第8章 電磁兼容試驗

第8章電磁兼容試驗第2

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EMC試驗技術(shù)發(fā)展

EMC試驗項目內(nèi)容提綱靜電放電抗擾度試驗電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗浪涌抗擾度試驗射頻輻射抗擾度試驗工頻磁場抗擾度試驗脈沖磁場抗擾度試驗阻尼振蕩磁場抗擾度試驗厚德弘毅博學(xué)篤行第3

頁電磁兼容（ElectromagneticCompatibility，簡稱EMC）是一門新興的綜合性學(xué)科，電磁兼容學(xué)科主要研究如何使在同一電磁環(huán)境下工作的各種電子電氣設(shè)備和元器件都能正常工作，互不干擾，從而達到兼容狀態(tài)。電磁騷擾是指任何可能引起設(shè)備性能降低或?qū)τ猩镔|(zhì)產(chǎn)生損害作用的電磁現(xiàn)象。來源于自然現(xiàn)象的電磁騷擾，稱為自然騷擾；由機電或其他人為裝置產(chǎn)生的電磁騷擾，稱為人為騷擾。電磁干擾則是指由電磁騷擾引起的設(shè)備或傳輸通道性能的下降。厚德弘毅博學(xué)篤行第4頁EMC包括兩方面的內(nèi)容，一方面指系統(tǒng)或設(shè)備對所處環(huán)境中的電磁干擾具有一定程度的抗擾度，即電磁敏感性（ElectromagneticSusceptibility，簡稱EMS）；另一方面指設(shè)備在正常運行過程中對其所在環(huán)境的電磁干擾不能超過一定限值，即電磁干擾（ElectromagneticInterference，簡稱EMI）。

厚德弘毅博學(xué)篤行第5

頁第一部分EMC試驗技術(shù)發(fā)展厚德弘毅博學(xué)篤行第6

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早期的EMC測試處于電磁干擾診斷階段，當(dāng)時的電子系統(tǒng)工程，一般按照設(shè)計、加工、總裝調(diào)試的順序依次進行，導(dǎo)致在系統(tǒng)聯(lián)調(diào)過程中往往出現(xiàn)各種問題。檢測工具則通常使用通用的電子儀器設(shè)備，如早期生產(chǎn)的示波器、頻譜分析儀等。

研究人員在實踐中花費了大量的精力去研究并制定各種EMC的標(biāo)準(zhǔn)，這些標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電磁干擾的極限值，同時也規(guī)定了測量方法。自此，EMC試驗技術(shù)進入到了標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范化階段。厚德弘毅博學(xué)篤行第7

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國際電工委員會電磁兼容顧問委員會（AdvisoryCommitteeonElectromagneticCompatibility，簡稱ACEC），在國際電工委員會中協(xié)調(diào)CISPR、TC77及其他TC和國際組織在EMC領(lǐng)域的協(xié)作關(guān)系。ACEC為CISPR、TC77確定了兩個基本原則：①CISPR主要負責(zé)頻率高于9kHz的所有無線電通訊保護設(shè)備的產(chǎn)品發(fā)射標(biāo)準(zhǔn)，低于9kHz的發(fā)射主要由TC77負責(zé)。確定限值時，CISPR和TC77要考慮特定產(chǎn)品的特性或安裝。IEC各產(chǎn)品委員會以CISPR和TC77制定的限值為依據(jù)制定產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)向CISPR和TC77咨詢。②產(chǎn)品抗擾度標(biāo)準(zhǔn)由相關(guān)的產(chǎn)品委員會負責(zé)制定，而TC77只負責(zé)制定抗擾度的基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)。厚德弘毅博學(xué)篤行第8

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我國運用電磁兼容試驗技術(shù)，多起始于60年代前后，當(dāng)時試驗室條件簡陋，測試設(shè)備多半是國內(nèi)自行研制的簡易測量設(shè)備，測試手段也比較落后。改革開放后，先進的電子測試設(shè)備大量涌進中國市場。

