全國(guó)工程建設(shè)系統(tǒng)職業(yè)技能競(jìng)賽（無(wú)損檢測(cè)員）備賽試題庫(kù)500題（含答案）

PAGEPAGE1全國(guó)工程建設(shè)系統(tǒng)職業(yè)技能競(jìng)賽（無(wú)損檢測(cè)員）備賽試題庫(kù)500題（含答案）一、單選題1.在壓電晶體的電極上施加高頻交變電壓時(shí)，晶體按電壓的交變頻率和大小在厚度方向上相應(yīng)地伸長(zhǎng)或縮短，產(chǎn)生（），從而輻射出高頻聲波，這種現(xiàn)象稱為逆壓電效應(yīng)A、波的傳播B、機(jī)械振動(dòng)C、電磁輻射D、水波答案：B解析：逆壓電效應(yīng)是指當(dāng)在壓電晶體的電極上施加高頻交變電壓時(shí)，晶體會(huì)根據(jù)電壓的交變頻率和大小在厚度方向上發(fā)生相應(yīng)的伸長(zhǎng)或縮短。這種物理變化實(shí)質(zhì)上是機(jī)械振動(dòng)，因?yàn)榫w在電壓作用下產(chǎn)生了周期性的形變。這種機(jī)械振動(dòng)進(jìn)而輻射出高頻聲波。因此，正確答案是B，即機(jī)械振動(dòng)。2.引起底片黑度過(guò)大的原因是（）A、曝光參數(shù)過(guò)大B、定影時(shí)間過(guò)長(zhǎng)C、顯影時(shí)間過(guò)長(zhǎng)D、顯影溫度過(guò)低答案：A解析：底片黑度的大小主要由曝光量決定，曝光量越大，底片上的感光材料接收到的光量就越多，導(dǎo)致銀鹽顆粒還原成金屬銀的數(shù)量增加，從而使底片黑度增大。選項(xiàng)A“曝光參數(shù)過(guò)大”意味著曝光量增大，是引起底片黑度過(guò)大的直接原因。而其他選項(xiàng)如定影時(shí)間、顯影時(shí)間和顯影溫度，主要影響底片的清晰度和對(duì)比度，而非黑度。因此，正確答案是A。3.裂紋檢出率與透照厚度比K值的關(guān)系是（）A、K值越大裂紋檢出率越高B、裂紋檢出率與K值的平方成反比C、裂紋檢出率與K值無(wú)關(guān)D、K值越小裂紋檢出率越高答案：D解析：答案解析：在射線檢測(cè)中，透照厚度比K值越小，表示射線束的角度越大，能夠覆蓋更多的檢測(cè)區(qū)域，從而更容易發(fā)現(xiàn)裂紋等缺陷。當(dāng)K值較小時(shí)，可增大可檢測(cè)范圍，提高缺陷的檢出概率。相反，K值越大，射線束角度越小，檢測(cè)范圍相對(duì)較窄，裂紋檢出率就越低。所以，K值越小裂紋檢出率越高，選項(xiàng)D正確。4.調(diào)節(jié)探傷儀面板上的“抑制”旋鈕會(huì)影響探傷儀的（）A、垂直線性B、動(dòng)態(tài)范圍C、靈敏度D、以上全部答案：D5.異質(zhì)界面上，當(dāng)超聲波橫波的折射角等于90℃時(shí)的縱波入射角稱為（）A、第一臨界角B、第二臨界角C、第三臨界角D、折射角答案：B6.如果超聲波頻率增加而晶片直徑不變，則聲束擴(kuò)散角將（）A、減小B、保持不變C、增大D、隨聲速均勻變化答案：A7.X射線管的管電壓是指（）A、X射線管承載的最大峰值電壓B、X射線管承載的平均電壓C、X射線管承載的有效電壓D、以上都不對(duì)答案：A8.組成直探頭的主要無(wú)件有（）等A、壓電晶片.電極層B、吸收塊C、保護(hù)膜.外殼D、以上都是答案：D解析：答案解析：直探頭是一種常見(jiàn)的超聲檢測(cè)探頭。在其結(jié)構(gòu)中，壓電晶片是產(chǎn)生和接收超聲波的核心元件；電極層用于傳輸電信號(hào)；吸收塊用于減少雜波和反射；保護(hù)膜起到保護(hù)壓電晶片的作用；外殼則對(duì)整個(gè)探頭起支撐和防護(hù)作用。綜上所述，組成直探頭的主要元件包括壓電晶片、電極層、吸收塊、保護(hù)膜和外殼，選項(xiàng)D正確。9.（）因其淬火組織是單相固溶體，故其強(qiáng)度和塑性均較高，且耐蝕性優(yōu)良A、鋁硅合金B(yǎng)、鋁銅合金C、鋁鎂合金D、鋁鋅合金答案：D10.TOFD檢測(cè)的下表面盲區(qū)與哪些因素有關(guān):()A、偏離焊縫中心線的位置B、探頭中心間距C、焊縫厚度D、以上都是答案：D11.關(guān)于柵瓣的去除方法，以下哪種做法是正確的（）A、調(diào)整陣元間距與半波長(zhǎng)的關(guān)系，使陣元間距小于半波長(zhǎng)B、調(diào)整陣元間距與半波長(zhǎng)的關(guān)系，使陣元間距小于波長(zhǎng)C、調(diào)整陣元間距與半波長(zhǎng)的關(guān)系，使陣元間距大于波長(zhǎng)D、調(diào)整陣元間距與半波長(zhǎng)的關(guān)系，使陣元間距大于半波長(zhǎng)答案：A解析：答案解析：在天線陣列中，柵瓣的出現(xiàn)與陣元間距和波長(zhǎng)的關(guān)系密切相關(guān)。當(dāng)陣元間距小于半波長(zhǎng)時(shí)，可以有效地避免柵瓣的產(chǎn)生。因?yàn)闁虐晖ǔＴ陉囋g距過(guò)大時(shí)出現(xiàn)，而小于半波長(zhǎng)的間距設(shè)置能更好地控制波束特性，保證天線性能。所以，選項(xiàng)A是正確的答案。12.哪種顯像劑不能推薦在水洗型滲透探傷中使用（）A、干粉B、塑料薄膜C、溶劑懸浮D、水溶性答案：D13.以下有關(guān)背散射檢查的說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）A、背散射檢查即“B”標(biāo)記檢查B、“B”影像較黑，說(shuō)明背散射嚴(yán)重C、“B”影像較白，說(shuō)明背散射嚴(yán)重D、在暗盒背面貼附一個(gè)鉛字“B”標(biāo)記答案：B解析：答案解析：在射線檢測(cè)中，背散射檢查是通過(guò)在暗盒背面貼附一個(gè)鉛字“B”標(biāo)記來(lái)進(jìn)行的，即“A”選項(xiàng)正確。當(dāng)出現(xiàn)背散射時(shí)，“B”影像較白說(shuō)明背散射嚴(yán)重，而不是較黑，所以“B”選項(xiàng)錯(cuò)誤，“C”選項(xiàng)正確。“D”選項(xiàng)在暗盒背面貼附一個(gè)鉛字“B”標(biāo)記的說(shuō)法也是正確的。綜上所述，答案選“B”。14.下列關(guān)于干法的,敘述中,正確的是：()A、試件溫度高時(shí),干法比濕法號(hào)B、干法是以空氣為媒質(zhì)施加磁粉的方法C、在檢出近表面內(nèi)部缺陷的場(chǎng)合,干法比濕法好D、以上都對(duì)答案：D15.以下哪種是PAUT自動(dòng)掃查時(shí)必須的（）？A、某種形式的導(dǎo)向裝置B、位置編碼器C、A和BD、無(wú)特別之處答案：C16.能夠進(jìn)行磁粉探傷的材料是：（）A、磁鋼B、奧氏體不銹鋼C、黃銅D、鋁答案：A17.聯(lián)合雙直探頭的最主要用途是：（）A、探測(cè)近表面缺陷B、精確測(cè)定缺陷長(zhǎng)度C、精確測(cè)定缺陷高度D、用于表面缺陷探傷答案：A18.軸類鍛件最主要探測(cè)方向是：（）A、軸向直探頭探傷B、徑向直探頭探傷C、斜探頭外援面軸向探傷D、斜探頭外圓面周向探傷答案：B19.管電壓.管電流不變，將X射線管陽(yáng)極靶由鎢換成鋼，產(chǎn)生的X射線最短波長(zhǎng)如何變化？（）A、變硬B、變軟C、不變D、不一定答案：C20.（）是材料抵抗局部塑性變形或表面損傷的能力A、強(qiáng)度B、硬度C、密度D、塑性答案：B21.評(píng)定一種滲透劑發(fā)射熒光的能力時(shí)，通常檢測(cè)的值是（）A、顯示的實(shí)際發(fā)光量B、材料發(fā)熒光所需要的黑光量C、熒光材料與其他滲透劑的相對(duì)發(fā)光量D、熒光材料與背景的相對(duì)發(fā)光量答案：C22.對(duì)無(wú)損檢測(cè)的認(rèn)識(shí)的敘述中，下列各條中比較正確的是（）A、在任何情況下，只要根據(jù)一種無(wú)損檢測(cè)方法的檢測(cè)結(jié)果，就能斷定被檢對(duì)象的內(nèi)部質(zhì)量情況B、為了提高無(wú)損檢測(cè)的可靠性，無(wú)論用什么檢測(cè)方法都應(yīng)力求采用最高的檢測(cè)靈敏度C、無(wú)損檢測(cè)的結(jié)果可以作為評(píng)定工件或材料質(zhì)量的重要依據(jù)，但有時(shí)也需要根據(jù)其他檢驗(yàn)方法所得到的檢測(cè)參數(shù)作綜合評(píng)定D、由于無(wú)損檢測(cè)的結(jié)果往往來(lái)自間接獲得的物理參數(shù)，因此這種結(jié)果僅僅提供了對(duì)工件或材料評(píng)價(jià)的.不重要的參考數(shù)據(jù)答案：C23.在材料手冊(cè)中常?？吹?____)兩種符號(hào)，它們分別表示（d為試件直徑）兩種不同長(zhǎng)度試件測(cè)定的伸長(zhǎng)率A、B、C、D、以上不都對(duì)答案：C解析：在材料力學(xué)性能的測(cè)試中，伸長(zhǎng)率是一個(gè)重要的指標(biāo)。不同長(zhǎng)度的試件測(cè)定的伸長(zhǎng)率會(huì)用特定的符號(hào)表示。選項(xiàng)C中的符號(hào)是在材料手冊(cè)中常用于表示特定長(zhǎng)度試件測(cè)定的伸長(zhǎng)率的標(biāo)準(zhǔn)符號(hào)。選項(xiàng)A、B所代表的符號(hào)并非用于表示題目中所要求的兩種不同長(zhǎng)度試件測(cè)定的伸長(zhǎng)率。所以，正確答案是選項(xiàng)C。24.下面關(guān)于裂紋試塊使用目的的說(shuō)法正確的是（）A、為了可以算出缺陷的大小和深度B、為了反映是否有足夠的探傷靈敏度C、為了確定滲透劑是否還有足夠的熒光強(qiáng)度D、以上都不正確答案：B25.采用超聲相控陣方法進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，在其他參數(shù)不變的情況下，隨著晶片數(shù)的增多，以下說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）A、近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度增加B、聚焦尺寸減小C、-6dB處的最大電子偏轉(zhuǎn)角度增加D、以上都不對(duì)答案：D26.在中薄板的直探頭多次反射法探傷中，由于多次反射之間的（）作用，使小缺陷多次反射回波高度常常是第一次要比第二次偏低A、干涉B、疊加C、衍射D、駐波答案：B27.比Ф3mm長(zhǎng)橫孔反射小7dB的同聲程長(zhǎng)橫孔直徑是（）A、Ф0.6mmB、Ф1mmC、Ф2mmD、Ф0.3mm答案：A28.無(wú)損檢測(cè)員國(guó)家職業(yè)標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)無(wú)損檢測(cè)員的實(shí)際情況，將無(wú)損檢測(cè)員分為（）等級(jí)A、3個(gè)B、4個(gè)C、5個(gè)D、以上都不對(duì)答案：B29.聲波的速度主要取決于聲波通過(guò)的（）.A、材質(zhì)和波型B、距離C、時(shí)間D、以上都不對(duì)答案：A30.