《T CPSS 1008-2020-低壓電氣設(shè)備電壓暫降及短時(shí)中斷耐受能力測(cè)試方法》

ICS號(hào)01.040.29

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)文獻(xiàn)分類號(hào)K46

團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)

T/CPSS1008—2020

低壓電氣設(shè)備電壓暫降及短時(shí)中斷耐受能

力測(cè)試方法

Voltagedipandshortinterruptionimmunitytesting

methodforlowvoltageelectricalequipment

2020-08-25發(fā)布2020-09-01實(shí)施

中國(guó)電源學(xué)會(huì)發(fā)布

T/CPSS1008—2020

低壓電氣設(shè)備電壓暫降及短時(shí)中斷耐受能力測(cè)試方法

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了低壓電氣設(shè)備電壓暫降和短時(shí)中斷耐受特性的測(cè)試條件、受試設(shè)備性能判據(jù)、測(cè)試設(shè)

備與布置、測(cè)試內(nèi)容、測(cè)試流程、測(cè)試數(shù)據(jù)處理和測(cè)試報(bào)告要求。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于連接到標(biāo)稱電壓不超過1kV，額定頻率為50Hz的交流網(wǎng)絡(luò)的電氣設(shè)備。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文件。

凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。

GB/T17626.11—2008電磁兼容測(cè)試和測(cè)量技術(shù)電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度測(cè)

試

GB/T17626.34—2012電磁兼容測(cè)試和測(cè)量技術(shù)主電源每相電流大于16A的設(shè)備的電壓暫降、

短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度測(cè)試

GB/T17799.1電磁兼容通用標(biāo)準(zhǔn)居住、商業(yè)和輕工業(yè)環(huán)境中的抗擾度

3術(shù)語和定義

GB/T17626.34—2012、GB/T30137—2013、GB/T32507—2016界定的術(shù)語和定義以及下列術(shù)語和

定義適用于本文件。為了方便使用，重復(fù)列出GB/T17626.34—2012、GB/T30137—2013、GB/T32507

—2016的部分術(shù)語和定義。

3.1

電能質(zhì)量powerquality;qualityofpowersystem

電力系統(tǒng)指定點(diǎn)處的電特性，關(guān)系到供電設(shè)備正常工作（或運(yùn)行）的電壓、電流的各種指標(biāo)偏離基

準(zhǔn)技術(shù)參數(shù)的程度。

注：基準(zhǔn)技術(shù)參數(shù)一般是理想供電狀態(tài)下的指標(biāo)值，這些參數(shù)可能涉及供電與負(fù)荷間的兼容性。

[GB/T32507—2016，定義2.1.1]

3.2

電壓暫降voltagedip（sag）

電力系統(tǒng)中某點(diǎn)工頻電壓方均根值突然降低至0.1p.u.～0.9p.u.，并在短暫持續(xù)10ms～1min后恢復(fù)。

[GB/T30137—2013，定義3.1]

3.3

短時(shí)中斷shortinterruption

電力系統(tǒng)中某點(diǎn)工頻電壓方均根值突然降低至0.1p.u.以下，并短暫持續(xù)10ms～1min后恢復(fù)正常的

現(xiàn)象。

1

T/CPSS1008—2020

[GB/T30137—2013，定義3.2]

3.4

電壓容忍度曲線voltagetolerancecurve

表示電氣設(shè)備承受電壓變動(dòng)范圍和持續(xù)時(shí)間能力的曲線。

[GB/T32507—2016，定義2.1.41]

3.5

電壓暫降（短時(shí)中斷）耐受能力dip/sag（shortinterruption）immunity

電氣設(shè)備在所連接的交流網(wǎng)絡(luò)發(fā)生電壓暫降（短時(shí)中斷）時(shí)保持正常工作的能力，用一簇電壓容忍

度曲線表示。

3.6

殘余電壓residualvoltage

電壓暫降或者短時(shí)中斷過程中記錄的電壓方均根值的最小值。

[GB/T30137—2013，定義3.9]

3.7

電壓暫降（短時(shí)中斷）持續(xù)時(shí)間durationofvoltagedip（shortinterruption）

達(dá)到電壓暫降（短時(shí)中斷）閾值的電壓暫降（短時(shí)中斷）事件的持續(xù)時(shí)間。

[GB/T30137—2013，定義3.4]