我國的EMC標(biāo)準(zhǔn)絕大多數(shù)引進國際標(biāo)準(zhǔn)，其來源包括：國際無線電干擾特別委員會出版物，例如GB/T6113，GB14023；國際電工委員會，例如GB4365，GB/T13926；部分引自美國軍用標(biāo)準(zhǔn)，例如GB15540；部分引自國際電信聯(lián)盟有關(guān)文件，例如GB/T15658；以及根據(jù)我國自己的科研成果制定的標(biāo)準(zhǔn)，例如GB/T15708。我國的很多EMC標(biāo)準(zhǔn)都采用了CISPR和IEC標(biāo)準(zhǔn)。實際上，世界上大多數(shù)國家采用CISPR和IEC的標(biāo)準(zhǔn)。

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頁第二部分EMC試驗項目厚德弘毅博學(xué)篤行第10

頁EMC分為EMS和EMI，

EMS又分為傳導(dǎo)抗擾度（CS）和輻射抗擾度（RS）兩部分，其試驗項目包括靜電放電抗擾度試驗（ESD）、電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗（EFT）、浪涌抗擾度試驗、射頻輻射抗擾度試驗、工頻磁場抗擾度試驗、電壓暫降及短時中斷抗擾度試驗（DIPS）。

EMI分為傳導(dǎo)干擾（CE）和輻射干擾（RE），其試驗項目包括傳導(dǎo)測試、輻射測試、功率輻射測試、電流諧波測試、電壓波動測試及閃爍、磁場輻射等。厚德弘毅博學(xué)篤行第11

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如圖所示為EMC分支樹。對于EMS試驗，其性能判據(jù)可分為4個等級。A級：試驗中性能指標(biāo)正常；B級：試驗中性能暫時降低，功能不喪失，試驗后能自行恢復(fù)；C級：功能允許喪失，但能自恢復(fù)，或操作者干預(yù)后能恢復(fù)；R級：除保護元件外，不允許出現(xiàn)因設(shè)備（元件）或軟件損壞或數(shù)據(jù)丟失而造成不能恢復(fù)的功能喪失或性能降低。厚德弘毅博學(xué)篤行第12

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以變電站為例，變電站內(nèi)的各種高中低壓設(shè)備器件種類繁多，這也就導(dǎo)致站內(nèi)的電磁環(huán)境比較復(fù)雜，尤其是各種開關(guān)和感性器件的切合動作會使其周圍的瞬間電磁環(huán)境變化頻繁。站內(nèi)主要設(shè)備如變壓器、GIS、斷路器、MOA避雷器、容性設(shè)備等設(shè)備產(chǎn)生或者受到的常見電磁干擾如圖所示。厚德弘毅博學(xué)篤行第13

頁序號試驗項目試驗標(biāo)準(zhǔn)試驗滿足要求1靜電放電GB/T17626.24級抗擾度2射頻電磁場輻射GB/T17626.33級抗擾度3電快速瞬變脈沖群抗擾度GB/T17626.44級抗擾度4浪涌（沖擊）GB/T17626.54級抗擾度5射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾GB/T17626.63級抗擾度6工頻磁場GB/T17626.85級抗擾度7電壓暫降、短時中斷GB/T17626.11電壓暫降60%UT、持續(xù)10個周波8脈沖磁場GB/T17626.95級抗擾度9阻尼震蕩磁場GB/T17626.105級抗擾度變電設(shè)備在線監(jiān)測裝置具備的電磁兼容性能厚德弘毅博學(xué)篤行第14

