光學(xué)測試與質(zhì)檢技術(shù)考核試卷_第1頁
光學(xué)測試與質(zhì)檢技術(shù)考核試卷_第2頁
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文檔簡介

光學(xué)測試與質(zhì)檢技術(shù)考核試卷考生姓名:答題日期:得分:判卷人:

一、單項(xiàng)選擇題(本題共20小題,每小題1分,共20分,在每小題給出的四個(gè)選項(xiàng)中,只有一項(xiàng)是符合題目要求的)

1.光學(xué)測試中,以下哪種技術(shù)常用于測量光學(xué)元件的曲率半徑?()

A.透射法

B.投影法

C.接觸式測量

D.干涉法

2.在進(jìn)行光學(xué)鏡片的質(zhì)量檢測時(shí),下列哪一項(xiàng)不是檢測的必要指標(biāo)?()

A.表面質(zhì)量

B.焦距誤差

C.光學(xué)畸變

D.重量

3.用于測試光學(xué)鏡頭分辨率的常見設(shè)備是?()

A.光譜儀

B.透射電鏡

C.星點(diǎn)測試儀

D.光功率計(jì)

4.下列哪種光學(xué)元件不屬于透鏡?()

A.雙凸透鏡

B.雙凹透鏡

C.棱鏡

D.凸面鏡

5.在光學(xué)測試中,如果需要評估光學(xué)系統(tǒng)雜散光的影響,應(yīng)采用的測試方法是?()

A.點(diǎn)源測試法

B.雜散光測試法

C.階梯法

D.干涉法

6.關(guān)于光學(xué)鏡頭的質(zhì)檢,以下哪項(xiàng)描述是正確的?()

A.質(zhì)檢應(yīng)在高溫環(huán)境下進(jìn)行,以評估其耐熱性

B.質(zhì)檢應(yīng)在高濕環(huán)境下進(jìn)行,以評估其防潮能力

C.質(zhì)檢應(yīng)在清潔室內(nèi)進(jìn)行,以避免塵埃影響

D.質(zhì)檢可以在任何環(huán)境下進(jìn)行,環(huán)境因素不影響結(jié)果

7.以下哪種設(shè)備通常用于測量光學(xué)鏡片的光學(xué)畸變?()

A.自準(zhǔn)直儀

B.干涉儀

C.焦點(diǎn)測試儀

D.畸變測試儀

8.在光學(xué)測試中,下列哪個(gè)參數(shù)描述了光學(xué)系統(tǒng)對光線的匯聚能力?()

A.焦距

B.視場角

C.分辨率

D.折射率

9.下列哪個(gè)部件不屬于光學(xué)顯微鏡的組成部分?()

A.目鏡

B.物鏡

C.聚光鏡

D.顯微鏡架

10.在進(jìn)行光學(xué)涂層厚度的測量時(shí),以下哪種技術(shù)是不適用的?()

A.磁控濺射技術(shù)

B.光學(xué)干涉法

C.紫外可見光譜法

D.電子顯微鏡法

11.關(guān)于光學(xué)元件的表面質(zhì)量檢測,以下哪種方法是不可行的?()

A.目視檢查

B.干涉法

C.光學(xué)觸針法

D.激光掃描法

12.以下哪個(gè)參數(shù)通常用于描述光學(xué)系統(tǒng)的成像質(zhì)量?()

A.焦比

B.星點(diǎn)圖

C.光譜分辨率

D.視角

13.在光學(xué)測試中,如何稱呼光闌限制下的成像系統(tǒng)所能觀測到的最大角度?()

A.焦深

B.視場

C.分辨率

D.景深

14.以下哪項(xiàng)不是光學(xué)鏡頭鍍膜的主要目的?()

A.增透

B.防反射

C.耐磨損

D.改變光學(xué)常數(shù)

15.關(guān)于光學(xué)干涉法,以下哪個(gè)描述是錯(cuò)誤的?()

A.是一種非接觸式測量方法

B.可以用于測量表面形狀和波前誤差

C.受環(huán)境振動(dòng)的影響較大

D.基于光的波動(dòng)性質(zhì)

16.下列哪種設(shè)備通常用于測量光源的光譜分布?()

A.光強(qiáng)計(jì)

B.光譜分析儀

C.照度計(jì)

D.色度計(jì)

17.在光學(xué)元件的生產(chǎn)過程中,以下哪個(gè)步驟通常用于提高元件的表面質(zhì)量?()

A.精密研磨

B.快速拋光

C.機(jī)械切割

D.化學(xué)腐蝕

18.下列哪種現(xiàn)象會(huì)導(dǎo)致光學(xué)系統(tǒng)產(chǎn)生球面像差?()

