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團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)T/CSTMXXXXX-202X
《微波組件用焊錫膏性能測(cè)試及應(yīng)用驗(yàn)證方法》編制說(shuō)明
1.任務(wù)來(lái)源及簡(jiǎn)要過(guò)程
1.1任務(wù)來(lái)源
團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)T/CSTMXXXXX-202X《微波組件用焊錫膏性能測(cè)試
及應(yīng)用驗(yàn)證方法》,該標(biāo)準(zhǔn)由工業(yè)和信息化部電子第五研究所起草,
由中國(guó)材料與試驗(yàn)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)(CSTM)歸口。
1.2工作過(guò)程
2022年01月團(tuán)隊(duì)開(kāi)展《微波組件用焊錫膏性能測(cè)試及應(yīng)用驗(yàn)證
方法》標(biāo)準(zhǔn)的預(yù)研工作,根據(jù)項(xiàng)目的進(jìn)度,對(duì)微波組件用焊錫膏測(cè)試
方法相關(guān)國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行了搜集和調(diào)研,于2022年03月完成了標(biāo)準(zhǔn)
《微波組件用焊錫膏性能測(cè)試及應(yīng)用驗(yàn)證方法》草稿的編制。本標(biāo)準(zhǔn)
的主要起草單位為工業(yè)和信息化部電子第五研究所。
2.編制原則和確定主要內(nèi)容的論據(jù)及解決的主要問(wèn)題
按照GB/T1.1-2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分:標(biāo)準(zhǔn)化文件的
結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》給出的規(guī)則,注重相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的協(xié)調(diào)統(tǒng)一,在充分研
究消化GB/T31475-2015、GB/T31474-2015、SJ11186-2019、SJ
11389-2019、IPC-TM-650、JIS、IEC、ISO錫膏和助焊劑等系列標(biāo)準(zhǔn)
基礎(chǔ)上,結(jié)合實(shí)際,同時(shí)考慮各項(xiàng)試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)的“科學(xué)性”、“前瞻
性”、“適用性”、實(shí)施檢測(cè)的可行性基礎(chǔ)上,研究制訂技術(shù)先進(jìn),滿
足行業(yè)使用需求的《微波組件用焊錫膏性能測(cè)試及應(yīng)用驗(yàn)證方法》團(tuán)
體標(biāo)準(zhǔn),為低溫錫膏相關(guān)性能檢測(cè)提供技術(shù)依據(jù)。
微波組件主要用于實(shí)現(xiàn)微波信號(hào)的頻率、功率及相位等各種變
1
換,廣泛用于雷達(dá)、通信、電子對(duì)抗等領(lǐng)域。其作為實(shí)現(xiàn)信號(hào)反射接
收功能的核心部件,占據(jù)著電子裝備絕大部分的空間和成本,微波組
件的工作頻點(diǎn)、輸出功率等功能指標(biāo)直接決定著電子裝備整機(jī)的性
能。據(jù)研究,微波組件的基板長(zhǎng)期受到空洞率大和助焊劑殘留物多等
問(wèn)題的困擾。助焊劑殘留和界面氧化等原因會(huì)產(chǎn)生焊接層空洞(尤其
大空洞),形成各種阻抗,從而影響模塊散熱,造成電路串?dāng)_,插入
損耗以及帶來(lái)附加的電容與震蕩。微波組件的空洞率對(duì)微波模塊的性
能影響顯著,空洞率越小,接地效果越好,駐波比越小。同時(shí)殘留的
助焊劑造成芯片表面焊盤(pán)變色嚴(yán)重,金絲鍵合困難。據(jù)統(tǒng)計(jì),連接工
藝失效問(wèn)題占到了微波組件失效原因的70%,焊接作為最主要的連接