3.8

相位跳變phase-anglejumps

電壓和（或）電流波形在時(shí)間軸上的進(jìn)程突然發(fā)生的變化。

[GB/T32507—2016，定義2.8.7]

3.9

暫降起始角point-on-waveofdipinitiation

暫降發(fā)生時(shí)刻電壓的相位。

3.10

多重暫降multipledipevents;dipsequences

同一節(jié)點(diǎn)1min內(nèi)發(fā)生的一次以上電壓暫降現(xiàn)象。

3.11

波形畸變distortion

電壓和（或）電流波形偏離了理想工頻正弦波形的狀態(tài)（主要由偏離的頻譜量表征）。波形畸變主

要有5種基本形式：1）諧波；2）間諧波；3）缺口；4）直流偏置；5）噪聲。

[GB/T32507—2016，定義2.6.1]

3.12

矩形暫降rectangulardip

2

T/CPSS1008—2020

電壓方均根值變化曲線可近似視為矩形，即具有“電壓快速下降-恒定殘余電壓-電壓快速恢復(fù)”模

式的暫降。

3.13

非矩形暫降non-rectangulardip

不被視為矩形暫降的電壓暫降事件。

3.14

三相對(duì)稱暫降balanceddip

三相殘余電壓幅值相等，相位相差120°的電壓暫降。

3.15

三相不對(duì)稱暫降unbalanceddip

三相殘余電壓幅值不相等或相位相差不等于120°的電壓暫降。

3.16

單相設(shè)備single-phaseequipment

連接到一個(gè)相線和中線之間的設(shè)備。

[GB/T32507—2016，定義2.1.34]

注：本標(biāo)準(zhǔn)不涉及連接到相線與相線之間的單相設(shè)備。

3.17

三相設(shè)備three-phaseequipment

連接到三相電源上的設(shè)備。

[GB/T32507—2016，定義2.1.36]

3.18

故障malfunction

設(shè)備執(zhí)行預(yù)定功能的能力終止，或設(shè)備執(zhí)行非預(yù)定功能。

[GB/T17626.34－2012，定義3.6]

4測(cè)試條件

4.1受試設(shè)備條件

受試設(shè)備條件包括受試設(shè)備的運(yùn)行條件和工作狀態(tài)等，可用如下指標(biāo)描述：

——電動(dòng)機(jī)的負(fù)載率；

——照明設(shè)備的光照度；

——CPU的利用率；

——電梯的行進(jìn)方向。

注：鑒于受試設(shè)備類型多、性能差異性大，受試設(shè)備的運(yùn)行條件需結(jié)合設(shè)備制造商規(guī)定進(jìn)行定義。

4.2電源條件

電源條件宜包括以下設(shè)置和輸出功能：

3

T/CPSS1008—2020

——暫降類型；

——?dú)堄嚯妷海?/p>

——持續(xù)時(shí)間；

——暫降起始角；

——相位跳變；

——波形畸變；

——多重暫降；

——非矩形暫降。

5受試設(shè)備性能判據(jù)

在測(cè)試過程中可以依據(jù)受試設(shè)備在測(cè)試中的功能喪失或性能降低現(xiàn)象進(jìn)行分類，相關(guān)的性能水平由

設(shè)備制造商或委托方確定，或由產(chǎn)品制造商與購買方雙方協(xié)商確定，可參考標(biāo)準(zhǔn)GB/T17626.34—2012

第9章和標(biāo)準(zhǔn)GB/T17799.1—2017第8章進(jìn)行分類。在居住、商業(yè)和輕工業(yè)環(huán)境下，可規(guī)定判據(jù)如下：

a)性能判據(jù)A

在測(cè)試期間和測(cè)試之后，設(shè)備應(yīng)按預(yù)定方式連續(xù)工作。當(dāng)設(shè)備按預(yù)定方式工作時(shí)，性能降低程

度或功能喪失不允許低于制造商規(guī)定的性能水平。性能水平可以用允許的性能喪失替代。如果

制造商沒有規(guī)定最低性能水平或允許喪失的性能，則二者均可從產(chǎn)品說明書和產(chǎn)品文件中得到，

或在設(shè)備按預(yù)定的方式使用時(shí)，從用戶的合理期望中得出。

b)性能判據(jù)B

在測(cè)試之后，設(shè)備應(yīng)按預(yù)定方式連續(xù)工作。當(dāng)設(shè)備按預(yù)定方式使用時(shí)，性能降低或功能喪失不