A.光闌位置的變化

B.光學(xué)材料的不均勻

C.環(huán)境溫度的變化

D.光線入射角度的變化

19.在光學(xué)測試中,以下哪個(gè)單位用于表示光功率?()

A.帕斯卡(Pa)

B.瓦特(W)

C.分貝(dB)

D.流明(lm)

20.下列哪種測試不適用于評估光學(xué)鏡頭的色差性能?()

A.點(diǎn)源色差測試

B.色譜法

C.色散測試

D.焦點(diǎn)測試

(結(jié)束)

二、多選題(本題共20小題,每小題1.5分,共30分,在每小題給出的四個(gè)選項(xiàng)中,至少有一項(xiàng)是符合題目要求的)

1.光學(xué)測試中,以下哪些技術(shù)可以用于測量光學(xué)元件的表面形狀?()

A.接觸式測量

B.干涉法

C.投影法

D.透射電鏡

2.以下哪些因素會(huì)影響光學(xué)鏡頭的質(zhì)量檢驗(yàn)結(jié)果?()

A.環(huán)境溫度

B.濕度

C.光源穩(wěn)定性

D.檢驗(yàn)人員的經(jīng)驗(yàn)

3.下列哪些設(shè)備可用于檢測光學(xué)系統(tǒng)的像差?()

A.星點(diǎn)測試儀

B.波前傳感器

C.焦點(diǎn)測試儀

D.光譜儀

4.光學(xué)鏡頭的鍍膜可以起到哪些作用?()

A.增透

B.防反射

C.耐磨損

D.改變顏色

5.以下哪些測試方法可以用于評估光學(xué)元件的折射率?()

A.折射儀

B.干涉法

C.透射電鏡

D.顯微鏡

6.光學(xué)檢測中,以下哪些是常見的光學(xué)元件?()

A.透鏡

B.反光鏡

C.分光鏡

D.光闌

7.以下哪些因素可能導(dǎo)致光學(xué)系統(tǒng)產(chǎn)生色差?()

A.光學(xué)材料的不同

B.光線入射角度的變化

C.環(huán)境溫度的變化

D.光學(xué)設(shè)計(jì)的不足

8.在進(jìn)行光學(xué)涂層厚度的測量時(shí),以下哪些技術(shù)是可行的?()

A.光學(xué)干涉法

B.紫外可見光譜法

C.電子顯微鏡法

D.磁控濺射技術(shù)

9.以下哪些參數(shù)通常用于描述光學(xué)系統(tǒng)的成像性能?()

A.分辨率

B.焦比

C.視角

D.星點(diǎn)圖

10.關(guān)于光學(xué)干涉法,以下哪些描述是正確的?()

A.是一種非接觸式測量方法

B.可以用于測量表面形狀和波前誤差

C.受環(huán)境振動(dòng)的影響較小

D.基于光的干涉原理

11.以下哪些設(shè)備可以用于光學(xué)鏡片的表面質(zhì)量檢測?()

A.目視檢查

B.干涉儀

C.光學(xué)觸針法

D.激光掃描法

12.以下哪些測試可以用于評估光學(xué)鏡頭的雜散光性能?()

A.雜散光測試法

B.點(diǎn)源測試法

C.階梯法

D.焦點(diǎn)測試

13.以下哪些因素會(huì)影響光學(xué)鏡頭的焦距測量結(jié)果?()

A.環(huán)境溫度

B.測量設(shè)備的精度

C.鏡頭與測量設(shè)備的距離

D.鏡頭的重量

14.以下哪些方法可以用于減少光學(xué)系統(tǒng)中的雜散光?()

A.光學(xué)元件表面鍍膜

B.采用特殊的光學(xué)設(shè)計(jì)

C.增加光源亮度

D.使用光闌限制視場

15.以下哪些測試不適用于評估光學(xué)元件的折射率?()

A.折射儀

B.顯微鏡

C.透射電鏡

D.光譜儀

16.以下哪些設(shè)備通常用于測量光線的強(qiáng)度?()

A.光強(qiáng)計(jì)

B.光譜分析儀

C.照度計(jì)

D.色度計(jì)

17.在光學(xué)元件的生產(chǎn)過程中,以下哪些步驟可能影響元件的表面質(zhì)量?()

A.精密研磨

B.快速拋光

C.機(jī)械切割

D.化學(xué)腐蝕

18.以下哪些現(xiàn)象可能導(dǎo)致光學(xué)系統(tǒng)產(chǎn)生彗差?()

A.光學(xué)材料的不均勻

B.光線入射角度的變化

C.環(huán)境溫度的變化

D.光闌位置的變化

19.以下哪些單位用于表示光學(xué)功率和亮度?()

A.瓦特(W)

B.分貝(dB)