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帶靜電的物體進行放電時會產(chǎn)生放電電流，這個放電電流會產(chǎn)生短暫的高強度電磁場。放電時產(chǎn)生的短暫放電電流和相應(yīng)的電磁場可能引起電氣、電子設(shè)備發(fā)生故障，甚至損壞，如導(dǎo)致半導(dǎo)體器件接口的燒毀、場效應(yīng)管的失效、監(jiān)測裝置的短暫失控以及重啟、信號的紊亂、程序和數(shù)據(jù)的損失、邏輯錯誤等。ESD抗擾度試驗的目的就是檢驗電氣、電子設(shè)備或監(jiān)測系統(tǒng)在遭受這類靜電放電騷擾時的抗干擾性能。其中，人體是損壞器件的主要ESD源。ESD抗擾度試驗就是模擬人體、物體在接觸設(shè)備時產(chǎn)生的靜電放電或人體、物體對臨近物體的放電。其作用的方式主要有兩種：①直接通過能量的交換引起器件的損壞；②放電所引起的近場（電場和磁場的變化），造成設(shè)備的誤動作。靜電放電抗擾度試驗厚德弘毅博學(xué)篤行第15

頁ESD抗擾度試驗的設(shè)備連接示意圖如圖所示。其中EUT（EquipmentUnderTest）為被測設(shè)備，使用靜電槍對被測設(shè)備的不同部位進行放電試驗以檢測設(shè)備的ESD抗擾度性能。靜電放電發(fā)生器（ESDGenerator）即靜電放電模擬器(ESDSimulator)，俗稱靜電放電槍(ESDGun)，是電磁兼容測量與試驗中靜電放電抗擾度試驗中的重要設(shè)備，目的是為了檢驗電子設(shè)備受到外來靜電放電時能否正常工作，是國際電工委員會標(biāo)準(zhǔn)的唯一試驗設(shè)備。ESD抗擾度試驗設(shè)備連接示意圖厚德弘毅博學(xué)篤行第16

頁靜電放電發(fā)生器及靜電槍靜電放電發(fā)生器主要是應(yīng)用于系統(tǒng)級電子設(shè)備如手機、電腦的抗人體金屬模型靜電放電試驗，包括靜電發(fā)生器和靜電放電槍，如圖所示。靜電放電發(fā)生器中的靜電發(fā)生器的輸出有正也有負，它們的電壓雙極性高精度輸出連續(xù)可調(diào)，同時適用于更多的應(yīng)用領(lǐng)域以及未來新標(biāo)準(zhǔn)的要求，所以靜電放電發(fā)生器可用于絕大多數(shù)電氣與電子設(shè)備的靜電放電試驗。厚德弘毅博學(xué)篤行第17

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由于ESD抗擾度試驗主要測試的是被測設(shè)備對ESD抗擾度性能，同時放電測試點可以最大程度地測試被測設(shè)備的ESD抗擾度性能，選擇被測設(shè)備的放電測試點變得尤為重要。測試點可以包括以下位置：（1）與地之間具有電氣隔離的金屬外殼部分；（2）控制區(qū)或鍵盤區(qū)的任何位置，或人機接口的任何位置，如開關(guān)、旋鈕以及其他操作可接觸的位置；（3）指示器、LED(LCD)、插槽、連接器槽等；（4）其它任何可能受到靜電干擾的位置。

測試位置選擇厚德弘毅博學(xué)篤行第18

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早期研發(fā)的輸電線路雷擊故障錄波及定位系統(tǒng)的線上監(jiān)測終端，圖中1為做ESD抗擾度試驗時選擇的靜電放電測試點。厚德弘毅博學(xué)篤行第19

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由于ESD抗擾度試驗對環(huán)境的變化較為敏感，所以測試場地必須滿足以下幾個條件才能進行ESD抗擾度試驗，以保證試驗的精度。（1）測試場地必須控制溫濕度：溫度在15℃~35℃，濕度30%RH~60%RH；（2）測試桌上除了擺放待測設(shè)備外，不得擺放其它不相干的物體以免影響試驗精度；（3）靜電放電發(fā)生器使用前必須進行檢查，以確保輸出正常；（4）EUT和測試地的墻壁及任何金屬物必須保持1m以上的距離。