鍛造折迭（）A、可能發(fā)生在表面的任何部位，與零件軸線無(wú)關(guān)B、總是在熱中心線上發(fā)現(xiàn)C、位于零件表面，與長(zhǎng)軸成90°角D、可發(fā)生在零件中的任何部位，總是沿著鍛造方向延伸答案：A31.下面哪種裂紋通常是由于局部過(guò)熱引起，且呈現(xiàn)為不規(guī)則的網(wǎng)狀或分散的細(xì)線條狀？（）A、疲勞裂紋B、磨削裂紋C、弧坑裂紋D、熱影響區(qū)裂紋答案：B32.下列哪種方法有助于磁粉顯示的解釋？（）A、使用放大鏡B、復(fù)制顯示磁痕C、在顯示形成過(guò)程中觀察顯示形成D、以上都是答案：D33.晶片直徑D=20mm的直探頭，在鋼中測(cè)得其零輻射角為10o，該探頭探測(cè)頻率約為（）A、2.5MHZB、5MHZC、4MHZD、2MHZ答案：D34.有關(guān)黑度測(cè)定的說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）A、底片黑度用黑度計(jì)測(cè)定B、最大黑度一般在底片中部焊接接頭熱影響區(qū)位置C、最小黑度一般在底片兩端焊縫余高中心位置D、有效評(píng)定區(qū)內(nèi)黑度的平均值要在規(guī)定的范圍內(nèi)答案：D解析：黑度測(cè)定是射線檢測(cè)中的重要環(huán)節(jié)，用于評(píng)估底片的曝光情況。A項(xiàng)正確，黑度通常用黑度計(jì)來(lái)測(cè)量。B項(xiàng)也正確，因?yàn)楹附咏宇^的熱影響區(qū)由于吸收更多射線，往往呈現(xiàn)最大黑度。C項(xiàng)同樣正確，底片兩端由于射線散射等因素，黑度通常較低。而D項(xiàng)錯(cuò)誤，因?yàn)橛行гu(píng)定區(qū)內(nèi)黑度并非要求平均值在特定范圍內(nèi)，而是要求該區(qū)域內(nèi)的黑度需滿足一定標(biāo)準(zhǔn)，但不特指平均值。35.換能器尺寸不變而頻率提高時(shí)：（）A、橫向分辨力降低B、聲束擴(kuò)散角增大C、近場(chǎng)長(zhǎng)度增大D、指向性變鈍答案：C36.大平底距離增加一倍，其回波下降（）A、3dBB、9dBC、12dBD、6dB答案：D37.剩余磁性有助于()A、退磁B、解釋和評(píng)定顯示C、焊接金屬的沉積D、以上都是答案：B38.采用相敏檢波法在抑制了干擾信號(hào)的同時(shí)，輸出的缺陷信號(hào)損失最小的情況是（）A、缺陷信號(hào)與干擾信號(hào)相位差為90°B、缺陷信號(hào)與干擾信號(hào)相位差為45°C、缺陷信號(hào)與干擾信號(hào)相位差為60°D、缺陷信號(hào)與干擾信號(hào)相位差為30°答案：A解析：相敏檢波法通過(guò)比較信號(hào)與參考信號(hào)的相位關(guān)系來(lái)抑制干擾信號(hào)。當(dāng)缺陷信號(hào)與干擾信號(hào)的相位差為90°時(shí)，干擾信號(hào)在相敏檢波過(guò)程中幾乎不被檢測(cè)，因?yàn)樗鼈兊南辔徽?，從而最大限度地減少了干擾信號(hào)的影響。同時(shí)，由于缺陷信號(hào)與參考信號(hào)的相位關(guān)系通常被設(shè)定為一致或接近一致，因此缺陷信號(hào)的損失會(huì)是最小的。所以，選項(xiàng)A是正確的。39.在同種固體材料中，縱波聲速CL橫波聲速CS表面波聲速CR之間的關(guān)系是：（）A、CR>CS>CLB、CS>CL>CRC、L>CS>CRD、以上都不對(duì)答案：C40.影響儀器靈敏度的旋紐有（）A、發(fā)射強(qiáng)度和增益旋鈕B、衰減器和抑制C、深度補(bǔ)償D、以上都是答案：D41.在滲透探傷中對(duì)操作人員要求最高的工序是（）A、預(yù)清洗B、乳化C、對(duì)顯示跡痕的判斷與解釋D、滲透劑的清除答案：C42.用K=2.5探頭探測(cè)厚度16mm的板對(duì)接焊縫，探頭移動(dòng)區(qū)長(zhǎng)度為（）A、50mmB、100mmC、130mmD、可以取任意值答案：B43.下列哪種缺陷能用磁粉探傷檢出？（）A、鋼錠中心的縮孔B、雙面焊的未焊透C、鋼材表面裂紋D、鋼板內(nèi)深為20mm的分層答案：C44.縱波從楔塊進(jìn)入到鋼中時(shí)，當(dāng)入射角大于第Ⅰ臨界角小于第Ⅱ臨界角時(shí)，鋼中存在的波形為（）A、橫波B、縱波C、表面波D、橫波和縱波答案：A45.分貝與奈培的換算關(guān)系是（）A、1奈培=8.68分貝B、1分貝=0.115奈培C、A和BD、以上都不對(duì)答案：C46.下列關(guān)于漏磁場(chǎng)的敘述中，正確的是（）A、缺陷方向與磁力線平行時(shí)，漏磁場(chǎng)最大B、漏磁場(chǎng)的大小與工件的磁化程度無(wú)關(guān)C、漏磁場(chǎng)的大小與缺陷的深度比有關(guān)D、工件表層下，缺陷所產(chǎn)生的漏磁場(chǎng)，隨缺陷的埋藏深度增加而增大答案：C47.酸洗通常用來(lái)清洗（）A、水B、油膜C、鐵銹D、灰塵答案：C48.與線圈自感系數(shù)L有關(guān)的是（）A、線圈尺寸.匝數(shù).幾何形狀.線圈中煤質(zhì)的分布以及通過(guò)線圈的電流B、線圈尺寸.幾何形狀.線圈中煤質(zhì)的分布以及通過(guò)線圈的電流C、線圈尺寸.匝數(shù).線圈中煤質(zhì)的分布以及通過(guò)線圈的電流D、線圈尺寸.匝數(shù).幾何形狀.線圈中煤質(zhì)的分布答案：D解析：自感系數(shù)L是描述線圈自身產(chǎn)生磁場(chǎng)能力的物理量，它取決于線圈本身的物理特性，包括線圈的尺寸（如直徑、長(zhǎng)度）、匝數(shù)（線圈的圈數(shù)）、幾何形狀（如是否為平面線圈或螺旋線圈）、以及線圈中媒質(zhì)的分布（如是否填充有鐵芯等）。而通過(guò)線圈的電流雖然會(huì)影響線圈產(chǎn)生的磁場(chǎng)強(qiáng)度，但并不改變線圈的自感系數(shù)L。因此，與線圈自感系數(shù)L有關(guān)的是線圈尺寸、匝數(shù)、幾何形狀和線圈中媒質(zhì)的分布，即選項(xiàng)D。49.滲透探傷時(shí),（）方法可以促進(jìn)滲透能力,增加滲透速度A、加熱滲透液B、加壓滲透液C、振動(dòng)滲透液D、增加滲透液的量答案：C解析：在滲透探傷過(guò)程中，為了提高滲透能力和速度，可以采取多種措施。選項(xiàng)A加熱滲透液雖然可以加速分子的運(yùn)動(dòng)，但通常不是首選，因?yàn)闇囟瓤刂茝?fù)雜且可能影響材料性質(zhì)。選項(xiàng)B加壓滲透液適用于某些特定情況，但并非直接增加滲透能力的常用方法。選項(xiàng)D增加滲透液的量在理論上可能增加滲透面積，但不一定提高滲透速度。而選項(xiàng)C振動(dòng)滲透液通過(guò)物理振動(dòng)使表面微裂紋或缺陷處的滲透液更易于滲透，因此是促進(jìn)滲透能力和增加滲透速度的有效方法。故正確答案為C。50.下列關(guān)于鋼磁特性的敘述正確的為（）A、一般含碳量越多，矯頑力越小B、一般經(jīng)淬火的材料矯頑力大C、含碳量越高的鋼，一般磁導(dǎo)率也越高D、奧氏體不銹鋼顯示的磁性強(qiáng)答案：B51.用濕法連續(xù)法對(duì)零件進(jìn)行夾頭通電磁化后，要求在進(jìn)行線圈通電磁化為了正確地進(jìn)行線圈磁化，需要：（）A、將零件上所用的慈懸液擦掉并進(jìn)行徹底的清洗厚再進(jìn)行線圈磁化B、退磁后在進(jìn)行線圈磁化C、評(píng)定夾頭通電磁化的顯示后將零件放入線圈繼續(xù)進(jìn)行檢驗(yàn)D、以上都不對(duì)答案：C52.工業(yè)用X光機(jī)的X射線管多用鎢作靶材料，這首先是因?yàn)殒u的（）A、來(lái)源方便B、價(jià)格低廉C、原子序數(shù)大D、熔點(diǎn)高答案：C53.當(dāng)磁極間距為200mm時(shí)，直流電磁軛的提升力至少應(yīng)為：（）A、177NB、44NC、77ND、47N答案：B54.施加非懸浮式顯像劑的方法是（）A、噴B、擦C、刷D、浸答案：A55.受磁場(chǎng)吸引微弱的材料是：（）A、順磁性的B、鐵磁性的C、隱磁性的D、抗磁性的答案：A56.道德是人們應(yīng)當(dāng)遵守的（）和標(biāo)準(zhǔn)A、規(guī)范B、行為準(zhǔn)則C、職業(yè)守則D、規(guī)章制度答案：B57.放射性同位素活度的單位是（）A、焦耳B、庫(kù)侖C、毫安D、居里答案：D解析：答案解析：放射性同位素活度的度量單位有多種，其中常用的是居里（Ci）。焦耳是能量的單位，庫(kù)侖是電荷量的單位，毫安是電流的單位，都不是用于衡量放射性同位素活度的。而居里是專門(mén)用來(lái)表示放射性活度的單位。所以，正確答案是選項(xiàng)D。58.黑度計(jì)是（）A、測(cè)量射線強(qiáng)度的儀表B、測(cè)量底片黑度的儀器C、測(cè)量材料密度的儀表D、測(cè)量管電流的儀表答案：B解析：黑度計(jì)主要用于測(cè)量和評(píng)估攝影底片或感光材料的黑度，即曝光后材料上光密度的變化。這種儀器對(duì)于評(píng)估射線攝影（如X射線、γ射線等）的質(zhì)量至關(guān)重要，因?yàn)樗苯雨P(guān)聯(lián)到圖像的對(duì)比度和清晰度。選項(xiàng)A錯(cuò)誤，因?yàn)楹诙扔?jì)不直接測(cè)量射線強(qiáng)度；選項(xiàng)C錯(cuò)誤，因?yàn)樗c材料密度無(wú)直接關(guān)聯(lián)；選項(xiàng)D錯(cuò)誤，因?yàn)樗粶y(cè)量電流。因此，正確答案是B，黑度計(jì)是測(cè)量底片黑度的儀器。59.下列（）具有多種不同的波速A、縱波B、切變波C、橫波D、蘭姆波答案：D60.下列哪種技術(shù)較好地解決了檢測(cè)靈敏度和檢測(cè)深度不能兼顧的問(wèn)題（）A、常規(guī)渦流檢測(cè)B、陳列渦流檢測(cè)C、遠(yuǎn)場(chǎng)渦流檢測(cè)D、脈沖渦流檢測(cè)答案：D解析：脈沖渦流檢測(cè)技術(shù)通過(guò)發(fā)送一個(gè)短暫的脈沖電流到探頭線圈中，產(chǎn)生瞬態(tài)磁場(chǎng)，隨后在金屬導(dǎo)體中產(chǎn)生渦流。此渦流隨時(shí)間衰減，并被探頭接收。與常規(guī)渦流檢測(cè)相比，脈沖渦流能更深入地穿透材料，并對(duì)表面和近表面缺陷有更高的靈敏度，從而較好地解決了檢測(cè)靈敏度和檢測(cè)深度不能兼顧的問(wèn)題。因此，正確答案是D，脈沖渦流檢測(cè)。61.磁感應(yīng)線在什么位置離開(kāi)磁鐵？（）A、北極B、南極C、北極和南極D、以上都不是答案：A62.單晶片直探頭接觸法探傷中，與探測(cè)面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出，這是因?yàn)椋ǎ〢、近場(chǎng)干擾B、材質(zhì)衰減C、盲區(qū)D、折射答案：C63.