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ICS19.100GB/T41655—2022無損檢測超聲檢測(ISO17405:2014,MOD)國家市場監(jiān)督管理總局國家標準化管理委員會GB/T41655—2022 Ⅲ 1 1 1 1 6 7 7附錄A(資料性)焦區(qū)的確定 9IⅢGB/T41655—2022起草。線(|)進行了標示。這些技術(shù)差異及其原因如下:——用ISO22232-1代替了EN12668-1(見4.1),EN12668-1被ISO22232-1代替;——用ISO22232-2代替了EN12668-2(見4.1),EN——用修改采用國際標準ISO5577的GB/T12604.1代替了EN1330-4(見第2章,第3章),EN1330-4被ISO5577代替;——刪除了術(shù)語3.2,該術(shù)語已納入GB/T12604.1(見第3章);——修改靈敏度設置時規(guī)定的回波高度,從40%改為80%(見4.4.2),以提高判定的可操作性; ——刪除了4.2.1中關(guān)于引用附錄A的陳述;——增加了4.2.3的注;——增加了4.2.4的公式編號;——調(diào)整了圖1的尺寸標注方式;——增加了圖1的注;——增加了圖2的標引序號說明;1GB/T41655—2022無損檢測超聲檢測1范圍GB/T12604.1無損檢測術(shù)語超聲檢測(GB/T12604.1—2020,ISO5577:2017,MOD)GB/T19799.1無損檢測超聲檢測1號校準試塊(GB/T19799.1—2015,ISO2400:2012,IDT)ISO22232-1無損檢測超聲檢測設備性能與測試第1部分:儀器(Non-destructivetesting—Characterizationandverificationofultrasonictestequipment—Part1:Instruments)ISO22232-2無損檢測超聲檢測設備的性能與測試第2部分:探頭(Non-destructivetesting—Characterizationandverificationofultrasonictestequipment—Part2:Probes)ISO22232-3無損檢測超聲檢測設備的性能與測試第3部分:組合性能(Non-destructivetes-ting—Characterizationandverificationofultrasonictestequipment—Part3:Combinedequipment)3術(shù)語和定義4超聲檢測系統(tǒng)2GB/T41655—2022探頭標稱頻率應根據(jù)檢測目的和材料特性選擇。超聲檢測儀性能應符合ISO22232-1的要求,探頭性能應符合ISO22232-2的要求。檢測系統(tǒng)組合性能應按照ISO22232-3定期核查。4.2探頭要求4.2.1縱波單晶直探頭最優(yōu)靈敏度的深度范圍取決于晶片尺寸。深度范圍宜根據(jù)預期檢出不連續(xù)的區(qū)域而定。4.2.2縱波雙晶直探頭最優(yōu)靈敏度的深度范圍(見附錄A)取決于晶片尺寸和屋頂角。深度范圍宜根據(jù)預期檢出不連續(xù)的區(qū)域而定。4.2.3縱波雙晶斜探頭縱波折射角宜在65°~80°之間。選擇晶片的傾斜角、形狀以及尺寸應確保最優(yōu)靈敏度的深度范圍(見附錄A)可覆蓋預期檢出不連續(xù)的區(qū)域。注:從覆層檢測無法實施時,選擇從基材側(cè)采用縱波單晶斜探頭(折射角宜為45°)對覆層進行檢測。4.2.4探頭與檢測對象表面曲率匹配檢測對象檢測面與探頭底面之間的間隙不應大于0.5mm。如果檢測對象的曲率半徑在公式(1)范匹配。 (1)式中:R——檢測對象表面曲率半徑,單位為毫米(mm);4.3其他要求4.3.1檢測范圍應納入深度范圍適宜性評價。