允許低于制造商規(guī)定的性能水平，性能水平可以用允許的性能喪失替代。在測(cè)試期間，允許性

能水平降低，但實(shí)際工作狀態(tài)或存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)不允許改變。如果制造商沒有規(guī)定最低性能水平或

允許喪失的性能，則二者均可從產(chǎn)品說明書和產(chǎn)品文件中得到，或在設(shè)備按預(yù)定的方式使用時(shí)，

從用戶的合理期望中得出。

c)性能判據(jù)C

允許暫時(shí)喪失功能，只要這種功能可自行恢復(fù)或者可以通過操作控制器來恢復(fù)。

注：鑒于受試設(shè)備類型多、性能差異性大，受試設(shè)備性能判據(jù)可結(jié)合設(shè)備制造商規(guī)定進(jìn)行定義。

6測(cè)試設(shè)備與布置

6.1電壓暫降發(fā)生器

電壓暫降發(fā)生器用于產(chǎn)生滿足第4章所述各類電源特性的測(cè)試電壓，其性能和特征應(yīng)滿足GB/T

17626.34—2012中第6章對(duì)測(cè)試設(shè)備要求。

當(dāng)用于三相設(shè)備電壓測(cè)試時(shí)，電壓暫降發(fā)生器應(yīng)滿足以下要求：

a)支持附錄A所述各類三相電壓暫降類型；

b)滿足第7章中測(cè)試內(nèi)容的要求；

c)支持星型和三角型接線方式。

6.2數(shù)據(jù)采集測(cè)試系統(tǒng)

數(shù)據(jù)采集測(cè)試系統(tǒng)用于采集和記錄測(cè)試過程中受試設(shè)備的輸入電壓、輸入電流以及其他相關(guān)反映被

測(cè)設(shè)備性能變化的特征量，包括：各類具有存儲(chǔ)功能的示波器或數(shù)據(jù)采集裝置等。數(shù)據(jù)采集測(cè)試系統(tǒng)的

數(shù)據(jù)采樣率、分辨率應(yīng)滿足測(cè)試量精度的需求，宜滿足以下要求：

4

T/CPSS1008—2020

a)采樣率宜不低于10kHz；

b)分辨率宜不小于12bit。

6.3測(cè)試布置

測(cè)試布置如圖1所示。為盡可能減小對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響，建議采用設(shè)備制造商規(guī)定的、盡可能短的

電纜。如無電纜長(zhǎng)度規(guī)定，則應(yīng)是適合于受試設(shè)備所用的最短電纜。

電纜

受試設(shè)備

電壓互

感器

電壓暫降發(fā)生器電流互

感器

數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)

圖1測(cè)試布置示意圖

7測(cè)試內(nèi)容

7.1單相設(shè)備

單相設(shè)備的測(cè)試內(nèi)容如下：

a)工作狀態(tài)：要求至少測(cè)試受試設(shè)備的2種工作狀態(tài)，宜包含設(shè)備滿載工作狀態(tài)。

b)相位跳變：要求至少在相位跳變?yōu)?°時(shí)進(jìn)行測(cè)試。條件允許時(shí)，建議相位跳變的測(cè)試范圍為

-30°～30°，測(cè)試步長(zhǎng)為5°。

c)暫降起始角：要求至少測(cè)試電壓暫降起始角為0°和90°兩種情況。條件允許時(shí)，建議在0°～

360°范圍內(nèi)，以45°為步長(zhǎng)對(duì)設(shè)備進(jìn)行電壓暫降測(cè)試。

d)殘余電壓：要求殘余電壓的最小測(cè)試組為0%、20%、40%、50%、70%、80%、90%。條件允

許時(shí)，建議殘余電壓的測(cè)試范圍為90%～0%，以10%為步長(zhǎng)依次測(cè)試。當(dāng)兩相鄰殘余電壓對(duì)

應(yīng)的持續(xù)時(shí)間變化較大時(shí)，建議在該區(qū)間內(nèi)殘余電壓采用更小的步長(zhǎng)進(jìn)行測(cè)試。

e)持續(xù)時(shí)間：對(duì)應(yīng)每一個(gè)殘余電壓值，應(yīng)確定設(shè)備可耐受的電壓暫降持續(xù)時(shí)間，可耐受的持續(xù)時(shí)