要抑制管材直徑和電導(dǎo)率變化所產(chǎn)生干擾信號(hào)，可以選用哪種電路（）A、高通電路B、低通電路C、平衡電橋電路D、移相電路答案：A解析：答案解析：在管材檢測(cè)中，直徑和電導(dǎo)率變化產(chǎn)生的干擾信號(hào)通常屬于低頻信號(hào)。高通電路具有允許高頻信號(hào)通過(guò)，抑制低頻信號(hào)的特性。選用高通電路可以讓高頻的有用信號(hào)通過(guò)，同時(shí)抑制由管材直徑和電導(dǎo)率變化產(chǎn)生的低頻干擾信號(hào)。因此，選項(xiàng)A是正確的答案。64.如果磁懸液的濃度過(guò)大,會(huì)引起（）A、掩蓋掉缺陷的磁痕B、使襯度變好C、檢測(cè)靈敏度更高,沒(méi)有什么壞處D、不得不增加磁化電流答案：A65.在進(jìn)行TOFD檢測(cè)時(shí)，已知：聲波速度6mm/us,工件厚度45mm,兩個(gè)探頭楔塊中的總延時(shí)1.6us,兩探頭中心距8Omm,儀器顯示的信號(hào)A時(shí)間為15.9us,信號(hào)B時(shí)間為21.7us,則可以確認(rèn)：（）A、信號(hào)A是直通波信號(hào)，信號(hào)B是底面反射縱波信號(hào)B、信號(hào)A不是直通波信號(hào)，信號(hào)B是底面反射縱波信號(hào)C、信號(hào)A是直通波信號(hào)，信號(hào)B不是底面反射縱波信號(hào)D、信號(hào)A不是直通波信號(hào)，信號(hào)B不是底面反射縱波信號(hào)答案：B66.使用溶劑去除型滲透劑時(shí)，最重要的注意事項(xiàng)是（）A、不要施加過(guò)量的乳化劑B、不要施加過(guò)量的溶劑C、清洗壓力應(yīng)足夠大D、應(yīng)用紫外燈檢查清洗效果答案：B解析：在使用溶劑去除型滲透劑進(jìn)行清洗或檢測(cè)時(shí)，關(guān)鍵在于確保溶劑能夠有效地去除滲透劑而不留下殘留。過(guò)量的溶劑雖然可能增加成本，但主要是為了確保滲透劑被完全去除，防止其對(duì)后續(xù)工藝或產(chǎn)品質(zhì)量產(chǎn)生不良影響。相比之下，乳化劑的作用是幫助溶劑更好地分散和滲透，但過(guò)量乳化劑可能導(dǎo)致清洗效果不佳。清洗壓力和紫外燈檢查則是操作過(guò)程中的輔助手段，不是去除滲透劑時(shí)最關(guān)鍵的因素。因此，選項(xiàng)B“不要施加過(guò)量的溶劑”是使用溶劑去除型滲透劑時(shí)最重要的注意事項(xiàng)。67.超聲檢測(cè)中，選用晶片尺寸大的探頭的優(yōu)點(diǎn)是（）A、曲面探傷時(shí)減少耦合損失B、減少材質(zhì)衰減損失C、有利于提高曲面探傷效率D、輻射聲能大且能量集中答案：D68.造成鍛造裂紋的原因是（D）A、鍛造變形過(guò)大B、鍛造溫度太低C、冷卻速度太快D、以上都是答案：D69.以下哪種試樣是按相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的技術(shù)條件加工制作.并經(jīng)被認(rèn)可的技術(shù)機(jī)構(gòu)認(rèn)證的用于評(píng)價(jià)檢測(cè)系統(tǒng)性能的試樣（）A、對(duì)比試樣B、標(biāo)準(zhǔn)試樣C、自然缺陷試樣D、以上都是答案：B70.磁粉探傷中采用靈敏度試片的目的是：（）A、檢驗(yàn)磁化規(guī)范是否適當(dāng)B、確定工件表面的磁力線的方向C、綜合評(píng)價(jià)檢測(cè)設(shè)備和操作技術(shù)D、以上都對(duì)答案：D71.哪一種探頭更適于粗晶材料檢測(cè):()A、帶寬(15%-30%)探頭B、中帶寬(31%~75%)探頭C、寬帶寬(76-110%)探頭D、帶寬與粗晶材料檢測(cè)特性無(wú)關(guān)答案：C解析：在對(duì)粗晶材料進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，需要使用具有較大帶寬的探頭。寬帶寬的探頭能夠更好地穿透粗晶結(jié)構(gòu)，減少散射和衰減的影響，從而提高檢測(cè)的準(zhǔn)確性和可靠性。相較于其他帶寬范圍的探頭，寬帶寬（76-110%）探頭更能適應(yīng)粗晶材料的復(fù)雜結(jié)構(gòu)和散射特性。所以，選項(xiàng)C是正確答案。72.用觸頭法或夾鉗通電時(shí)，經(jīng)常在電極部位使用鉛網(wǎng)或銅網(wǎng)，其原因是：（）A、可增大磁通密度B、有助于加熱從而有利于磁感應(yīng)C、增大接觸面積，減少燒傷零件的可能性D、有助于提高零件上的電流強(qiáng)度答案：C73.顯像劑有助于檢出滯留在缺陷內(nèi)滲透液是由于什么作用（）A、后清洗工序B、乳化作用C、吸附作用D、干燥工序答案：C74.熒光磁粉顯示應(yīng)在（）下檢驗(yàn)A、熒光B、自然光C、黑光D、氖光答案：C75.鋼.銅.鋁三種金屬的導(dǎo)電率應(yīng)符合如下關(guān)系（）A、δ鋼>δ銅>δ鋁B、δ鋁>δ銅>δ鋼C、δ銅>δ鋁>δ鋼D、δ鋼>δ鋁>δ銅答案：C76.在實(shí)際的射線照相檢驗(yàn)中，確定焦距最小值的方法是（）A、查曝光曲線B、平方反比定律C、互易定律D、采用諾模圖答案：D解析：答案解析：在實(shí)際的射線照相檢驗(yàn)中，諾模圖是一種專門(mén)用于確定焦距最小值的實(shí)用工具。它綜合考慮了多種因素，能夠較為直觀和準(zhǔn)確地給出焦距的最小值。而查曝光曲線主要用于確定曝光參數(shù)；平方反比定律用于描述射線強(qiáng)度與距離的關(guān)系；互易定律則是關(guān)于光化學(xué)反應(yīng)的定律。綜上所述，應(yīng)選擇D選項(xiàng)，采用諾模圖來(lái)確定焦距最小值。77.采用渦流檢測(cè)的方法進(jìn)行材質(zhì)的分選主要利用了（）對(duì)線圈阻抗的影響A、電導(dǎo)率σB、磁導(dǎo)率μC、試件的幾何尺寸D、提離效應(yīng)答案：A78.關(guān)于顯示視圖的說(shuō)法以下正確的是（）A、掃描的橫坐標(biāo)達(dá)標(biāo)波幅，縱坐標(biāo)代表傳播時(shí)間B、掃描顯示是與聲束傳播方向垂直且與工件的測(cè)量表面平行的剖面C、掃描顯示是工件的橫斷面D、掃描顯示是與聲束平面及測(cè)量表面都平行的剖面答案：C解析：在超聲檢測(cè)中，掃描顯示是對(duì)工件檢測(cè)結(jié)果的一種呈現(xiàn)方式。通常情況下，掃描顯示所呈現(xiàn)的是工件的橫斷面。A選項(xiàng)中，掃描的橫坐標(biāo)通常代表傳播時(shí)間，縱坐標(biāo)代表波幅。B選項(xiàng)，掃描顯示應(yīng)是與聲束傳播方向垂直且與工件的測(cè)量表面垂直的剖面。D選項(xiàng)，描述不符合掃描顯示的實(shí)際特征。綜上所述，正確答案是C。79.下列因素中，會(huì)使金屬銅電導(dǎo)率降低的是（）A、單向壓應(yīng)力B、彈性范圍內(nèi)拉應(yīng)力C、溫度降低D、冷形變后退火處理答案：B80.TOFD探頭頻率越低，則：()A、近場(chǎng)長(zhǎng)度N越大，分辨力越差，上表面盲區(qū)越大B、近場(chǎng)長(zhǎng)度N越小，分辨力越好，上表面盲區(qū)越大C、近場(chǎng)長(zhǎng)度N越小，分辨力越差，上表面盲區(qū)越小D、近場(chǎng)長(zhǎng)度N越小，分辨力越差，上表面盲區(qū)越大答案：D解析：答案解析：TOFD探頭頻率越低，其近場(chǎng)長(zhǎng)度N越小。頻率低意味著波長(zhǎng)較長(zhǎng)，分辨力會(huì)變差。同時(shí)，上表面盲區(qū)會(huì)越大。因?yàn)轭l率低時(shí)，聲波在傳播過(guò)程中的特性導(dǎo)致對(duì)近表面缺陷的檢測(cè)能力下降，從而上表面盲區(qū)增大。所以，選項(xiàng)D是正確的答案。81.以下符號(hào)表示粗糙度為毛坯的是A、B、C、D、答案：C解析：在機(jī)械制圖中，粗糙度符號(hào)用于表示加工表面的粗糙程度。符號(hào)C表示的是未經(jīng)加工的毛坯面，其表面粗糙度相對(duì)較大，通常不需要進(jìn)一步的加工處理。其他選項(xiàng)A、B、D則分別代表不同的加工方式和粗糙度等級(jí)，與毛坯面的表示不符。因此，正確答案是C。82.下列直探頭，在鋼中指向性最好的是（）A、2.5P20ZB、3P14ZC、4P20ZD、5P14Z答案：C83.線圈磁化應(yīng)：（）A、線圈相對(duì)于零件的直徑要盡可能小B、有效磁場(chǎng)一般限于線圈的內(nèi)部附近C、小直徑零件應(yīng)靠近線圈放置D、以上都是答案：D84.熒光磁粉探傷中，便攜式黑光燈中常用的汞蒸氣燈泡的功率為（）A、200WB、50WC、100WD、75W答案：C85.最細(xì)金屬絲的識(shí)別方法是（）A、在底片焊縫上要能夠清晰看到長(zhǎng)度不小于10mm的金屬絲影像B、在底片鄰近焊縫母材區(qū)要能夠清晰看到長(zhǎng)度不小于10mm的金屬絲影像C、在底片焊縫上要能夠清晰看到長(zhǎng)度不小于5mm的金屬絲影像D、在底片鄰近焊縫母材區(qū)要能夠清晰看到長(zhǎng)度不小于5mm的金屬絲影像答案：B解析：答案解析：對(duì)于最細(xì)金屬絲的識(shí)別，依據(jù)相關(guān)的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)和實(shí)際操作經(jīng)驗(yàn)，在底片鄰近焊縫母材區(qū)觀察能夠更準(zhǔn)確地判斷。且要求能夠清晰看到長(zhǎng)度不小于10mm的金屬絲影像，才能有效地完成識(shí)別工作。所以，選項(xiàng)B是正確答案。86.選擇磁化方法時(shí)，必須考慮一個(gè)重要因素是：（）A、磁場(chǎng)強(qiáng)度B、現(xiàn)有設(shè)備能力C、零件形狀D、以上都是答案：D87.交流電的角頻w和周期T.頻率f的關(guān)系是：（）A、w=2π/fB、w=2πTC、f=2πwD、w=2πf答案：D88.鋁合金試件經(jīng)滲透探傷后應(yīng)徹底清洗干凈，其原因是（）A、滲透劑中的酸性物質(zhì)可能引起腐蝕B、滲透劑與鋁起化學(xué)反應(yīng)，影響鋁合金的金相組織C、濕式顯像劑與大多數(shù)乳化劑中的堿性物質(zhì)會(huì)使鋁合金試件表面產(chǎn)生腐蝕麻坑D、滲透探傷帶來(lái)的有毒殘余物會(huì)嚴(yán)重影響鋁合金表面涂漆答案：C89.活度為100Ci的放射源，經(jīng)過(guò)三個(gè)半衰期后，其活度為（）A、33.3CiB、50CiC、25CiD、12.5Ci答案：D90.換能器檢出最小缺陷的能力定義為()A、增益B、清晰度C、分辨力D、靈敏度答案：C解析：換能器是一種將一種能量形式轉(zhuǎn)換為另一種能量形式的裝置。在檢測(cè)缺陷時(shí)，其檢出最小缺陷的能力是一個(gè)重要指標(biāo)。分辨力指的就是換能器能夠區(qū)分或辨別兩個(gè)相鄰或相近物體或缺陷的能力，也就是能夠檢測(cè)出最小缺陷的能力。而增益主要是指對(duì)信號(hào)的放大程度；清晰度更多用于描述圖像或信息的清晰程度；靈敏度側(cè)重于對(duì)輸入變化的響應(yīng)程度。所以，答案選C。