4.4檢測設備設置4.4.1范圍設置為實現(xiàn)不連續(xù)的準確定位,使用雙晶探頭在參考試塊上調(diào)節(jié)超聲檢測儀范圍設置,見圖1或圖2。3GB/T41655—2022雙晶直探頭置于階梯試塊的各階梯面。通過調(diào)節(jié)零點位移和掃描(速度),使相關(guān)回波波前設置在屏幕合適標記位置處。當雙晶斜探頭在圖2所示的參考試塊時,投影距離(探頭前沿與反射點在檢測面上的投影之間的距離)應與屏幕合適標記位置處相對應。按此方式,在屏幕上直接讀出反射點的位當使用直探頭時,超聲檢測儀范圍可使用已知厚度和聲速的平行平面鋼板的多次反射回波進行設置(例如,GB/T19799.1規(guī)定的1號試塊或其等效的試塊)。圖1雙晶直探頭焦區(qū)長度測定用參考試塊4GB/T41655—2022單位為毫米標引序號說明:Y——回波高度。注:當使用圖中參考試塊時,宜確保有效識別所有未標注的尺寸參考反射體回波。圖2雙晶斜探頭焦區(qū)長度測定用參考試塊對于靈敏度設置,宜根據(jù)預期檢出的不連續(xù)應選用與檢測對象具有相同或相近復合工藝的參考試塊調(diào)節(jié)靈敏度。參考試塊覆層厚度、表面狀態(tài)和形狀應與受檢件相同(見第5章)。若探頭與檢測對象檢測面進行曲面匹配,參考試塊應有與探頭對于檢測體積型不連續(xù),反射體為橫孔,例如可使用位于母材靠近界面位置,規(guī)格為φ3mm×30mm的橫孔(見圖3)。5GB/T41655—2022對于垂直于檢測面的平面型不連續(xù),宜使用斜探頭在反射體槽上設置靈敏度。圖3所示的位置1、位置2和位置3,表示使用超聲檢測儀設置檢測靈敏度時參考反射體回波的產(chǎn)生方式?;夭ǚ纫苏{(diào)節(jié)到滿屏的80%??蛇M行相應的靈敏度補償。記錄位置1(雙晶直探頭)、位置2(雙晶斜探頭)以及位置3(直探頭)處回波幅度達到滿屏高度80%時的增益。節(jié)檢測設備增益,使該區(qū)域的最高噪聲幅度達到滿屏的80%(噪聲來源于材料組織結(jié)構(gòu)、接觸面的粗糙度和不平度的差異)?;夭ǜ叨扰c噪聲回波高度增益差值應至少為6dB。如有必要,宜對檢測表面進行機械加工或更換其他滿足此條件的探頭。6GB/T41655—2022單位為毫米標引序號說明:3——位置3;c——試塊長度;d——反射體距試塊邊緣距離;e——反射體距試塊邊緣距離;A——自發(fā)自收直探頭;圖3帶覆層參考試塊靈敏度設置5檢測準備若規(guī)定應檢出制造過程中某個特殊階段產(chǎn)生的不連續(xù),則應在該階段完成后再進行檢測。7GB/T41655—2022在檢測區(qū)域內(nèi)宜做好檢測表面的檢測準備,以便探頭和工件耦合良好。表面狀況應滿足4.4.2規(guī)6檢測程序6.3超聲檢測儀設置的核查表1靈敏度和范圍核查靈敏度1繼續(xù)檢測前,應修正設置2靈敏度降低值>4dB應修正設置,同時該超聲檢測儀前次核查后的所有檢測對象應重新檢測3靈敏度增加值>4dB應修正設置,同時該超聲檢測儀前次核查后的所有已記錄的顯示應重新檢測時基線1時基線偏差值≤2%繼續(xù)檢測前,應修正設置2時基線偏差值>2%應修正設置,同時該超聲檢測儀前次核查后的所有檢測對象應重新檢測6.4記錄等級除非交付或驗收條件對記錄等級有明確規(guī)定外,宜選用第4章規(guī)定的參考反射體回波高度作為記7檢測報告a)引用本文件。b)檢測基本信息:1)檢測人員;2)檢測日期;8GB/T41655—20223)檢測儀器;5)儀器增益;6)參考試塊;7)檢測對象(復合類型、母材和覆層材料);8)檢測類型(檢測部位);9)檢測表面狀態(tài);10)檢測范圍;11)基準靈敏度(參考反射體/dB值),檢測中使用參考反射體回波高度為80%屏高時的靈c)被檢測的不連續(xù)的信息:1)檢測對象的不連續(xù)位置,用坐標(縱/橫)記錄;2)不連續(xù)的深度和回波高度(基準靈敏度士dB);4)在檢測過程中不可避免的典

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