《電源管理芯片的測試方法》

ICS11.120.10

CCSC13

T/CI

中國國際科技促進會團體標準

T/CIXXXX—2023

電源管理芯片的測試方法

Testingmethodsforpowermanagementchips

2023-XX-XX發(fā)布2023-XX-XX實施

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中國國際科技促進會發(fā)布

電源管理芯片的測試方法

1范圍

本文件規(guī)定了電源管理芯片的外觀檢測、電特性測試、溫度特性測試、靜電防護測試以及檢驗規(guī)則

等測試方法。

本文件適用于電源管理芯片的測試方法。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，

僅該日期對應的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本

文件。

GB/T2828.1計數(shù)抽樣檢驗程序第1部分：按接收質(zhì)量限（AQL）檢索的逐批檢驗抽樣計劃

GB/T17626.2電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗

T/CASME572-2023車規(guī)級電源管理芯片

3術(shù)語和定義

3.1

芯片chip

半導體元件產(chǎn)品的統(tǒng)稱，是由獨立半導體設(shè)備和被動組件集成到襯底或線路板所構(gòu)成的小型化電路。

3.2

引腳Pin

從芯片內(nèi)部電路引出與外圍電路的接線，所有的引腳就構(gòu)成了這塊芯片的接口，可劃分為腳跟、腳趾、

腳側(cè)等部分。

4外觀檢查

4.1芯片的外觀檢驗應在光線充足的自然光或在40W的日光燈下，垂直距離1.5m左右的條件下，距樣件

0.4m的條件下，進行裸視觀察（裸視者視力不得低于1.0）。

4.2檢查引腳未損壞，芯片標識清晰可見，無明顯應力破損，視為合格芯片。

5電特性測試

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5.1輸入電壓

環(huán)境條件應符合下列要求：

——環(huán)境溫度在-20℃～70℃之間；

——相對濕度≤80%；

——大氣壓力在86KPa～106KPa之間。

5.2測試設(shè)備

電特性測試前，應對所用到的所有設(shè)備進行檢查，查看設(shè)備是否經(jīng)過校準，校準證書是否在有效期內(nèi)，

測試設(shè)備性能是否滿足芯片測量要求。

5.3測試結(jié)果記錄

按照芯片電特性的要求，對芯片施加激勵進行測試，記錄測試結(jié)果，測試結(jié)果全部滿足要求，芯片視為

合格。

6溫度特性測試

6.1低溫測試

將樣品芯片放入溫度為實驗室溫度的試驗箱中，給樣品通電并進行功能檢測，樣品應處于運行狀態(tài)，然

后將溫度調(diào)節(jié)至-55±2℃，當樣品的溫度到達穩(wěn)定后，在該溫度下持續(xù)1000h，試驗期間，樣品應能夠處

于正常運行狀態(tài)，試驗后，芯片能夠正常工作。

6.2高溫測試

將樣品芯片放入溫度為實驗室溫度的試驗箱中，給樣品通電并進行功能檢測樣品應處于運行狀態(tài)，然后

將溫度調(diào)節(jié)至125±2℃，當樣品的溫度到達穩(wěn)定后在該溫度下持續(xù)1000h，試驗期間，樣品應能夠處于

正常運行狀態(tài)，試驗后，芯片能夠正常工作。

7靜電防護測試

人體靜電防護性能測試應滿足GB/T17626.2的要求，采用靜電放電測試儀，通過人體放電模型直接對

芯片引腳施加±9000V的脈沖電壓，試驗后芯片能夠正常工作視為合格。

8檢驗規(guī)則

8.1檢驗分類

產(chǎn)品檢驗分為出廠檢驗和型式檢驗。

8.2出廠檢驗

8.2.1檢驗要求

芯片出廠需經(jīng)公司品質(zhì)部檢驗，各指標合格后方能出廠。

8.2.2檢驗項目

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檢驗項目應符合4～7的要求。

8.2.3檢驗規(guī)則

芯片出廠檢驗應符合以下要求：

——在工藝條件、生產(chǎn)線、規(guī)格、生產(chǎn)日期等相同的為統(tǒng)一批次產(chǎn)品；

——產(chǎn)品出廠實現(xiàn)抽樣檢驗，具體執(zhí)行GB/T2828.1計數(shù)抽樣檢驗程序規(guī)定進行檢驗，外觀按一般抽

樣水準Ⅱ級、尺寸按特殊檢驗水平S-3取樣；

——檢驗中出現(xiàn)任意一項不合格，應允許修復后重新檢驗，直至再次檢驗合格。

8.3型式試驗

8.3.1型式試驗要求

有下列情況時，應進行型式試驗：

——正式投產(chǎn)后，在結(jié)構(gòu)、工藝、材料有較大改變時；

——當與客戶產(chǎn)生質(zhì)量技術(shù)分歧，需要仲裁時；

——質(zhì)量監(jiān)督部門提出型式試驗要求時。

8.3.2檢驗規(guī)則

A）當型式試驗結(jié)果全部符合本文件要求時，判型式檢驗合格；

B）