91.A型超聲波探傷儀上的“抑制”旋鈕打開(kāi)對(duì)（）有影響A、垂直線性B、水平線性C、脈沖重復(fù)頻率D、延遲答案：A92.按冶煉方法和設(shè)備分類，碳鋼可分為（）A、平爐鋼B、轉(zhuǎn)爐鋼C、電爐鋼D、以上都對(duì)答案：D93.鋼中聲速最大的波型是（）:A、縱波B、橫波C、表面波D、在給定材料中聲速與所有波型無(wú)關(guān)答案：A94.渦流檢測(cè)中，對(duì)比試塊人工缺陷的制作不需要考慮的因素是（）A、缺陷形式B、加工部件及大小C、檢測(cè)要求和渦流檢測(cè)能力D、檢測(cè)效率答案：D解析：在渦流檢測(cè)中，對(duì)比試塊人工缺陷的制作需考慮多個(gè)因素以確保檢測(cè)的準(zhǔn)確性和可靠性。A項(xiàng)缺陷形式是基礎(chǔ)，因?yàn)椴煌娜毕菪问剑ㄈ缌鸭y、孔洞等）會(huì)影響渦流場(chǎng)的分布。B項(xiàng)加工部件及大小也需考慮，因?yàn)樵噳K應(yīng)盡可能模擬實(shí)際檢測(cè)對(duì)象。C項(xiàng)檢測(cè)要求和渦流檢測(cè)能力則決定了缺陷的尺寸和深度，以滿足檢測(cè)需求。而D項(xiàng)檢測(cè)效率與人工缺陷的制作無(wú)直接關(guān)聯(lián)，是檢測(cè)過(guò)程中的一個(gè)考量因素，非制作缺陷時(shí)需考慮。因此，正確答案是D。95.超聲波探傷儀的探頭晶片用的是下面哪種材料：（）A、導(dǎo)電材料B、磁致伸縮材料C、壓電材料D、磁性材料答案：C96.鍛件中的粗大晶?？赡芤穑海ǎ〢、底波降低或消失B、噪聲或雜波增大C、超聲嚴(yán)重衰減D、以上都有答案：D97.鋼材被加熱產(chǎn)生"過(guò)熱"時(shí),引起機(jī)械性能變化,特別是較大地降低（）：A、沖擊韌性B、硬度C、抗拉強(qiáng)度D、斷面收縮率答案：A98.顯影時(shí)間一般控制在（）A、2~5minB、4~6minC、6~8minD、10~15min答案：B99.上圖中，相鄰晶片之間間距是指（）A、PB、eC、gD、H答案：C100.在條件許可的情況下，滲透探傷的預(yù)清洗最適宜采用的設(shè)備是（）A、噴砂機(jī)B、化學(xué)清洗槽C、蒸汽除油槽D、噴淋式清洗槽答案：C101.采用軸向通電法探傷.在決定磁化電流時(shí)，應(yīng)考慮零件的（）A、長(zhǎng)度B、直徑C、長(zhǎng)徑比D、表面狀態(tài)答案：B102.關(guān)于填充系數(shù)的說(shuō)法，正確的是（）A、是檢測(cè)線圈尺寸與試件尺寸之間的一種相對(duì)關(guān)系B、是檢測(cè)線圈的屬性或參數(shù)C、取決于線圈的尺寸D、取決于被檢測(cè)對(duì)象的尺寸答案：A解析：填充系數(shù)是描述檢測(cè)線圈與試件之間關(guān)系的概念。它并非單純?nèi)Q于檢測(cè)線圈或被檢測(cè)對(duì)象的尺寸，而是體現(xiàn)了兩者尺寸的相對(duì)關(guān)系。在檢測(cè)過(guò)程中，填充系數(shù)對(duì)于檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性有著重要影響。B選項(xiàng)說(shuō)它是檢測(cè)線圈的屬性或參數(shù)不準(zhǔn)確；C選項(xiàng)只說(shuō)取決于線圈尺寸不全面；D選項(xiàng)只說(shuō)取決于被檢測(cè)對(duì)象尺寸也不全面。所以，正確答案是A。103.磁粉探傷設(shè)備的輸入電流要求部分取決于（）A、要求的負(fù)載周期B、現(xiàn)有的電力設(shè)施能力C、電纜的承載能力D、通常使用的規(guī)范答案：A104.滲透液應(yīng)如何進(jìn)行評(píng)定?（）A、測(cè)定其表面張力B、測(cè)定其粘度C、測(cè)定其接觸角D、用靈敏度試塊進(jìn)行綜合評(píng)定答案：D105.焊縫探傷時(shí)，靠近背面焊道的缺陷不容易探測(cè)出來(lái)，其原因是（）A、遠(yuǎn)場(chǎng)效應(yīng)B、受分辨力影響C、盲區(qū)D、受反射波影響答案：B106.當(dāng)聲程大于等于6N長(zhǎng)度時(shí)，反射體的定量結(jié)果（）實(shí)際當(dāng)量尺寸A、大于實(shí)際尺寸B、小于實(shí)際尺寸C、接近實(shí)際尺寸D、以上都不對(duì)答案：C107.連續(xù)波是指介質(zhì)各質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)持續(xù)時(shí)間為（）的波動(dòng)A、無(wú)關(guān)B、有限C、無(wú)窮D、以上都不對(duì)答案：C108.在探測(cè)條件相同的情況下，孔徑比為4的兩個(gè)球形人工缺陷，其反射波高相差（）A、6dBB、12dBC、24dBD、18dB答案：B109.超聲波在第二種介質(zhì)中折射波的傳播方向不同于入射波方向，是按（）來(lái)確定的A、反射定律B、透射定律C、折射定律D、以上都不對(duì)答案：C110.在使用2.5MHz直探頭做鍛件探傷時(shí)，如用400mm深底波調(diào)整Φ3mm平底孔靈敏度，底波調(diào)整后應(yīng)提高多少dB探傷？（晶片直徑D=14mm）（）A、36.5dBB、43.5dBC、50dBD、28.5Db答案：A解析：根據(jù)鍛件探傷的相關(guān)理論，計(jì)算靈敏度調(diào)整量需要用到特定的公式。對(duì)于直探頭，靈敏度調(diào)整量可以通過(guò)相應(yīng)的數(shù)學(xué)公式計(jì)算得出。在本題中，已知探頭頻率、底波深度、平底孔直徑和晶片直徑等參數(shù)，經(jīng)過(guò)復(fù)雜的數(shù)學(xué)運(yùn)算，可以得出底波調(diào)整后應(yīng)提高36.5dB探傷。因此，選項(xiàng)A是正確答案。111.雙膠片技術(shù)是在同一暗盒中放置兩張（）不同的膠片同時(shí)進(jìn)行透照的方法A、感光速度B、襯度C、黑度D、A.B和C答案：A112.振動(dòng)方程為（）A、X=Atg(ωt－φ)B、X=Acos(ωt＋φ)C、X=Asin(ωt＋φ)D、X=Asin(ωt－φ)答案：B113.被磁化的工件表面有一裂紋，使裂紋吸引磁粉的原因是：（）A、多普勒效應(yīng)B、漏磁場(chǎng)C、矯頑力D、裂紋出的高應(yīng)力答案：B114.采用交流，單相半波整流，三相全波整流三種電流對(duì)軸類工件進(jìn)行周向磁化，為了得到大致相同的磁化強(qiáng)度則三種磁化電流不同，正確的選擇是:()A、交流電最大，半波整流電次之，全波整流電最小B、半波整流電最大，全波整流電次之，交流電最小C、全波整流電最大，交流電次之，半波整流電最小D、全波整流電最大，半波整流電次之，交流電最小答案：C115.超聲波由水以20°入射到鋼界面時(shí)，鋼中橫波的折射角為（）A、24°B、27°C、37°D、48°答案：D116.頻率高于20000Hz的機(jī)械波稱為（）A、超聲波B、聲波C、次聲波D、噪聲答案：A解析：答案解析：機(jī)械波的頻率范圍有明確的劃分。聲波的頻率范圍一般在20Hz至20000Hz之間。頻率低于20Hz的稱為次聲波，頻率高于20000Hz的則稱為超聲波。噪聲是指干擾人們正常生活、學(xué)習(xí)和工作的聲音，并非根據(jù)頻率來(lái)定義。所以，頻率高于20000Hz的機(jī)械波稱為超聲波，選項(xiàng)A正確。117.在金屬材料的超聲波探傷中，使用最多的頻率范圍是：（）A、10－25MHZB、1-1000KHZC、1－5MHZD、大于20000MHZ答案：C118.頻率分別2.5MHz和5MHz的直探頭發(fā)射的超聲波在鋼中的縱波聲速分別為（）A、3200和3200B、3200和5900C、5900和5900D、以上都不對(duì)答案：C119.為了檢出高強(qiáng)度螺栓螺紋部分的周向缺陷，適用的方法是:()A、直接通電剩磁法，濕法熒光磁粉B、線圈周圍磁化連續(xù)干法黑磁粉C、磁軛連續(xù)法濕法黑磁粉D、線圈磁化剩磁法，濕法熒光磁粉答案：D120.以下哪一條，不屬于數(shù)字化智能超聲波探傷儀的優(yōu)點(diǎn)（）A、檢測(cè)精度高，定位定量準(zhǔn)B、頻帶寬，脈沖窄C、可記錄存儲(chǔ)信號(hào)D、儀器有計(jì)算和自檢功能答案：B121.材料通過(guò)淬火后獲得（）組織，從而提高其硬度和強(qiáng)度A、鐵素體B、滲碳體C、馬氏體D、珠光體答案：C122.某便攜式X射線機(jī)（300KV，5mA）的穿透能力可達(dá)到53mmFe，已知300KV的X射線對(duì)鈦合金與鋼的射線照相等效系數(shù)分別為0.6和1.0，則要透照90mm厚的鈦合金餅坯，該X射線機(jī)能否勝任？（）A、可以勝任B、已達(dá)到該X射線機(jī)的能力最高值，不宜使用C、無(wú)法確定D、以上都不對(duì)答案：B123.不產(chǎn)生電磁感應(yīng)現(xiàn)象的條件是（）A、電場(chǎng)和磁場(chǎng)都不發(fā)生變化B、電場(chǎng)和磁場(chǎng)都發(fā)生變化C、電場(chǎng)不發(fā)生變化，磁場(chǎng)發(fā)生變化D、電場(chǎng)發(fā)生變化，磁場(chǎng)不發(fā)生變化答案：A124.環(huán)形鍛件的主要探測(cè)方向是（）A、直探頭在端面探測(cè)B、直探頭在圓周面徑向探測(cè)C、斜探頭在圓周面作周向探測(cè)D、隨意選擇探測(cè)面答案：A解析：答案解析：環(huán)形鍛件在檢測(cè)時(shí)，由于其結(jié)構(gòu)特點(diǎn)，直探頭在端面探測(cè)能夠更有效地檢測(cè)到鍛件內(nèi)部的缺陷。直探頭在端面探測(cè)時(shí)，聲波能夠垂直入射，更有利于發(fā)現(xiàn)沿軸向分布的缺陷。而在圓周面徑向探測(cè)或斜探頭在圓周面作周向探測(cè)，對(duì)于某些特定類型和位置的缺陷可能不如直探頭在端面探測(cè)效果好。所以，選項(xiàng)A是正確答案。125.被磁化的工件表面有一裂紋，是裂紋處吸引磁粉的原因是（）A、矯頑力B、漏磁場(chǎng)C、多普勒效應(yīng)D、裂紋處的高應(yīng)力答案：B126.由磁場(chǎng)的不規(guī)則性形成的非相關(guān)顯示可能是哪種原因引起的()A、夾渣B、磨削裂紋C、零件硬度急劇變化D、以上都不是答案：C127.用有機(jī)玻璃作斜楔的斜探頭探測(cè)橫波速度為3080米/秒的鋁制件，得知鋁中橫波折射角為60°，則斜探頭的入射角約為（）：A、28°42'B、49°24'C、55°18'D、以上都不對(duì)答案：B128.周向磁化檢驗(yàn)近表面的缺陷時(shí)，使用直流電代替交流電的原因是：（）A、直流電可提高磁粉的流動(dòng)性B、直流電易于達(dá)到磁場(chǎng)飽和C、交流電的趨膚效應(yīng)使可發(fā)現(xiàn)缺陷的深度變小D、對(duì)環(huán)境條件無(wú)要求答案：C129.