JJF(浙) 1132-2016 圓測頭千分尺校準規(guī)范

汀CalibrationSpecific浙江省質(zhì)量技術監(jiān)督局發(fā)布I圓測頭千分尺校準規(guī)范引言??????????????????????????????(Ⅲ)1范圍?????????????????????????2引用文件????????????????????????（1)3術語和計量單位????????????????????????（1）3.1示值變動性??????????????????????????(1)4概述?????????????????????????(1)5計量特性???????????????????????（2)5.1測微螺桿的軸向竄動和徑向擺動????????????????（2）5.2測砧與測微螺桿測量面的相對偏移量?????????????（2）測力????????????????????????????（3）5.4刻線寬度及寬度差??????????????????????（3）5.5微分筒錐面的端面棱邊至固定套筒刻線面的距離?????????（3）5.6微分筒錐面的端面與固定套筒毫米刻線的相對位置????????（3）5.7測頭的球面半徑???????????????????????（3）5.8測量面的平面度???????????????????????（3）示值變動性????????????????????????（3）漂移???????????????????????????示值誤差?????????????????????????（????????????????????????（3）5.13校對用量桿尺寸偏差和尺寸變動量??????????????（4）??????????????????????????（4）6.1環(huán)境條件??????????????????????????（4）6.2校準項目和校準設備??????????????????（4）??????????????????????????7.1測微螺桿的軸向竄動和徑向擺動????????????????（5）7.2測砧與測微螺桿測量面的相對偏移量??????????????（6）測力????????????????????????????（7）7.4刻線寬度及寬度差??????????????????????（7）7.5微分筒錐面的端面棱邊至固定套筒刻線面的距離????????（7）7.6微分筒錐面的端面與固定套筒毫米刻線的相對位置????????（7）7.7測頭的球面半徑???????????????????????（7）7.8測量面的平面度???????????????????????（7）7.9示值變動性?????????????????????????（8）漂移???????????????????????????（8）示值誤差?????????????????????????（8）細分誤差?????????????????????????（8）7.13校對用量桿尺寸偏差和尺寸變動量??????????????（9）8校準結果表達????????????????????????（9）9復校時間間隔????????????????????????（9）附錄A圓測頭千分尺示值誤差測量結果的不確定度評定???????（10）附錄B校準證書或校準報告內(nèi)容?????????????????(14)本規(guī)范適用于分度值/分辨力為0.001mm、0.01mm,測量上限至100mm的圓測頭千分尺的校準。3.1示值變動性4概述置等組成。其外形結構如圖1、圖2、圖3所示。2@8O501746①0055計量特性5.1測微螺桿的軸向竄動和徑向擺動測微螺桿的軸向竄動和徑向擺動應不大于0.01mm。5.2測砧與測微螺桿測量面的偏移量測砧與測微螺桿測量面的偏移量應不超過表1的規(guī)定。圓測頭千分尺的測力系指測微螺桿測量面與量具測力儀平面接觸時所作用的3當測量下限調(diào)整正確后，微分筒上的零刻線與固定套412123量具測力儀MPE：±1.0%45微分筒錐面的端面棱邊至固定套筒刻線6微分筒錐面的端面與固定套筒毫米刻線—789—57校準方法7.1測微螺桿的軸向竄動和徑向擺動一般情況下用手感檢查測微螺桿的軸向竄動和徑向擺動。