要花費(fèi)大量的時(shí)間和精力。 濕法腐蝕的第四個(gè)選擇原則是確保與器件加工及要開(kāi)發(fā)器件的加工中心的其他方面的兼容性。通過(guò)圓片傳遞路徑或公共承片臺(tái)和腐蝕槽的圓片操作可能產(chǎn)生的和其他器件，設(shè)備和工藝的交叉污染將對(duì)其他器件產(chǎn)生不期望的損害。開(kāi)發(fā)人員需要確保在一個(gè)特定的器件工藝流程中后續(xù)工藝是兼容的，要考慮后續(xù)淀積工藝的臺(tái)階覆蓋和光刻膠旋涂，易碎器件的操作，切片要求和封裝需求。 在考慮到上述濕法腐蝕選擇的原則之后如存在多個(gè)選項(xiàng)，下一步就是要考慮開(kāi)發(fā)，制造和技術(shù)轉(zhuǎn)讓，設(shè)備和設(shè)施的維護(hù)，與地面空間的高度，工藝控制，和供應(yīng)相關(guān)的所有成本。使用現(xiàn)有的設(shè)施內(nèi)的已有工藝的成本一般最低，因?yàn)楝F(xiàn)有工藝腐蝕費(fèi)用通常是最合理的，不需要花費(fèi)額外的資本或開(kāi)發(fā)努力。 那些已經(jīng)開(kāi)發(fā)或正在開(kāi)發(fā)的半導(dǎo)體或MEMS器件的人認(rèn)識(shí)到加工工序和器件設(shè)計(jì)之間需要廣泛的互動(dòng)。如果腐蝕工序不能進(jìn)行調(diào)整以達(dá)到預(yù)期的效果，針對(duì)整個(gè)工藝方案的的調(diào)整可能會(huì)有所幫助。另外，器件設(shè)計(jì)可以經(jīng)常進(jìn)行調(diào)整，以容納腐蝕或其他工藝過(guò)程的不當(dāng)限制。8.2.1表面反應(yīng)和反應(yīng)物/副產(chǎn)品傳輸 腐蝕系統(tǒng)通常由腐蝕燒杯或大小足以垂直地容納一個(gè)或多個(gè)圓片的水槽組成，在一個(gè)腐蝕周期中圓片完全浸在腐蝕液中，如圖8.3所示。可包括加熱器，熱電偶和攪拌器。水槽往往有用于維持酸/堿中和系統(tǒng)的排水管，一個(gè)專用的氫氟酸收集系統(tǒng)，或溶劑收集箱。 腐蝕液可用外部的化學(xué)品儲(chǔ)存設(shè)施從腐蝕瓶或永久安裝的輸送系統(tǒng)倒入水槽。對(duì)所用的腐蝕液而言腐蝕槽和液體分布系統(tǒng)是由惰性材料構(gòu)成的，如全氟烷基（PFA），阻燃聚丙烯（PP），高密度聚乙烯（HDPE），聚四氟乙烯（PTFE或Teflon特氟龍），模壓聚偏二氟乙烯（PVDF），或石英27，33等。不銹鋼腐蝕槽偶爾也適用于溶劑，有時(shí)也適用于氫氧化鉀的腐蝕劑。 PFA腐蝕槽和支架可用于氫氧化鉀腐蝕。為了安全和溢出控制，腐蝕槽可放置在另一個(gè)水箱或水槽內(nèi)。為了保護(hù)操作者，水箱及水槽通常要用安裝在濕法工作臺(tái)上的防濺出的架空廢液收集裝置連接。 圖 8.3 腐蝕槽(a)用于存放腐蝕液，經(jīng)常有一個(gè)加熱器，熱電偶，攪拌器和用于排出腐蝕劑的閥門(mén)。一個(gè)單獨(dú)的漂洗槽(b)允許在晶圓旋轉(zhuǎn)或吹干燥前用去離子水充分地沖洗晶圓。 一個(gè)專用的支架或放有包含碳纖維，聚丙烯，全氟烷基，聚四氟乙烯或Teflon特氟龍，聚偏氟乙烯，或石英的PEEK的暗盒（未畫(huà)出），在腐蝕和沖洗過(guò)程中可用于晶圓傳輸。 濕法工作臺(tái)上可能有定時(shí)器，燈和風(fēng)扇開(kāi)關(guān)，加熱控制器，報(bào)警系統(tǒng)，和一個(gè)或多個(gè)專用的腐蝕清洗池和漂洗槽。 漂洗槽也有類(lèi)似的構(gòu)造而且有豐富的去離子水噴霧或泡沫噴灑在晶圓上，稀釋和去除晶圓上的腐蝕液。 漂洗池在水箱底部可能會(huì)有下拉門(mén)用來(lái)在多個(gè)傾倒沖洗周期中迅速排出漂洗水。一些腐蝕工序要求晶圓腐蝕和漂洗要在同一個(gè)池中（即稀釋沖洗），然而晶圓從腐蝕池到?jīng)_洗池一般都是通過(guò)手動(dòng)或自動(dòng)臂來(lái)運(yùn)送的。晶圓支架或暗盒還必須對(duì)腐蝕劑沒(méi)作用而且通常專用于特定的濕法工作臺(tái)或腐蝕工藝以避免交叉污染的可能性。 液體腐蝕工藝的通用模型如圖8.4所示。當(dāng)在腐蝕液中的反應(yīng)物與被腐蝕材料暴露在外的表面化學(xué)反應(yīng)時(shí)發(fā)生腐蝕，同時(shí)伴隨著又重新溶解到腐蝕液中或以氣體形式釋放的副產(chǎn)品。腐蝕速率受在腐蝕液中反應(yīng)物的濃度，擴(kuò)散到裸露表面的反應(yīng)物的局部運(yùn)輸，腐蝕液和正在刻蝕的材料之間的分界面的反應(yīng)速率，表面上的反應(yīng)產(chǎn)物的去除率及在刻蝕池內(nèi)的反應(yīng)產(chǎn)物的濃度等多方面影響。 在液固界面的反應(yīng)更是出奇地復(fù)雜。腐蝕可能涉及一個(gè)復(fù)合的氧化還原反應(yīng)，先產(chǎn)生正在被腐蝕的材料的氧化物質(zhì)，然后被腐蝕掉讓新鮮的材料暴露，該過(guò)程連續(xù)進(jìn)行實(shí)現(xiàn)腐蝕。 