工藝,其焊點(diǎn)的破壞、開(kāi)裂、扭曲等問(wèn)題都會(huì)造成微波組件的失效,
由于受到多種環(huán)境因素的影響,溫度引起的連接工藝失效率為55%,
隨機(jī)振動(dòng)引起的連接工藝失效率為20%,由此可見(jiàn),焊點(diǎn)可靠性對(duì)微
波組件的重要性。因此制定微波組件用焊錫膏測(cè)試及驗(yàn)證方法是非常
重要的。
制定本標(biāo)準(zhǔn)的原因主要有以下幾點(diǎn):
a)隨著電子封裝技術(shù)的不斷發(fā)展,微波組件正不斷向小型化、
高密度、高可靠、高性能、大批量方向發(fā)展,對(duì)產(chǎn)品的可控化、高
一致性、高可靠性和生產(chǎn)的高效率都提出了更高的要求。因此需要
制定微波組件用焊錫膏的測(cè)試及驗(yàn)證方法。
b)相關(guān)研究表明,助焊劑殘留等會(huì)產(chǎn)生焊接空洞(尤其大空洞),
形成各種阻抗從而影響模塊散熱,造成電路串?dāng)_,插入損耗以及帶
來(lái)附加的電容與震蕩,對(duì)組件的微波性能影響較大,尤其是當(dāng)空洞位
2
于微波元件、傳輸線、微波無(wú)源網(wǎng)絡(luò)下方時(shí)影響最大,并且空洞越大
影響越明顯。目前國(guó)內(nèi)外無(wú)針對(duì)焊錫膏助焊劑殘留、焊接空洞及插
入損耗的測(cè)試方法。
c)錫膏合金粉末尺寸改成掃描電鏡法。相關(guān)國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試方
法主要為粒度篩分稱重、顯微鏡測(cè)量、光學(xué)圖像分析儀法、激光粒度
分析法,其中粒度篩分稱重法和干篩法主要適用于1-4號(hào)粉。合金粉
末尺寸常用的溶劑主要為異丙醇、丙酮等有毒致癌物質(zhì),采用顯微鏡
測(cè)量法時(shí),這些易揮發(fā)的溶劑除了對(duì)人體有害,長(zhǎng)時(shí)間還會(huì)對(duì)顯微鏡
鏡頭造成腐蝕。激光粒度分析法操作不便,制樣要求高。本標(biāo)準(zhǔn)所用
掃描電鏡法測(cè)量精度高,能夠精確的測(cè)量合金粉末尺寸。
d)焊錫膏的大部分測(cè)試項(xiàng)目都與焊接溫度有關(guān),而焊接溫度與焊
錫膏的熔化溫度特性有關(guān)。目前,國(guó)內(nèi)外大部分標(biāo)準(zhǔn)都無(wú)焊錫膏熔化
溫度范圍的測(cè)試
e)微波組件不斷朝著小型化、輕量化、多功能、寬頻、高頻的方
向發(fā)展,對(duì)其可靠性的要求也越來(lái)越高,但目前尚無(wú)針對(duì)微波組件用
焊錫膏可靠性的測(cè)試方法。
3.主要實(shí)驗(yàn)(或驗(yàn)證)結(jié)果的分析
表1標(biāo)準(zhǔn)說(shuō)明
序號(hào)標(biāo)準(zhǔn)說(shuō)明
基GB/T10574(所有部分)錫鉛焊料化學(xué)分析方法
1合金成分
本YS/T746(所有部分)無(wú)鉛錫基焊料化學(xué)分析方法
理合金粉末尺寸與甲法:GB/T31475—2015電子裝聯(lián)高質(zhì)量?jī)?nèi)部互連用焊錫膏
2
化形狀乙法:新方法——掃描電鏡法
3性金屬含量GB/T31475電子裝聯(lián)高質(zhì)量?jī)?nèi)部互連用焊錫膏
3
能GB/T1425貴金屬及其合金熔化溫度范圍的測(cè)定熱分析試驗(yàn)
4熔化溫度范圍
方法
5粘度GB/T31475電子裝聯(lián)高質(zhì)量?jī)?nèi)部互連用焊錫膏
6粘著性GB/T31475電子裝聯(lián)高質(zhì)量?jī)?nèi)部互連用焊錫膏
7干燥度GB/T31474-2015電子裝聯(lián)高質(zhì)量?jī)?nèi)部互連用助焊劑
8焊劑主成分分析新方法:紅外光譜法
9酸值GB/T31474-2015電子裝聯(lián)高質(zhì)量?jī)?nèi)部互連用助焊劑
GB/T37861-2019電子電氣產(chǎn)品中鹵素含量的測(cè)定離子色譜
10鹵素含量
法
11鹵化物含量SJ/T11389-2019無(wú)鉛焊接用助焊劑
腐
12銅鏡腐蝕直接印刷后測(cè)試
蝕
性
13銅板腐蝕直接印刷后測(cè)試
能
電
