GB/T 17626.36-2024電磁兼容試驗和測量技術(shù)第36部分：設(shè)備和系統(tǒng)的有意電磁干擾抗擾度試驗方法

ICS3310020

CCSL.06.

中華人民共和國國家標準

GB/T1762636—2024/IEC61000-4-362020

.:

電磁兼容試驗和測量技術(shù)

第36部分設(shè)備和系統(tǒng)的有意電磁干擾

:

抗擾度試驗方法

Electromagneticcompatibility—Testingandmeasurementtechniques—

Part36Intentionalelectromaneticinterferenceimmunittestmethodsfor

:gy

equipmentandsystems

IEC61000-4-362020ElectromaneticcomatibilitEMC—

[:,gpy()

Part4-36Testinandmeasurementtechniues—IEMIimmunittest

:gqy

methodsforeuimentandsstemsIDT

qpy,]

2024-11-28發(fā)布2025-06-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標準化管理委員會

GB/T1762636—2024/IEC61000-4-362020

.:

目次

前言

…………………………Ⅴ

引言

…………………………Ⅶ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語定義和縮略語

3、………………………1

術(shù)語和定義

3.1…………………………1

縮略語

3.2………………4

概述

4………………………5

環(huán)境和作用

5IEMI………………………6

概述

5.1…………………6

環(huán)境

5.2IEMI……………6

技術(shù)能力分組

5.2.1…………………6

部署方案

5.2.2IEMI…………………6

輻射環(huán)境總結(jié)

5.2.3IEMI……………7

已發(fā)布的傳導(dǎo)環(huán)境

5.2.4IEMI………………………7

對受擾設(shè)備系統(tǒng)和裝置的作用

5.3、……………………8

概述

5.3.1……………8

防護等級

5.3.2………………………8

試驗方法

6…………………9

適用試驗方法的推導(dǎo)

6.1………………9

傳遞函數(shù)的推導(dǎo)

6.2……………………10

使用模擬器的輻射試驗

6.3IEMI……………………10

使用混波室的輻射試驗

6.4……………10

復(fù)雜波形注入

6.5(CWI)………………11

阻尼正弦波注入

6.6(DSI)……………11

靜電放電

6.7(ESD)……………………11

電快速瞬變

6.8(EFT)…………………11

天線端口注入

6.9………………………11

試驗參數(shù)

7…………………12

抗擾度試驗參數(shù)的推導(dǎo)

7.1……………12

輻射試驗參數(shù)

7.2………………………12

通用超寬帶試驗參數(shù)熟練人員

7.2.1()……………12

通用寬帶試驗參數(shù)熟練人員

7.2.2()………………13

Ⅰ

GB/T1762636—2024/IEC61000-4-362020

.:

通用窄帶試驗參數(shù)熟練人員

7.2.3()………………15

通用傳導(dǎo)試驗參數(shù)

7.3IEMI…………16

一般要求

7.3.1………………………16

快速阻尼振蕩波發(fā)生器的特性和性能

7.3.2………17

特定的試驗電平推導(dǎo)

7.4………………18

抗擾度數(shù)據(jù)的相關(guān)性

7.5EMC………………………19

附錄資料性失效機制和性能判據(jù)

A()…………………20

概述

A.1………………20

失效機理

A.2…………………………20

概述

A.2.1……………20

噪聲

A.2.2……………20

參數(shù)偏移和漂移

A.2.3………………21

系統(tǒng)故障或崩潰

A.2.4………………21

部件損壞

A.2.5………………………21

脈沖寬度的影響

A.3…………………22

性能判據(jù)

A.4…………………………23

參考文獻

A.5…………………………23

附錄資料性源環(huán)境的發(fā)展

B()IEMI…………………25

概述

B.1…………………25

環(huán)境

B.2IEMI…………………………26

源

B.3IEMI……………27

已發(fā)布的輻射環(huán)境

B.4IEMI…………30

[B.14]

B.4.1IEC61000-2-13…………30

B.4.2Mil-Std-464C…………………30

寬帶抗擾度試驗的參數(shù)選擇

B.4.3…………………31

國際電信聯(lián)盟

B.4.4(ITU)…………33

總結(jié)

B.5…………………33

參考文獻

B.6……………34

附錄資料性與建筑物的相互作用

C()…………………36

建筑物的衰減

C.1………………………36

與電纜的耦合

C.2………………………37

低壓電纜衰減

C.3………………………38

參考文獻

C.4……………38

附錄資料性平面波抗擾度試驗與混波室抗擾度試驗的關(guān)系

D()……40

概述

D.1…………………40

兩種環(huán)境中屏蔽效能測量值之間的關(guān)系

D.2…………40

兩種環(huán)境中抗擾度試驗的關(guān)系

D.3……………………42

Ⅱ

GB/T1762636—2024/IEC61000-4-362020

.:

補充內(nèi)容

D.4……………43

參考文獻

D.5……………44

附錄資料性復(fù)雜波形注入試驗方法

E()-……………46

概述

E.1…………………46

預(yù)測

E.2…………………46

概述

E.2.1……………46

示例

E.2.2……………49

結(jié)構(gòu)

E.3…………………51

注入試驗

E.4……………54

總結(jié)

E.5…………………56

參考文獻

E.6……………56

附錄資料性試驗方法裕度的重要性

F()………………57

概述

F.1…………………57

示例

F.2…………………57

概述

F.2.1……………57

負值貢獻

F.2.2………………………57

正值貢獻

F.2.3………………………60

總結(jié)

F.2.4……………61

參考文獻

F.3……………61

附錄資料性有意干擾機的問題

G()EMI———…………62

概述

G.1………………62

效應(yīng)

G.2………………62

關(guān)于干擾的公開報道

G.3……………62

風(fēng)險評估

G.4…………………………63

緩解措施

G.5…………………………63

參考文獻

G.6…………………………63

附錄規(guī)范性超寬帶和寬帶輻射瞬態(tài)抗擾度試驗方法

H()……………65

概述

H.1………………65

試驗設(shè)備

H.2…………………………65

概述

H.2.1……………65

試驗設(shè)施

H.2.2………………………65

超寬帶瞬態(tài)脈沖輻射試驗系統(tǒng)

H.2.3………………65

寬帶瞬態(tài)脈沖輻射試驗系統(tǒng)

H.2.4…………………66

測量鏈

H.2.5…………………………66

場均勻性評估

H.3……………………67

暗室中的場均勻性評估

H.3.1………………………67

波導(dǎo)中的場均勻性

H.3.2GTEM…………………69

Ⅲ

GB/T1762636—2024/IEC61000-4-362020

.:

試驗布置

H.4…………………………69

通則

H.4.1……………69

臺式設(shè)備布置

H.4.2…………………70

落地式設(shè)備布置

H.4.3………………71

線纜布置

H.4.4………………………71

試驗程序

H.5…………………………71

概述

H.5.1……………71

實驗室參考條件

H.5.2………………71

試驗的執(zhí)行

H.5.3……………………72

試驗結(jié)果評估

H.5.4…………………73

試驗報告

H.6…………………………73

參考文獻

H.7…………………………73

附錄資料性用于測量超寬帶和寬帶輻射瞬態(tài)場的傳感器校準方法和測量不確定度

I()…………74

概述

I.1…………………74

附錄[I.1]波導(dǎo)中的校準方法

I.2IEC61000-4-20:2010,ETEM……74

概述

I.2.1……………74

探頭校準要求

I.2.2…………………74

單端口波導(dǎo)的場強探頭校準程序

I.2.3TEM……………………76

傳感器時域校準程序

I.3D-dot………………………76

概述

I.3.1……………76

測量不確定度

I.4………………………77

參考文獻

I.5……………78

參考文獻

……………………79

Ⅳ

GB/T1762636—2024/IEC61000-4-362020

.:

前言

本文件按照標準化工作導(dǎo)則第部分標準化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是電磁兼容試驗和測量技術(shù)的第部分已經(jīng)發(fā)布

GB/T(Z)17626《》36。GB/T(Z)17626

了以下部分

:

電磁兼容試驗和測量技術(shù)第部分抗擾度試驗總論

———GB/Z17626.1—20241:;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗

———GB/T17626.2—2018;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)第部分射頻電磁場輻射抗擾度

———GB/T17626.3—20233:

試驗

;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗

———GB/T17626.4—2018;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)浪涌沖擊抗擾度試驗

———GB/T17626.5—2019();

電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度

———GB/T17626.6—2017;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波間諧波的測

———GB/T17626.7—2017、

量和測量儀器導(dǎo)則

;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)工頻磁場抗擾度試驗

———GB/T17626.8—2006;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)脈沖磁場抗擾度試驗

———GB/T17626.9—2011;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)阻尼振蕩磁場抗擾度試驗

———GB/T17626.10—2017;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)第部分對每相輸入電流小于或等

———GB/T17626.11—202311:

于設(shè)備的電壓暫降短時中斷和電壓變化抗擾度試驗

16A、;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)第部分振鈴波抗擾度試驗

———GB/T17626.12—202312:;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)交流電源端口諧波諧間波及電網(wǎng)信