二次效應(yīng)可能發(fā)生，有時(shí)甚至占據(jù)主導(dǎo)地位，如從一個(gè)高深寬比特征的界面或從非潤(rùn)濕掩膜材料上產(chǎn)生的水蒸氣壁壘。不需要的副產(chǎn)品，如鹽殘余物或在刻蝕表面形成的其他固體構(gòu)成物，能產(chǎn)生腐蝕壁壘，這些壁壘減緩甚至能停止腐蝕。當(dāng)氣泡一直黏著在表面時(shí)，氣體的局部演化能產(chǎn)生一個(gè)減緩腐蝕速率的微掩膜效應(yīng)，從而導(dǎo)致形成粗糙的表面和可能的小丘形狀的構(gòu)成物。當(dāng)晶圓部分清洗，然后重新插進(jìn)伴有不充分的攪拌的腐蝕池中時(shí)，疏忽，局部腐蝕速率減少等可能會(huì)出現(xiàn)帶有粘性或低溶解度的腐蝕劑。 為了達(dá)到增強(qiáng)腐蝕速率的目的，往往通過(guò)：增加反應(yīng)物的濃度，在高溫下進(jìn)行腐蝕，使用攪拌器以協(xié)助腐蝕流，改變腐蝕池來(lái)得到新的腐蝕液和排出累積的副產(chǎn)品，并盡量減少可能發(fā)生直接接觸晶圓的支架或接近另一個(gè)晶圓的腐蝕障礙物。一般模型的速率限制方法通常需要確定增強(qiáng)哪項(xiàng)最具影響。盡管通過(guò)精心挑選的腐蝕劑和腐蝕劑濃度而得到適度的腐蝕速率，并在室溫下腐蝕往往最方便和最安全，但增加腐蝕液的溫度通常會(huì)導(dǎo)致更快的腐蝕。 幾乎所有的濕法腐蝕，包括各向異性腐蝕，當(dāng)使用覆光刻膠或有圖案特征的硬掩膜層時(shí)都存在某鐘程度的鉆蝕。一個(gè)理想的刻蝕，最好實(shí)現(xiàn)方法是干法刻蝕而不是濕法腐蝕，可以把光刻圖形特征轉(zhuǎn)換成具有較高的保真度和最小的特征失真的腐蝕層。濕法腐蝕由于其固有的腐蝕任何暴露的表面的特性，在底部會(huì)以相似的速率腐蝕側(cè)壁。各向同性腐蝕產(chǎn)生一個(gè)橫向的鉆蝕距離，大小和腐蝕深度相同，這將產(chǎn)生一個(gè)如圖8.4所示的有著大約與左手邊的側(cè)向圖的刻蝕深度相等的曲線。鉆蝕可以通過(guò)設(shè)計(jì)補(bǔ)償掩膜或電子束直寫(xiě)工具上的相應(yīng)功能的寬度調(diào)整的方式來(lái)得到補(bǔ)償。鉆蝕問(wèn)題可以采用具有更垂直和最小橫向刻蝕速率的干法刻蝕來(lái)代替濕法以減小對(duì)精細(xì)線條特征的影響。用各向異性材料或各向異性腐蝕劑，側(cè)壁輪廓變得更加棱角分明。對(duì)于各向同性的情況下，當(dāng)腐蝕劑腐蝕到底層的腐蝕停止層時(shí)，腐蝕劑會(huì)有很少的局部消耗而且橫向腐蝕變得更迅速，這往往能得到平整的側(cè)壁。圖 8.4 通過(guò)掩膜層腐蝕到底層腐蝕停止層的液體傳輸機(jī)制示意圖。 腐蝕劑中提供的反應(yīng)物與暴露部分的被刻蝕層不均勻地反應(yīng)，導(dǎo)致該被刻蝕層產(chǎn)生一個(gè)或更多重新溶解在腐蝕液中或以氣體形式釋放的副產(chǎn)品。不足的反應(yīng)物或副產(chǎn)品的過(guò)度集中會(huì)不規(guī)則地減緩腐蝕，尤其是緊湊的幾何結(jié)構(gòu)更明顯。對(duì)大多數(shù)薄膜和非晶材料，反應(yīng)是各向同性的，從上表面看顯示出圓角，從側(cè)面?zhèn)缺诳吹母g剖面顯示圓形腐蝕坑。當(dāng)腐蝕到底部的腐蝕停止層，反應(yīng)物消耗減小，橫向腐蝕加快，造成一個(gè)更加棱角分明，更平坦的側(cè)壁。具有高內(nèi)應(yīng)力的掩膜層或在上表面具有偏離形貌的腐蝕層將使掩膜層和腐蝕層之間的界面處腐蝕明顯加快，這將有效地加快鉆蝕。掩膜層的缺陷可能會(huì)導(dǎo)致不必要的局部腐蝕。圖示為暗視場(chǎng)的掩膜層；盡管腐蝕的材料的量通常更大，亮場(chǎng)掩膜層也會(huì)發(fā)生類(lèi)似的影響和現(xiàn)象。其他現(xiàn)象如高張應(yīng)力掩膜層可能造成在圖形開(kāi)口附近的掩膜層有輕微的分離，這將導(dǎo)致在刻蝕過(guò)程中掩膜層會(huì)有輕微的剝落。這種剝落會(huì)加速分界面處的鉆蝕和產(chǎn)生如圖8.4中心附近的所示淺角度側(cè)面形貌。當(dāng)長(zhǎng)寬比（相對(duì)掩膜厚度的鉆蝕距離）增加時(shí)，壓應(yīng)力掩膜也可能會(huì)通過(guò)機(jī)械屈曲產(chǎn)生抬升，這進(jìn)一步增加了腐蝕速率。 橫向腐蝕速率可以通過(guò)修改腐蝕層的特征的方式加速，如降低薄膜的頂部或底部的密度，在頂表面附近產(chǎn)生的高的缺陷密度，或局部注射高濃度的雜質(zhì)。在腐蝕較深或在需要廣泛的橫向腐蝕的情況下，腐蝕劑可能局部受約束和耗盡，從而減少局部的刻蝕速率。掩膜層的缺陷，如小顆粒，可使腐蝕劑沿顆粒蔓延或通過(guò)一個(gè)開(kāi)放的掩膜缺陷明顯的移動(dòng)來(lái)不明顯地刻蝕底層材料，示意圖如圖8.4右側(cè)所示。 8.2.2 腐蝕劑的選擇性和掩膜考慮 對(duì)濕法腐蝕工藝的選擇和評(píng)估的一個(gè)主要考慮是腐蝕的選擇性，選擇性定義為要腐蝕材料的腐蝕速率與掩膜或底層材料的腐蝕速率的比值。