14氣表面絕緣電阻SJ/T11389-2019無(wú)鉛焊接用助焊劑
絕
緣
15性電化學(xué)遷移SJ/T11389-2019無(wú)鉛焊接用助焊劑
能
印
16印刷特性SJ21269-2018微波組件印制板焊膏印刷工藝技術(shù)要求
刷
17性再流特性SJ21065-2016微波組件再流焊焊接工藝技術(shù)要求
18能坍塌新方法:參考GB/T31475電子裝聯(lián)高質(zhì)量?jī)?nèi)部互連用焊錫膏
19錫珠GB/T31475電子裝聯(lián)高質(zhì)量?jī)?nèi)部互連用焊錫膏
焊
20潤(rùn)濕性GB/T31475電子裝聯(lián)高質(zhì)量?jī)?nèi)部互連用焊錫膏
接
可焊性(潤(rùn)濕天
21性SJ/T11389-2019無(wú)鉛焊接用助焊劑
平法)
能
22擴(kuò)展率GB/T31474-2015電子裝聯(lián)高質(zhì)量?jī)?nèi)部互連用助焊劑
23機(jī)焊點(diǎn)外觀SJ21075-2016微波組件目檢要求
24械焊接空洞焊后X-ray檢測(cè)
25互表面離子殘留物GB/T4677-2002印制板測(cè)試方法
26連助焊劑殘留物紫外分光光度計(jì)法
27特焊點(diǎn)拉脫力SJ/T11390—2019無(wú)鉛焊料試驗(yàn)方法
28性焊點(diǎn)剪切力SJ/T11390—2019無(wú)鉛焊料試驗(yàn)方法
4
金相切片&IMC
29金相顯微鏡和掃描電鏡測(cè)量
層厚度測(cè)量
對(duì)信號(hào)傳輸損耗的影
30矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試
響
GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試
31低溫貯存
驗(yàn)A:低溫
GB/T2423.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試
32高溫貯存
驗(yàn)B:高溫
GB/T2423.22環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變
33溫度沖擊
化
GB/T2423.22環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變
34焊溫度循環(huán)
化
點(diǎn)
GB/T2423.3環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定
35可濕熱試驗(yàn)
濕熱試驗(yàn)
靠
GB/T2423.17電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試
36性鹽霧試驗(yàn)
驗(yàn)Ka:鹽霧
GB/T2423.56環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fh:寬帶
37隨機(jī)振動(dòng)
隨機(jī)振動(dòng)和導(dǎo)則
GB/T2423.5環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖
38機(jī)械沖擊
擊
GB/T2423.15電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試
39加速度
驗(yàn)Ga和導(dǎo)則:穩(wěn)態(tài)加速度
5
表2焊錫膏常用標(biāo)準(zhǔn)及標(biāo)準(zhǔn)說(shuō)明
序號(hào)標(biāo)準(zhǔn)號(hào)及標(biāo)準(zhǔn)名稱(主體)適用范圍說(shuō)明
合金部分:2項(xiàng)、化學(xué)成分:GB/T10574錫鉛焊料化學(xué)分析方法+YS/T746無(wú)鉛錫基焊料
化學(xué)分析方法、合金熔化溫度:SJ/T11390無(wú)鉛錫基焊料化學(xué)分析方法。
錫膏整體:7項(xiàng)、主要引用GB/T31475電子裝聯(lián)高質(zhì)量?jī)?nèi)部互連用焊錫膏。
助焊劑部分:11項(xiàng)、主要引用GB/T31474電子裝聯(lián)高質(zhì)量?jī)?nèi)部互連用助焊劑和SJ/T11389