C.流明(lm)

D.帕斯卡(Pa)

20.以下哪些方法可以用于提高光學(xué)系統(tǒng)的成像質(zhì)量?()

A.優(yōu)化光學(xué)設(shè)計(jì)

B.使用高品質(zhì)光學(xué)材料

C.提高加工精度

D.減少系統(tǒng)中的雜散光

(結(jié)束)

三、填空題(本題共10小題,每小題2分,共20分,請將正確答案填到題目空白處)

1.光學(xué)測試中,用于測量光學(xué)元件的曲率半徑的常見技術(shù)是______。()

2.光學(xué)系統(tǒng)中的______是描述光線匯聚能力的物理量。()

3.在光學(xué)質(zhì)檢中,評價(jià)光學(xué)鏡片表面質(zhì)量的重要指標(biāo)之一是______。()

4.用來測量光學(xué)系統(tǒng)像差的設(shè)備通常包括______和______。()

5.光學(xué)鏡頭的鍍膜主要目的是增加透射率、減少______和提高耐磨性。()

6.評價(jià)光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量的參數(shù)之一是______,它反映了系統(tǒng)分辨細(xì)節(jié)的能力。()

7.在光學(xué)測試中,______是衡量光學(xué)元件對光波相位變化的能力的指標(biāo)。()

8.用來評估光學(xué)元件折射率的方法有______和______。()

9.光學(xué)顯微鏡的主要組成部分包括目鏡、物鏡和______。()

10.光學(xué)系統(tǒng)中的______現(xiàn)象會(huì)導(dǎo)致成像出現(xiàn)彩色邊緣,影響成像質(zhì)量。()

四、判斷題(本題共10小題,每題1分,共10分,正確的請?jiān)诖痤}括號(hào)中畫√,錯(cuò)誤的畫×)

1.光學(xué)測試中,所有的光學(xué)元件都可以使用接觸式測量方法進(jìn)行曲率半徑的測量。()

2.光學(xué)系統(tǒng)的焦距與透鏡的曲率半徑和折射率有關(guān)。(√)

3.光學(xué)鏡片的表面質(zhì)量可以通過目視檢查完全評估。(×)

4.在光學(xué)檢測中,干涉法只能用于測量平面的光學(xué)元件。(×)

5.提高光學(xué)系統(tǒng)的分辨率可以通過增大光闌來實(shí)現(xiàn)。(×)

6.光學(xué)材料的選擇對光學(xué)系統(tǒng)的色差性能沒有影響。(×)

7.光學(xué)鏡頭的鍍膜可以完全消除反射,提高透射率。(×)

8.在光學(xué)測試中,環(huán)境因素對測量結(jié)果沒有影響。(×)

9.光學(xué)顯微鏡的放大倍數(shù)等于目鏡與物鏡放大倍數(shù)的乘積。(√)

10.光學(xué)系統(tǒng)中的雜散光可以通過增加光源亮度來減少。(×)

五、主觀題(本題共4小題,每題5分,共20分)

1.請簡述光學(xué)干涉法在光學(xué)測試中的應(yīng)用原理,并說明其在測量光學(xué)元件表面形狀時(shí)的優(yōu)點(diǎn)。(5分)

2.光學(xué)鏡頭的色差對成像質(zhì)量有何影響?請列舉至少兩種方法來減少或消除光學(xué)系統(tǒng)中的色差。(5分)

3.在進(jìn)行光學(xué)元件的質(zhì)量檢測時(shí),為什么需要考慮環(huán)境因素?請具體說明溫度、濕度和塵埃等因素對光學(xué)測試結(jié)果的可能影響。(5分)

4.請解釋光學(xué)系統(tǒng)中的雜散光是如何產(chǎn)生的,并討論減少雜散光對提高光學(xué)成像質(zhì)量的重要性。(5分)

標(biāo)準(zhǔn)答案

一、單項(xiàng)選擇題

1.D

2.D

3.C

4.D

5.B

6.C

7.D

8.A

9.D

10.D

11.C

12.B

13.B

14.A

15.C

16.B

17.A

18.B

19.C

20.D

二、多選題

1.B

2.ABC

3.A

4.ABC

5.A

6.ABCD

7.AD

8.AB

9.ABD

10.ABD

11.AB

12.A

13.ABC

14.AB

15.CD

16.A

17.ABC

18.B

19.BC

20.ABCD

三、填空題

1.干涉法

2.焦距

3.表面粗糙度

4.星點(diǎn)測試儀、波前傳感器

5.反射

6.分辨率

7.折射率

8.折射儀、干涉法

9.聚光鏡

10.色差

四、判斷題

1.×

2.√

3.×

4.×

5.×

6.×

7.×

8.×

9.

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