雖然可以證明選擇比低至1或更小也可用于薄膜腐蝕，但100或更高的腐蝕選擇比是更可取的。盡管由于底層材料在過(guò)腐蝕階段通常只暴露在溶液中很短的時(shí)間而很少關(guān)注，在腐蝕過(guò)程中針對(duì)停止層或其他暴露層的腐蝕選擇性也可能有其重要性。正如在圖8.5 的圖示中描繪的那樣，更高的腐蝕選擇性，通常允許更薄的掩膜層，更深的腐蝕，更薄的腐蝕停止層，以及更好的過(guò)腐蝕能力。 腐蝕劑的選擇也許要通過(guò)掩膜層來(lái)決定，反之亦然。掩膜層阻止腐蝕劑到達(dá)覆蓋過(guò)的表面而且必須在刻蝕的過(guò)程中保持住。厚的掩膜層可以增加可實(shí)現(xiàn)的刻蝕深度。掩膜層在刻蝕過(guò)程中也可能產(chǎn)生一定程度的橫向腐蝕。這種掩膜圖形的變化可以通過(guò)掩護(hù)設(shè)計(jì)時(shí)對(duì)亮場(chǎng)或暗場(chǎng)掩膜圖形自動(dòng)添加或減去一個(gè)合適的數(shù)額來(lái)補(bǔ)償。隨著時(shí)間的推移，濕法腐蝕劑可能會(huì)吸收到掩蔽層中，使其膨脹，開(kāi)裂，或可能的抬升，從而在意想不到的區(qū)域暴露刻蝕層。必須注意襯底背面的薄膜的狀態(tài)，因?yàn)檫@部分以及襯底的邊沿一般都直接暴露在腐蝕劑中。通過(guò)將光刻膠涂在背面，在背面放置抗腐蝕保護(hù)層或使用在腐蝕過(guò)程中能限制背面暴露的專用裝置來(lái)提供額外的保護(hù)。圖 8.5 隨著相比掩膜層或腐蝕停止層的腐蝕液的選擇比增加，掩膜厚度可以更薄，可實(shí)現(xiàn)的刻蝕可更深，刻蝕停止層可更薄，而且過(guò)腐蝕可更長(zhǎng) 如圖8.6所示，在恰當(dāng)?shù)倪x擇抗腐蝕掩膜層時(shí)需要考慮許多因素。主要考慮是現(xiàn)有的或標(biāo)準(zhǔn)的工藝對(duì)器件來(lái)說(shuō)是否適當(dāng)。由于建立一個(gè)新的腐蝕工序需要考慮成本和時(shí)間，最好的辦法通常是采用基于光刻膠的標(biāo)準(zhǔn)腐蝕工藝，該工藝可能包括如下步驟：旋轉(zhuǎn)，預(yù)烘，曝光，顯影，后烘，腐蝕，沖洗，干燥和去膠?；镜墓饪棠z工藝一般都是集成電路兼容的，具有很少的污染風(fēng)險(xiǎn)，提供更好的分辨率，相比于那些可能使用初始光刻膠圖案和腐蝕工藝形成硬掩膜功能的硬膜工藝來(lái)說(shuō)，有更好的特征尺寸控制。光刻膠掩蔽工藝，一旦在加工中心裝備，將降低開(kāi)發(fā)一個(gè)新的腐蝕劑的成本。一般光刻膠工藝提供更低的工藝單元成本，包含較少的工藝步驟，整個(gè)工藝時(shí)間較短，在大多數(shù)情況下提供更好的臺(tái)階覆蓋，而且在晶圓上旋涂比在晶圓上淀積薄膜來(lái)作為硬掩膜層更快。 圖 8.6 使用硬掩膜或光刻膠掩膜的考慮和結(jié)果表明：除了需要較高的抗腐蝕能力，更深的腐蝕，或襯底背面保護(hù)之外，光刻膠掩膜是一般的選擇在需要的時(shí)候光刻膠工藝往往可以按MEMS器件的要求進(jìn)行修改。例如，可以用更厚的光刻膠簡(jiǎn)單的通過(guò)放緩旋轉(zhuǎn)速度或選擇不同的具有較高的粘度和固體含量的光刻膠的方式來(lái)改善臺(tái)階覆蓋。有時(shí)通過(guò)增大后烘時(shí)間或?qū)ω?fù)性光刻膠加強(qiáng)UV曝光等方法增強(qiáng)光刻膠掩膜的抗腐蝕特性。在小心的處理和對(duì)工藝流程的考慮之后，光刻膠可能會(huì)在晶圓的背面旋涂來(lái)提供任何必要的掩蔽或背面保護(hù)。類(lèi)似的，背面光刻工藝一樣可以通過(guò)對(duì)晶圓正面旋涂光刻膠來(lái)提供腐蝕保護(hù)和腐蝕期間正面的防劃傷保護(hù)。 8.2.3直接腐蝕和剝離技術(shù) 當(dāng)一些難以腐蝕的材料，如貴金屬或幾種金屬層需要光刻的時(shí)候可能需要?jiǎng)冸x技術(shù)，此時(shí)直接腐蝕是不合適的。 剝離技術(shù)是首先在襯底基板上形成一個(gè)光刻后的光刻膠層，然后在該圖案層直接用諸如電子束蒸發(fā)沉積阻擋層金屬，而不是在已經(jīng)沉積阻擋層金屬的圓片上旋涂和光刻光刻膠，再直接腐蝕（見(jiàn)圖8.7）。 用某些特定方法剝離光刻膠，例如在裝有溶劑的超聲波槽中，通過(guò)超聲振動(dòng)，所選材料與襯底接觸的地方保留，其余在光刻膠上的浮離或通過(guò)沖洗，刷，吹等或從襯底除去。由于在剝離前薄的沉積材料在光刻膠側(cè)壁存在，導(dǎo)致剝離過(guò)程中可能會(huì)出現(xiàn)邊緣鋸齒狀。改進(jìn)的的剝離技術(shù)使用一種相對(duì)較薄的兩層抗蝕劑系統(tǒng)，上層的光刻膠抗抗顯影能力強(qiáng)些，下層抗抗顯影能力弱些。 當(dāng)光刻膠系統(tǒng)曝光及顯影，小的懸浮物出現(xiàn)在下層上方，這將使后續(xù)的濺射或電子束沉積薄膜變窄。請(qǐng)注意，對(duì)剝離工藝來(lái)說(shuō)，光刻膠圖案是反轉(zhuǎn)的（即用于直接腐蝕正確的亮場(chǎng)掩膜，在剝離工藝中需要暗場(chǎng)）或采用負(fù)性光刻膠。 