試驗條件厚德弘毅博學(xué)篤行第20

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各項準(zhǔn)備工作完成后即可開始ESD抗擾度試驗，試驗過程就是用靜電放電槍對已經(jīng)選擇的測試點進行一定次數(shù)（一般為5次或10次）和一定時間（1s~5s不等）的接觸放電或空氣放電(根據(jù)待測設(shè)備的不同特性選擇)，靜電放電電壓也有不同的等級，具體試驗等級如表所示。接觸放電空氣放電等級試驗電壓(±)，kV等級試驗電壓(±)，kV12122424363848415X待定X待定第21

頁電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗

當(dāng)電感性負載（如繼電器、接觸器等）在斷開時，由于開關(guān)觸點間隙的絕緣擊穿或觸點彈跳等原因，在斷開處將產(chǎn)生瞬態(tài)騷擾。當(dāng)電感性負載多次重復(fù)開關(guān)，則脈沖群又會以相應(yīng)的時間間隙多次重復(fù)出現(xiàn)。

該試驗是一種將由許多快速瞬變脈沖組成的脈沖群耦合到EUT的電源、信號、控制和接地端口的試驗。試驗脈沖的特點是：瞬變脈沖具有上升時間短、重復(fù)出現(xiàn)、能量低等特點。該試驗的目的是檢驗電氣和電子設(shè)備在遭受這類暫態(tài)騷擾影響時的性能。第22

頁(a)單個脈沖群波形EFT脈沖群試驗中的脈沖群一般持續(xù)時間為15ms，脈沖群間隔為300ms，單脈沖寬度為50ns，脈沖上升沿為5ns，脈沖群重復(fù)率為2.5kHz，如圖(a)、(b)所示。

(b)EFT脈沖群試驗波形第23

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設(shè)

備

布

局

試驗中此脈沖群由信號發(fā)生器產(chǎn)生，配合其它設(shè)備來檢測被測設(shè)備的EFT脈沖群抗擾度，試驗設(shè)備布局如圖所示。第24

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接地參考平面應(yīng)為一塊最小厚度為0.25mm的金屬板（銅或鋁），也可以使用其他的金屬材料，但它們的最小厚度不小于0.65mm。參考接地板（必須與保護接地相連）的外圍至少比被試品每邊的幾何投影尺寸大出0.1m。耦合板和所有其他導(dǎo)電性結(jié)構(gòu)之間的最小距離為0.5m。耦合裝置和受試設(shè)備之間的信號線和電源線的長度應(yīng)為0.5m±0.05m。受試品應(yīng)放置在接地參考平面上，并用厚度為0.1m±0.01m的絕緣支座與之隔開，若被試設(shè)備為臺式設(shè)備，則應(yīng)位于接地平面上方0.8m±0.08m處，受試品和所有其它具有導(dǎo)電性的結(jié)構(gòu)（例如屏蔽室的墻壁）之間的最小距離應(yīng)大于0.5m。注意事項第25

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在布局試驗設(shè)備和被測設(shè)備的過程中，要保證測試場地和測試平臺滿足一些基本條件：①測試場地必須控制溫濕度：溫度在15℃~35℃，濕度30%RH~60%RH；②測試桌上除了擺放待測設(shè)備外，不得擺放其它不相干的物體以免影響試驗精度。

根據(jù)不同的被測設(shè)備選擇被測方所要求的試驗等級，如表所示。

等級供電單元端口輸入/輸出信號、數(shù)據(jù)和控制端口脈沖電壓峰值(kV)重復(fù)頻率(千次/s)脈沖電壓峰值(kV)重復(fù)頻率(千次/s)10.550.2552150.5532515442.525X待定第26