對(duì)于焊縫及大零件的局部檢驗(yàn)適宜采用的滲透檢測(cè)方法是（）A、溶劑去除型熒光液滲法B、溶劑去除型著色液滲法C、后乳化型熒光液滲法D、水洗型著色液滲法答案：B解析：在焊縫及大零件的局部檢驗(yàn)中，滲透檢測(cè)是一種有效的無(wú)損檢測(cè)方法。對(duì)于這類大型部件，通常要求檢測(cè)方法簡(jiǎn)便、易于觀察且成本適中。溶劑去除型著色液滲法因其操作簡(jiǎn)便、成本低廉且易于觀察缺陷，被廣泛應(yīng)用于焊縫及大零件的局部檢驗(yàn)中。因此，正確答案為B。130.縱波傾斜入射到有機(jī)玻璃/鋼界面時(shí)，有機(jī)玻璃中縱波聲速為2730m/s，鋼中縱波聲速為5900m/s，橫波聲速為3230m/s則第二臨界角為（）A、27.6°B、57.7°C、30°D、60°答案：B131.長(zhǎng)導(dǎo)線在均勻的磁場(chǎng)中作切割磁力線運(yùn)動(dòng)時(shí)，不影響導(dǎo)線中產(chǎn)生的感應(yīng)電動(dòng)Ei大小的是（）A、磁感應(yīng)強(qiáng)度B、長(zhǎng)導(dǎo)線的電導(dǎo)率C、導(dǎo)線運(yùn)動(dòng)的速度D、導(dǎo)線運(yùn)動(dòng)的方向與磁場(chǎng)中的夾角答案：B解析：根據(jù)法拉第電磁感應(yīng)定律，感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)Ei與磁感應(yīng)強(qiáng)度B、導(dǎo)線長(zhǎng)度L、導(dǎo)線運(yùn)動(dòng)速度v以及導(dǎo)線運(yùn)動(dòng)方向與磁場(chǎng)方向的夾角θ有關(guān)，具體為Ei=BLvsinθ。從公式中可以看出，電導(dǎo)率并不直接影響感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小，它主要影響電流在導(dǎo)線中的傳輸效率。因此，選項(xiàng)B“長(zhǎng)導(dǎo)線的電導(dǎo)率”是不影響導(dǎo)線中產(chǎn)生的感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)Ei大小的因素。132.A型掃描顯示中，水平基線代表（C）A、超聲回波的幅度大小B、探頭移動(dòng)距離C、聲波傳播時(shí)間D、缺陷尺寸大小答案：C133.當(dāng)閉合回路中的一段導(dǎo)線在磁場(chǎng)中運(yùn)動(dòng)并切割磁力線時(shí)，導(dǎo)線會(huì)產(chǎn)生電流，這種現(xiàn)象是（）A、電感生磁B、磁感生電C、磁感生磁D、電感生電答案：B134.在TOFD技術(shù)中，如果拋物線指針不能很好地?cái)M合裂紋兩端的衍射信號(hào)，則可能的實(shí)際情況是：()A、裂紋是斜的B、裂紋離上表面太近C、裂紋有多條D、裂紋太短答案：A解析：在TOFD（TimeofFlightDiffraction）技術(shù)中，拋物線指針用于擬合和顯示裂紋的衍射信號(hào)。如果拋物線指針不能很好地?cái)M合裂紋兩端的衍射信號(hào)，這通常意味著裂紋的走向不是垂直于探測(cè)面的，即裂紋是斜的。這種傾斜會(huì)導(dǎo)致衍射信號(hào)在時(shí)間和空間上分布不均，使得拋物線指針難以準(zhǔn)確擬合。因此，正確答案是A，即裂紋是斜的。135.以下關(guān)于著色探傷適當(dāng)清洗的說(shuō)法中，較準(zhǔn)確的是（）A、顯像后呈現(xiàn)白色背景B、顯像后呈現(xiàn)紅色背景C、顯像后呈現(xiàn)白色或淺紅色背景D、背景顏色與工件表面粗糙度有關(guān)答案：C解析：答案解析：著色探傷是一種常用的無(wú)損檢測(cè)方法。在顯像過(guò)程中，合適的清洗能夠得到清晰的顯示結(jié)果。通常情況下，經(jīng)過(guò)適當(dāng)清洗后，顯像會(huì)呈現(xiàn)白色或淺紅色背景，這樣可以更準(zhǔn)確地觀察和判斷缺陷。選項(xiàng)A只提到白色背景，不夠全面；選項(xiàng)B只提到紅色背景，也不全面；選項(xiàng)D雖然提到背景顏色與工件表面粗糙度有關(guān)，但沒(méi)有直接回答關(guān)于適當(dāng)清洗后的準(zhǔn)確背景顏色。所以，選項(xiàng)C是較準(zhǔn)確的答案。136.對(duì)不同電導(dǎo)率的試件進(jìn)行渦流檢測(cè)，檢測(cè)線圈的阻抗會(huì)不同，因此，可以利用渦流檢測(cè)的方法進(jìn)行材料電導(dǎo)率的測(cè)量和（）等工作A、內(nèi)部缺陷檢測(cè)B、材質(zhì)分選C、厚度測(cè)量D、表面缺陷檢測(cè)答案：B137.靈敏度余量是探頭和儀器的綜合性能是指整個(gè)探傷系統(tǒng)發(fā)現(xiàn)（）的能力A、最小缺陷B、最大缺陷C、氣孔D、未焊透答案：A138.以下關(guān)于紫外線燈的敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）A、為延長(zhǎng)紫外燈的壽命，應(yīng)做到用時(shí)即開(kāi)，不用即關(guān)B、電源電壓波動(dòng)對(duì)紫外燈壽命影響很大C、有用的紫外光波長(zhǎng)范圍在320-400mm之間D、要避免紫外燈直射入眼答案：A139.以下哪一條會(huì)導(dǎo)致水基濕式顯像劑靈敏度嚴(yán)重降低（）A、顯像采用浸涂方法B、顯像劑涂層太厚C、干燥時(shí)間過(guò)長(zhǎng)D、零件表面進(jìn)過(guò)拋光答案：B140.材料.的強(qiáng)度指標(biāo)可以通過(guò)（）測(cè)出A、熱處理B、彎曲實(shí)驗(yàn)C、無(wú)損檢測(cè)D、拉伸實(shí)驗(yàn)答案：D141.在TOFD技術(shù)中，校準(zhǔn)探頭間距的有效方法是：()A、用高精度的長(zhǎng)度尺反復(fù)測(cè)量B、用專用的激光測(cè)距儀反復(fù)測(cè)量C、測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)試塊上不同深度反射體的信號(hào)到達(dá)時(shí)間D、測(cè)量直通波或者底面波信號(hào)尖端信號(hào)到達(dá)的時(shí)間答案：D解析：答案解析：在TOFD技術(shù)中，探頭間距的校準(zhǔn)需要一種準(zhǔn)確且有效的方法。A選項(xiàng)用高精度長(zhǎng)度尺反復(fù)測(cè)量，操作復(fù)雜且可能存在誤差。B選項(xiàng)用專用激光測(cè)距儀反復(fù)測(cè)量，成本較高且不一定適用于所有情況。C選項(xiàng)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)試塊上不同深度反射體的信號(hào)到達(dá)時(shí)間，較為復(fù)雜且不夠直接。D選項(xiàng)測(cè)量直通波或者底面波信號(hào)尖端信號(hào)到達(dá)的時(shí)間，這種方法相對(duì)直接、簡(jiǎn)便且能夠有效校準(zhǔn)探頭間距。綜上所述，正確答案是D。142.引起非相關(guān)顯示的原因有：（）A、零件截面厚度變化大B、安培值太高C、表面附近有鉆孔D、以上都是答案：D解析：非相關(guān)顯示，即磁粉探傷中不直接反映缺陷的磁痕顯示，可能由多種因素引起。A選項(xiàng)指出零件截面厚度變化大時(shí)，磁化可能不均勻，導(dǎo)致非相關(guān)顯示；B選項(xiàng)安培值太高可能導(dǎo)致磁化過(guò)強(qiáng)，產(chǎn)生不必要的磁痕；C選項(xiàng)表面附近有鉆孔也會(huì)因磁化場(chǎng)線在孔邊集中而產(chǎn)生非相關(guān)顯示。因此，這三個(gè)因素都可能引發(fā)非相關(guān)顯示，所以正確答案是D，即以上都是。143.通過(guò)對(duì)導(dǎo)電材料電導(dǎo)率的測(cè)量，可以（）A、檢測(cè)表面裂紋B、判斷熱處理狀態(tài)C、測(cè)定導(dǎo)電基體材料上膜層厚度D、測(cè)量金屬薄板厚度答案：B144.在渦流檢測(cè)中，表面下某深度處渦流密度與什么因素有關(guān)（）A、檢測(cè)線圈的尺寸B、材料的磁導(dǎo)率C、檢測(cè)表面的渦流分布密度D、材料電阻率答案：A解析：答案解析：在渦流檢測(cè)中，表面下某深度處渦流密度主要受檢測(cè)線圈的尺寸影響。檢測(cè)線圈的形狀、大小和匝數(shù)等尺寸參數(shù)會(huì)改變磁場(chǎng)的分布和強(qiáng)度，從而直接影響到渦流在材料內(nèi)部的滲透深度和密度分布。而材料的磁導(dǎo)率、檢測(cè)表面的渦流分布密度和材料電阻率雖然對(duì)渦流檢測(cè)有影響，但并非決定表面下某深度處渦流密度的關(guān)鍵因素。所以，正確答案是A選項(xiàng)。145.在進(jìn)行TOFD檢測(cè)時(shí)，使用更高的頻率，而沒(méi)有改變探頭晶片尺寸會(huì)導(dǎo)致探頭的：()A、分辨力降低，信噪比提高，波束擴(kuò)展加大B、分辨力提高，信噪比降低，波束擴(kuò)展減小C、分辨力提高，信噪比提高，波束擴(kuò)展加大D、分辨力降低，信噪比降低，波束擴(kuò)展減小答案：B解析：答案解析：在TOFD檢測(cè)中，當(dāng)使用更高的頻率且不改變探頭晶片尺寸時(shí)，波長(zhǎng)短，分辨力會(huì)提高；但同時(shí)高頻信號(hào)衰減快，能量小，信噪比會(huì)降低。而且高頻波長(zhǎng)短，波束擴(kuò)展會(huì)減小。綜上所述，選項(xiàng)B是正確的答案。146.用2.5MHz，φ25mm直探頭測(cè)定厚度100mm鋼板的材質(zhì)衰減,設(shè)鋼板表面往返損失1dB,現(xiàn)在測(cè)得(B1－B2)=5dB,則雙聲程衰減系數(shù)為（）A、0.04dB/mmB、0.020dB/mmC、0.0625dB/mmD、0.03125dB/mm答案：A147.退磁的零件應(yīng)從退磁的磁場(chǎng)中沿直線退出:()A、0.25mB、0.1mC、1mD、10m答案：C148.毛細(xì)管作用發(fā)生的吸引力使液體在毛細(xì)管內(nèi)自發(fā)上升,下列哪些情況涉及到這種力?（）A、液體進(jìn)入裂紋B、液體溶解度C、液體的閃點(diǎn)D、液體的化學(xué)穩(wěn)定性答案：A149.磁粉探傷中，應(yīng)根據(jù)下列條件選擇適當(dāng)?shù)拇呕椒ǎ?)A、工件的形狀和尺寸B、材質(zhì)C、缺陷的位置和方向D、以上都是答案：D150.零件表面通電或用夾頭通電時(shí)，使用大接觸面如鉛或銅絲的原因是（）A、可增大磁通密度B、有助于加熱金屬?gòu)亩欣诖鸥袘?yīng)C、增大接觸面積，減少燒傷零件的可能性D、有助于提高零件的熔點(diǎn)答案：C151.管電壓為150kV時(shí)，輻射的X射線光子能量最大為（）A、150eVB、150,000keVC、0.15MeVD、0.085MeV答案：C解析：X射線光子的能量與其管電壓成正比，但能量單位與電壓?jiǎn)挝徊煌９茈妷阂詋V為單位時(shí)，X射線光子的最大能量（以eV為單位）可以通過(guò)將管電壓乘以電子電荷量（約1.602×10^-19C）并除以電子的靜止質(zhì)量（約9.109×10^-31kg）后，再乘以光速的平方（c^2）來(lái)計(jì)算，但通常簡(jiǎn)化為管電壓值（kV）乘以1.602×10^-3來(lái)估算MeV級(jí)別的能量。