另外，在精心挑選薄膜疊層后也可實(shí)現(xiàn)增強(qiáng)的剝離技術(shù)。 圖 8.7 對(duì)某些材料，剝離技術(shù)可以替代直接腐蝕，因?yàn)檫@些材料難以腐蝕或者腐蝕劑對(duì)其他暴露的材料沒(méi)有足夠的選擇性。傳統(tǒng)的腐蝕，如（a）是直接腐蝕暴露的材料，留下未腐蝕的掩膜材料。一般剝離工藝是將需要被去除的材料放置在形成組成圖案的光刻膠頂部并且一起置于襯底上方，如圖（b）所示，底下的光刻膠溶解后就不需要直接腐蝕材料了。在光刻膠側(cè)壁或剝離層上的沉積材料已證明難以清除干凈，并可能導(dǎo)致不必要的細(xì)線和微粒。在（c）圖中，增強(qiáng)的剝離工藝有一個(gè)復(fù)合的光刻膠層，其中上方薄光刻膠比下層光刻膠對(duì)顯影劑更抗蝕，這樣，產(chǎn)生了一個(gè)懸浮邊界以盡量減少側(cè)壁沉積和提高腐蝕的穩(wěn)定性。8.2.4 犧牲層去除對(duì)于直接濕法腐蝕或干法刻蝕來(lái)講，犧牲層腐蝕是一種特殊的挑戰(zhàn)。犧牲層置于結(jié)構(gòu)層下方，其特征諸如錨區(qū)開(kāi)孔，凹陷，側(cè)壁剖面，薄膜厚度和通過(guò)薄膜一步步疊加構(gòu)造結(jié)構(gòu)層。選擇性地去除犧牲層一般通過(guò)使用液體腐蝕劑進(jìn)行大范圍的橫向鉆蝕，并留下部分或更多的獨(dú)立的不需要依靠支撐物的部分而完成。犧牲層腐蝕劑對(duì)結(jié)構(gòu)層和其他裸露、需要長(zhǎng)時(shí)間犧牲腐蝕的材料來(lái)講必須具有極高的選擇性。缺乏合適的選擇性腐蝕劑將限制可達(dá)到的鉆蝕距離并且會(huì)限制用于結(jié)構(gòu)層的材料選擇。成功的犧牲腐蝕工藝一般有高過(guò)腐蝕能力，使操作者確保能完整去除犧牲層，并使設(shè)計(jì)師能將短鉆蝕時(shí)間和長(zhǎng)鉆蝕時(shí)間結(jié)構(gòu)應(yīng)用在同一個(gè)器件上。犧牲層去除通常在相對(duì)短的向下刻蝕后開(kāi)始大量的橫向鉆蝕。橫向腐蝕通常在平面內(nèi)所有的方向各向同性。如8.1 節(jié)所述，腐蝕劑會(huì)因反應(yīng)物不足而報(bào)廢或?qū)υS多要腐蝕產(chǎn)品有害，同時(shí)也會(huì)減少本來(lái)的腐蝕速率。應(yīng)該放置專門(mén)設(shè)計(jì)的幾何圖形以便使所有部分結(jié)構(gòu)在幾乎相同的時(shí)間釋放；然而，即使鉆蝕時(shí)間有很大不同，一個(gè)強(qiáng)有力的腐蝕劑，犧牲層和結(jié)構(gòu)層組合要保證結(jié)構(gòu)形成中的保真度。在腐蝕過(guò)程中，錨定的形狀需要保持固定，犧牲層腐蝕劑不能使結(jié)構(gòu)層從基片分離。腐蝕完成后，很容易檢查的測(cè)試結(jié)構(gòu)或器件的功能可以驗(yàn)證腐蝕過(guò)程。用于增強(qiáng)犧牲層腐蝕工藝的性能的方法已能得到加強(qiáng)。例如，對(duì)結(jié)構(gòu)層腐蝕孔設(shè)計(jì)規(guī)則的仔細(xì)選擇和遵守允許使腐蝕液可以局部接觸犧牲層，減少了徹底釋放犧牲層所需的時(shí)間?？梢赃x擇合適的犧牲層以增加腐蝕速率，如快速腐蝕雙層結(jié)構(gòu)，在熱氧化層上重?fù)诫s淀積的氧化層等。一般的濕法腐蝕特別是犧牲層腐蝕需要考慮晶圓背面以便任何沉積的薄膜保持不變，不要在犧牲腐蝕過(guò)程中剝落。8.2.5 襯底減薄荷去除濕法腐蝕常用于減薄或選擇性去除襯底材料（圖8.8），主要原因是濕法腐蝕可以大量腐蝕材料，液體腐蝕溶液中濃度很高的反應(yīng)物遠(yuǎn)比低壓等離子刻蝕系統(tǒng)中的反應(yīng)物多。均勻的襯底去除和減薄一般由帶有化學(xué)腐蝕液的物理研磨機(jī)制實(shí)現(xiàn)，即化學(xué)機(jī)械過(guò)程快速地去除圓片正面或背面的材料。掩膜圖案，如孔，通孔，溝槽，通道和各向異性腐蝕的薄膜等。圓片減薄或襯底腐蝕通常安排在工藝流程的最后，因?yàn)閳A片隨著減薄越來(lái)越易碎，并且嵌入的成本越來(lái)越高。圖8.8 濕法化學(xué)腐蝕能用于（a）減薄，（b）從背面選擇性腐蝕，或（c）從正面選擇性腐蝕?；瘜W(xué)機(jī)械拋光或平整化（CMP）將化學(xué)腐蝕和機(jī)械研磨結(jié)合在一起均勻地減薄背面或平整化正面。各向異性腐蝕的薄膜的掩膜圖形，圓片通孔和過(guò)孔，或頂部的槽或通道需要合適的腐蝕掩膜，可能是濕法腐蝕也可能是干法刻蝕。圓片變得越來(lái)越易碎，在后續(xù)的操作或切割芯片時(shí)要特別小心。8.2.6 工藝方案的影響濕法腐蝕類(lèi)型的選擇對(duì)工藝方案有直接的影響。正如圖8.9所示，工藝流程一般總結(jié)成一系列的光刻次序，每一個(gè)包含一個(gè)淀積步，一個(gè)光刻步，和一個(gè)腐蝕步驟。盡管淀積步清晰地由濺射、電子束蒸發(fā)、化學(xué)氣相淀積、或等離子淀積薄膜組成，但熱氧化、離子注入或起始材料的獲取也包含在此類(lèi)中。