頁浪涌抗擾度試驗

浪涌，顧名思義就是超出正常工作穩(wěn)定值的瞬間電壓和電流峰值。在智能電網(wǎng)電力系統(tǒng)中有很多種情況會產(chǎn)生浪涌，主要分為內(nèi)部浪涌和外部浪涌兩種情況。內(nèi)部浪涌主要指電力系統(tǒng)內(nèi)部開關(guān)瞬態(tài)產(chǎn)生的浪涌，有以下幾種情況：（1）主要的電力系統(tǒng)切換騷擾，例如電容器組的切換；（2）配電系統(tǒng)中較小的局部開關(guān)動作或負載變化；（3）與開關(guān)器件（如晶閘管）相關(guān)聯(lián)的諧振現(xiàn)象；（4）各種系統(tǒng)故障，例如設(shè)備組合對接地系統(tǒng)的短路和電弧故障。第27

頁外部浪涌主要由雷電瞬態(tài)引起，主要有以下幾種情況：(1)直接雷，它擊于外部（戶外）電路，注入的大電流流過接地電阻或外部電路阻抗而產(chǎn)生電壓；(2)間接雷（即云層之間或云層中的雷擊或附近物體的雷擊產(chǎn)生的電磁場），它在建筑物內(nèi)、外導(dǎo)體上產(chǎn)生的感應(yīng)電壓和電流；(3)附近直接對地放電的雷電電流，當(dāng)它耦合到設(shè)備組合接地系統(tǒng)的公共接地路徑時產(chǎn)生感應(yīng)電壓。第28

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浪涌抗擾度試驗的目的就是為了評價電氣和電子設(shè)備對上述浪涌的抗干擾能力。

試驗設(shè)備布局如下圖所示，其中的EUT為待測設(shè)備，耦合網(wǎng)絡(luò)應(yīng)根據(jù)不同測試點選用以下其中一種耦合電路：①用于電源或控制線的電容耦合（并聯(lián)耦合）；②用于電源或控制線的電感耦合（通過串聯(lián)變壓器耦合）；③用于通訊線路的氣體放電管耦合。同時還應(yīng)配備去耦電路即反向濾波器。第29

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在布局試驗設(shè)備和被測設(shè)備的過程中，要保證測試場地和測試平臺滿足一些基本條件：①測試場地必須控制溫濕度與氣壓：溫度在15℃~35℃，濕度在30%RH~60%RH，大氣壓力8686kPa~106kPa；②測試桌上除了擺放待測設(shè)備外，不得擺放其它不相干的物體以免影響試驗精度；③實驗室應(yīng)單獨設(shè)置，避免其電磁環(huán)境影響試驗結(jié)果?；緱l件第30

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波形發(fā)生器原理接線圖如下圖所示。其中，U為高壓電源電壓，RC為充電電阻，CC為儲能電容，RS1、RS2為波長形成電阻，Rm為阻抗匹配電阻，Lm為阻抗匹配電感。第31

頁GB/T17626.5-2008描述了兩種不同的波形發(fā)生器，其輸出試驗波形為短路電流和開路輸出電壓。短路輸出電流要在0.25kA~2kA以上，誤差±10%，開路輸出電壓等級如下表所示。等級電源耦合方式線——線線——地0NA1NA0.520.51.031.02.042.04.0X待定浪涌抗擾度電壓等級厚德弘毅博學(xué)篤行第32

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浪涌抗擾度試驗的過程分三步：①將同樣的電壓施加于電源端口上以及I/O接口上；②正負極性電壓各至少試驗5次，每次可疊加在交流電壓的不同相位上；③兩次浪涌之間的間隔時間取決于內(nèi)部保護裝置的恢復(fù)時間，重復(fù)率最快為1次/min。下圖列舉了電源端口、報警端口和以太網(wǎng)端口的配置情況。（a）電源端口測試配置厚德弘毅博學(xué)篤行第33