間分辨率應(yīng)不小于1ms。

7.2三相設(shè)備

三相設(shè)備的測(cè)試內(nèi)容如下：

a)對(duì)于三相設(shè)備，無論是否有中線，三相應(yīng)同時(shí)進(jìn)行測(cè)試。

b)對(duì)于具有中線的三相設(shè)備，每次單獨(dú)測(cè)量一個(gè)電壓（相-相電壓和相-中線電壓），進(jìn)行六個(gè)不

同序列的測(cè)試，即A-N，B-N，C-N，A-B，B-C和A-C。

c)對(duì)于不具有中線的三相設(shè)備，每次單獨(dú)對(duì)相-相電壓進(jìn)行測(cè)試，進(jìn)行三個(gè)不同序列的測(cè)試，即

A-B，B-C和A-C。

d)三相設(shè)備須進(jìn)行三相對(duì)稱暫降的測(cè)試，即IEEEStd1668標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的III型電壓暫降，具體暫

降類型見附錄A。

5

T/CPSS1008—2020

e)三相設(shè)備的測(cè)試可考慮不同暫降類型。建議優(yōu)先采用IEEEStd1668標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的暫降類型，也

可采用GB/T17626.11或GB/T17626.34規(guī)定的暫降類型。

f)對(duì)每一種暫降類型，應(yīng)完成7.1節(jié)中規(guī)定的測(cè)試內(nèi)容。

注1：本標(biāo)準(zhǔn)所有測(cè)試均在矩形暫降下完成。條件允許時(shí)，測(cè)試可包含波形畸變、多重暫降、非矩形暫降和電網(wǎng)電

壓波動(dòng)等情況。

注2：短時(shí)中斷的測(cè)試內(nèi)容與電壓暫降相同。

8測(cè)試流程

8.1測(cè)試準(zhǔn)備

對(duì)測(cè)試系統(tǒng)作一次正確的預(yù)估，以確定測(cè)試系統(tǒng)哪一種配置能夠體現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)情況，并確保受試設(shè)備不

應(yīng)由于應(yīng)用本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的測(cè)試而出現(xiàn)危險(xiǎn)或不安全的后果。

對(duì)于一個(gè)給定的受試設(shè)備，在測(cè)試開始之前，應(yīng)先準(zhǔn)備一份測(cè)試計(jì)劃。測(cè)試計(jì)劃應(yīng)代表受試設(shè)備預(yù)

期使用方法。測(cè)試計(jì)劃提出的測(cè)試內(nèi)容應(yīng)滿足第7章的要求。測(cè)試計(jì)劃宜包含以下項(xiàng)目：

a)受試設(shè)備的基本信息：類型、生產(chǎn)廠家、出廠編號(hào)、生產(chǎn)日期等；

b)有關(guān)連接和相應(yīng)電纜及輔助設(shè)備的資料；

c)受試設(shè)備的額定參數(shù)；

d)受試設(shè)備的典型運(yùn)行條件及測(cè)試時(shí)的運(yùn)行條件；

e)受試設(shè)備性能判據(jù)；

f)測(cè)試布置。

8.2測(cè)試實(shí)施

在測(cè)試準(zhǔn)備完成后，完成測(cè)試接線。按照下列流程實(shí)施測(cè)試：

a)確定受試設(shè)備條件。

b)設(shè)定電源初始狀態(tài)。

c)由電源發(fā)出電壓暫降信號(hào)對(duì)受試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試。

d)判定受試設(shè)備是否通過性能判據(jù)要求。如果通過，則按照給定步長(zhǎng)增加持續(xù)時(shí)間，并重復(fù)本步

驟；如果不通過，則記錄本次測(cè)試的電壓暫降殘余電壓和持續(xù)時(shí)間作為受試設(shè)備可耐受電壓暫

降的臨界點(diǎn)，并記錄數(shù)據(jù)采集測(cè)試系統(tǒng)記錄的測(cè)試中和測(cè)試后設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)、輸入電壓和電

流波形。對(duì)受試設(shè)備的所有功能進(jìn)行檢查，確認(rèn)正常后進(jìn)入下一步。

e)改變殘余電壓，重復(fù)c),d)步驟，當(dāng)所有殘余電壓均已測(cè)試完畢后，用第9章給出的數(shù)據(jù)處理

方法處理測(cè)試數(shù)據(jù)，并進(jìn)入下一步。

f)按照第7章測(cè)試內(nèi)容要求依次改變電源條件，重復(fù)c),d),e)；當(dāng)所有電源條件測(cè)試完畢后進(jìn)