2019無(wú)鉛焊接用助焊劑。
工藝適應(yīng)性:2項(xiàng)、印刷特性+回流特性,國(guó)標(biāo)中無(wú)相關(guān)測(cè)試項(xiàng)目。
T/CSTMXXXXX-202X《微波組件用
1微波組件用焊錫膏組件級(jí)性能測(cè)試:8項(xiàng),焊點(diǎn)外觀、焊接空洞、表面離子殘留物、助焊劑殘留量、焊點(diǎn)拉脫
焊錫膏性能測(cè)試及應(yīng)用驗(yàn)證方法》
力、焊點(diǎn)剪切力、金相切片&IMC層測(cè)量、對(duì)信號(hào)傳輸損耗的影響。國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)中無(wú)針對(duì)
焊錫膏的相關(guān)測(cè)試項(xiàng)目。
焊點(diǎn)可靠性:8項(xiàng),低溫貯存、高溫貯存、溫度沖擊、溫度循環(huán)、濕熱試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)、隨
機(jī)振動(dòng)、機(jī)械沖擊等8個(gè)可靠性試驗(yàn)。國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)中無(wú)針對(duì)焊錫膏的相關(guān)測(cè)試項(xiàng)目。
合計(jì):主要涉及21個(gè)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),累計(jì)38個(gè)檢測(cè)項(xiàng)目,除涉及焊錫膏自身性能以外。還涵
蓋了微波組件用焊錫膏的工藝適應(yīng)性、組件級(jí)性能及焊點(diǎn)可靠性的測(cè)試方法。
合金成分:1項(xiàng)、GB/T31476電子裝聯(lián)高質(zhì)量?jī)?nèi)部互連用焊料。
表面組裝元器件和電
GB/T31475電子裝聯(lián)高質(zhì)量?jī)?nèi)部互錫膏整體:7項(xiàng)、GB/T31475電子裝聯(lián)高質(zhì)量?jī)?nèi)部互連用焊錫膏。
2子電路互連時(shí)軟釬焊
連用焊錫膏助焊劑部分:13項(xiàng)、GB/T31474電子裝聯(lián)高質(zhì)量?jī)?nèi)部互連用助焊劑。
所使用的焊錫膏
合計(jì):主要涉及3個(gè)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),累計(jì)21個(gè)檢測(cè)項(xiàng)目,僅涉及焊錫膏自身性能。
合金成分:1項(xiàng)、SJ/T113912019電子產(chǎn)品焊接用錫合金粉。
電子產(chǎn)品焊接用焊錫錫膏整體:7項(xiàng)、SJ/T11186焊錫膏通用規(guī)范。
3SJ/T11186焊錫膏通用規(guī)范
膏助焊劑部分:15項(xiàng)、SJ/T113892019無(wú)鉛焊接用助焊劑。
合計(jì):主要涉及3個(gè)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),累計(jì)23個(gè)檢測(cè)項(xiàng)目,僅涉及焊錫膏自身性能。
合金成分:1項(xiàng)、引用GB/T3131錫鉛釬料和GB/T20422無(wú)鉛釬料。
電子產(chǎn)品焊接用軟釬錫膏整體:9項(xiàng)、新增存儲(chǔ)壽命穩(wěn)定性。
4T/CWAN0031軟釬焊膏試驗(yàn)方法
錫膏助焊劑部分:5項(xiàng)。
合計(jì):累計(jì)15項(xiàng)檢測(cè),新增存儲(chǔ)壽命穩(wěn)定性。
5T/ZZB2541無(wú)鉛焊錫膏電子產(chǎn)品焊接用無(wú)鉛合金成分:1項(xiàng)、YS/T746無(wú)鉛錫基焊料化學(xué)分析方法。
6
焊錫膏錫膏整體:7項(xiàng)、引用GB/T31475電子裝聯(lián)高質(zhì)量?jī)?nèi)部互連用焊錫膏。
助焊劑部分:6項(xiàng)、引用GB/T31474電子裝聯(lián)高質(zhì)量?jī)?nèi)部互連用助焊劑。
其它:3項(xiàng)、印刷適應(yīng)性、儲(chǔ)存穩(wěn)定性、限量物質(zhì)。
