PCBA的外觀及焊接性能檢驗工藝文件模板

外協(xié)焊接特殊過程驗證編制：_____________審核：_____________同意：_____________長沙七維傳感技術(shù)股份年10一、范圍1.1指導(dǎo)要求了本企業(yè)外協(xié)加工電路板驗證過程和操作規(guī)范要求。1.2適適用于本企業(yè)對外協(xié)加工生產(chǎn)用電路板技術(shù)質(zhì)量認(rèn)證、檢驗驗收過程中檢驗操作，也可作為工藝人員編寫檢驗文件引用內(nèi)容。1.3如產(chǎn)品專用檢驗文件無特殊要求，在本工作指導(dǎo)包含生產(chǎn)用電路板外觀檢驗過程中，檢驗員應(yīng)按本工作指導(dǎo)相關(guān)內(nèi)容進(jìn)行檢驗操作。1.4凡和PCBA外觀相關(guān)之制造單位和品保單位，如本企業(yè)無其它特殊工藝要求，均應(yīng)以本工作指導(dǎo)為依據(jù)進(jìn)行檢驗。二、規(guī)范性引用文件2.1WI-M-001-00工作指導(dǎo)編號方法2.2WI-SDICT-24010原材料入庫檢驗抽樣規(guī)則2.3WI-SDIZT-24070印制電路板（PCB）檢驗三、術(shù)語及定義GB/T2828.1-，GB/T13263-1991，GB/T3358.1-1993，GB/T3358.2-1993中相關(guān)術(shù)語和定義均適適用于本工作指導(dǎo)。四、檢驗人員資質(zhì)要求4.1對本企業(yè)各類生產(chǎn)用原材料進(jìn)行檢驗人員應(yīng)為本企業(yè)經(jīng)過正常程序聘用檢驗員。4.2對本企業(yè)各類生產(chǎn)用PCBA進(jìn)行檢驗人員應(yīng)熟悉PCBA基礎(chǔ)知識。4.3特殊情況可由本企業(yè)技術(shù)質(zhì)量部相關(guān)技術(shù)人員代為進(jìn)行檢驗。五、檢驗操作及設(shè)備、環(huán)境要求：5.1檢驗條件：室內(nèi)照明良好，最少800LUX以上，必需時采取(五倍以上)放大照燈檢驗確定。5.2ESD防護(hù)：凡接觸PCBA必需配帶良好靜電防護(hù)方法（配帶防靜電手環(huán)并接上靜電接地線）。5.3檢驗前需先確定所使用工作平臺清潔及配帶清潔手套。5.4所用計量器具必需是定時定點(diǎn)地由法定或授權(quán)計量檢定機(jī)構(gòu)檢定合格計量器具。自行檢定和校準(zhǔn)，必需由取得計量檢定員證人員進(jìn)行。5.5PCBA握持要求：5.5.1握持PCBA正確方法：配帶潔凈手套并配合良好靜電防護(hù)方法，握持板邊或板角執(zhí)行檢驗。5.5.2不許可采取PCBA握持方法：未采取靜電防護(hù)方法或直接接觸及導(dǎo)體、金手指和錫點(diǎn)表面。六、抽樣方案5.1抽樣方案：按WI-SDICT-24010內(nèi)容實施5.2檢驗水平：II5.3AQL：2.5七、檢驗項點(diǎn)及判定：來料送檢PCBA在以下檢驗項點(diǎn)中發(fā)覺有不合格項，不可接收，其數(shù)量計入拒收數(shù)。注：角度參數(shù)、面積參數(shù)和以百分比表示尺寸參數(shù)如難以確定，檢驗員可只做定性判定。