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文檔簡(jiǎn)介
白盒測(cè)試與黑盒測(cè)試比較試題及答案姓名:____________________
一、單項(xiàng)選擇題(每題2分,共10題)
1.白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試的主要區(qū)別是:
A.測(cè)試用例的編寫方法
B.測(cè)試對(duì)象的可見性
C.測(cè)試過(guò)程中是否關(guān)注代碼
D.測(cè)試的目的是找出軟件的錯(cuò)誤
2.下列哪項(xiàng)不屬于白盒測(cè)試的測(cè)試方法?
A.單元測(cè)試
B.集成測(cè)試
C.灰盒測(cè)試
D.功能測(cè)試
3.黑盒測(cè)試中,等價(jià)類劃分的目的是:
A.減少測(cè)試用例的數(shù)量
B.提高測(cè)試用例的覆蓋率
C.便于測(cè)試用例的設(shè)計(jì)
D.降低測(cè)試成本
4.在白盒測(cè)試中,語(yǔ)句覆蓋的測(cè)試目標(biāo)是什么?
A.確保每個(gè)語(yǔ)句至少執(zhí)行一次
B.確保每個(gè)分支至少執(zhí)行一次
C.確保每個(gè)路徑至少執(zhí)行一次
D.確保每個(gè)循環(huán)至少執(zhí)行一次
5.下列哪個(gè)測(cè)試方法適用于發(fā)現(xiàn)軟件的界面錯(cuò)誤?
A.靜態(tài)測(cè)試
B.黑盒測(cè)試
C.白盒測(cè)試
D.性能測(cè)試
6.下列哪種測(cè)試方法不適用于白盒測(cè)試?
A.控制流測(cè)試
B.數(shù)據(jù)流測(cè)試
C.等價(jià)類劃分
D.狀態(tài)轉(zhuǎn)換測(cè)試
7.在黑盒測(cè)試中,以下哪個(gè)原則是錯(cuò)誤的?
A.盡可能覆蓋各種輸入情況
B.盡可能覆蓋各種輸出情況
C.盡可能覆蓋各種路徑
D.盡可能覆蓋各種錯(cuò)誤情況
8.白盒測(cè)試中的基本路徑測(cè)試是通過(guò)什么來(lái)實(shí)現(xiàn)的?
A.語(yǔ)句覆蓋
B.分支覆蓋
C.路徑覆蓋
D.等價(jià)類劃分
9.在黑盒測(cè)試中,以下哪種測(cè)試方法不適用于功能測(cè)試?
A.等價(jià)類劃分
B.錯(cuò)誤猜測(cè)
C.測(cè)試用例設(shè)計(jì)
D.靜態(tài)測(cè)試
10.白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試的共同目的是:
A.發(fā)現(xiàn)軟件的錯(cuò)誤
B.提高軟件的質(zhì)量
C.降低軟件開發(fā)成本
D.評(píng)估軟件的可用性
二、填空題(每空2分,共10分)
1.白盒測(cè)試主要關(guān)注軟件的________________________。
2.黑盒測(cè)試主要關(guān)注軟件的________________________。
3.白盒測(cè)試中,________________________是一種常見的測(cè)試方法。
4.黑盒測(cè)試中,________________________是一種常見的測(cè)試方法。
5.白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試的共同目的是________________________。
6.在白盒測(cè)試中,________________________的覆蓋率越高,說(shuō)明測(cè)試越全面。
7.在黑盒測(cè)試中,________________________的覆蓋率越高,說(shuō)明測(cè)試越全面。
8.白盒測(cè)試主要適用于________________________。
9.黑盒測(cè)試主要適用于________________________。
10.白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試的區(qū)別主要體現(xiàn)在________________________。
三、判斷題(每題2分,共10分)
1.白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試都是靜態(tài)測(cè)試方法。()
2.白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試都可以用于測(cè)試軟件的界面錯(cuò)誤。()
3.白盒測(cè)試主要關(guān)注軟件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和實(shí)現(xiàn)。()
4.黑盒測(cè)試主要關(guān)注軟件的功能和性能。()
5.在白盒測(cè)試中,語(yǔ)句覆蓋和分支覆蓋是等價(jià)的。()
6.在黑盒測(cè)試中,等價(jià)類劃分和邊界值分析是等價(jià)的。()
7.白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試的測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法相同。()
8.白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試的測(cè)試結(jié)果相同。()