頁（b）報警端口測試配置厚德弘毅博學(xué)篤行第34

頁（c）以太網(wǎng)端口測試配置第35

頁射頻輻射抗擾度試驗射頻輻射會產(chǎn)生電磁場，對設(shè)備的干擾往往是由設(shè)備操作、維修和安全檢查人員在使用電磁輻射源產(chǎn)生的，汽車點火裝置、電焊機、晶閘管整流器、熒光燈工作時產(chǎn)生的寄生輻射(以上屬無意發(fā)射)也都會產(chǎn)生射頻輻射干擾。電力系統(tǒng)在運行過程中也會產(chǎn)生射頻電磁輻射，影響電力設(shè)備的穩(wěn)定運行。電力系統(tǒng)中，高壓與超高壓輸配電線路導(dǎo)體表面電場強度很強，常引發(fā)電暈放電和間隙放電，產(chǎn)生射頻電磁輻射。第36

頁目前，智能監(jiān)測設(shè)備的遠程無線通信一般采用的是GSM、GPRS、3G、4G通訊，這些都是射頻設(shè)備。對于一些數(shù)據(jù)量比較大的智能監(jiān)測設(shè)備來說，這些通訊單元的平均開啟時間較長、較頻繁，同時也就導(dǎo)致設(shè)備周圍的射頻輻射磁場環(huán)境比較復(fù)雜，有可能影響智能監(jiān)測設(shè)備其它單元器件的正常工作。因此，考慮智能監(jiān)測設(shè)備對此類射頻輻射電磁場的抗干擾性能是十分必要的。而射頻輻射抗擾度試驗的目的就是檢驗設(shè)備對輻射電磁能的裝置所產(chǎn)生的電磁場的抗干擾能力。試驗所采用的電磁波頻率設(shè)定在80MHz～1000MHz范圍內(nèi)，使用1kHz的正弦波進行調(diào)幅，調(diào)制度為80%。第37

頁射頻輻射抗擾度試驗要求：在沒有放置待測設(shè)備時進行試驗的實驗室空間應(yīng)能保持均勻電磁場環(huán)境。為了滿足這個條件，試驗空間一般采用以下兩種方法：（1）帶狀線橫電磁波測試室?guī)罹€橫電磁波測試室，又叫平行板傳輸線測試室，為敞開結(jié)構(gòu)，示意圖如圖所示。其中，es為信號電源，ZS為電源阻抗，ZL為負載阻抗。第38

頁（2）橫向電磁波傳輸室橫向電磁波傳輸室是一種封閉式的矩形金屬機構(gòu)，它是由兩端呈方(矩)錐形的一段方(矩)形同軸傳輸線所構(gòu)成，小室的中央放置一塊金屬板，稱為芯板。在芯板上放置試品，芯板和外殼(外屏蔽)之間用高頻介質(zhì)棒隔開。示意圖如圖所示。第39

頁在射頻輻射抗擾度測試過程中，為了消除外界因素對試驗的騷擾，射頻輻射電磁場抗擾度試驗應(yīng)在屏蔽室內(nèi)進行。當(dāng)在屏蔽室內(nèi)進行試驗時，應(yīng)注意以下幾點：（1）試品和試驗設(shè)備應(yīng)由三相電源中不同的相分別供電，以減少試驗設(shè)備和試品之間的相互影響；（2）在屏蔽室內(nèi)不要使用日光燈，因為它是一種寬帶騷擾源；（3）安裝設(shè)備時，應(yīng)使來自墻壁的反射為最小；（4）在試驗中，不必要的人員和物體均應(yīng)離開屏蔽室，以減少分布電容和反射造成的測量誤差。注意事項第40