如某產(chǎn)品包含PCB檢驗結(jié)論為合格，需報技術(shù)質(zhì)量部負(fù)責(zé)該產(chǎn)品主管工藝人員進(jìn)行復(fù)檢確定；如檢驗結(jié)論為不合格，僅在存在爭議時進(jìn)行正確測量。7.1型號規(guī)格檢驗檢驗工具及方法：目檢。合格：送檢PCBA規(guī)格、型號正確。不合格：送檢PCBA規(guī)格、型號不正確。7.2數(shù)量檢驗檢驗工具及方法：目檢/點(diǎn)數(shù)。合格：送檢數(shù)量和來料單數(shù)量相同或多于來料單數(shù)量。不合格：送檢數(shù)量少于來料單數(shù)量，其缺乏數(shù)量計入拒收數(shù)。7.3元器件及PCB外觀檢驗7.3.1損傷檢驗工具及方法：目檢合格：滿足下列全部要求：元器件本體無刮傷及刮痕，或雖有刮痕但零件內(nèi)部組件未外露且未損及零件封裝或造成零件標(biāo)示不清。PCB刮傷不得深至纖維層且不得造成線路露銅。不合格：不滿足上述要求任意一條內(nèi)容。7.3.2清潔度檢驗工具及方法：目檢。合格：滿足下列全部要求：1.無外來雜質(zhì)如零件腳剪除物、顯著指紋和目視可見灰塵。2.零件材料，如散熱膏和線路粘著劑，不得有偏移。3.免洗助焊劑殘留物許可出現(xiàn)水紋，但不得出現(xiàn)粉狀、顆粒狀和結(jié)晶狀殘留。4.零件腳上不得存在松散金屬毛邊。不合格：不滿足上述要求任意一條內(nèi)容。7.3.3PCB檢驗檢驗工具及方法：按WI-SDIZT-24070內(nèi)容要求實施。合格：按WI-SDIZT-24070內(nèi)容要求實施。不合格：按WI-SDIZT-24070內(nèi)容要求實施。7.3.4檢驗方法：目檢。合格：零件標(biāo)示印刷，其辨識代碼必需清楚易讀，除下列情形以外:1．零件供貨商未標(biāo)示印刷。2．在組裝后零件印刷在零件底部（設(shè)計人員布板時應(yīng)盡可能避免）。不合格：不滿足上述要求。注：如發(fā)覺零件印刷在零件底部，檢驗員應(yīng)向產(chǎn)品主管工藝人員進(jìn)行核實。7.4插裝件焊點(diǎn)檢驗檢驗工具及方法：目檢。合格：焊點(diǎn)工藝水平應(yīng)滿足下列要求：1.在焊錫面上出現(xiàn)焊點(diǎn)應(yīng)為實心平頂凹錐體；剖面外緣應(yīng)展現(xiàn)新月型均勻弧狀凹面，通孔中填錫應(yīng)將元件腳均勻且完整地包裹住。2.焊錫面凹錐體底部面積應(yīng)和板子上焊墊一致，焊錫面之焊錫延伸沾錫達(dá)焊墊內(nèi)面積95%以上。3.錫量應(yīng)以填滿焊墊邊緣及零件腳為宜，沾錫角不得大于30°。4.錫面應(yīng)展現(xiàn)光澤性，表面應(yīng)平滑、均勻且不可存有任何不規(guī)則現(xiàn)象如小缺口、起泡、夾雜物或有凸點(diǎn)等情形發(fā)生。不合格：不滿足上述要求任意一條內(nèi)容或存在下列缺點(diǎn)當(dāng)中一個。