9.白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試都可以發(fā)現(xiàn)軟件的錯(cuò)誤。()
10.白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試都是軟件開發(fā)過(guò)程中的必要環(huán)節(jié)。()
四、簡(jiǎn)答題(每題5分,共20分)
1.簡(jiǎn)述白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試的區(qū)別。
2.簡(jiǎn)述白盒測(cè)試的測(cè)試方法。
3.簡(jiǎn)述黑盒測(cè)試的測(cè)試方法。
4.簡(jiǎn)述白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試在軟件測(cè)試中的作用。
五、論述題(10分)
論述白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試在實(shí)際軟件測(cè)試中的應(yīng)用及優(yōu)缺點(diǎn)。
二、多項(xiàng)選擇題(每題3分,共10題)
1.白盒測(cè)試的特點(diǎn)包括:
A.測(cè)試人員需要具備一定的編程能力
B.關(guān)注軟件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和實(shí)現(xiàn)
C.可以發(fā)現(xiàn)軟件的內(nèi)部錯(cuò)誤
D.測(cè)試結(jié)果可以量化
E.測(cè)試過(guò)程中需要修改代碼
2.黑盒測(cè)試的測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法包括:
A.等價(jià)類劃分
B.邊界值分析
C.錯(cuò)誤猜測(cè)
D.功能圖法
E.決策表法
3.白盒測(cè)試中的覆蓋標(biāo)準(zhǔn)包括:
A.語(yǔ)句覆蓋
B.分支覆蓋
C.路徑覆蓋
D.條件覆蓋
E.條件組合覆蓋
4.黑盒測(cè)試中的等價(jià)類劃分方法適用于以下情況:
A.輸入數(shù)據(jù)有限
B.輸入數(shù)據(jù)較多
C.輸出數(shù)據(jù)有限
D.輸出數(shù)據(jù)較多
E.輸入輸出數(shù)據(jù)不相關(guān)
5.白盒測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)包括:
A.可以發(fā)現(xiàn)軟件的內(nèi)部錯(cuò)誤
B.測(cè)試結(jié)果可以量化
C.測(cè)試覆蓋率較高
D.可以提高軟件的可靠性
E.可以減少軟件的維護(hù)成本
6.黑盒測(cè)試的缺點(diǎn)包括:
A.測(cè)試人員不需要具備編程能力
B.關(guān)注軟件的功能和性能
C.測(cè)試結(jié)果難以量化
D.測(cè)試覆蓋率可能較低
E.可能無(wú)法發(fā)現(xiàn)軟件的內(nèi)部錯(cuò)誤
7.在白盒測(cè)試中,以下哪些方法可以用來(lái)提高測(cè)試覆蓋率?
A.單元測(cè)試
B.集成測(cè)試
C.系統(tǒng)測(cè)試
D.性能測(cè)試
E.靜態(tài)測(cè)試
8.在黑盒測(cè)試中,以下哪些測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法有助于提高測(cè)試的全面性?
A.等價(jià)類劃分
B.邊界值分析
C.錯(cuò)誤猜測(cè)
D.決策表法
E.功能圖法
9.白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試在測(cè)試過(guò)程中可能遇到的挑戰(zhàn)包括:
A.測(cè)試用例設(shè)計(jì)困難
B.測(cè)試環(huán)境搭建復(fù)雜
C.測(cè)試資源不足
D.測(cè)試時(shí)間緊迫
E.測(cè)試人員經(jīng)驗(yàn)不足
10.白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試在軟件測(cè)試過(guò)程中的關(guān)系是:
A.兩者互為補(bǔ)充
B.兩者可以同時(shí)進(jìn)行
C.兩者不能同時(shí)進(jìn)行
D.兩者可以獨(dú)立進(jìn)行
E.兩者可以相互替代
三、判斷題(每題2分,共10題)
1.白盒測(cè)試中,代碼覆蓋率越高,意味著軟件質(zhì)量越好。()
2.黑盒測(cè)試的測(cè)試用例不需要考慮代碼邏輯。()
3.在黑盒測(cè)試中,等價(jià)類劃分可以減少測(cè)試用例的數(shù)量。()
4.白盒測(cè)試適用于所有的軟件測(cè)試階段。()
5.黑盒測(cè)試只能發(fā)現(xiàn)軟件的功能缺陷。()
6.白盒測(cè)試中的路徑覆蓋比語(yǔ)句覆蓋更為嚴(yán)格。()
7.黑盒測(cè)試中的邊界值分析可以保證所有輸入邊界都被測(cè)試到。()
8.白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試的測(cè)試結(jié)果是一樣的。()
9.在軟件測(cè)試過(guò)程中,黑盒測(cè)試應(yīng)該在白盒測(cè)試之后進(jìn)行。()
10.白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試都是完全獨(dú)立的測(cè)試方法。()
四、簡(jiǎn)答題(每題5分,共6題)