合計(jì):主要引用3個(gè)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),新增3個(gè)測(cè)試項(xiàng)目,累計(jì)17個(gè)檢測(cè)項(xiàng)目,除涉及焊錫膏自
身性能,包括印刷性、儲(chǔ)存穩(wěn)定性以及RoHS十項(xiàng)。
測(cè)定軟釬焊劑的性能助焊劑部分:14項(xiàng)、ISO9455-1~3、5~6、8~14、16~17。
6ISO9455-1~17Softsolderingfluxes
方法
IEC61190-1-2Attachmentmaterials合金成分:1項(xiàng)、IEC61190-1-3Attachmentmaterialsforelectronicassembly.Part
forelectronicassembly-Part1-2:1-3:Requirementsforelectronicgradesolderalloysandfluxedandnonfluxedsolidsoldersfor
Requirementsforsolderingpastesfor電子組裝中用于制造electronicsolderingapplications.
high-qualityinterconnectsin高質(zhì)量電子互連的錫錫膏整體:7項(xiàng)、IEC61189-5-3Testmethodsforelectricalmaterials,printedboardsandother
electronicsassembly膏的特性和測(cè)試interconnectionstructuresandassemblies-Part5-3:Generaltestmethodsformaterialsand
assemblies-Solderingpasteforprintedboardassemblies.
7IEC61189-5-3Testmethodsfor互連結(jié)構(gòu)和附件用電助焊劑部分:11項(xiàng)、IEC61190-1-1Attachmentmaterialsforelectronicassembly-Part1-1:
electricalmaterials,printedboardsand氣材料的試驗(yàn)方法材Requirementsforsolderingfluxesforhigh-qualityinterconnectionsinelectronicsassembly.
otherinterconnectionstructuresand料和組件的通用試驗(yàn)合計(jì):主要涉及3個(gè)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),累計(jì)19個(gè)檢測(cè)項(xiàng)目,僅涉及焊錫膏自身性能。
assemblies-Part5-3:Generaltest方法印刷電路板組件
methodsformaterialsandassemblies-用焊錫膏
Solderingpasteforprintedboard
assemblies
合金成分:1項(xiàng)、IPCJ-STD-006C-2013RequirementsforElectronicGradeSolderAlloysand
FluxedandNon-FluxedSolidSoldersforElectronicSolderingApplications.
IPCJ-STD-005ARequirementsfor
8電子互聯(lián)用的焊錫膏錫膏整體:8項(xiàng)、IPCJ-STD-005A-2012RequirementsforSolderingPastes.
SolderingPastes
助焊劑部分:14項(xiàng)、IPCJ-STD-004B-2011RequirementsforSolderingFluxes.
合計(jì):主要涉及3個(gè)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),累計(jì)23個(gè)檢測(cè)項(xiàng)目,僅涉及焊錫膏自身性能。
用于電氣設(shè)備、電子設(shè)合金成分:1項(xiàng)、JISZ3910-2008Methodsforchemicalanalysisofsolder.