焊點(diǎn)缺點(diǎn)外觀特點(diǎn)危害過熱焊點(diǎn)發(fā)白，表面較粗糙，無金屬光澤焊盤強(qiáng)度低輕易剝落冷焊表面呈豆腐渣狀顆粒，可能有裂紋強(qiáng)度低導(dǎo)電性能不好拉尖焊點(diǎn)出現(xiàn)尖端外觀不佳輕易造成橋連短路橋連相鄰導(dǎo)線連接電氣短路銅箔翹起銅箔從印制板上剝離印制電路板損壞虛焊焊錫和元器件引腳和銅箔之間有顯著黑色界限焊錫向界限凹陷產(chǎn)品時好時壞工作不穩(wěn)定焊料過多焊點(diǎn)表面向外凸出浪費(fèi)焊料且可能包藏缺點(diǎn)焊料過少焊點(diǎn)面積小于焊盤80%焊料未形成平滑過渡面機(jī)械強(qiáng)度不足7.5插裝件零件腳長度檢驗檢驗工具及方法：目檢/必需時使用150mm游標(biāo)卡尺測量檢驗。7.6非插裝類元器件對準(zhǔn)度檢驗7.6.1檢驗工具及方法：目檢/必需時使用150mm游標(biāo)卡尺測量檢驗。7.6.2檢驗工具及方法：目檢/必需時使用150mm游標(biāo)卡尺測量檢驗。7.6.3檢驗工具及方法：目檢/必需時使用150mm游標(biāo)卡尺測量檢驗。7.6.檢驗工具及方法：目檢/必需時使用150mm游標(biāo)卡尺測量檢驗。7.6.檢驗工具及方法：目檢/必需時使用150mm游標(biāo)卡尺測量檢驗。7.6.6QPF零件管腳檢驗工具及方法：目檢/必需時使用150mm游標(biāo)卡尺測量檢驗。7.6.7檢驗工具及方法：目檢/必需時使用150mm游標(biāo)卡尺測量檢驗。7.7非插裝類元器件焊接浮高檢驗7.7.1芯片狀零件浮高檢驗工具及方法：目檢/必需時使用150mm游標(biāo)卡尺測量檢驗。合格：見下圖不合格：不滿足上圖所表示條件。7.7.2J型腳零件浮高檢驗工具及方法：目檢/必需時使用150mm游標(biāo)卡尺測量檢驗。合格：見下圖不合格：不滿足上圖所表示條件。7.7.3QFP零件浮高檢驗工具及方法：目檢/必需時使用150mm游標(biāo)卡尺測量檢驗。合格：見下圖不合格：不滿足上圖所表示條件。7.8非插裝類元器件焊點(diǎn)檢驗7.8.1QFP腳面焊點(diǎn)最小量檢驗工具及方法：目檢。7.8.2QFP腳面焊點(diǎn)最大量檢驗工具及方法：目檢。7.8.3QFP腳跟焊點(diǎn)最小量檢驗工具及方法：目檢。7.8.4QFP腳跟焊點(diǎn)最大量檢驗工具及方法：目檢。7.8.5J型腳零件焊點(diǎn)最小量檢驗工具及方法：目檢。7.8.6J型腳零件焊點(diǎn)最大量檢驗工具及方法：目檢。7.8.6芯片零件焊點(diǎn)最小量（三面或五面焊點(diǎn)）檢驗工具及方法：目檢。7.8.7芯片零件焊點(diǎn)最大量（三面或五面焊點(diǎn)）檢驗工具及方法：目檢。7.8.7錫珠和錫渣檢驗工具及方法：目檢/必需時使用150mm游標(biāo)卡尺測量檢驗。7.8.8焊點(diǎn)缺點(diǎn)檢驗工具及方法：目檢/必需時使用150mm游標(biāo)卡尺測量檢驗。7.9零件組裝檢驗7.9.1水平安裝零件方向和極性檢驗工具及方法：目檢。7.9.2檢驗工具及方法：目檢。7.9.3水平安裝零件浮件和傾斜檢驗工具及方法：目檢/必需時使用150mm游標(biāo)卡尺測量檢驗。7.9.4直立安裝零件浮高檢驗工具及方法：目檢/必需時使用150mm游標(biāo)卡尺測量檢驗。7.9.5檢驗工具及方法：目檢/必需時使用150mm游標(biāo)卡尺測量檢驗。7.9.6架高直立安裝零件傾斜檢驗工具及方法：目檢/必需時使用150mm游標(biāo)卡尺測量檢驗。7.9.7跳線傾斜檢驗工具及方法：目檢/必需時使用150mm游標(biāo)卡尺測量檢驗。7.9.8機(jī)構(gòu)零件跳線器浮件檢驗工具及方法：目檢/必