1.簡(jiǎn)述白盒測(cè)試中語(yǔ)句覆蓋的定義及其意義。
2.簡(jiǎn)述黑盒測(cè)試中等價(jià)類劃分的步驟。
3.說(shuō)明白盒測(cè)試中控制流圖和程序流程圖的區(qū)別。
4.簡(jiǎn)述黑盒測(cè)試中如何進(jìn)行回歸測(cè)試。
5.說(shuō)明白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試在測(cè)試用例設(shè)計(jì)上的主要區(qū)別。
6.簡(jiǎn)述白盒測(cè)試中如何進(jìn)行異常情況測(cè)試。
試卷答案如下
一、單項(xiàng)選擇題(每題2分,共10題)
1.B
解析思路:白盒測(cè)試關(guān)注軟件內(nèi)部結(jié)構(gòu),黑盒測(cè)試關(guān)注外部行為,主要區(qū)別在于測(cè)試對(duì)象的可見性。
2.D
解析思路:灰盒測(cè)試是介于白盒和黑盒之間的測(cè)試方法,而功能測(cè)試屬于黑盒測(cè)試范疇。
3.C
解析思路:等價(jià)類劃分的目的是為了設(shè)計(jì)具有代表性的測(cè)試用例,從而提高測(cè)試效率。
4.A
解析思路:語(yǔ)句覆蓋要求每個(gè)語(yǔ)句至少執(zhí)行一次,確保代碼邏輯的完整性。
5.B
解析思路:黑盒測(cè)試關(guān)注軟件的功能和性能,界面錯(cuò)誤屬于功能范疇。
6.C
解析思路:等價(jià)類劃分、錯(cuò)誤猜測(cè)、測(cè)試用例設(shè)計(jì)都是黑盒測(cè)試的測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法,靜態(tài)測(cè)試不屬于測(cè)試方法。
7.D
解析思路:黑盒測(cè)試關(guān)注軟件的外部行為,不需要考慮錯(cuò)誤情況,只需覆蓋正常情況。
8.C
解析思路:基本路徑測(cè)試是通過(guò)路徑覆蓋來(lái)實(shí)現(xiàn)的,確保所有可能的路徑都被測(cè)試到。
9.D
解析思路:靜態(tài)測(cè)試是在不執(zhí)行代碼的情況下進(jìn)行的,不適用于功能測(cè)試。
10.A
解析思路:白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試的共同目的是發(fā)現(xiàn)軟件的錯(cuò)誤,提高軟件質(zhì)量。
二、多項(xiàng)選擇題(每題3分,共10題)
1.ABCD
解析思路:白盒測(cè)試的特點(diǎn)包括需要編程能力、關(guān)注內(nèi)部結(jié)構(gòu)、發(fā)現(xiàn)內(nèi)部錯(cuò)誤、測(cè)試結(jié)果可量化。
2.ABCDE
解析思路:黑盒測(cè)試的測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法包括等價(jià)類劃分、邊界值分析、錯(cuò)誤猜測(cè)、功能圖法、決策表法。
3.ABCDE
解析思路:白盒測(cè)試的覆蓋標(biāo)準(zhǔn)包括語(yǔ)句覆蓋、分支覆蓋、路徑覆蓋、條件覆蓋、條件組合覆蓋。
4.AB
解析思路:等價(jià)類劃分適用于輸入數(shù)據(jù)有限或較多的情況,輸出數(shù)據(jù)與輸入數(shù)據(jù)不相關(guān)。
5.ABCD
解析思路:白盒測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)包括發(fā)現(xiàn)內(nèi)部錯(cuò)誤、測(cè)試結(jié)果可量化、測(cè)試覆蓋率較高、提高軟件可靠性。
6.CDE
解析思路:黑盒測(cè)試的缺點(diǎn)包括測(cè)試結(jié)果難以量化、測(cè)試覆蓋率可能較低、可能無(wú)法發(fā)現(xiàn)內(nèi)部錯(cuò)誤。
7.AB
解析思路:?jiǎn)卧獪y(cè)試和集成測(cè)試是提高測(cè)試覆蓋率的方法,性能測(cè)試和靜態(tài)測(cè)試不是。
8.ABCDE
解析思路:等價(jià)類劃分、邊界值分析、錯(cuò)誤猜測(cè)、決策表法、功能圖法都有助于提高測(cè)試的全面性。
9.ABCDE
解析思路:白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試在測(cè)試過(guò)程中可能遇到的挑戰(zhàn)包括測(cè)試用例設(shè)計(jì)、測(cè)試環(huán)境、測(cè)試資源、測(cè)試時(shí)間和測(cè)試人員經(jīng)驗(yàn)。
10.AB
解析思路:白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試互為補(bǔ)充,可以同時(shí)進(jìn)行,但不是獨(dú)立進(jìn)行,也不可相互替代。
三、判斷題(每題2分,共10題)
1.×
解析思路:代碼覆蓋率只是衡量測(cè)試全面性的一個(gè)指標(biāo),不代表軟件質(zhì)量。
2.√
解析思路:黑盒測(cè)試不需要了解代碼邏輯,只需關(guān)注功能。
3.√
解析思路:等價(jià)類劃分通過(guò)減少測(cè)試用例數(shù)量來(lái)提高測(cè)試效率。
4.×
解析思路:白盒測(cè)試適用于單元測(cè)試和集成測(cè)試階段,但不適用于所有測(cè)試階段。
5.×
解析思路:黑盒測(cè)試可以
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