———GB/T17626.13—2006、

號的低頻抗擾度試驗

;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓波動抗擾度試驗

———GB/T17626.14—2005;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)閃爍儀功能和設(shè)計規(guī)范

———GB/T17626.15—2011;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度

———GB/T17626.16—20070Hz~150kHz

試驗

;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗

———GB/T17626.17—2005;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)阻尼振蕩波抗擾度試驗

———GB/T17626.18—2016;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)第部分交流電源端口

———GB/T17626.19—202219:2kHz~

差模傳導(dǎo)騷擾和通信信號抗擾度試驗

150kHz;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)橫電磁波波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾

———GB/T17626.20—2014(TEM)

度試驗

;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)混波室試驗方法

———GB/T17626.21—2014;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)全電波暗室中的輻射發(fā)射和抗擾度

———GB/T17626.22—2017

測量

;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)傳導(dǎo)騷擾保護裝置的試驗

———GB/T17626.24—2012HEMP

方法

;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)三相電壓不平衡抗擾度試驗

———GB/T17626.27—2006;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)工頻頻率變化抗擾度試驗

———GB/T17626.28—2006;

Ⅴ

GB/T1762636—2024/IEC61000-4-362020

.:

電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源輸入端口電壓暫降短時中

———GB/T17626.29—2006、

斷和電壓變化的抗擾度試驗

;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)第部分電能質(zhì)量測量方法

———GB/T17626.30—202330:;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)第部分交流電源端口寬帶傳導(dǎo)騷

———GB/T17626.31—202131:

擾抗擾度試驗

;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)第部分高功率瞬態(tài)參數(shù)測量方法

———GB/Z17626.33—202333:;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)主電源每相電流大于的設(shè)備的

———GB/T17626.34—201216A

電壓暫降短時中斷和電壓變化抗擾度試驗

、;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)第部分設(shè)備和系統(tǒng)的有意電磁干

———GB/T17626.36—202436:

擾抗擾度試驗方法

;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)第部分近距離輻射場抗擾度

———GB/T17626.39—202339:

試驗

。

本文件等同采用電磁兼容第部分試驗和測量技術(shù)設(shè)備和

IEC61000-4-36:2020《(EMC)4-36:

系統(tǒng)的有意電磁干擾抗擾度試驗方法

》。

本文件做了下列最小限度的編輯性改動

:

為與現(xiàn)有標準協(xié)調(diào)將標準名稱改為電磁兼容試驗和測量技術(shù)第部分設(shè)備和系統(tǒng)的

———,《36:

有意電磁干擾抗擾度試驗方法

》;

為與參考文獻保持一致將第章中引用的更正為

———,3IEC60050-161:2018IEC60050-161:

國際標準有誤

1990,。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔識別專利的責(zé)任

。。

本文件由全國電磁兼容標準化技術(shù)委員會提出并歸口

(SAC/TC246)。

本文件起草單位中國電子技術(shù)標準化研究院中國電力科學(xué)研究院有限公司廈門海諾達科學(xué)儀

:、、

器有限公司浙江錢江機器人有限公司深圳市韜略科技有限公司蘇州泰思特電子科技有限公司工業(yè)

、、、、

和信息化部電子第五研究所中國計量科學(xué)研究院中國汽車工程研究院股份有限公司北京郵電大學(xué)

、、、、

中國汽車技術(shù)研究中心有限公司上海電器設(shè)備檢測所有限公司浙江諾益科技有限公司廣州市誠臻

、、、

電子科技有限公司中國合格評定國家認可中心上海市計量測試技術(shù)研究院東南大學(xué)航科質(zhì)測

、、、、

西安科技有限公司國網(wǎng)浙江省電力有限公司電力科學(xué)研究院北京化工大學(xué)江蘇省電子信息產(chǎn)品

()、、、

質(zhì)量監(jiān)督檢驗研究院江蘇省信息安全測評中心大明電子股份有限公司重慶青山工業(yè)有限責(zé)任公

()、、

司中國商用飛機有限責(zé)任公司上海飛機設(shè)計研究院廣東漢為信息技術(shù)有限公司深圳市湘凡科技有

、、、

限公司

。

本文件主要起草人崔強陳政宇謝輝春付君張建功朱文立黃攀黃雪梅李志鵬石丹

:、、、、、、、、、、

季國田胡小軍邢琳鄭益民李楠靳冬梁吉明劉暢康亞強李金龍周忠元李海洋楊志超

、、、、、、、、、、、、、

王異凡韓宇南孟凡鈞周遠吳行胡岳云嚴寒亮曾旭敏

、、、、、、、。

Ⅵ

GB/T1762636—2024/IEC61000-4-362020

.:

引言

電磁兼容性是電氣和電子設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能