標(biāo)準(zhǔn)解讀

《T/CIE 115-2021 電子元器件失效機理、模式及影響分析(FMMEA)通用方法和程序》是一項由中國電子學(xué)會制定的標(biāo)準(zhǔn),旨在為電子元器件的設(shè)計、制造與使用過程中提供一套系統(tǒng)化的失效分析框架。該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)描述了如何識別潛在的失效原因、評估這些失效對產(chǎn)品性能的影響,并提出相應(yīng)的預(yù)防措施或改進(jìn)方案。

根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn),F(xiàn)MMEA(Failure Mechanism, Mode and Effects Analysis)流程主要包括以下幾個步驟:首先定義分析對象及其工作環(huán)境;接著是收集與被分析對象相關(guān)的所有信息,包括但不限于材料特性、設(shè)計參數(shù)、制造工藝等;然后基于已知的信息列出可能發(fā)生的失效模式,并針對每一種模式探討其背后的失效機理;之后評估各種失效模式發(fā)生時對整個系統(tǒng)功能的影響程度;最后根據(jù)上述分析結(jié)果制定出有效的控制策略以減少或避免失效事件的發(fā)生。


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....

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  • 2021-11-22 頒布
  • 2022-02-01 實施
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T/CIE 115-2021電子元器件失效機理、模式及影響分析(FMMEA)通用方法和程序_第1頁
T/CIE 115-2021電子元器件失效機理、模式及影響分析(FMMEA)通用方法和程序_第2頁
T/CIE 115-2021電子元器件失效機理、模式及影響分析(FMMEA)通用方法和程序_第3頁
T/CIE 115-2021電子元器件失效機理、模式及影響分析(FMMEA)通用方法和程序_第4頁
T/CIE 115-2021電子元器件失效機理、模式及影響分析(FMMEA)通用方法和程序_第5頁
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T/CIE 115-2021電子元器件失效機理、模式及影響分析(FMMEA)通用方法和程序-免費下載試讀頁

文檔簡介

ICS31080

CCSL.04

團體標(biāo)準(zhǔn)

T/CIE115—2021

電子元器件失效機理模式及

、

影響分析FMMEA通用方法和程序

()

Generalmethodandrocedureoffailuremechanism

p,

modeandeffectsanalsisFMMEAforelectroniccomonents

y()p

2021-11-22發(fā)布2022-02-01實施

中國電子學(xué)會發(fā)布

中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版

T/CIE115—2021

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

一般要求

4…………………2

總則

4.1…………………2

計劃

4.2FMMEA………………………2

一般分析程序

4.3………………………3

詳細(xì)要求

5…………………3

準(zhǔn)備工作

5.1……………3

層次約定及單元劃分

5.2………………3

制定編碼體系

5.3………………………4

失效機理和失效模式確定

5.4…………4

失效影響分析

5.5………………………4

危害性分析

5.6…………………………5

失效機理應(yīng)力分析及失效物理模型

5.7………………6

失效原因分析

5.8………………………6

改進(jìn)措施

5.9……………7

附錄資料性功率晶體管層次約定和單元劃分示例

A()FMMEA……8

附錄資料性功率晶體管表格示例

B()FMMEA……………………12

T/CIE115—2021

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔(dān)識別專利的責(zé)任

。。

本文件由中國電子學(xué)會可靠性分會提出并歸口

。

本文件起草單位工業(yè)和信息化部電子第五研究所中國電子科技集團公司第五十五研究所電子

:、、

科技大學(xué)

。

本文件主要起草人來萍陳媛何小琦路國光黃云恩云飛林罡黃洪鐘米金華

:、、、、、、、、。

T/CIE115—2021

引言

目前國內(nèi)外有關(guān)失效模式及影響分析的標(biāo)準(zhǔn)都是針對系統(tǒng)和整機的其中我國目前采用

,(FMEA),

的兩個主要標(biāo)準(zhǔn)中系統(tǒng)可靠性分析技術(shù)失效模式和效應(yīng)分析程序主要針對

,GB/T7826《(FMEA)》

電子設(shè)備等系統(tǒng)國軍標(biāo)故障模式影響及危害性分析指南主要針對軍用航空航天等

,GJB/Z1391《、》、、

裝備系統(tǒng)本文件是針對元器件級的失效模式及影響分析是對系統(tǒng)及整機級的標(biāo)準(zhǔn)的有效補

。,FMEA

充可保證元器件制造和應(yīng)用方了解和掌握影響元器件可靠性的主要失效機理模式及原因并預(yù)先采

,、,

取有效的預(yù)防措施支撐元器件的可靠性設(shè)計生產(chǎn)工藝控制以及整機用戶的可靠性應(yīng)用

;、。

元器件的核心是在失效模式影響分析的基礎(chǔ)上引入了失效機理的影響分析對元器件來

FMEA。

說最低層次的分析是失效機理及其影響的分析這也是不同于系統(tǒng)的主要方面因此元器件的

,,。,

又叫做失效機理模式及影響分析

FMEA、(FMMEA)。

T/CIE115—2021

電子元器件失效機理模式及

、

影響分析FMMEA通用方法和程序

()

1范圍

本文件確立了對電子元器件進(jìn)行失效機理模式及其影響分析的通用方法和程序

、(FMMEA)。

本文件適用于電子元器件的風(fēng)險等級分析

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

電工術(shù)語可信性

GB/T2900.99

系統(tǒng)可靠性分析技術(shù)失效模式和影響分析程序

GB/T7826(FMEA)

可靠性維修性保障性術(shù)語

GJB451

故障模式影響及危害性分析指南

GJB/Z1391、

3術(shù)語和定義

和界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件

GJB451、GB/T2900.99、GJB/Z1391GB/T7826。

31

.

電子元器件electroniccomponent

在電子線路或電子設(shè)備中執(zhí)行電氣電子電磁機電和光電功能的基本單元

、、、。

注該基本單元可由多個零件組成通常不破壞是不能將其分解的

:,。

32

.

失效影響failureeffect

某層次單元的失效機理或模式對本層次單元或?qū)^高層次單元或?qū)ψ罱K產(chǎn)品即電子元器件本

()、、

身的運行功能和狀態(tài)產(chǎn)生的后果

、。

注失效影響分為局部影響和最終影響對本層次或相鄰較高層次單元的影響叫局部影響對

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