采用光刻版的光刻膠光刻或直寫(xiě)設(shè)備對(duì)大部分不管是干法還是濕法腐蝕工藝提供了合適的掩膜。盡管硬掩膜也是用光刻膠光刻工藝制作的，但其可以根據(jù)需要獲得更好的抗腐蝕能力。在認(rèn)真審核所選的腐蝕工藝的順序和類(lèi)型時(shí)，必須考慮到每一次光刻序列要確保在工藝的早期不要包含非標(biāo)準(zhǔn)材料；避免那些來(lái)自腐蝕槽、承片夾或腐蝕液本身的污染；僅在關(guān)鍵的加工工藝完成后才使用受限制的通風(fēng)柜或其他濕法腐蝕裝置；掩膜材料限定在光刻膠、標(biāo)準(zhǔn)氧化層、多晶硅和用作硬掩膜的金屬層；當(dāng)污染必須考慮時(shí)，結(jié)構(gòu)層限定在標(biāo)準(zhǔn)材料；腐蝕完成后掩膜材料要容易去除；所選薄膜厚度必須與后續(xù)加工工藝包括光刻膠覆蓋等兼容；薄膜腐蝕掉后的臺(tái)階覆蓋處不能有殘留的細(xì)條或顆粒；不能在總流程中太早產(chǎn)生易碎結(jié)構(gòu)導(dǎo)致圓片操作困難。所有這些說(shuō)明，聰明的器件設(shè)計(jì)者和工藝工程師經(jīng)常共同工作，在實(shí)現(xiàn)有成本效益的且技術(shù)可行的設(shè)計(jì)和產(chǎn)品目標(biāo)方面找到平衡。圖8.9 除有例外，適用于集成電路，微/納機(jī)電系統(tǒng)，或集成微/納機(jī)電系統(tǒng)器件的流程可以簡(jiǎn)化成一系列的掩膜光刻序列，每個(gè)序列包含沉積步驟，光刻步驟，和腐蝕步驟。復(fù)雜的CMOS和BiCMOS工藝可能有兩打或更多掩膜序列，然而許多僅針對(duì)微機(jī)械的工藝系統(tǒng)流程掩膜數(shù)少于五。每個(gè)掩膜光刻序列受前序列影響，并影響到后續(xù)的序列。每個(gè)序列的順序和選擇往往是器件設(shè)計(jì)的一部分。為了達(dá)到預(yù)期的效果，流程步驟或設(shè)計(jì)可以調(diào)整。腐蝕序列和其相關(guān)的掩膜層和材料層的執(zhí)行順序的選擇必須考慮許多問(wèn)題，包括污染，薄膜厚度局限性，正面和背面加工要求，和襯底操作等。8.2.7濕法腐蝕工藝的開(kāi)發(fā)當(dāng)考慮一個(gè)新的濕法腐蝕工藝的開(kāi)發(fā)時(shí)：如果有可能則盡量避免這樣做。一個(gè)新的腐蝕工藝可能涉及建立新的設(shè)施，安裝新設(shè)備，設(shè)立新的化學(xué)處理和安全規(guī)程，獲得購(gòu)買(mǎi)準(zhǔn)證，決定化學(xué)品貯存和廢棄處理，建立培訓(xùn)章程，執(zhí)行操作人員的培訓(xùn)，提供系統(tǒng)維護(hù)，對(duì)某些昂貴的圓片有時(shí)要花大量的測(cè)試時(shí)間。修改一個(gè)現(xiàn)有的腐蝕工藝，或最好直接利用現(xiàn)有的腐蝕工藝，是一個(gè)高度推薦的替代方案。在許多已建立的實(shí)驗(yàn)室或加工中心，擁有大量基于光刻膠和硬掩膜的工藝與材料是可以被使用或修改的。硬掩膜有時(shí)是必要的，然而，盡可能使用光刻膠掩模是最好的考慮方案。如果需要一個(gè)新的腐蝕液或需要修改一個(gè)現(xiàn)有的濕法腐蝕工藝，有關(guān)腐蝕工藝和安全考慮的指導(dǎo)準(zhǔn)則可從各種信息源頭獲得，這些信息源包括手冊(cè)，用戶指導(dǎo)，設(shè)備手冊(cè)，制造商的推薦，腐蝕劑供應(yīng)商，光刻膠制造商，網(wǎng)絡(luò)，大學(xué)網(wǎng)站，出版物，和從有經(jīng)驗(yàn)的用戶或工藝專家得到的專業(yè)知識(shí)等。為了建立擁有合適的服務(wù)、充足的通風(fēng)、適當(dāng)?shù)膹U棄物處理和受控應(yīng)用的腐蝕實(shí)施，大量的努力是必須的。在加工中心可能需要幾個(gè)腐蝕操作臺(tái)，以適應(yīng)不同用戶和不同工序流程的需求。這個(gè)加工中心應(yīng)提供護(hù)目鏡，口罩，圍裙，在泄漏情況下裝備安全程序和化學(xué)品處理的泄漏車(chē)。無(wú)塵化學(xué)處理工作臺(tái)上配備合適的燒杯，大容器，支架和片盒等用于控制污染的專用實(shí)驗(yàn)室器皿。盡管其他材料也可以充當(dāng)室溫下的腐蝕液裝載物，PFA（可溶性聚四氟乙烯）、PTFE（聚四氟乙烯）或石英制實(shí)驗(yàn)室器皿一般都是最好的選擇。雖然希望在室溫下開(kāi)展腐蝕加工，但也可在加熱的容器中或在電熱板上的燒杯中的開(kāi)展腐蝕工藝。濕法腐蝕工藝的開(kāi)發(fā)一般需要消耗大量的晶圓去獲得腐蝕材料層和潛在掩膜層的腐蝕速率，以確定在大量晶圓中對(duì)其他材料的選擇性，并開(kāi)展對(duì)腐蝕濃度的變化，溶液的溫度，和其他變量的敏感性研究。相比溶液，濕法腐蝕液需要的沖洗量可能需要考核定型。一個(gè)流程的傳遞文稿和操作程序應(yīng)當(dāng)被定稿和存檔。濕法腐蝕的光敏特性應(yīng)受到檢查，可能需要在一個(gè)有蓋容器中操作?？赡苄枰m當(dāng)攪拌以提高腐蝕均勻性。充分去除光刻膠和硬掩膜的工藝必須得到驗(yàn)證。