有異議時，可按7.1.1測微螺桿的軸向竄動，用杠桿千分表校準。校準時，杠桿千分表與測微螺桿測量面接觸，沿測微螺桿軸向方向分別往返加力(3～5)N,如圖4所示。7.1.2測微螺桿的徑向擺動，用杠桿千分表校準。校準時，將測微螺桿伸出尺架10mm后，使杠桿千分表接觸測微螺桿的端部，再沿杠桿千分表測量方向加力(2～3)N,然后在相反方向加同樣大小的力，此時杠桿千徑向擺動量。徑向擺動的測量應在測微螺桿相互垂直如圖5所示。0…0…@6①品7.2測砧與測微螺桿測量面的偏移量(0～25)mm的圓測頭千分尺可目力觀察圓測頭千分尺測砧與測微螺桿測量面的偏移量，測量上限大于25mm的圓測頭千分尺可借助校對用量桿進行校準。如有異議時，可按下列方法進行校準。校準上限大于25mm的圓測頭千分尺可用專用檢具測量偏移量。在檢驗平板上用杠桿百分表進行校準，校準時借助夾具放置在檢驗平板上，如圖6所示，調(diào)整夾具使圓頭千分尺的測微螺桿與檢驗平板工作面平行，然后用杠桿百分表校準測砧與測微螺桿在這一方位上的偏移量x,然后將尺架側轉90°,按上述方法校準測砧與測微螺桿在另一方位上偏移量y,測砧與測微螺桿測量面的相對偏移量△按下式求得：此項校準也可用其他專用檢具校準。77.3測力用分度值/分辨力不大于0.1N的量具測力儀校準。校準時，使測微螺桿7.4刻線寬度及寬度差在工具顯微鏡上校準。微分筒或刻線盤上的刻線寬度至少任意抽檢3條刻7.5微分筒錐面的端面棱邊至固定套筒刻線面的距離在工具顯微鏡上校準，也可用0.4mm塞尺置于固定套筒刻線表面上用比較法校準。校準應在微分筒轉動一周內(nèi)不小于3個位置上進行。7.6微分筒錐面的端面與固定套筒毫米刻線的相對位置當測量下限調(diào)整正確后，使微分筒錐面的端面與固定套筒任意毫米刻線的7.7測頭的球面半徑用R6.5mm的半徑樣板以光隙法進行測量。7.8測量面的平面度對于固定測砧測量面是平面的，用二級平面平晶以技術光波法進行校準。將平面平晶的測量面與固定測砧的平面研合，其形成的干涉環(huán)或干涉帶的最小8的圓測頭千分尺，用兩測量面直接接觸調(diào)整零位；對其他測量范圍的用校對量e=Li-Ls>25A＋5.12A＋10.24A＋15.36A＋21.50A＋2597.13校對用量桿尺寸偏差和尺寸變動量圓測頭千分尺校對用量桿的尺寸偏差及變動量在光學計或測長機上采用4等量塊以比較法進行校準。對于平測量面的校對用量桿應采用球面測帽在圖7所示的5點上進行校準，5點中的最大值與最小值之差即為校對用量桿變動量9復校時間間隔圓測頭千分尺的校準時間間隔，由于復校時間間隔的長短是由圓測頭千分尺的使用情況、使用者、圓測頭千分尺本身質(zhì)量等因素A.1概述A.1.3測量對象：圓測頭千分尺和數(shù)顯圓測頭千分尺，測量范圍為(0～100)eLcLbLcctcLbbtb（A.1）ctb得eLc-LbLtLt為uc2u2(e)c12u12c22u22c32u32c42u42(A.4)u12(u2)2(Lt)2u32(L)2u42u(xi)ciciu(xi)u11u2u3Ltu4Luc=0.57μmu(xi)ciciu(xi)u11u2u3Ltu4Luc=0.81μmA.6.1圓測頭千分尺測量重復性引入的不確定度分量u1量重復性引入的不確定度分量，因此圓測頭千分尺測量重復性引入的不確定度分量作為u1。A.6.2由對零位量塊引入的不確定度分量u21和校準點量塊引入的不確定度分量u22組成不確定度u2的評定。A.6.2.1由對零位量塊引入的不確定度為分量u21A.6.2.2校準點量塊引入的不確定度為分量u22校準點25mm量塊不確定度為u220.5+5×25×103×10-6）μm/2.58=0.24校準點100mm量塊不確定度為u220.5+ u2=u1u2=u1u2=0.0020.242=0.24μmu2=u1u2=0.3420.392=0.52μmA.6.3圓測頭千分尺與量塊間線脹系數(shù)差引入的不確定度u3 A.6.4