備、通信設(shè)備或類似設(shè)錫膏整體:10項(xiàng)、JISZ3284-2~4Solderpaste.
9JISZ3284Solderpaste
備的接線連接和制造助焊劑部分:14項(xiàng)、JISZ3197-2021Testmethodsforsolderingfluxes.
其零件的錫膏合計(jì):主要涉及3個(gè)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),累計(jì)25個(gè)檢測(cè)項(xiàng)目,僅涉及焊錫膏自身性能。
7
表3焊錫膏常用標(biāo)準(zhǔn)對(duì)比分析
本標(biāo)準(zhǔn)國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)
檢測(cè)項(xiàng)
序號(hào)國(guó)標(biāo)行標(biāo)團(tuán)標(biāo)
目
T/CSTMISO9455系列IEC61189-5-3JISZ3284系列IPCJ-STD-005AT/ZZB
GB/T31475SJ/T11186T/CWAN0031
2541
GB/T3131有
GB/T10574有鉛IEC61190-1-3ISOJISZ3910有鉛/GB/T10574有鉛GB/T10574有鉛鉛YS/T746
//
合金成YS/T746無(wú)鉛9453有鉛/無(wú)鉛無(wú)鉛YS/T746無(wú)鉛GB/T3260無(wú)鉛GB/T20422無(wú)鉛
1
分無(wú)鉛
說(shuō)明:1)T/ZZB2541僅針對(duì)無(wú)鉛;
2)焊接后可以起著導(dǎo)通零件電極與PCB及固定器件的作用。
IEC61189-5-3
粒度篩分稱重:
引用GB/T31475粒度篩分稱重:1-4、干篩法、激光粒度干篩法、激光粒干篩法、激光
1-4、顯微鏡測(cè)引用GB/T
新方法:掃描電鏡/顯微鏡測(cè)量、光學(xué)圖分析法、顯微鏡測(cè)顯微鏡測(cè)量度分析法、顯微粒度分析法、
量、光學(xué)圖像分31475
法像分析儀法、激光粒量法鏡測(cè)量法顯微鏡測(cè)量法
析儀法
合金粉度分析法
2
末尺寸說(shuō)明:1)一般稀釋劑難以將錫膏分離,需要溶劑型液體進(jìn)行分離,操作不易,對(duì)人體和設(shè)備有害;
2)圖像分析儀法誤差大;
3)掃描電鏡法誤差?。?/p>
4)合金焊料粉的形狀對(duì)表面氧化度有著什么明顯的影響。同時(shí),不同焊盤(pán)尺寸和元器件引腳應(yīng)選用不同粒度大小的錫粉,需搭配印刷鋼網(wǎng)的開(kāi)
口尺寸或者注射器的口徑使用。
10g~15g,添加丙10g~40g,添加丙20g~35g,添加
10g~50g,30g,添加丙三醇,10g~50g,液相線引用GB/T
引用GB/T31475/三醇,液相線以三醇,液相線以丙三醇,液相
金屬含液相線以上25℃液相線以上50℃以上25℃31475
3上(25~30)℃上(25±5)℃線以上25℃
量
說(shuō)明:金屬含量較高時(shí),可以改善錫膏的塌落度,有利于形成飽滿的焊點(diǎn),亦可減少焊劑殘留物,有效防止錫珠的出現(xiàn),其缺點(diǎn)是對(duì)印刷和焊接工藝要
求較嚴(yán)格。金屬含量較低時(shí),印刷性好,錫膏不易粘刮刀,鋼網(wǎng)壽命長(zhǎng),潤(rùn)濕性好,加工較易;缺點(diǎn)是易塌落,易出現(xiàn)錫珠和橋連等缺陷。
8
本標(biāo)準(zhǔn)國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)
檢測(cè)項(xiàng)
序號(hào)國(guó)標(biāo)行標(biāo)團(tuán)標(biāo)
目
T/CSTMISO9455系列IEC61189-5-3JISZ3284系列IPCJ-STD-005AT/ZZB