如表 8.2 所列，各種測(cè)試設(shè)備可以輔助濕法腐蝕的開(kāi)發(fā)和監(jiān)測(cè)。雖然人類(lèi)裸眼一般不適合鑒別微小光刻圖形之間的薄膜是否腐蝕干凈，但訓(xùn)練過(guò)的裸眼可以有效地看到許多類(lèi)似閃亮的金屬薄膜的腐蝕是否完成。通過(guò)臨時(shí)取出腐蝕液中的晶圓，操作者可以簡(jiǎn)單地看到在晶圓的正面或背面大量明顯的特征，觀察到在晶圓上的干涉條紋、顏色或光澤變化，以確定腐蝕是否完成。臨時(shí)取出腐蝕的晶圓可觀察到疏水性的變化。然而，過(guò)于頻繁地取出晶圓檢查可能會(huì)減緩腐蝕，并在某些情況下由于晶圓被暴露在空氣中時(shí)可能出現(xiàn)的表面反應(yīng)導(dǎo)致腐蝕停止。表8.2 用于濕法腐蝕工藝開(kāi)發(fā)的測(cè)試設(shè)備設(shè)備 優(yōu)點(diǎn) 缺點(diǎn) 1 肉眼 在腐蝕期間可快速檢測(cè) 使腐蝕減慢沒(méi)有中間的清洗和干燥步驟 許多薄膜不適用 允許腐蝕延續(xù) 很難區(qū)分不完全腐蝕的進(jìn)展 提供即時(shí)驗(yàn)證 需要更大面積的特征進(jìn)行檢查 從腐蝕干凈開(kāi)始可以計(jì)時(shí)過(guò)刻 需要手工操作 采用測(cè)試片驗(yàn)證好 難以觀測(cè)小圖案 2 顯微鏡 容易使用 每次檢查前需要清洗和干燥金屬薄膜和高視覺(jué)對(duì)比薄膜檢查效果好 透明薄膜是難以評(píng)估 可以檢測(cè)小的圖案 難以檢查非常精細(xì)的圖案 3 帶有深度測(cè)量的顯微鏡 深腐蝕檢測(cè)效果好視場(chǎng)深度限制導(dǎo)致有限的分辨率大多數(shù)顯微鏡可以升級(jí) 不適用于透明層 4 橢偏儀 非接觸式 難以檢測(cè)小的圖形提供的折射率和厚度 不適合金屬薄膜以及多層膜的適用性有限 5 光學(xué)薄膜厚度光譜反射計(jì) 非接觸式 檢查前需要清洗和干燥可重復(fù)的定量度量 不適合金屬薄膜 適用于結(jié)構(gòu)測(cè)試 多層膜的適用性有限 提供的折射率和厚度 6 光學(xué)干涉測(cè)量的表面形貌儀 非接觸式 檢查前需要清洗和干燥寬范圍的3-D臺(tái)階高度 不適合透明薄膜 適用于測(cè)試結(jié)構(gòu) 7 機(jī)械表面輪廓儀 相對(duì)較低的成本 由于探針接觸，污染問(wèn)題需要重視使用光刻圖形 要求光刻出圖案 8 深度計(jì)，機(jī)械式 低成本 中等精度可回零到晶片參考面 需要大的圖形尺寸 9 掃描電鏡 高分辨率 需要晶圓碎片或斷面特征破壞性10 FIB /掃描電鏡 精度高 要求光刻圖形原位斷面檢測(cè) 破壞性 11 EDS，STEM，光電子能譜，掃描俄歇 提供化學(xué)分析 難以檢測(cè)小圖形破壞性12 原子力顯微鏡 提供表面結(jié)構(gòu)和小臺(tái)階高度 有物理接觸樣品區(qū)域小雖然受顯微鏡觀察限制難以確定不完全腐蝕膜的腐蝕速率，但通過(guò)光學(xué)顯微鏡觀察晶圓，對(duì)許多薄膜來(lái)說(shuō)有助于確定光刻圖形區(qū)的腐蝕是否完成。用高質(zhì)量顯微鏡對(duì)準(zhǔn)襯底表面和腐蝕區(qū)域的底部，然后計(jì)算顯微鏡機(jī)械表盤(pán)下的讀數(shù)得到高度差，通常可以用于確定深腐蝕深度。為了提高精度，顯微鏡Z形平移臺(tái)上可以配備干涉儀讀取器以確定表面焦點(diǎn)之間的距離從而確定腐蝕深度和腐蝕速率。橢偏儀可以有效地用于確定單層和一些多層堆疊的薄膜厚度與腐蝕速率。一種垂直的非接觸式小光斑尺寸光譜儀（例如，NanoSpec34）是確定大多數(shù)透明和半透明薄膜腐蝕速率的一個(gè)有價(jià)值的工具。盡管需要用于接觸表面的探針可能存在污染問(wèn)題，機(jī)械表面輪廓儀（例如，Alpha-Step 35或Dektak 36）在觀察金屬或其它薄膜的腐蝕過(guò)程中很有用。機(jī)械下垂或深度計(jì)（例如Mitutoyo37可用于測(cè)量大尺寸、深腐蝕結(jié)構(gòu)，如各向異性腐蝕膜。膠帶，光刻膠筆畫(huà)出的線條，或一滴用來(lái)涂在待腐蝕薄膜上的光刻膠的應(yīng)用，有時(shí)可以提供合適的特征以確定薄膜厚度以及薄膜腐蝕后的腐蝕速率，盡管特征圖形邊緣往往線條較差難以提供足夠清晰的邊緣。邊緣清晰度的改進(jìn)，可以用測(cè)試或器件掩膜版對(duì)測(cè)試片或正片進(jìn)行光刻腐蝕得到。用于深度測(cè)量和腐蝕驗(yàn)證的專用結(jié)構(gòu)可以放在測(cè)試和器件晶圓上，強(qiáng)烈推薦在工藝開(kāi)發(fā)、質(zhì)量檢驗(yàn)和檢測(cè)上使用。分析儀器，如掃描電子顯微鏡（SEM）偶爾用于確定腐蝕速率，但是，它需要橫截面特征并且一般具有破壞性。腐蝕的的剖面形貌可以通過(guò)跨晶圓上腐蝕孔位置進(jìn)行裂開(kāi)，然后在SEM下查看和測(cè)量腐蝕深度后確定。更新的聚焦離子束和掃描電子顯微鏡（FIB /SEM）儀器可以在同一個(gè)小腔中進(jìn)行橫截面檢查。