因此，150kV對(duì)應(yīng)的X射線光子能量最大約為0.15MeV（即150×1.602×10^-3≈0.24MeV，但選項(xiàng)中最接近的是C）。152.探頭波束在遠(yuǎn)場(chǎng)能量的集中以（）A、波束邊緣最大B、波束中心最大C、波束中心與邊緣一樣大D、與波束寬度成反比答案：B153.在TOFD技術(shù)中，探頭的中心距是由什么決定的：()A、焊縫余高的寬度B、越大越好C、越小越好D、通過(guò)計(jì)算和工件厚度答案：D154.根據(jù)渦流檢測(cè)的特點(diǎn)，下列材料中不能采用渦流檢測(cè)的是（）A、玻璃鋼B、不銹鋼C、石墨D、紫銅答案：A155.超聲波入射到平面缺陷產(chǎn)生波型轉(zhuǎn)換時(shí)，與波的（）A、傳播速度有關(guān)B、頻率有關(guān)C、波長(zhǎng)有關(guān)D、入射角有關(guān)答案：D156.檢測(cè)精鑄渦輪葉片上非常細(xì)微的裂紋使用的滲透劑應(yīng)該是（）A、可水洗型熒光滲透劑，以得到適當(dāng)?shù)撵`敏度和水洗性能B、溶劑去除型滲透劑，這是由零件的大小和形狀決定的C、后乳化劑熒光滲透液，以得到最佳靈敏度和水洗性能D、溶劑去除型滲透液，以得到較高的可見(jiàn)度答案：C解析：答案解析：精鑄渦輪葉片通常具有復(fù)雜的形狀和細(xì)微的結(jié)構(gòu)，對(duì)于檢測(cè)其非常細(xì)微的裂紋需要高靈敏度的滲透劑。后乳化劑熒光滲透液具有較高的靈敏度，能夠更好地檢測(cè)出細(xì)微裂紋。同時(shí)，其水洗性能也有助于后續(xù)的清洗處理。因此，選項(xiàng)C是正確的答案。157.超聲波探傷中，晶片表面和零件表面之間使用耦合劑的主要原因是（）A、起潤(rùn)滑作用，減少晶片摩擦B、若晶片與工件接觸，不便于振動(dòng)C、空氣間隙會(huì)使超聲波全反射D、A.B和C答案：C解析：答案解析：在超聲波探傷中，超聲波需要從晶片有效地傳播到零件內(nèi)部。如果晶片表面和零件表面之間存在空氣間隙，由于空氣對(duì)超聲波的阻抗與金屬材料差異極大，會(huì)導(dǎo)致超聲波發(fā)生全反射，無(wú)法進(jìn)入零件內(nèi)部進(jìn)行檢測(cè)。選項(xiàng)A中起潤(rùn)滑作用不是主要原因；選項(xiàng)B中不便于振動(dòng)也并非關(guān)鍵。所以，主要原因是選項(xiàng)C，空氣間隙會(huì)使超聲波全反射。因此選擇選項(xiàng)C。158.靈敏度是指超聲探傷系統(tǒng)所具有的探測(cè)（）的能力A、最小缺陷B、最大缺陷C、任何缺陷D、以上都是答案：A159.下列關(guān)于交流法退磁的敘述中,正確的是:()A、減少電流B、使零件逐漸離開(kāi)線圈C、使線圈逐漸離開(kāi)零件D、以上都是答案：D解析：交流法退磁涉及通過(guò)交流電產(chǎn)生的磁場(chǎng)來(lái)消除或減弱鐵磁性材料中的剩磁。選項(xiàng)A“減少電流”是退磁過(guò)程中的一個(gè)步驟，因?yàn)殡S著電流的減小，產(chǎn)生的磁場(chǎng)也會(huì)減弱，有助于退磁。選項(xiàng)B“使零件逐漸離開(kāi)線圈”和選項(xiàng)C“使線圈逐漸離開(kāi)零件”均描述了退磁過(guò)程中的物理操作，這些操作有助于減少磁場(chǎng)對(duì)零件的影響，從而完成退磁。由于這三個(gè)選項(xiàng)都是交流法退磁過(guò)程中的正確步驟，因此答案D“以上都是”是正確的。160.一般說(shuō)來(lái)，薄層缺陷要得到最大反射信號(hào)，其厚度應(yīng)為（）A、1個(gè)波長(zhǎng)的奇數(shù)倍B、1/4波長(zhǎng)的奇數(shù)倍C、1/4波長(zhǎng)的偶數(shù)倍D、半波長(zhǎng)的整數(shù)倍答案：B161.縱向磁化時(shí)，磁化力用什么表示：（）A、安培B、安培/米C、安培·米D、安匝答案：D162.使工件退磁的方法是()A、在居里點(diǎn)以上進(jìn)行熱處理B、在交流線圈中沿軸線緩慢取出工件C、用直流電來(lái)回作倒向磁化，磁化電流逐漸減小D、以上都是答案：D163.采用環(huán)繞式線圈（包括外通過(guò)式和內(nèi)通過(guò)式線圈）檢測(cè)管材或棒材，采用絕對(duì)式線圈或差動(dòng)式線圈都不容易發(fā)現(xiàn)的缺陷是（）A、凹坑B、夾雜C、氣孔D、分層答案：D解析：答案解析：在采用環(huán)繞式線圈檢測(cè)管材或棒材時(shí)，凹坑、夾雜和氣孔這類缺陷相對(duì)容易被絕對(duì)式線圈或差動(dòng)式線圈檢測(cè)到。而分層缺陷由于其在管材或棒材中的分布特點(diǎn)，采用環(huán)繞式線圈檢測(cè)時(shí)，其產(chǎn)生的電磁場(chǎng)變化相對(duì)不明顯，不容易被發(fā)現(xiàn)。因此，選項(xiàng)D是正確答案。164.射線探傷底片的黑度為D=2時(shí)，透射光強(qiáng)度是入射光強(qiáng)度的（）A、1/10B、1/20C、1/100D、1/2答案：C165.狹義上的焊后熱處理是指（）A、完全退火B(yǎng)、正火C、回火D、消除應(yīng)力退火答案：D166.下面哪種缺陷是由鍛造工藝引起的()A、管縮B、折疊C、分層D、以上都是答案：B167.以下有關(guān)TOFD檢測(cè)分辨力的敘述，哪一條是錯(cuò)誤的：()A、分辨力是指能夠識(shí)別的2個(gè)信號(hào)所代表的最小距離B、減少發(fā)射脈沖長(zhǎng)度，有利于提高分辨力C、提高探頭頻率，有利于提高分辨力D、降低掃描速率，有利于提高分辨力答案：D解析：TOFD（TimeofFlightDiffraction）檢測(cè)技術(shù)的分辨力是指系統(tǒng)能夠區(qū)分并識(shí)別兩個(gè)相鄰缺陷或信號(hào)的最小距離。A項(xiàng)正確定義了分辨力的概念。B項(xiàng)和C項(xiàng)分別指出減少發(fā)射脈沖長(zhǎng)度和提高探頭頻率都能提高分辨力，這是正確的，因?yàn)槎堂}沖和高頻探頭都能提供更精細(xì)的信號(hào)細(xì)節(jié)。而D項(xiàng)錯(cuò)誤地認(rèn)為降低掃描速率能提高分辨力，實(shí)際上降低掃描速率會(huì)降低檢測(cè)效率，與分辨力無(wú)直接關(guān)系，甚至可能因采樣率下降而降低分辨力。因此，D項(xiàng)是錯(cuò)誤的。168.鍛鋼件探測(cè)靈敏度的校正方式是：（）A、沒(méi)有特定的方式B、采用底波方式C、采用試塊方式D、采用底波方式和試塊方式答案：D169.有效孔徑是()A、考慮折射效應(yīng)的主動(dòng)孔徑B、表示孔徑等效尺寸的投影尺寸C、能有效且正確地產(chǎn)生聲音的孔徑，該孔徑低效部分大打折扣D、A和B答案：D解析：答案解析：有效孔徑的概念涉及多個(gè)方面。A選項(xiàng)中，考慮折射效應(yīng)的主動(dòng)孔徑是有效孔徑的一種常見(jiàn)表述，折射會(huì)影響孔徑的實(shí)際效果。B選項(xiàng)中，表示孔徑等效尺寸的投影尺寸也能反映有效孔徑的特征。綜合來(lái)看，A和B選項(xiàng)分別從不同角度對(duì)有效孔徑進(jìn)行了準(zhǔn)確的描述，所以選項(xiàng)D是正確的答案。170.X射線管中，高速電子所撞擊的部位稱為（）A、陰極B、陽(yáng)極罩C、陽(yáng)極靶D、發(fā)生器答案：C171.試驗(yàn)頻率增大時(shí)，由于趨膚效應(yīng)，渦流的透入深度（）頻率降低時(shí)，透入深度（）A、增大減小B、減小減小C、減小增大D、增大增大.答案：C172.施加濕式顯像劑允許使用的方法是（）A、用軟刷刷涂B、用手工噴粉器噴涂C、用沾有顯像劑的布擦D、噴或浸答案：D173.膠片射線照相時(shí)，象質(zhì)計(jì)通常放在（）A、增感屏和膠片之間B、膠片側(cè)工件表面C、射源側(cè)工件表面D、B和C都有可能答案：C解析：在膠片射線照相中，象質(zhì)計(jì)是用于評(píng)估射線照片質(zhì)量的重要工具。它應(yīng)當(dāng)被放置在射線源與被檢物體之間，以便準(zhǔn)確反映射線通過(guò)物體后的衰減情況和成像質(zhì)量。因此，象質(zhì)計(jì)應(yīng)放在射源側(cè)工件表面，以確保其能正確接收到射線并反映成像效果。選項(xiàng)C“射源側(cè)工件表面”是正確的位置。選項(xiàng)A“增感屏和膠片之間”是成像系統(tǒng)內(nèi)部的位置，不適用于放置象質(zhì)計(jì)；選項(xiàng)B“膠片側(cè)工件表面”則無(wú)法準(zhǔn)確反映射線通過(guò)工件前的狀況；選項(xiàng)D“B和C都有可能”則包含了錯(cuò)誤的選項(xiàng)B，因此不正確。174.超聲波探傷儀的分辨率主要與（）有關(guān)A、掃描電路B、頻帶寬度C、動(dòng)態(tài)范圍D、放大倍數(shù)答案：B175.采用半圓試塊調(diào)節(jié)焊縫探傷掃描比例時(shí)，如圓弧第一次反射波對(duì)準(zhǔn)時(shí)基刻度2，則以后各次反射波對(duì)應(yīng)的刻度為（）A、4,6,8,10B、3,5,7,9C、6,10D、以上都可以答案：C176.下列哪種情況下用濕法熒光磁粉探傷進(jìn)行檢驗(yàn)比干法好？（）A、零件大而笨重時(shí)B、需要提高檢驗(yàn)速度和靈敏度時(shí)C、欲使許多車間配備的熒光投入使用時(shí)D、被檢零件要在現(xiàn)場(chǎng)焊接組裝時(shí)答案：B177.下列選項(xiàng)中屬于職業(yè)道德范疇的是()A、企業(yè)經(jīng)營(yíng)業(yè)績(jī)B、企業(yè)發(fā)展戰(zhàn)略C、員工的技術(shù)水平D、人們的內(nèi)心信念答案：D178.采用4.5×4.5mm方形有效焦點(diǎn)的X光機(jī)透照厚度100mm的工件，當(dāng)焦距為1000mm時(shí)，其“幾何不清晰度”為（）A、0.25mmB、0.5mmC、0.75mmD、1mm答案：B179.決定超聲波在界面上的相對(duì)透過(guò)率和反射率的是（）A、聲衰減B、聲速C、聲阻抗比D、聲頻率答案：C180.相控陣檢測(cè)主要是采用的?()A、衍射時(shí)差法B、脈沖反射法C、穿透法D、以上都錯(cuò)答案：B181.在進(jìn)行TOFD檢測(cè)時(shí)，已知鋼中聲速為5.95mm/us,聚苯乙烯塑料楔塊中的聲速為2.4mm/us,則欲得到波束在鋼中70°的折射角，波束在楔塊中的角度應(yīng)為：()A、16.57°B、18.36°C、20.44°D、22.27°答案：D解析：答案解析：在TOFD檢測(cè)中，根據(jù)折射定律，聲束在不同介質(zhì)中的折射角和傳播速度有關(guān)。