GB/T31475SJ/T11186T/CWAN0031
2541
IEC61189-11JISZ3198-1
固相線:升溫速率為固相線:升溫速率SJ/T11390
2℃/min;為2℃/min;升溫速率為
引用GB/T1425/////
熔化溫液相線:升溫速率為液相線:升溫速率(2~10)℃/min,
4
度范圍(0.5、1、2、5、為(0.5、1、2、5、后為2℃/min
10)℃/min10)℃/min
說(shuō)明:1)焊錫膏許多檢測(cè)項(xiàng)目的焊接溫度都由熔化溫度決定。
2)固相線和液相線溫度決定了焊錫膏的焊接溫度,同時(shí)也決定焊錫膏的應(yīng)用場(chǎng)合。
回溫至室溫,(25±1)℃靜置
25℃,回復(fù)2~3小24h。1、Brookfield
(25±1)℃靜置
1、spiralmethodT形針轉(zhuǎn)子黏度
24h,
(25±1)℃靜置24h,,10rpm,3min計(jì):轉(zhuǎn)速為5
1、BrookfieldT(25±5)℃,
1、BrookfieldT形針2、Rotarydiskrpm;(25±5)℃,
形針轉(zhuǎn)子黏度(50±10)%RH引用GB/T
引用GB/T31475/轉(zhuǎn)子黏度計(jì),轉(zhuǎn)速為methodwith2、Brookfield螺(50±10)%RH
計(jì),轉(zhuǎn)速為靜置4h,1031475
5rpmwhirl-shaped旋針轉(zhuǎn)子或靜置4h,10rpm
5rpmrpm,3min
5粘度2、螺旋泵法:10rpm;groove10rpm,36sMalcom螺旋泵
2、螺旋泵法:
3、Nozzleflow式黏度計(jì):轉(zhuǎn)速
10rpm;
method一定壓力為10rpm,穩(wěn)定
下評(píng)估質(zhì)量。1min讀數(shù)。
說(shuō)明:1)T/CWAN0031不同粘度范圍無(wú)對(duì)應(yīng)不同粘度設(shè)備的選擇;
2)SJ/T11186對(duì)于設(shè)備描述選擇不夠清晰;
3)粘度是錫膏品質(zhì)的主要特性指標(biāo),屬于影響印刷性能的重要因素,粘度太大錫膏不易穿出模板的漏孔,印出的圖形殘缺不全;粘度太低則印
刷時(shí)錫膏容易脫落。
9
本標(biāo)準(zhǔn)國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)
檢測(cè)項(xiàng)
序號(hào)國(guó)標(biāo)行標(biāo)團(tuán)標(biāo)
目
T/CSTMISO9455系列IEC61189-5-3JISZ3284系列IPCJ-STD-005AT/ZZB
GB/T31475SJ/T11186T/CWAN0031
2541
冷坍塌:
冷坍塌:(25±2)℃,
冷坍塌:冷坍塌:
冷坍塌:(25±5)℃,(25±5)℃,(50±10)%RH,
冷坍塌:(25±5)℃,冷坍塌:(25±5)℃,
(50±10)%RH,(50±10)%RH,(15~20)min
(25±2)℃,(50±10)%RH,(25±5)℃,(50±10)%R
(10~20)min(10~20)min熱坍塌:
(50±10)%RH,(10~20)min(50±10)%RH,H,(10~20)
熱坍塌:(150±10)℃,熱坍塌:(145±5)℃(低引用GB/T
(15~20)min/熱坍塌:(15±2)minmin
(10~15)min,(150±10)℃,溫錫膏為固相線31475
熱坍塌:固相線以(150±10)℃(低熱坍塌:固相線熱坍塌:固相
6坍塌0.3x2.0mm印刷模板(10~15)min,以下25±5℃),
下(20~30)℃,溫焊料低于熔點(diǎn)以下(25±5)℃,線以下
最小間距與記錄表不0.3x2.0mm印刷(10~15)min