入下一步。

g)按照第7章測(cè)試內(nèi)容要求依次改變受試設(shè)備條件，重復(fù)c),d),e),f)，直至所有受試設(shè)備條件

測(cè)試完畢，結(jié)束整個(gè)測(cè)試。

單相設(shè)備的詳細(xì)測(cè)試流程圖見附錄B.1，三相設(shè)備的詳細(xì)測(cè)試流程圖見附錄B.2。

9測(cè)試數(shù)據(jù)處理

以持續(xù)時(shí)間為橫坐標(biāo)，殘余電壓為縱坐標(biāo)構(gòu)成一個(gè)二維平面。

6

T/CPSS1008—2020

在其他測(cè)試條件（包括：受試設(shè)備條件、暫降類型、相位跳變、暫降起始角等）不變的情況下，通

過改變電壓暫降的殘余電壓和持續(xù)時(shí)間完成一次節(jié)8.2中給出的c),d),e)步驟后，將所有臨界點(diǎn)用折線

連接可獲得一條電壓暫降容忍度曲線。

通過改變其他測(cè)試條件（包括：受試設(shè)備條件、暫降類型、相位跳變、暫降起始角等），完成節(jié)8.2

中給出的所有測(cè)試流程后，可獲得一簇電壓容忍度曲線。典型的一簇電壓容忍度曲線如圖2所示。

圖2一簇電壓容忍度曲線

10測(cè)試報(bào)告

測(cè)試報(bào)告應(yīng)包含能重現(xiàn)的全部測(cè)試信息，應(yīng)包括但不限于下列內(nèi)容：

a)測(cè)試對(duì)象信息：

——受試設(shè)備樣品名稱；

——型號(hào)或規(guī)格；

——額定技術(shù)參數(shù)（如：額定電壓、電流、頻率、三相/單相等）；

——生產(chǎn)廠家；

——出廠編號(hào)；

——出廠日期。

b)測(cè)試環(huán)境信息：

——時(shí)間；

——溫度；

——濕度；

——海拔；

——任何進(jìn)行測(cè)試的專門環(huán)境條件（如有）。

c)測(cè)試人員信息：

——測(cè)試數(shù)據(jù)記錄或報(bào)告編制人員；

——測(cè)試報(bào)告審核人員；

——測(cè)試報(bào)告簽發(fā)人員。

d)測(cè)試設(shè)備信息：

——名稱；

——型號(hào)；

——測(cè)量范圍及精度；

——檢定日期。

e)測(cè)試數(shù)據(jù)信息：

7

T/CPSS1008—2020

——依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)、項(xiàng)目及條款號(hào)；

——受試設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)；

——測(cè)試中和測(cè)試后的受試設(shè)備輸入電壓和電流波形；

——電壓暫降類型；

——相位跳變；

——暫降起始角；

——波形畸變；

——持續(xù)時(shí)間。

f)測(cè)試結(jié)果信息。

g)其他信息（如有）：

——確保測(cè)試進(jìn)行的任何特定條件；

——影響測(cè)試結(jié)果的特殊說明；

——關(guān)鍵測(cè)試數(shù)據(jù)的不確定度分析。

測(cè)試報(bào)告模板參見附錄C，數(shù)據(jù)格式參見附錄D。

8

T/CPSS1008—2020

附錄A

（資料性附錄）

三相系統(tǒng)電壓暫降類型

IEEEStd1668對(duì)額定電壓低于1kV用電設(shè)備的電壓暫降耐受能力測(cè)試進(jìn)行了規(guī)定，其測(cè)試相量如

表A.1所示。其中，E為系統(tǒng)正常時(shí)相電壓，X表示殘余相電壓。

表A.1IEEE標(biāo)準(zhǔn)電壓暫降類型

類型向量圖表達(dá)式

=

VXa

11

V=??EjE3

I型b22

11

V=?+EjE3

b22

=

VEa

11

II型VE=??jX3

b22

（的3型）

IECc11

VE=?+jX3

b22

VEa=

11

II.A1型VE=??jE3

b22

（的3型）

IECb11

V=?+EjXE(2)3?