雖然通常需要大的、未光刻的測(cè)量尺寸，但XPS和其他化學(xué)分析技術(shù)也可以用來(lái)確定一些材料配置的腐蝕速率。8.2.8 其他考慮和替代品濕法腐蝕工藝，特別是每次使用都需要新配置的工藝很容易產(chǎn)生一定的困難，如錯(cuò)誤的混合腐蝕劑，采用了不能用的晶圓支架，暫時(shí)不可用的服務(wù)，和破碎的實(shí)驗(yàn)器皿等。盡管可以新建這個(gè)工序以避免這些問(wèn)題，但這通常需要使用者負(fù)責(zé)去確保腐蝕工藝成功地進(jìn)行。以下兩個(gè)原則有助于避免無(wú)意間發(fā)生的問(wèn)題：在正式進(jìn)行批量工藝加工前先做一個(gè)試驗(yàn)晶圓或晶圓批中的一小部分，并確保測(cè)試結(jié)構(gòu)都位于晶圓或器件上，使腐蝕工藝能立即被證實(shí)。對(duì)于那些受到一定限制的工藝單元，如濕法腐蝕，表8.3 中提供了一些替代方案。商業(yè)代工廠可能完成整個(gè)工序流程的加工，它的做法是讓用戶先提交一個(gè)設(shè)計(jì)方案，然后按照方案代工完成晶圓，再將晶圓或封裝好的部分返還給用戶。商業(yè)代工廠有時(shí)可以提供定制流程或改變部分工藝，盡管可能會(huì)需要為一些一次性的工程成本進(jìn)行額外的談判和付費(fèi)。有些代工廠會(huì)以固定成本執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)工藝單元如薄膜沉積、光刻和濕法/干法刻蝕，然而定制工藝單元會(huì)產(chǎn)生的一些開(kāi)發(fā)成本。工業(yè)實(shí)驗(yàn)室提供有吸引力的開(kāi)發(fā)工藝和有限的原始生產(chǎn)。大學(xué)的設(shè)施，如美國(guó)國(guó)家納米加工基礎(chǔ)設(shè)施網(wǎng)絡(luò)（NNIN）的成員，可以讓在每個(gè)設(shè)施的合格學(xué)生和工業(yè)用戶使用，或者遠(yuǎn)程用戶通過(guò)工作人員或當(dāng)?shù)仡檰?wèn)來(lái)執(zhí)行所需的服務(wù)也是一種易于接受的選擇38。一些大學(xué)的設(shè)施鼓勵(lì)工業(yè)員工在收費(fèi)的基礎(chǔ)上在現(xiàn)場(chǎng)工作。在大學(xué)的加工設(shè)施中，學(xué)生和教職員工可以設(shè)計(jì)器件、開(kāi)發(fā)工藝并在適當(dāng)?shù)谋O(jiān)督下進(jìn)行研究。政府實(shí)驗(yàn)室和政府資助的項(xiàng)目也可以滿足用戶的要求。貿(mào)易團(tuán)體，網(wǎng)絡(luò)和交易所39針對(duì)設(shè)計(jì)服務(wù)、工藝單元或由代工廠和實(shí)驗(yàn)室為基礎(chǔ)的完整制造工藝流程而設(shè)置的連接用戶需要的中心正在出現(xiàn)。表8.3 濕法腐蝕方案的一般性比較設(shè)施模式優(yōu)點(diǎn)缺點(diǎn)商業(yè)代工廠標(biāo)準(zhǔn)工藝流程固定的工藝易設(shè)計(jì)的修正明確的開(kāi)始時(shí)間可靠的完成時(shí)間固定的價(jià)格轉(zhuǎn)向生產(chǎn)支付所用很少或者沒(méi)有工藝修正對(duì)于少量的晶片或器件代價(jià)昂貴工藝知識(shí)產(chǎn)權(quán)屬于代工廠需要完整的工藝流程定制工藝流程專用的流程固有的面向生產(chǎn)未知的開(kāi)發(fā)成本標(biāo)準(zhǔn)工藝單元更低的成本合格的工序在多個(gè)設(shè)施上完成工作定制的工藝單元外包開(kāi)發(fā)工藝單元級(jí)的資質(zhì)更高的開(kāi)發(fā)成本更高的單元工藝成本工業(yè)實(shí)驗(yàn)室技術(shù)員或操作員快速處理內(nèi)部專業(yè)允許低速的原始生產(chǎn) 人員集中資本集中維護(hù)費(fèi)用高受限的轉(zhuǎn)向生產(chǎn)工程開(kāi)發(fā)革新的工藝先進(jìn)材料自創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)人員集中資本集中維修費(fèi)用高需要工藝轉(zhuǎn)讓大學(xué)設(shè)施工業(yè)用戶新器件，新工藝自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)最少的基礎(chǔ)設(shè)施嵌入式工程師或技術(shù)員建好的設(shè)施人員直接操作非?？