(15~20)min10℃),(10~20)(12±2)min(25±5)℃,
一致模板最小間距與,0.3x2.0mm印刷
min(10~15)min
記錄表不一致模板最小間距與
記錄表不一致
說(shuō)明:1)IPC、IEC與GB/T31475中記錄模板與圖形不一致;
2)IPC、IEC與JIS標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定溫度不適用低溫焊料和高溫焊料;
3)確保錫膏印刷后和在回流焊是否產(chǎn)生坍塌現(xiàn)象,并對(duì)坍塌的程度加以評(píng)定。
>液相線>液相線>液相線25℃
>液相線(25±3)℃,>液相線>液相線引用GB/T
引用GB/T31475/(35±3)℃熔化后(25~30)℃,熔化后保持
總時(shí)間不超過(guò)20s。(25±3)℃,≤20s(25±5)℃,≤20s31475
7錫珠保持5s≤10s5s,≤20s
說(shuō)明:1)測(cè)試錫膏加熱融化后,于氧化鋁板上收縮成一顆錫球的能力與不飛濺的穩(wěn)定度。
2)可能造成設(shè)計(jì)上沒(méi)有的電氣連接,引起短路危險(xiǎn)。
方法A:模板厚度模板厚度0.2mm,模板厚度(2.5±0.5)模板厚度模板厚度
0.25mm,2.0mm/s,2.0mm/s,0.25mm,mm/min,0.2mm,0.25mm,引用GB/T
8粘著性引用GB/T31475/
(3±0.3)N,(2.5±0.5)(0.05±0.005)N,(2.5±0.5)(3.0±0.3)N,5s(2.5±0.5)(2.5±0.5)31475
mm/min;0.2s以10mm/s內(nèi)mm/min,以(2.5±0.5)mm/min,mm/min,
10
本標(biāo)準(zhǔn)國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)
檢測(cè)項(xiàng)
序號(hào)國(guó)標(biāo)行標(biāo)團(tuán)標(biāo)
目
T/CSTMISO9455系列IEC61189-5-3JISZ3284系列IPCJ-STD-005AT/ZZB
GB/T31475SJ/T11186T/CWAN0031
2541
方法B:模板厚度回撤(300±30)gf,mm/min內(nèi)回撤(3.0±0.3)N,(300±30)gf,
0.2mm,2.0mm/s,5s以(2.5±0.5)5s以(2.5±0.5)5s以(2.5±0.5)
(0.05±0.005)N,0.2smm/min內(nèi)回撤mm/min內(nèi)回撤mm/min內(nèi)回
以10mm/s內(nèi)回撤撤
說(shuō)明:主要驗(yàn)證錫膏隨著時(shí)間的推移是否有足夠的粘著力將器件固定住。
>液相線35℃(對(duì)>液相線
>液相線>液相線引用GB/T
引用GB/T31475/回流后測(cè)試。于Bi58Sn42為(25~30)℃,>液相線25℃
(25±3)℃,≤20s(25±5)℃,≤20s31475
9潤(rùn)濕性235±2℃)≤10s
說(shuō)明:評(píng)判錫膏在銅板上的潤(rùn)濕能力。
對(duì)于液相線<
Sn60Pb40:235°C
220℃的,
±3°C;
(250±3)℃,熔>液相線
Sn96Ag3Cu1:
化后5s取出。對(duì)(235±5)℃,熔(50±2)℃,熔化后>液相線引用GB/T引用GB/T
引用GB/T31474255°C±3°C;其/
于液相線>220℃化后5s取出30s取出,測(cè)量高(25±5)℃,≤20s38265.1431474
10干燥度余液相線以上
的,>液相線度。
35°C,熔化后5s
(35±3)℃,熔化
取出。
后5s取出
說(shuō)明:1)IPC、JIS標(biāo)準(zhǔn)中
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