通過(guò)相應(yīng)的計(jì)算公式，將鋼和聚苯乙烯塑料楔塊中的聲速代入，經(jīng)過(guò)計(jì)算可以得出，欲得到波束在鋼中70°的折射角，波束在楔塊中的角度約為22.27°。因此，選項(xiàng)D是正確答案。182.在以下哪一種條件下照相，不遵守互易定律（）A、采用金屬箔增感B、不用增感C、采用熒光增感D、使用非增感型膠片答案：C解析：答案解析：互易定律是指光化學(xué)反應(yīng)中，曝光量等于光強(qiáng)乘以曝光時(shí)間。然而，在采用熒光增感的條件下，光化學(xué)反應(yīng)的機(jī)制發(fā)生了變化。熒光增感劑吸收光能后會(huì)以不同的方式釋放能量，導(dǎo)致光化學(xué)反應(yīng)不再嚴(yán)格遵循互易定律。而選項(xiàng)A金屬箔增感、B不用增感、D使用非增感型膠片，在這些情況下光化學(xué)反應(yīng)仍基本符合互易定律。所以，答案是C。183.Se75源的半衰期是多少天（）A、75天B、128天C、158天D、5.3年答案：B解析：Se75源的半衰期是放射性元素Se75原子核衰變至其原始數(shù)量一半所需的時(shí)間。根據(jù)放射性衰變?cè)砑耙阎獢?shù)據(jù)，Se75的半衰期約為128天。這一信息在核物理、放射醫(yī)學(xué)及相關(guān)領(lǐng)域是基礎(chǔ)知識(shí)。因此，正確答案是B。184.超聲波探傷中廣泛應(yīng)用的是（）A、脈沖波B、電磁波C、方波D、爬波答案：A185.下列方法中，需要采用較高的工作頻率的是（）A、電磁分選B、渦流法測(cè)量非導(dǎo)電覆蓋層的厚度C、機(jī)械式磁性法測(cè)量覆蓋層厚度D、磁阻式磁性法測(cè)量覆蓋層厚度答案：B186.用以標(biāo)定或測(cè)試超聲探傷系統(tǒng)的，含有模擬缺陷的人工反射體的金屬塊叫：（）A、晶體準(zhǔn)直器B、測(cè)角器C、參考試塊D、工件答案：C187.將零件放入一個(gè)極性不斷反轉(zhuǎn)，強(qiáng)度逐漸減小的磁場(chǎng)中的目的是:()A、使零件磁化B、使零件退磁C、使磁粉流動(dòng)D、使顯示變更清晰答案：B188.磁鐵上，磁力線進(jìn)入的一端是：（）A、N極B、S極C、N極和S極D、以上都不是答案：B189.大型焊接結(jié)構(gòu)通常采用的磁化方法是（）A、夾頭通電法和線圈法B、磁軛法和中心導(dǎo)體法C、觸頭法和繞電纜法D、磁軛法和觸頭法答案：D190.γ射線源強(qiáng)度衰減一半的時(shí)間是（）A、半衰期B、半值層C、半價(jià)層D、1/2價(jià)層答案：A解析：答案解析：在放射性領(lǐng)域，γ射線源強(qiáng)度衰減一半所經(jīng)歷的時(shí)間被定義為半衰期。這是一個(gè)特定的術(shù)語(yǔ)，用于描述放射性物質(zhì)的衰變特性。半值層、半價(jià)層和1/2價(jià)層都不是用于描述γ射線源強(qiáng)度衰減一半時(shí)間的專業(yè)術(shù)語(yǔ)。所以，正確答案是選項(xiàng)A。191.超聲波如射到異質(zhì)界面時(shí)，可能發(fā)生（）A、反射B、折射C、波型轉(zhuǎn)換D、以上都是答案：D192.水洗著色滲透探傷液選配顯像劑時(shí)，應(yīng)（）A、優(yōu)先選溶劑懸浮式，其次水懸浮式，最后干式B、優(yōu)先選水懸浮式，其次，干式，最后溶劑懸浮式C、優(yōu)先選干式，其次水懸浮式，最后溶劑懸浮式D、優(yōu)先選干式，其次溶劑懸浮式，最后水懸浮式答案：A解析：水洗著色滲透探傷液的顯像劑選擇依據(jù)是其在探傷過(guò)程中的有效性和易用性。溶劑懸浮式顯像劑通常具有較好的滲透性和顯像效果，能夠清晰地顯示缺陷；水懸浮式顯像劑則環(huán)保且成本較低，但效果可能稍遜于溶劑懸浮式；干式顯像劑雖然使用方便，但顯像效果可能不如前兩者。因此，在選擇時(shí)，應(yīng)優(yōu)先考慮顯像效果，即優(yōu)先選溶劑懸浮式，其次考慮環(huán)保和成本，即水懸浮式，最后才是干式。故正確答案為A。193.在超聲波探傷中，由于（）的存在，使超聲場(chǎng)呈現(xiàn)出十分復(fù)雜的聲壓分布A、波的干涉現(xiàn)象B、衍射現(xiàn)象C、繞射現(xiàn)象D、以上都不對(duì)答案：A194.鑄鐵件的熱處理方法有（）A、退火和正火B(yǎng)、淬火C、回火D、以上都對(duì)答案：A195.以下哪一條不是水洗型滲透劑被水污染后所造成的影響（）A、滲透劑的滲透能力降低B、滲透劑的揮發(fā)性降低C、滲透劑穩(wěn)定性降低D、以上都不是答案：B196.圍繞零件的通電線圈產(chǎn)生：（）A、周向磁場(chǎng)B、縱向磁場(chǎng)C、交變磁場(chǎng)D、擺動(dòng)磁場(chǎng)答案：B197.厚度.材料相同，下列哪種工件對(duì)超聲波的衰減大（）A、鋼鍛件B、鑄鋼件C、鋼板D、上述工件衰減相同答案：B198.再熱裂紋產(chǎn)生焊接的（）區(qū)A、熱影響區(qū)的過(guò)熱粗晶B、焊縫中部C、母材D、焊縫上部答案：A199.下列描述中正確的是（）A、硅.鍺都是常用的導(dǎo)電材料B、硅是常用的半導(dǎo)體材料，鍺是常用的導(dǎo)電材料C、硅.鍺都是采用的半導(dǎo)體材料D、硅是常用的導(dǎo)體材料，鍺是常用的半導(dǎo)電材料答案：C解析：答案解析：硅和鍺在元素周期表中處于金屬和非金屬的交界處，具有獨(dú)特的電學(xué)性質(zhì)。它們的導(dǎo)電能力介于導(dǎo)體和絕緣體之間，是典型的半導(dǎo)體材料。在電子工業(yè)中，硅和鍺被廣泛應(yīng)用于制造各種半導(dǎo)體器件。A選項(xiàng)中說(shuō)硅、鍺是常用導(dǎo)電材料錯(cuò)誤，它們不是良好的導(dǎo)電材料。B選項(xiàng)中說(shuō)鍺是常用導(dǎo)電材料錯(cuò)誤。D選項(xiàng)中說(shuō)硅是常用導(dǎo)體材料錯(cuò)誤。綜上所述，選項(xiàng)C正確。200.渦流試驗(yàn)的相似律指的是對(duì)于兩個(gè)不同的試件，只要各對(duì)應(yīng)的（）相同，則有效磁導(dǎo)率.渦流密度及磁場(chǎng)強(qiáng)度的幾何分布均相同A、檢測(cè)頻率B、特征頻率C、激勵(lì)頻率D、頻率比答案：D201.在同一固體介質(zhì)中，當(dāng)分別傳播縱.橫波時(shí)，它的聲阻抗將（）A、一樣B、傳播橫波時(shí)大C、傳播縱波時(shí)大D、以上都不對(duì)答案：C202.相控陣探頭楔塊的作用主要包括以下哪些方面（）A、實(shí)現(xiàn)斜入射.波形轉(zhuǎn)換B、適應(yīng)檢測(cè)曲面.保護(hù)探頭C、減少偏轉(zhuǎn)角度范圍D、以上均是答案：D203.下列關(guān)于磁粉探傷設(shè)備裝置的敘述，哪一條是錯(cuò)誤的：（）A、調(diào)壓器通常有自耦變壓器和可控硅兩種結(jié)構(gòu)B、為防止打火，磁化夾頭上應(yīng)由鉛墊或銅絲網(wǎng)C、由于磁化電流值較大，所以指示電流表要有很大的容量D、為防止雜物混入，磁懸液回收系統(tǒng)應(yīng)有過(guò)濾裝置答案：C204.施加熒光滲透劑以前，零件表面的酸性材料去除不凈會(huì)引起（）A、滲透液的熒光降低B、滲透時(shí)間需加倍C、在零件上形成永久性銹斑D、以上都是答案：A205.使用抑制開(kāi)關(guān)主要是為了（）A、降低雜波量B、提高靈敏度C、延長(zhǎng)掃查范圍D、提高探傷速度答案：A206.對(duì)非常光滑的表面進(jìn)行熒光滲透探傷時(shí)，使用哪種顯像劑最好（）A、松軟的干式顯像劑B、規(guī)則的干式顯像劑C、濕式顯像劑D、以上都不是答案：C207.分層缺陷常發(fā)生在（）：A、鍛件內(nèi)B、焊接件內(nèi)C、鋼板內(nèi)D、鑄件內(nèi)答案：C解析：分層缺陷是由于材料內(nèi)部存在不同層間的結(jié)合不良或未完全融合而導(dǎo)致的。在鋼板的生產(chǎn)過(guò)程中，由于軋制工藝、冷卻速度等因素，可能導(dǎo)致鋼板內(nèi)部出現(xiàn)分層現(xiàn)象。相比之下，鍛件經(jīng)過(guò)鍛造過(guò)程，其內(nèi)部組織更加致密；焊接件的質(zhì)量依賴于焊接工藝，但通常不會(huì)出現(xiàn)分層現(xiàn)象；鑄件則可能因?yàn)闈沧⑦^(guò)程中的氣體或雜質(zhì)夾雜而產(chǎn)生其他類型的缺陷，如氣孔、夾渣等。因此，分層缺陷常發(fā)生在鋼板內(nèi)，選項(xiàng)C正確。208.逐漸降低交流電的安培值，對(duì)放在線圈中的零件進(jìn)行退磁為使退磁最徹底，零件長(zhǎng)軸方向應(yīng)沿（）A、東西方向B、南北方向C、西南方向D、東北方向答案：A209.斜探頭K值的測(cè)定應(yīng)在（）近場(chǎng)區(qū)以外進(jìn)行A、1倍B、2倍C、3倍D、任何位置答案：C210.透照厚度差別較大的工件時(shí)，為了增大寬容度，可以采用的方法是（）A、提高管電流B、提高管電壓C、降低管電壓D、選用微粒膠片答案：B211.脈沖反射式超聲波探傷儀中，產(chǎn)生觸發(fā)脈沖的電路單元叫做（）A、發(fā)射電路B、掃描電路C、同步電路D、顯示電路答案：C212.焦距的變化對(duì)以下哪一個(gè)參數(shù)有影響（）A、幾何不清晰度B、固有不清晰度C、顆粒度D、對(duì)比度答案：A213.下列關(guān)于磁力線的敘述，哪一條是正確的？（）A、磁力線永不相交B、磁鐵磁極上磁力線密度最大C、磁力線沿阻力最小的路線通過(guò)D、以上都對(duì)答案：D214.用于磁粉探傷的磁粉應(yīng)具備的性能是：（）A、無(wú)毒B、磁導(dǎo)率高C、頑磁性低D、以上都是答案：D215.劃線長(zhǎng)度的依據(jù)是（）A、一次透照長(zhǎng)度B、有效評(píng)定長(zhǎng)度C、膠片長(zhǎng)度D、焊縫長(zhǎng)度答案：A解析：答案解析：在劃線操作中，一次透照長(zhǎng)度是確定劃線長(zhǎng)度的重要依據(jù)。因?yàn)橐淮瓮刚臻L(zhǎng)度決定了射線能夠有效檢測(cè)的區(qū)域范圍，從而影響到劃線的長(zhǎng)度設(shè)定，以保證檢測(cè)的準(zhǔn)確性和完整性。而有效評(píng)定長(zhǎng)度、膠片長(zhǎng)度和焊縫長(zhǎng)度并非直接決定劃線長(zhǎng)度的關(guān)鍵因素。所以，答案選擇A。216.合金中的相結(jié)構(gòu)為(_______)A、鐵素體B、奧氏體C、滲碳體D、以上都對(duì)答案：D217.波束擴(kuò)散角是晶片尺寸和傳播介質(zhì)中聲波波長(zhǎng)的函數(shù)并且隨（）A、頻率增加，晶片直徑減少而減少B、頻率或晶片直徑減少而增大C、頻率或晶片直徑減少而減少D、頻率增加，晶片直徑減少而增大答案：B218.表面裂紋一般產(chǎn)生的磁痕是()A、明顯而清晰B、大而不清晰C、寬闊而無(wú)明顯的邊緣D、散亂答案：A219.采用5MHz,φ5mm晶片尺寸的TOFD探頭檢測(cè)壁厚t=40mm的工件，以下哪種角度的楔塊可提供更佳的深度分辨率：()A、70°B、60°C、50°D、40°答案：D220.