b22

=

VEa

11

II.A2型VX=?jX?3

b22

（的3型）

IECd11

VX=?jX+3

b22

=

VXa

11

VX=?jX?3

III型b22

11

VX=?jX+3

b22

B

9

T/CPSS1008—2020

附錄B

（規(guī)范性附錄）

測(cè)試流程

B.1單相設(shè)備測(cè)試流程圖

單相設(shè)備測(cè)試流程如圖B.1所示。

開始

設(shè)定受試設(shè)備條件

設(shè)定相位跳變PS=0°

設(shè)定暫降起始角PoW=0°

設(shè)定殘余電壓U=0%

設(shè)定持續(xù)時(shí)間T=10ms

測(cè)試

Y按相應(yīng)步長(zhǎng)增大持續(xù)

是否通過性能判據(jù)？

時(shí)間T

N

記錄波形和數(shù)據(jù)

N

已測(cè)試所有殘余電壓？改變殘余電壓U

Y

擬合VTC

已測(cè)試所有暫降起始角？N

改變暫降起始角PoW

Y

N

已測(cè)試所有相位跳變？改變相位跳變PS

Y

已測(cè)試所有受試設(shè)備條件？

N改變受試設(shè)備條件

Y

結(jié)束

圖B.1單相設(shè)備測(cè)試流程

10

T/CPSS1008—2020

B.2三相設(shè)備測(cè)試流程圖

三相設(shè)備流程如圖B.2所示。

開始

設(shè)定受試設(shè)備條件

設(shè)定電壓暫降類型

設(shè)定電壓諧波THD=0%

設(shè)定相位跳變PS=0°

設(shè)定暫降起始角PoW=0°

設(shè)定殘余電壓U=0%

設(shè)定持續(xù)時(shí)間T=10ms

測(cè)試

N按相應(yīng)步長(zhǎng)增大持續(xù)

是否通過判斷標(biāo)準(zhǔn)

時(shí)間T

Y

記錄波形和數(shù)據(jù)

N

已測(cè)試所有殘余電壓改變殘余電壓U

Y

擬合VTC

N

已測(cè)試所有暫降起始角改變暫降起始角PoW

Y

N

已測(cè)試所有相位跳變改變相位跳變PS

Y

N改變電壓諧波

已測(cè)試所有電壓諧波組合THD

及組合

Y

N

已測(cè)試所有暫降類型改變暫降類型

Y

N

已測(cè)試所有受試設(shè)備條件改變受試設(shè)備條件

Y

結(jié)束

圖B.2三相設(shè)備測(cè)試流程

11

T/CPSS1008—2020

附錄C

（資料性附錄）

測(cè)試報(bào)告模板

C.1測(cè)試報(bào)告封面

測(cè)試報(bào)告模版的封面如圖C.1所示。

圖C.1測(cè)試報(bào)告封面

12

T/CPSS1008—2020

C.2測(cè)試報(bào)告內(nèi)頁

測(cè)試報(bào)告模版內(nèi)頁如圖C.2所示。

圖C.2測(cè)試報(bào)告內(nèi)頁

13

T/CPSS1008—2020

附錄D

（資料性附錄）

測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)格式

測(cè)試數(shù)據(jù)建議采用如下定義方式：

——樣品名稱：字符串類型，長(zhǎng)度不超過30字符；

——生產(chǎn)廠家：字符串類型，長(zhǎng)度不超過30字符；

——樣品型號(hào)：字符串類型，長(zhǎng)度不超過30字符；

——出廠編號(hào)：字符串類型，長(zhǎng)度不超過30字符；

——出廠日期：時(shí)間類型；

——額定參數(shù)：字符串類型，長(zhǎng)度不超過100字符，包含額定功率、額定電壓等；

——單相/三相設(shè)備標(biāo)識(shí)：枚舉類型（1.單相；2.三相）；

——測(cè)試單位：字符串類型，長(zhǎng)度不超過30字符；

——測(cè)試人員：字符串類型，長(zhǎng)度不超過30字符；

——測(cè)試設(shè)備：“型號(hào)”、“出廠編號(hào)”、“校驗(yàn)單位”為字符串類型，長(zhǎng)度不超過30字符；“生

產(chǎn)日期”和“校驗(yàn)日期”為時(shí)間類型；

——測(cè)試時(shí)間：時(shí)間類型；

——測(cè)試環(huán)境：浮點(diǎn)數(shù)類型，包含測(cè)試溫度、濕度、大氣壓等；

——特殊說明：字符串類型，長(zhǎng)度不超過500字符，非必填項(xiàng)；

——設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)：字符串類型，長(zhǎng)度不超過