煸囼?yàn)和器件同時(shí)進(jìn)行需要工作人員承諾成本預(yù)算當(dāng)?shù)仡檰?wèn)建好的設(shè)施有經(jīng)驗(yàn)的人員可快速技術(shù)轉(zhuǎn)讓援助外部支出花費(fèi)有限的知識(shí)產(chǎn)權(quán)的控制學(xué)生/教師建好的設(shè)施新設(shè)備，新工藝經(jīng)驗(yàn)豐富的導(dǎo)師內(nèi)部知識(shí)產(chǎn)權(quán)需要培訓(xùn)耗時(shí)設(shè)備支持設(shè)備停機(jī)遠(yuǎn)程用戶建好的設(shè)施有經(jīng)驗(yàn)的人員靈活的工藝和材料可能較慢沒(méi)有產(chǎn)品外部支出花費(fèi)政府實(shí)驗(yàn)室內(nèi)部用戶好的捐贈(zèng)的設(shè)施固定或定制的工藝內(nèi)部知識(shí)產(chǎn)權(quán)可變的資助遠(yuǎn)程用戶好的捐贈(zèng)的設(shè)施固定或定制的工藝高成本受限制的生產(chǎn)能力8.3 濕法腐蝕設(shè)施和工藝的評(píng)估和開(kāi)發(fā)對(duì)于半導(dǎo)體和微機(jī)電系統(tǒng)/納機(jī)電系統(tǒng)器件加工來(lái)說(shuō)，濕法腐蝕工藝面臨從一般到其他方面都有的關(guān)注：設(shè)施，設(shè)備，服務(wù)，晶圓操作，安全過(guò)程以及培訓(xùn)。由于腐蝕性和有潛在的有害液體的存在，以及需要控制其來(lái)源，使用以及處置，還需一些其他的考慮。不論濕法腐蝕工藝是內(nèi)部開(kāi)發(fā)還是由外部服務(wù)提供，以上的關(guān)注和考慮都需要被評(píng)估。8.3.1 設(shè)施要求濕法腐蝕對(duì)于設(shè)施，維護(hù)以及運(yùn)行人員有著一定的要求。一個(gè)典型的設(shè)施也許是由很多個(gè)實(shí)驗(yàn)室組成的：一個(gè)實(shí)驗(yàn)室致力于高潔凈的集成電路加工；第二個(gè)實(shí)驗(yàn)室致力于CMOS兼容微機(jī)電系統(tǒng)和相關(guān)的半導(dǎo)體器件加工；一個(gè)一般的實(shí)驗(yàn)室致力于探索和開(kāi)發(fā)非標(biāo)準(zhǔn)器件和工藝。另一個(gè)設(shè)施也許會(huì)指定特殊的區(qū)域進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)（比如硅）集成電路和高潔凈的微機(jī)電加工，指定其他的區(qū)域用于化合物半導(dǎo)體及金兼容性工藝。第三個(gè)設(shè)施也許會(huì)用化工罩在潔凈室內(nèi)將濕法化學(xué)處理分開(kāi)來(lái)，其中一些特殊的化工罩被用在如下處理：氧化物的腐蝕和光刻膠剝離，氮化物的腐蝕和光刻膠剝離，鋁的腐蝕和光刻膠剝離，進(jìn)爐前的晶圓清洗（非金屬），非黃金的金屬刻蝕，各向異性腐蝕晶圓，化合物半導(dǎo)體腐蝕，一般性腐蝕（包括黃金），和溶劑加工。還有其他的設(shè)施也許除了對(duì)于只使用預(yù)先準(zhǔn)備的化學(xué)品和材料有限制，對(duì)于各類(lèi)在潔凈室通風(fēng)柜內(nèi)的加工是沒(méi)有任何限制的。對(duì)于集成電路，微機(jī)電系統(tǒng)，納機(jī)電系統(tǒng)的濕法化學(xué)腐蝕工藝的一些特殊要求用簡(jiǎn)短的描述列出如下。8.3.1.1一般設(shè)施更衣室-配備實(shí)驗(yàn)室大衣，連身衣，工作服，蓬松帽，排風(fēng)罩，面部保護(hù)，防護(hù)眼鏡，護(hù)目鏡，乳膠和乙烯手套，鞋子化學(xué)品儲(chǔ)存-有小窗口的儲(chǔ)藏柜用于提供新的腐蝕劑，貯存部分的空瓶，正在使用的化工品標(biāo)簽，以及材料安全數(shù)據(jù)表化學(xué)品處置-臨時(shí)儲(chǔ)存有可識(shí)別化學(xué)品標(biāo)簽和瓶子內(nèi)容的空瓶子和使用中的瓶子；存放重金屬腐蝕劑（如金腐蝕劑）的容器的局部處置潔凈室隔間-根據(jù)功能和局部或者實(shí)驗(yàn)室范圍空氣過(guò)濾和調(diào)節(jié)的潔凈度控制而成立。局部或者實(shí)驗(yàn)室范圍空氣過(guò)濾和調(diào)節(jié)按顆粒計(jì)數(shù)分級(jí)：10000級(jí)（一般更衣區(qū)域），1000級(jí)（清潔封裝區(qū)），100級(jí)（一般加工區(qū)），10級(jí)（光刻以及晶片清潔區(qū)域）以及其他更好的級(jí)別。濕法腐蝕臺(tái)-有著用于清潔處理，半清潔處理，對(duì)于污染控制的一般處理的帶通風(fēng)柜的一個(gè)或者多個(gè)工作臺(tái)。酸中和系統(tǒng)-在排放之前從沉淀物和通風(fēng)柜中收集，中和酸和堿廢棄物（不是氫氟酸）的自動(dòng)化系統(tǒng)。煙氣洗滌器-用水稀釋的從排氣罩排出的有害氣體的系統(tǒng)。測(cè)試臺(tái)-含有用于驗(yàn)證工藝步驟并完成器件初步檢測(cè)的測(cè)試和表征儀器。設(shè)備報(bào)警器-氣體，化學(xué)物質(zhì)，酸/堿中和，煙霧，火災(zāi)探測(cè)，頻閃報(bào)警。緊急出口-為了快速的離開(kāi)實(shí)驗(yàn)室的一個(gè)或者多個(gè)緊急出口。8.3.1.2 濕法操作臺(tái)服務(wù)電力-為燈，通風(fēng)，報(bào)警器，熱板，攪拌器，溫度控制器，計(jì)時(shí)器，濕法操作臺(tái)所需的螺線管提