頁射頻輻射抗擾度試驗等級等級磁場強度(V/m)1123310X待定第41

頁工頻磁場抗擾度試驗工頻磁場是由導(dǎo)體中的工頻電流產(chǎn)生的，或極少量的由附近的其他裝置所產(chǎn)生，電力系統(tǒng)正常運行狀態(tài)下，不同電壓等級的電力設(shè)施產(chǎn)生的工頻磁場強度如表所示：對象名稱或參數(shù)磁場強度（A/m）500kV及750kV戶外配電裝置380kV架空輸電線路10～1001～40330kV架空輸電線路10～100110kV架空輸電線路0.1～2.06～35kV架空線路0.1～26kV母線橋40～1006kV戶內(nèi)配電裝置200第42

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試驗的基本配置包括參考接地板、待測設(shè)備EUT、感應(yīng)線圈與電流發(fā)生器，設(shè)備布局如圖所示。試驗配置工頻磁場抗擾度試驗設(shè)備布局第43

頁工頻磁場發(fā)生器原理接線圖如圖所示，利用控制回路C控制雙向可控硅導(dǎo)通的相位和時間，以調(diào)節(jié)電流的大小并得到連續(xù)工頻電流試驗或短時工頻電流試驗。工頻磁場發(fā)生器原理接線圖第44

頁工頻磁場抗擾度試驗等級等級磁場強度A/m工頻穩(wěn)態(tài)磁場工頻短時磁場11—23—310—43030051001000X

待定

待定第45

頁脈沖磁場抗擾度試驗當(dāng)雷擊建筑物或者其他金屬架構(gòu)以及低壓、中壓和高壓電力系統(tǒng)中故障的起始暫態(tài)會產(chǎn)生脈沖磁場，在高壓變電站，斷路器切合高壓母線和高壓線路也都會產(chǎn)生脈沖磁場。脈沖磁場抗擾度試驗的目的是檢驗設(shè)備對雷擊產(chǎn)生的脈沖磁場的抗干擾能力。試驗主要適用于安裝在工業(yè)設(shè)施和發(fā)電廠以及中壓和高壓變電站的電子電氣設(shè)備，對于配電網(wǎng)中的電子電氣設(shè)備，只在特殊情況下才進行此項試驗。第46

頁脈沖磁場抗擾度試驗設(shè)備布局如圖所示(以臺式設(shè)備為例)。圖中，GRP為接地平面，C1為供電回路，A為安全接地，C2為信號回路，S為絕緣支座，L為通信線路，EUT為被測設(shè)備，B接電源，Is為感應(yīng)線圈，D接信號源、模擬器，E為接地端子，G接至脈沖磁場試驗發(fā)生器。第47

頁脈沖磁場試驗發(fā)生器的原理接線圖如圖所示。圖中，U為高壓電源，LR為上升時間整形電阻，RC為充電電阻，Rm為阻抗匹配電阻，RC為儲能電阻，RS1、RS2為脈沖寬度整形電阻。第48

頁脈沖磁場試驗發(fā)生器的輸出電流波形為6.4/16，波形如圖所示。在試驗過程中，應(yīng)該對被測設(shè)備在每個垂直方向上在每一種極性下進行至少5次脈沖磁場試驗，脈沖之間的時間間隔應(yīng)不小于10秒。第49

頁脈沖磁場抗擾度試驗等級等級脈沖磁場強度(A/m)峰值1—3100430051000X待定需要指出的是，較高級別的設(shè)備線路可以進入嚴酷等級較低的環(huán)境。第50

頁阻尼振蕩磁場抗擾度試驗當(dāng)發(fā)電廠或高壓變電站中的隔離開關(guān)切合的瞬間時，在其附近的空間會產(chǎn)生衰減的振蕩磁場，即阻尼振蕩磁場。所以阻尼振蕩磁場抗擾度試驗的目的是檢驗安裝在發(fā)電廠或高壓變電站中的電子電氣設(shè)備對這類阻尼振蕩磁場的抗干擾能力。阻尼振蕩磁場抗擾度試驗主要適用于安裝在發(fā)電廠和高壓變電站中的電子電氣設(shè)備。

IEC610