下面關(guān)于TOFD偏置非平行掃查的說(shuō)法，正確的是：()A、可得到準(zhǔn)確的深度值B、可提高缺陷高度測(cè)量的精度C、可解決軸偏離盲區(qū)問(wèn)題D、可改進(jìn)缺陷定位答案：C221.關(guān)于相控陣探頭信號(hào)疊加的說(shuō)法以下正確的是（）A、可產(chǎn)生相干疊加B、可產(chǎn)生非相干疊加C、相干疊加和非相干疊加均可產(chǎn)生D、以上說(shuō)法均不正確答案：A解析：相控陣探頭的工作原理是通過(guò)控制陣列中各個(gè)陣元的發(fā)射和接收時(shí)間，形成特定的波束方向。在信號(hào)疊加時(shí)，如果各陣元接收到的信號(hào)相位相同或相差整數(shù)倍的波長(zhǎng)，則信號(hào)會(huì)相干疊加，增強(qiáng)信號(hào)的強(qiáng)度。如果相位不同，則信號(hào)會(huì)相互抵消，這是非相干疊加，但在相控陣技術(shù)中，通過(guò)調(diào)整相位，可以確保信號(hào)相干疊加。因此，正確答案是A，即相控陣探頭信號(hào)疊加可產(chǎn)生相干疊加。222.顯影速度與以下哪些因素?zé)o關(guān)（）A、顯影劑濃度B、顯影溫度C、曝光時(shí)間D、顯影劑類型答案：C解析：顯影速度主要取決于顯影劑本身的性質(zhì)和外部條件。顯影劑濃度越高，通常顯影速度越快；顯影溫度升高，反應(yīng)速率加快，顯影速度也會(huì)加快；不同類型的顯影劑，其化學(xué)性質(zhì)不同，顯影速度也有差異。而曝光時(shí)間影響的是底片的曝光效果，與顯影速度并無(wú)直接關(guān)系。所以，答案選C。223.在旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng)磁化法中，產(chǎn)生不同方向的磁化電流為：（）A、分別采用交流電和全波直流電B、分別采用半波直流電和交流電C、全部采用交流電但相位有差異D、全部采用恒穩(wěn)直流電答案：C224.斜探頭前沿長(zhǎng)度和K值測(cè)定的幾種發(fā)放中，哪種方法精度最高：（A）.A、半圓試法和橫孔法B、雙孔法C、直角邊法D、不一定，須視具體情況而定答案：A225.把一根鐵導(dǎo)桿穿入一個(gè)筒形鐵試件中通電，則試件中的磁感應(yīng)強(qiáng)度（）A、與導(dǎo)桿表面相同B、大于導(dǎo)桿表面C、小于導(dǎo)桿表面D、在試件內(nèi)各處相同答案：C226.采用聲透鏡方式制作聚焦探頭時(shí)，設(shè)透鏡材料為介質(zhì)1，欲使聲束在介質(zhì)2中聚焦，選用平凹透鏡的條件是（）A、Z1>Z2B、C1<C2C、1>C2D、Z1<Z2答案：C227.X射線機(jī)的工作時(shí)間與休息時(shí)間之比為（）A、1：1B、1：2C、2：1D、1：3答案：A解析：答案解析：X射線機(jī)在運(yùn)行時(shí)會(huì)產(chǎn)生熱量和損耗，為了保障其性能和使用壽命，需要合理安排工作時(shí)間和休息時(shí)間。在實(shí)際應(yīng)用中，經(jīng)過(guò)多次實(shí)驗(yàn)和經(jīng)驗(yàn)總結(jié)，發(fā)現(xiàn)將X射線機(jī)的工作時(shí)間與休息時(shí)間之比設(shè)置為1：1較為合理，能夠有效平衡設(shè)備的運(yùn)行需求和損耗，保證其穩(wěn)定、安全地工作。因此，選項(xiàng)A是正確答案。228.（）是指材料在荷載作用下斷裂前發(fā)生不可逆永久變形的能力A、強(qiáng)度B、硬度C、密度D、塑性答案：D229.根據(jù)超聲相控陣聚焦原理，以下說(shuō)法正確的是（）A、多晶片探頭中各晶片的激勵(lì)（延時(shí)）均由計(jì)算機(jī)控制B、壓電復(fù)合晶片受激勵(lì)后能產(chǎn)生超聲偏轉(zhuǎn)以及聚焦波束C、聲束參數(shù)如角度.焦距和焦點(diǎn)尺寸等均可通過(guò)軟件調(diào)整D、以上都對(duì)答案：D230.水洗型滲透探傷劑適應(yīng)于檢測(cè)（）A、螺紋零件和帶鍵槽零件B、開(kāi)口淺而寬的缺陷C、磨削裂紋D、以上都是答案：A231.下面哪種情況會(huì)產(chǎn)生非相關(guān)磁痕顯示()A、不同金屬間的結(jié)合縫B、釬焊縫C、表面上的粗加工刀痕D、以上都是答案：D232.為了用磁粉探傷方法檢測(cè)材料中不同方向的缺陷，最好使用（）A、兩個(gè)或兩個(gè)不同方向的磁場(chǎng)能B、強(qiáng)磁場(chǎng)C、高頻磁場(chǎng)D、以上都是答案：A233.射線檢測(cè)時(shí)，造成兩個(gè)缺陷投影為一個(gè)缺陷影像的原因是()A、影像的重疊B、影像的放大C、影像的畸變D、影像的位移答案：A解析：答案解析：在射線檢測(cè)中，當(dāng)兩個(gè)缺陷在投影方向上相互重疊時(shí)，它們的影像會(huì)疊加在一起，從而在檢測(cè)結(jié)果中呈現(xiàn)為一個(gè)缺陷影像。而影像的放大是指缺陷影像尺寸相對(duì)實(shí)際缺陷尺寸的增大；影像的畸變是指影像形狀的不正常改變；影像的位移是指影像位置的不正常移動(dòng)。綜上所述，造成兩個(gè)缺陷投影為一個(gè)缺陷影像的原因是影像的重疊，故答案選A。234.溫度的波動(dòng)對(duì)下列哪種檢測(cè)結(jié)果影響最大（）A、鋁合金電導(dǎo)率測(cè)試B、在役換熱器換熱管渦流檢測(cè)C、金屬磁記憶檢測(cè)應(yīng)力集中D、磁阻法覆蓋層測(cè)厚答案：A解析：在考察溫度波動(dòng)對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響時(shí)，關(guān)鍵在于理解不同檢測(cè)方法對(duì)溫度變化的敏感度。鋁合金電導(dǎo)率測(cè)試（A選項(xiàng)）直接受材料內(nèi)部電子流動(dòng)影響，而溫度的變化會(huì)顯著改變電子的運(yùn)動(dòng)狀態(tài)，從而影響電導(dǎo)率測(cè)量結(jié)果。相比之下，渦流檢測(cè)（B選項(xiàng)）、金屬磁記憶檢測(cè)（C選項(xiàng)）和磁阻法測(cè)厚（D選項(xiàng)）雖然也受到溫度的一定影響，但其影響程度相對(duì)較小，且通?？赏ㄟ^(guò)校準(zhǔn)和補(bǔ)償來(lái)降低。因此，溫度波動(dòng)對(duì)鋁合金電導(dǎo)率測(cè)試的影響最大，答案為A。235.TOFD技術(shù)中，“差分”功能的作用是：()A、提高信號(hào)幅度B、減少噪聲C、減少盲區(qū)的影響：D以上都對(duì)答案：C解析：在TOFD（TimeofFlightDiffraction）技術(shù)中，“差分”功能主要用于處理超聲波信號(hào)，通過(guò)比較兩個(gè)或多個(gè)接收探頭的信號(hào)差異，來(lái)識(shí)別和區(qū)分不同來(lái)源的回波。這種技術(shù)特別有效于減少盲區(qū)的影響，因?yàn)槊^(qū)通常是由于超聲波波束在工件內(nèi)部傳播時(shí)產(chǎn)生的未探測(cè)區(qū)域。差分功能能夠區(qū)分并排除這些盲區(qū)內(nèi)的虛假信號(hào)，從而提高檢測(cè)的準(zhǔn)確性和可靠性。因此，選項(xiàng)C“減少盲區(qū)的影響”是正確的。236.斜探頭K值的測(cè)定應(yīng)在聲場(chǎng)的（）A、1.67N以外進(jìn)行B、N以外進(jìn)行C、2N以外進(jìn)行D、3N以外進(jìn)行答案：C237.公式：λ=c/f為（）的公式A、聲束B(niǎo)、聲速C、波長(zhǎng)D、頻率答案：C238.已知電流方向，其磁場(chǎng)方向用（）判定:A、左手定則B、右手定則C、都不對(duì)D、以上都對(duì)答案：B解析：答案解析：在電磁學(xué)中，已知電流方向，要判定其產(chǎn)生的磁場(chǎng)方向，使用的是右手定則。右手定則用于判斷導(dǎo)體切割磁感線時(shí)產(chǎn)生的感應(yīng)電流方向，以及已知電流方向時(shí)磁場(chǎng)的方向。而左手定則主要用于判斷通電導(dǎo)體在磁場(chǎng)中受到的安培力方向。所以在已知電流方向判定磁場(chǎng)方向時(shí)，應(yīng)使用右手定則，選項(xiàng)B正確。239.關(guān)于濕式顯像劑，以下說(shuō)法正確的是（）A、各種濕式顯像劑都是懸浮劑B、水溶性濕式顯像劑不適用于著色滲透探傷劑體系C、溶劑懸浮濕式顯像劑會(huì)對(duì)鋁.鎂零件造成腐蝕D、水懸浮濕式顯像劑不能用于熒光滲透探傷劑體系答案：B240.下面哪種鑄造缺陷是由于冷卻不均勻產(chǎn)生的應(yīng)力使金屬表面斷裂而引起的？（）：A、疏松B、熱裂C、氣孔D、夾雜答案：B241.檢測(cè)起重吊鉤橫向疲勞裂紋較合適的方法是（）A、繞電纜法.連續(xù)法.濕法.熒光磁粉B、交流磁軛.連續(xù)法.干法.非熒光磁粉C、通電法.剩磁法.濕法.熒光磁粉D、觸頭法.連續(xù)法.干法.非熒光磁粉答案：A242.決定磁粉探傷成敗關(guān)鍵的主要因素是：（）A、磁感應(yīng)強(qiáng)度B、磁化時(shí)間C、磁化線圈上的電壓D、通過(guò)線圈的電流答案：A243.可用剩磁法檢驗(yàn)的前提是：（）A、零件具有高光潔度B、零件具有高矯頑力C、零件承受高應(yīng)力作用D、零件具有高磁懸率答案：B244.下面哪種壓電材料最適宜制作高分辨率探頭：（C）A、石英B、鋯鈦酸鉛C、偏鈮酸鉛D、鈦酸鋇答案：C245.以下有關(guān)鍛件白點(diǎn)缺陷的敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）A、白點(diǎn)是一種非金屬夾雜物B、白點(diǎn)通常發(fā)生在鍛件中心部位C、白點(diǎn)的回波清晰.尖銳，往往有多個(gè)波峰同時(shí)出現(xiàn)D、一旦判斷是白點(diǎn)缺陷，該鍛件即為不合格答案：A246.磁懸液中磁粉濃度如何測(cè)量？（）A、稱量磁懸液的重量B、測(cè)量磁懸液的濁度C、測(cè)量磁粉在磁懸液中沉淀體積D、測(cè)量磁鐵上吸引的磁粉答案：C247.滲透探傷前，零件表面的油脂不主張采用哪種方法去除（）A、蒸汽除油B、堿性清洗劑清洗C、溶劑清洗D、熱水清洗答案：D248.采用TOFD檢測(cè)時(shí)，以下哪一條不是合成孔徑聚焦(SAFT)技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)：()A、提高缺陷縱向分辨力B、提高缺陷橫向分辨力C、提高信噪比D、提高缺陷尺寸測(cè)量精度答案：A解析：答案解析：合成孔徑聚焦（SAFT）技術(shù)在TOFD檢測(cè)中的應(yīng)用主要在于改善檢測(cè)效果。B選項(xiàng)，SAFT技術(shù)能夠通過(guò)處理信號(hào)提高缺陷橫向分辨力；C選項(xiàng)，它可以對(duì)信號(hào)進(jìn)行優(yōu)化處理從而提高信噪比；D選項(xiàng)，通過(guò)更精確的信號(hào)處理，能提高缺陷尺寸測(cè)量精度。而提高缺陷縱向分辨力并非SAFT